A nanotechnológia mikroszkópja

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "A nanotechnológia mikroszkópja"

Átírás

1 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS június 1.

2 FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS június 1.

3 FEI Quanta 3D SEM/FIB 3 Anton van Leeuwenhoek ( , Delft) FEI (Philips) Eindhoven

4 A SEM működés alapjai 4 1. A minta elektronforrás felőli oldalán kiváltott termékeket használjuk a képalkotáshoz. 2. A pásztázás elvét használjuk (Max Knoll 1935). Soros képképzés (itt nem érvényes az Abbe-feltétel). 3. Fókuszált nyaláb pásztázza a minta felületét. A kiváltott termék (szekunder elektron, visszaszórt elektron, röntgen foton) intenzitását detektor érzékeli. A detektor jelével moduláljuk a képernyő pixeleinek fényességét. 4. A SEM nagyítását geometriai viszonyok határozzák meg. L N = l N képernyő pixelméret minta minimális pixelméret 0,1 mm 1 nm 5 max ~ = = 10

5 A SEM felépítése 5 Fő egységek 1. Elektron forrás (Schottky-forrás) 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 3. Pásztázó mágnesek 10-5 Pa 4. Detektorok (SED, BSED, EDX) 5. Vákuum rendszer vezető minták esetén szigetelő minták esetén biológiai minták esetén 100% páratartalom 10-3 Pa nagyvákuum üzemmód Pa alacsony-vákuum üzemmód Pa környezeti üzemmód

6 Kétsugaras mikroszkóp 6 Kétsugaras mikroszkóp (FIB = focused ion beam) 19 mm Elektron nyaláb függőlegesen ionnyaláb 52 o -ot zár be a függőlegessel 10 mm Hogy a FIB merőlegesen lássa a mintát, dönteni kell azt 52 o -kal Két nyaláb a munkatávolságon találkozik, megmunkálás közben látható az eredményt

7 Az ionnyaláb szerepe 7 Gallium ionforrás Porlasztás ionnyalábbal Gázkémia (nanolitográfia)

8 FEI Quanta 3D SEM/FIB detektorai 8 Detektorok - szekunder elektron detektor (SED); Everhard-Thornley-detektor - visszaszórt elektron detektor (BSED); félvezető detektor - szilícium drift röntgen detektor (EDX); energia diszperziv detektálás folyékony nitrogén mentes (Peltier-hűtésű), a berilliumtól az uránig képes elemanalízisre; - infravörös CCD kamera a mintatér optikai megfigyelésére. A SEM felbontás paraméterei: - SED max. felbontás nagyvákuum esetén, 30 kv gyorsító feszültség mellett: = 1 nm. - BSED felbontás nagyvákuum esetén, 30 kv gyorsító feszültség mellett: 2,5 nm. - EDX detektor energia felbontásra: 130 Mn K α. A detektor sebessége: 10 5 cps. Koncentráció meghatározás pontossága (standard minta esetén): (0,1 1) %

9 FEI Quanta 3D SEM/FIB 9 ion oszlop elektron oszlop omniprobe nanomanipulátor EDX detektor gáz injektorok cont. dynode electr. multiplier = CDEM detektor (SE, SI) mintakamra ajtó mintatartó mechanikus mozgatógombokkal EBSD detektor GSED erősítő

10 FEI Quanta 3D SEM/FIB 12 mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval

11 FEI Quanta 3D SEM/FIB 13 cont. dynode electr. multiplier = CDEM detektor (SE, SI) ion oszlop vége elektron oszlop vége gáz injektor Everhard-Thornly- SED/BSED low kv vcd (visszahúzható) pásztázó transzmissziós detektor (STEM) EBSD detektor infravörös CCD kamera alacsony nyomású szekunder elektron detektot (LVSED)

12 FEI Quanta 3D SEM/FIB 14 cont. dynode electr. multiplier = CDEM detektor (SE, SI) ion oszlop vége elektron oszlop vége gáz injektor Everhard-Thornly- SED/BSED low kv vcd (visszahúzható) pásztázó transzmissziós detektor (STEM) EBSD detektor infravörös CCD kamera alacsony nyomású szekunder elektron detektot (LVSED)

