1. Mit jelent az "Na" mennyiség? Szerkezetvizsgálat Alakzatok száma, egységnyi területre vonatkoztatva Területarány Fajlagos felület 2. Mivel foglalkozik a "sztereológia"? A valós, 3 dimenziós geometriai alakzatok jellemzésével Az optikai mikroszkópia alkalmazási területeivel A valós geometriai alakzatok 3 dimenziós megjelenítésével 3. Mit jelent a "Pl" mennyiség? Egységnyi hosszúságra eső metszéspontok száma Egységnyi hosszúságra eső alakzatok száma Vonalarány 4. Mit jelent az "Sv" mennyiség? Fajlagos felület Egységnyi térfogatra eső alakzatok száma Egységnyi térfogatra eső metszéspontok száma 5. Mit jelent az "Nl" mennyiség? Egységnyi hosszúságra eső alakzatok száma Egységnyi hosszúságra eső metszéspontok száma Vonalarány 6. Melyik módszernél a legkisebb a szórás? Szisztematikus pontháló Vonal elemzés Terület elemzés 7. Melyik egyenlőség a helyes? Sv=2Pl Sv=1/2Pl Sv=4Pl 8. A sztereológiai összefüggések alkalmazhatóságánál: Nincs semmilyen feltételezés vagy közelítés az alakzatok méretére, alakjára, távolságára vonatkozóan. A vizsgált alakzatoknak gömbszerűnek kell lenniük. A vizsgált alakzatok méreteloszlásának diszperznek kell lennie.
9. Melyik egyenlőség a helyes? Lv=2Pa Lv=Pa Lv=1/2Pa 10. Melyik módszernek az alapja az elektromágneses hullám rácson történő elhajlása? Röntgendiffrakció Optikai mikroszkóp Pásztázó elektronmikroszkóp 11. Mi a diffrakció? Hullám pontsoron történő elhajlása Atomsor egyidejű gerjesztése Atomrács besugárzása elektromágneses hullámmal 12. Melyik hordoz információt a felület topológiájáról? Szekunder elektronok Karakterisztikus röntgensugárzás Visszaszórt elektronok 13. Mit jelent a "Pt" mennyiség? Összes pontszám Pontarány Egységnyi területre eső pontok száma 14. Melyiket alkalmazzuk összetételi vizsgálathoz? Karakterisztikus röntgensugárzás Próbaáram kép Szekunder elektronok 15. Melyiket alkalmazzuk összetételi vizsgálathoz? WDS spektrum Szekunder elektronok Próbaáram kép 16. Melyiket alkalmazzuk összetételi vizsgálathoz? Visszaszórt elektronok Szekunder elektronok Próbaáram kép
17. Melyik módszerrel végezzük az összetételi vizsgálatot? EDS spektrum Optikai mikroszkópia Röntgendiffrakció 18. Melyik állítás igaz? A WDS módszernek rossz a területfelbontása Az EDS módszernek rossz a területfelbontása A WDS módszer jobb, mint az EDS 19. Melyik állítás igaz? A WDS módszernek jó a hullámhossz felbontása Az EDS módszer jobb, mint a WDS Az EDS módszernek jó a hullámhossz felbontása 20. Melyik állítás igaz? A WDS módszerrel egyszerre annyi elem mennyisége vizsgálható, ahány csatornával a berendezés rendelkezik A WDS módszernél az összes elem (3<Z<91) egyszerre vizsgálható A WDS módszerrel összetételi elemzés mellett fázisazonosítást is végezhetünk 21. Melyik módszerrel lehet fázist azonosítani? Röntgendiffrakció EDS spektrum WDS spektrum 22. Melyik állítás igaz? Az EDS módszerrel az összes elem (8<Z) egyszerre vizsgálható A WDS módszerrel egyszerre annyi elem mennyisége vizsgálható, ahány csatornával a berendezés rendelkezik A WDS módszerrel összetételi elemzés mellett fázisazonosítást is végezhetünk 23. Az EDS szonda az alábbi berendezés(ek)hez kapcsolható: SEM, TEM XRD SEM 24. Melyik módszerrel lehet rugalmas maradó feszültséget mérni? XRD SEM TEM