13 Szekunder elektron kép 15 Szekunder elektron detektor (SED) - A szekunder elektronok energiája < 50 ev, jellemzően 3 10 ev. Könnyen összegyűjthetők. - A kis energia miatt csak a felületről, illetve kis mélységből jutnak a detektorba. Információ a felület alakjáról. - Itt a legnagyobb a felbontás. Ideális esetben a Quanta 3D esetében a SED felbontása 1 nm. - Kisebb nagyítás esetén a mélységélesség nagy Everhard-Thornley-detektor arany részecskék grafit felületen kalcit melegvízű forrás üledékében

14 Visszaszórt elektron kép 16 Visszaszórt elektron detektor (BSED) - A visszaszórt elektronok energiája > 5 kev, - A nagy energia miatt mélyebbről hoz információt. - A felbontás ideális esetben a 2 3 nm. - A kép tükrözi az összetételt, azaz Z kontrasztos. Ugyanannak a tartománynak a ETD és a BSED képe (barlangi víz üledéke))

15 Röntgen elemanalízis 17 Röntgen detektor (Energia diszperziv röntgen detektor = EDX) - Szilícium drift detektor, elemanalízis - Nem igényel folytonos folyékony N hűtést Peltier-hűtés ~ - 60 o C. - A detektor sebessége: 10 5 cps. - A detektor energia felbontásra: 130 Mn Kα. visszaszórt elektron kép röntgen elemtérkép szfalerit ásvány spektruma elemtérkép készítése (gyökérkövület)

16 FIB: keresztmetszeti minta készítése 18

17 FIB: keresztmetszeti minta készítése 19

18 FIB: keresztmetszeti minta készítése 20

19 FIB: keresztmetszeti minta készítése 21

20 FIB: keresztmetszeti minta készítése 22

21 FIB: keresztmetszeti minta készítése 23

22 FIB: keresztmetszeti minta készítése 24

23 FIB: keresztmetszeti minta készítése 25

24 FIB: keresztmetszeti minta készítése 26

25 FIB: keresztmetszeti minta készítése 27

26 FIB: mikropillár készítés 28 mikropillár

27 Mikropillár deformáció 29 deformáció hatása

28 PLGA Sem vizsgálata 30 PLGA (polylactic-co-glycolic acid) kopolimer gömböcskék

29 FEI Quanta 3D SEM/FIB 31 PLGA (polylactic-co-glycolic acid) kopolimer gömböcskék

30 FEI Quanta 3D SEM/FIB 32 Hagyományos retard gyógyszer belseje

31 FEI Quanta 3D SEM/FIB 33 Hagyományos retard gyógyszer belseje

32 FEI Quanta 3D SEM/FIB üzemmódok 34 Szén nanostruktúrák vizsgálata Szén nano (mikro-) kónusz

33 FEI Quanta 3D SEM/FIB 35 kréta (coccoliths)

34 Összefoglalás 36 Információtartalom: alak, méret, finomszerkezet a mikro- és nanométeres tartományban. Ideális minta: mm-cm nagyságrendű vastagságú, vezető, félvezető, vízmentes. Mérhető még: nanorészecskék, vékony film, biológiai minták, nedves minták. A képalkotáshoz felhasznált termékek : szekunder elektronok (SE), visszaszórt elektronok (BSE) Felbontás (vízszintes): 1 5 nm. Felbontás (mélységi): nm (BSE) nm (SE). Mélységélesség: az objektív apertúrával változtatható. Általában nagy: a képszélesség 0,1 1. része. Képinformáció: - topografikus (SE, BSE), - összetétel (BSE), - kristály orientáció (EBSD).