25. Az acél felülete oxidos. Melyik módszerrel határozná meg, hogy melyik FexOy oxid van jelen? XRD SEM TEM 26. Ismeretlen por mintát kap. Melyik vizsgálattal kezdene? SEM XRD TEM 27. Milyen mintaelőkészítést igényel a SEM vizsgálat? Csiszolás, polírozás, maratás, szükség esetén aranygőzölés Csiszolás, polírozás Csiszolás, polírozás, fólia készítése 28. Milyen mintaelőkészítést igényel a TEM vizsgálat? Csiszolás, polírozás, fólia készítése Csiszolás, polírozás Csiszolás, polírozás, maratás, szükség esetén aranygőzölés 29. Milyen mintaelőkészítést igényel az XRD vizsgálat? Csiszolás, polírozás, (maratás) Csiszolás, polírozás, fólia készítése Csiszolás, polírozás, maratás, aranygőzölés 30. Ismert összetételű acél hőkezelési állapotát kell gyorsan meghatározni. Melyik módszert alkalmazná? Optikai mikroszkóp XRD TEM 31. Kvantitatív metallográfiai vizsgálatot kell ismert összetételű acél mintát elvégeznie. Melyik módszert alkalmazná? Optikai mikroszkóp XRD SEM
32. Homogén eloszlású, nem irányított második fázist tartalmazó mintán kell kvantitatív metallográfiai vizsgálatot végeznie. Milyen csiszolatokat készíthet? A csiszolatok iránya lehet véletlenszerű, illetve egymással párhuzamosak is. A csiszolatok irányának mindenképpen véletlenszerűnek kell lennie. A csiszolatoknak mindenképpen párhuzamosnak kell lenniük. 33. Mit jelent a "Pl" mennyiség? Metszéspontok száma, egységnyi hosszra vonatkoztatva Objektumok száma, egységnyi hosszra vonatkoztatva Metszéspontok száma, egységnyi területre vonatkoztatva 34. Melyik állítás igaz? Az EDS módszernek jó a területfelbontása A WDS módszernek jó a területfelbontása Az EDS módszernek jó a hullámhossz felbontása 35. Képfeldolgozás során melyik az első lépés a felsoroltak közül? A képek feldolgozása, a lényeges információk kiemelése A bináris képek átalakítása, a mérés előkészítése A képeken található - vizsgálni kívánt - jellegzetességek ('features'), vagy objektumok ('object') megkülönböztetése, a háttértől való elválasztása 36. Melyik képátalakítási csoport tartalmazza a szomszédsági transzformációkat? Konvolúció LUT transzformáció Mindkettő 37. Melyik állítás igaz? A LUT transzformációk különböző matematikai függvények szerint megváltozatják az összes pixel szürkeségi szintjét A szürkekép-átalakítás mindig alkalmaz kernelt A szürkekép-átalakítás során a detektálni kívánt objektumok morfológiai transzformációját végezzük 38. Hogyan számítjuk ki az "Ll" mennyiséget? Az alakzatok által kimetszett szakaszok hossza osztva a vonalhálózat teljes hosszával Az alakzatok által kimetszett szakaszok hossza kivonva a vonalhálózat teljes hosszából Az alakzatok által kimetszett szakaszok hossza szorozva a vonalhálózat teljes hosszával
39. Melyik állítás igaz? A LUT transzformációkat szürkeképen végezzük A LUT transzformációkat bináris végezzük A LUT transzformációkat szürkeképen és bináris is végezhetjük 40. Melyik állítás igaz? Morfológiai transzformációkat szürkeképen és bináris képen is végezhetünk Morfológiai transzformációkat csak szürkeképen végezhetünk Morfológiai transzformációkat csak bináris képen végezhetünk 41. Milyen képen végezhetünk számítógépes kvantitatív metallográfiai méréseket? Bináris képen Szürkeképen A rögzített képen 42. Melyik látótér átlag adat? Területarány Konvex átmérő Feret átmérő 43. Melyik állítás igaz? A konvolúció mindig alkalmaz kernelt A szürkekép-átalakítás mindig alkalmaz kernelt A konvolúció sosem alkalmaz kernelt 44. Mi a numerikus apertúra? A belépő fénykúp félnyílásszög szinuszának és az objektív és a tárgy közötti közeg törésmutatójának szorzata A belépő fénykúp félnyílásszög szinusza A belépő fénykúp félnyílásszögének és az objektív és a tárgy közötti közeg törésmutatójának szorzata 45. Melyik paraméter az "objektum" paraméter? Feret átmérő Területarány Részecskeszám 46. Melyik állítás igaz? Minél nagyobb a numerikus apertúra, annál kisebb a mélységélesség Minél nagyobb a numerikus apertúra, annál nagyobb a mélységélesség A mélységélesség nem függ a numerikus apertúrától
47. Mit jelent az "inverz állású" mikroszkóp? Az objektív a minta alatt helyezkedik el A mikroszkóp invertált képet ad A mikroszkóp átvilágítja a mintát 48. Repedések vizsgálatához általában melyik képalkotást használjuk? Sötét látótér (DF) Világos látótér (BF) Differenciál Interferencia Kontraszt (DIC) 49. Melyik állítás igaz? Minél nagyobb a numerikus apertúra, annál nagyobb a felbontóképesség Minél nagyobb a numerikus apertúra, annál kisebb a felbontóképesség A felbontóképesség nem függ a numerikus apertúrától 50. A vizsgálandó minta gyengén lett megmaratva, így világos látótérrel gyenge kontrasztot kapunk. Melyik képalkotási módot használná? Differenciál Interferencia Kontraszt (DIC) Sötét látótér (DF) Világos látótér (BF) 51. TEM + EDS vizsgálatra van szükség ugyanazon a mintán. Melyik mintaelőkészítést alkalmazhatjuk? Fólia készítés Lenyomat készítés Mindkettő alkalmazható 52. Szövetvizsgálathoz általában melyik képalkotást használjuk? Világos látótér (BF) Sötét látótér (DF) Differenciál Interferencia Kontraszt (DIC) 53. Melyik állítás igaz? TEM vizsgálat során csak akkor kapunk amplitúdó kontrasztos képet, ha a szórási kúp nyílásszöge nagyobb, mint az objektív nyílásszöge TEM vizsgálat során csak akkor kapunk amplitúdó kontrasztos képet, ha a szórási kúp nyílásszöge kisebb, mint az objektív nyílásszöge TEM vizsgálat során a képalkotás nem függ a szórási kúp nyílásszögének és az objektív nyílásszögének viszonyától
54. TEM vizsgálatnál melyik üzemmóddal lehet fázist azonosítani? Elektrondiffrakció Amplitúdó kontrasztos képalkotás Egyikkel sem 55. Melyik állítás igaz? A visszaszórt elektronok információt hordoznak a vizsgált térfogat átlagos rendszámáról, mert az elektronok szóródásának mértéke rendszámfüggő A szekunder elektronok információt hordoznak a vizsgált térfogat átlagos rendszámáról A visszaszórt elektronok a felületi topográfiáról hordoznak információt, mert a visszaszóródás erősen függ a felületi jellegzetességektől 56. Gömbgrafitos öntöttvasban a grafitszemcsének a szerkezetét melyik képalkotási módszerrel vizsgálná? Polarizált fény Sötét látótér (DF) Világos látótér (BF) 57. A röntgencsőből kilépő sugárzás: Folytonos háttérsugárzásból és monokromatikus karakterisztikus sugárzásokból áll Monokromatikus Folytonos 58. Melyik állítás igaz? A röntgencsőből kilépő karakterisztikus röntgensugárzás hullámhossza a target anyagától függ A röntgencsőből kilépő karakterisztikus röntgensugárzás hullámhossza a csőfeszültségtől függ A röntgencsőből kilépő karakterisztikus röntgensugárzás hullámhossza a csőre kapcsolt áramerősségtől függ 59. Melyik sugármenet történik vákuumban? Elektron (SEM), a röntgen (XRD) csak különleges berendezéseknél Elektron (SEM) és röntgen (XRD) Röntgen (XRD), az elektron (SEM) csak különleges berendezéseknél 60. Melyik állítás igaz? A relatív szórás csökkenthető az összes pontszám növelésével Ugyanakkora relatív szórás mellett az összes pontszám független a becsült pontaránytól Minél nagyobb a becsült pontarány, annál több összes pontszám szükséges ugyanakkora relatív szórás mellett
61. Egyfázisú anyag esetén melyik összefüggés helyes? Nl=Pl Nl=1/2Pl Nl=2Pl 62. Melyik egyenlőség helyes? Nt=1/2P+1 Nt=1/2P Nt=P 63. Melyik mennyiség számítható? Sv Pl Pp 64. Optikai mikroszkópoknál az objektív és a minta felülete közötti távolság: A numerikus apertúrától (és a így nagyítástól) függ Állandó A képalkotási módtól függ 65. Mit jelent a "P" jelölés? Hármas csomópontok száma Pontarány A második fázisba eső pontok száma 66. A Saltykov analízis során a különböző átmérőjű szemcse-metszeteket: Különböző átmérő-osztályokba soroljuk Az eredeti átmérőjükkel kezeljük Csak a metszetek számát használjuk 67. Melyik mennyiség mérhető? Ll Vv Lv 68. A vonalhálózat állhat: Egyenesekből, vagy körívekből Csak egyenesekből Egyenesekből és körívekből
69. Kocka alakú térfogatrészben diszperz, dendrit alakú fázis található. A fázis által elfoglalt terület: Változik a metszősík helyzetétől függően Állandónak tekinthető Valóban állandó 70. Melyik típusú elektronnak a legnagyobb az energiája? Visszaszórt elektron Szekunder elektron Auger elektron 71. Melyik állítás igaz? A valóságos lemeztávolság kisebb vagy egyenlő, mint a látszólagos lemeztávolság A látszólagos lemeztávolság kisebb, vagy egyenlő, mint a valóságos lemeztávolság A látszólagos lemeztávolság kisebb, mint a valóságos lemeztávolság 72. Minek a detektálására használjuk a félvezető detektort? Visszaszórt elektronok Szekunder elektronok Karakterisztikus röntgensugárzás 73. Minek a detektálására használjuk a Si(Li) detektort? Karakterisztikus röntgensugárzás Visszaszórt elektronok Szekunder elektronok 74. Minek a detektálására használjuk a szcintillátort? Szekunder elektronok Visszaszórt elektronok Karakterisztikus röntgensugárzás 75. A primér elektronnyaláb energiája és a kölcsönhatási térfogat mérete között: Egyenes arány van Nincs összefüggés Fordított arány van 76. Melyik típusú elektronnak a legnagyobb a hullámhossza? Szekunder elektron Visszaszórt elektron Auger elektron
77. A Wehnelt hengerre: Negatív feszültséget kapcsolunk Nullfeszültséget kapcsolunk Pozitív feszültséget kacsolunk 78. Melyik detektor tartalmaz fotoelektron sokszorozót? Szcintillátor Félvezető detektor EDS 79. A vizsgált térfogat átlagos rendszáma és a kölcsönhatási térfogat mérete között: Fordított arány van Nincs összefüggés Egyenes arány van 80. Melyik detektor tartalmaz analizátor kristályt? WDS EDS Szcintillátor 81. Milyen korrekciót kell alkalmaznunk mikroszondás vizsgálatoknál? A keletkezett röntgensugárzás abszorbciójának korrekcióját és a fluoreszencia korrekciót, mert a keletkezett karakterisztikus röntgensugárzást nem csak az elektronsugárzás gerjeszti, hanem egyéb elemek karakterisztikus röntgensugárzása is A keletkezett röntgensugárzás abszorbciójának korrekcióját A fluoreszencia korrekciót, mert a keletkezett karakterisztikus röntgensugárzást nem csak az elektronsugárzás gerjeszti, hanem egyéb elemek karakterisztikus röntgensugárzása is 82. Körülbelül hány kv-on üzemel egy TEM? 200 30 5000 83. Melyik érkezik nagyobb mélységből? Röntgen foton Visszaszórt elektron Auger elektron
84. Melyik sugárzást használjuk EDS vizsgálatokhoz? Karakterisztikus röntgen Folytonos Mindkettőt 85. A K alfa sugárzás intenzitása a K bétához képest: Nagyobb Egyenlő Kisebb 86. Körülbelül hány kv-on üzemel egy SEM? 30 200 5000 87. Körülbelül hány kv-on üzemel egy röntgendiffraktométer? 40 200 5000 88. A K alfa sugárzás energiája az L alfához képest: Nagyobb Egyenlő Kisebb 89. A Bragg-egyenlet... A diffrakció alapegyenlete A röntgendiffrakció alapegyenlete A röntgensugaras vizsgálatok alapegyenlete 90. A röntgencsőben az elektronok: W szálból lépnek ki A targetből lépnek ki Az anódból lépnek ki 91. A TEM-mel vizsgálható mintavastagság kb.: 1 mikrométer 10 mikrométer 0,1 mikrométer
92. A röntgencsőben víz hűti a: Targetet W szálat Az egész csövet 93. A K alfa sugárzás energiája a K bétához képest: Kisebb Egyenlő Nagyobb 94. Az XRD-vel vizsgálható térfogat mélysége kb.: Néhány 10 mikrométer Néhány 100 mikrométer Néhány 1000 mikrométer 95. Az EDS-sel vizsgálható térfogat mélysége kb.: Néhány mikrométer Néhány 10 mikrométer Néhány 100 mikrométer 96. A visszaszórt elektronok kb. milyen mélységből hordoznak információt? 100-1000 nm 10-100 nm 1-10 nm 97. A röntgencsőből a röntgenfotonok: Ablakon keresztül lépnek ki Ezüstfólián keresztül lépnek ki Üvegen keresztül lépnek ki
98. Milyen detektort ábrázol a kép? BSE SE EDS 99. A szekunder elektronok kb. milyen mélységből hordoznak információt? 1-10 nm 10-100 nm 100-1000 nm 100. Milyen detektort ábrázol a kép? Scintillátor EDS WDS
101. Milyen detektort ábrázol a kép? EDS Szcintillátor BSE 102. Milyen detektort ábrázol a kép? WDS XRD Szcintillátor 103. A rugalmas maradó feszültség melyik függvényjellemzőt változtatja meg kidöntött pozícióban? A Bragg-szög helyzetét Az integrált intenzitást A félérték-szélességet 104. Melyiknek a legnagyobb az energiája? Primér elektron Visszaszórt elektron Szekunder elektron
105. Az XRD spektrum első reflexiójának Miller-indexeinek négyzetösszegének és a második reflexiójának Miller-indexének négyzetösszegének hányadosa 1/2. Milyen rácsú a vizsgált anyag? TKK Primitív FKK 106. Milyen vizsgálati módszert mutat a kép? XRD WDS Szcintillátor 107. Melyik típusú röntgensugárzást használjuk XRD vizsgálatoknál? K alfa K béta Mindkettőt
108. Az XRD spektrum második reflexiójának Miller-indexeinek négyzetösszegének és a harmadik reflexiójának Miller-indexének négyzetösszegének hányadosa 1/2. Milyen rácsú a vizsgált anyag? FKK TKK Primitív 109. Milyen típusú felvételeket mutatnak az ábrák? a) visszaszórt elektron, b) szekunder elektron a) szekunder elektron, b) visszaszórt elektron Mindkettő visszaszórt elektron
110. Az XRD spektrum első reflexiójának Miller-indexeinek négyzetösszegének és a második reflexiójának Miller-indexének négyzetösszegének hányadosa 3/4. Milyen rácsú a vizsgált anyag? FKK TKK Primitív 111. Milyen típusú felvételeket mutatnak az ábrák? a) szekunder elektron, b) visszaszórt elektron Mindkettő szekunder elektron a) visszaszórt elektron, b) szekunder elektron 112. Melyik állítás igaz? A morfológiai transzformációk nem változtatják meg az objektumok szürkeségi szintjét A LUT transzformációk nem változtatják meg az objektumok szürkeségi szintjét A LUT transzformációk kernelt használnak
113. A képen látható mátrixot melyik vizsgálathoz alkalmazzuk? A Saltykov analízishez A valódi lemeztávolság-eloszlás vizsgálatához Az orientáció fok meghatározásához 114. Milyen típusú felvételeket mutatnak az ábrák? Mindkettő szekunder elektron a) szekunder elektron, b) visszaszórt elektron a) visszaszórt elektron, b) szekunder elektron
115. Mi a helyes válasz a képen látható szerkezeti modell esetében? A részecskék eloszlás-vizsgálatához az ún. Saltykov analízist kell használni A csiszolaton látható metszetek a sztereológia törvényszerűségeinek értelmében a valós szerkezetet reprezentálják A valós szerkezet jellemzéséhez különböző irányú metszetek szükségesek 116. Melyik sugárzásnak a legnagyobb az energiája? K alfa K béta L alfa 117. Mit jelent az "L" jel az L alfa sugárzás jelölésében? A gerjesztett elektronok az L héjra térnek vissza A gerjesztett elektronok az L héjra jutnak a gerjesztés során A gerjesztett elektronok a következő energiaszintű elektronpályára jutnak 118. Melyik állítás igaz? A röntgensugárzás energiája és hullámhossza között fordított arányosság van A röntgensugárzás energiája és hullámhossza között egyenes arányosság van A röntgensugárzás energiája és hullámhossza egymástól nem függenek
119. Milyen típusú felvételeket mutatnak az ábrák? a) SE, b) BSE Mindkettő SE a) BSE, b) SE 120. A röntgencsőben a befektetett energia csupán néhány %-a fordítódik röntgensugárzás keltésére. Miért használjuk mégis ezt a módszert? Laboratóriumi körülmények között nincs hatékonyabb röntgen sugárforrás A röntgensugárzás mellett egyéb, más célra használható sugárzás is keletkezik A röntgencsőben így csak karakterisztikus sugárzás keletkezik 121. Melyik állítás igaz? A röntgensugárzás energiája és intenzitása egymástól nem függenek A röntgensugárzás energiája és intenzitása között egyenes arányosság van A röntgensugárzás energiája és intenzitása között fordított arányosság van 122. A valós lemezes szerkezeti anyagok: N darab monodiszperz lemeztávolság-eloszlású rendszereként kezelhetőek Monodiszperz lemeztávolságúak Csak polidiszperz rendszerként kezelhetőek 123. Az XRD vizsgálatok során melyik kölcsönhatás játszódik le az anyagban? Rugalmas szóródás Rugalmatlan szóródás Röntgensugár gerjesztése 124. A röntgencsőben milyen anyagú a katód? Wolfrám A cső anyagától függ Berillium
125. Melyik állítás igaz? A térfogatarány egyértelműen származtatható a területarány, a vonalarány és a pontarány alapján A területarány egyértelműen származtatható a térfogatarány, a vonalarány és a pontarány alapján A vonalarány egyértelműen származtatható a területarány, a térfogatarány és a pontarány alapján 126. Állandó valós lemeztávolságú anyagon a véletlenszerű irányú csiszolatokon jellemzően ötféle lemeztávolságot mért. Melyik mért lemeztávolság közelít a valós mérethez? A legkisebb A mért értékek átlaga A mért értékek súlyozott átlaga 127. Az alábbi objektumok egyedi paramétereinek mérése során miért csak a sötét objektumokat mérjük? Mert az FCP-jük (Feature Coint Point), azaz jellegzetes pontjuk, kívül esik a mérőkeretből Mert a fehér objektumok kilógnak a mérőkeretből Mert a fehéreket FCP-jük elhelyezkedésétől függetlenül nem akarjuk mérni 128. Mi a képelemzés legfontosabb célja? A képek számszerű adatokkal történő jellemzése, azaz a mérés A képeken az elemzendő objektumok elválasztása a háttértől A képek bináris átalakítása 129. Melyik állítás igaz? Területet (Area) a látótér átlag adatai és az objektumok egyedi adatai alapján is lehet mérni Területet (Area) csak az objektumok egyedi adatai alapján lehet mérni Területet (Area) csak a látótár átlag adatai alapján lehet mérni.
130. Mi az abszorpciós él? Adott hullámhossznál az anyagok abszorpciója ugrásszerűen megnő A szekunder elektronos képalkotás során a minta élei világosabbnak látszanak A röntgendiffrakciós vizsgálat során a minta erőteljesebben nyeli el a röntgensugarakat 131. Mennyi az {312} síkrendszer felületvalószínűsége? 48 12 8 132. Mely szavak jelentése azonos? Detektálás és szegmentálás Detektálás és erodálás Detektálás és konvolúció 133. Röntgendiffrakciós fáziselemzés során mi a 2 theta szög definíciója? A primér és a diffraktált röntgennyaláb által bezárt szög A primér röntgennyaláb és a minta felülete által bezárt szög A primér röntgennyaláb és a minta felülete által bezárt szög kétszerese 134. Milyen típusú röntgendiffrakciós méréshez kell dönteni a mintát/berendezést? Maradó feszültség Kvalitatív fázisazonosítás Kvantitatív fázisazonosítás
135. Mennyi az {111} síkrendszer felületvalószínűsége? 8 12 48 136. Mennyiségi fáziselemzés során az interferenciafüggvény melyik paramétere a mérvadó? Integrált intenzitás Bragg-szög Félérték-szélesség 137. Mennyiségi fáziselemzés során melyik érték tekinthető állandónak? Berendezésfaktor Szögfaktor Szerkezeti faktor 138. Mi a goniométer? Precíziós szögmérő eszköz Feszültségmérő eszköz Foton-számláló 139. A röntgencsőben a befektetett energia kb. hány %-a fordítódik röntgensugár keltésére? 2 10 20 140. Milyen vizsgálatra alkalmas az atomerő mikroszkóp? Felületi morfológia Kohéziós erő Rácsszerkezet
141. Röntgendiffrakciós feszültség mérés során... Minél nagyobb a döntési szög, annál nagyobb a mért rácstorzulás Minél nagyobb a döntési szög, annál kisebb a mért rácstorzulás A mért rácstorzulás nem függ a döntési szögtől 142. Röntgendiffrakciós vizsgálatoknál a... A mintát vagy a diffraktométert kell egymáshoz képest döntenünk A diffraktométert kell döntenünk A mintát kell döntenünk 143. Röntgendiffrakciós fázisazonosításnál... A primér nyaláb nem gerjesztheti a mintát A primér nyalábnak gerjesztenie kell a mintát A primér nyaláb gerjesztheti a mintát, de ez nem szükséges feltétel 144. Melyik módszer nem igényel maratást? XRD SEM Optikai mikroszkóp 145. Röntgendiffrakciós vizsgálatoknál a minta... A goniométerkör középpontjában van A goniméterkörön van A fókuszkör középpontjában van 146. Melyik módszerrel tudja eldönteni, hogy az acél mintája ausztenites, vagy ferrites? XRD SEM Optikai mikroszkópia 147. Melyik berendezés része a Wehnelt henger? SEM TEM XRD 148. Melyik két módszer kombinációjával nyerhető ki a legtöbb információ az anyag szerkezetéről? XRD és SEM SEM és optikai mikroszkóp XRD és optikai mikroszkóp
149. Melyik módszerhez kapcsolódik (legszorosabban) a reciprok-tér? TEM XRD SEM 150. Jellemzően melyik módszer(ek) alkalmaz(nak) másodrendű diffrakciót? TEM XRD Mindkettő