35 Összefoglalás 37 Röntgen elemanalízis: kvalitatív (energia diszperzív), kvantitatív: (1-0,1) % pontossággal. Fókuszált ionsugár (FIB): keresztmetszeti mintakészítés, felület megmunkálása (csiszolás), TEM mintakészítás (kiemelés nanomanipulátorral), mikro és nanostruktúrák létrehozása. Visszaszórt elektron-diffrakció (EBSD): kristályszerkezet meghatározás, szemcse orientáció meghatározás (textúra vizsgálat). Pásztázó transzmissziós detektor (STEM): vékony minta esetén TEM kép is készíthető, felbontás: (0,9 1) nm. További részletek: submicro.elte.hu havancsak@ludens.elte.hu

36 38 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet EGIS június 1. EGIS június 1.

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású

Részletesebben

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100

Részletesebben

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek

Részletesebben

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15

Részletesebben

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái

Részletesebben

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 9:30-11:00 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai és visszaszórtelektron diffrakció

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz

Részletesebben

FEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december

FEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december 1 Havancsák Károly 2010. december 2 Időrend A helyiség kialakítás tervezése 2010. május Mágneses tér, vibráció mérése 2010. május A helyiség kialakítása 2010. augusztus 4 22. A berendezés szállítása 2010.

Részletesebben

FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n

FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n FEI Quanta 3D Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n Havancsák Károly, Dankházi Zoltán, Varga Gábor, Ratter Kitti ELTE TTK Anyagfizikai Tanszék ELFT

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január 1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),

Részletesebben

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal 1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás

Részletesebben

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:

Részletesebben

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez 1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet

Részletesebben

Mikroszerkezeti vizsgálatok

Mikroszerkezeti vizsgálatok Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,

Részletesebben

Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et. Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék

Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et. Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék 1947-ben kezdődött a bipoláris germánium tranzisztor létrehozásával (Bell Laboratory). mikrotechnológia

Részletesebben

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2015. március 1 Energia-diszperzív Fókuszált ionsugaras röntgen megmunkálás elemanalízis

Részletesebben

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis Fókuszált ionsugaras megmunkálás Energia-diszperzív röntgen elemanalízis FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 EDS = Energy Dispersive Spectroscopy Hol található a SEM/FIB berendezésen?

Részletesebben

PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA

PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1 Havancsák Károly, Dankházi Zoltán ELTE Anyagfizikai Tanszék PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1. BEVEZETÉS A hagyományos optikai mikroszkóp felbontóképessége a diffrakciós korlát

Részletesebben

A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.

A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július. 1 A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum 2012. július. Mikroszkópok 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)

Részletesebben

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás

Részletesebben

Röntgen-gamma spektrometria

Röntgen-gamma spektrometria Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet

Részletesebben

NAGYFELBONTÁSÚ PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP AZ EÖTVÖS EGYETEMEN

NAGYFELBONTÁSÚ PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP AZ EÖTVÖS EGYETEMEN NAGYFELBONTÁSÚ PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP AZ EÖTVÖS EGYETEMEN Havancsák Károly, Lendvai János ELTE Természettudományi Kar 2010 ôszén az Eötvös Loránd Tudományegyetem Európai Léptékkel a Tudásért, ELTE

Részletesebben

AZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA

AZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA 95 AZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA DUAL BEAM SCANNING ELECTRONMICROSCOPE AT EÖTVÖS LORÁND UNIVERSITY HAVANCSÁK KÁROLY 1, BARIS ADRIENN 2, KALÁCSKA SZILVIA 3 Eötvös Loránd Tudományegyetem,

Részletesebben

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés VISSZASZÓRTELEKTRON-DIFFRAKCIÓS VIZSGÁLATOK AZ EÖTVÖS LORÁND TUDOMÁNYEGYETEMEN 2. RÉSZ Havancsák Károly, Kalácska Szilvia, Baris Adrienn, Dankházi Zoltán, Varga Gábor Eötvös Loránd Tudományegyetem, Természettudományi

Részletesebben

Finomszemcsés anyagok mikroszerkezetének vizsgálata kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóppal

Finomszemcsés anyagok mikroszerkezetének vizsgálata kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóppal Finomszemcsés anyagok mikroszerkezetének vizsgálata kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóppal Szakdolgozat Írta: Laschober Dóra Ágnes ELTE TTK, Fizika BSc Témavezető: Havancsák Károly CSc ELTE TTK Anyagfizikai

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az

Részletesebben

PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA

PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1 Havancsák Károly, Dankházi Zoltán ELTE Anyagfizikai Tanszék PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1. BEVEZETÉS A hagyományos optikai mikroszkóp felbontóképessége a diffrakciós korlát

Részletesebben

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban

Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban ELTE TTK, Ásványtani Tanszék Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban Takács Ágnes & Molnár Ferenc 6. Téli Ásványtudományi Iskola, Balatonfüred

Részletesebben

Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére

Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-23/16-M Dr. Szalóki Imre, fizikus, egyetemi docens Radócz Gábor,

Részletesebben

Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához

Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához Takács Ágnes, Molnár Ferenc & Dankházi Zoltán Ásványtani Tanszék & Anyagfizikai Tanszék Centrumban

Részletesebben

Finomszerkezetvizsgálat

Finomszerkezetvizsgálat Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)

Részletesebben

EDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása

EDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EDX Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EBSD Elméleti háttér Felület előkészítése Orientálás Hough-transzformáció IPF, IQ Felület minősége 2 Elektron besugárzás Röntgen foton kisugárzás

Részletesebben

Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János. Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves,

Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János. Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves, Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves, 2013.06.21-23 PIXE Particle Induced X-ray Emission Részecske indukált röntgenemissziós

Részletesebben

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására

Részletesebben

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT 6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP

Részletesebben

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Galbács Gábor Bevezetés A felületvizsgáló módszere köre az elmúlt évtizedekben az egyik leggyorsabban fejlődő területe volt az analitikai kémiának (és az anyagtudománynak).

Részletesebben

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél

Részletesebben

Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben

Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben Takács Ágnes & Molnár Ferenc Ásványtani Tanszék Visegrád, 2012. január 18-20. Kutatási téma Infravörös fluidzárvány vizsgálathoz

Részletesebben

FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA

FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA Kolozsvár, 2003. március 21-22. A Fe-C-Mo SZINTERELT ANYAGOK SEM / EDS VIZSGÁLATA Zsók János Csaba, Dr. Pálfalvi Attila 1.Összefoglaló A dolgozat a szintereit alkatrészek

Részletesebben

Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary. Innováció és Kommunikáció február 20.

Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary. Innováció és Kommunikáció február 20. Egy high tech cég g 17 éve Út t a kutatói ötletektıl l a világsz gszínvonalú termékekig egy tudományos mőszerfejlesztm szerfejlesztı vállalkozás s példp ldáján Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary

Részletesebben

Röntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)

Röntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok

Részletesebben

Egzotikus elektromágneses jelenségek alacsony hőmérsékleten Mihály György BME Fizikai Intézet Hall effektus Edwin Hall és az összenyomhatatlan elektromosság Kvantum Hall effektus Mágneses áram anomális

Részletesebben

Fény és anyag munkában

Fény és anyag munkában Nanofizika, nanotechnológia és anyagtudomány Fény és anyag munkában Dr. Koppa Pál BME TTK, Fizikai ntézet, Atomfizika Tsz. 1 Alkalmazott fizika az ipar szolgálatában Néhány alkalmazási terület: Fényforrások

Részletesebben

Anyagszerkezet vizsgálati módszerek

Anyagszerkezet vizsgálati módszerek Kromatográfia Folyadékkromatográfia-tömegspektrometria Anyagszerkezet vizsgálati módszerek Pannon Egyetem Mérnöki Kar Anyagszerkezet vizsgálati módszerek Kromatográfia 1/ 25 Folyadékkromatográfia-tömegspektrometria

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. A sugárzáson alapuló hőmérsékletmérés (termográfia),azt a fizikai jelenséget használja fel, hogy az abszolút nulla K hőmérséklet (273,16

Részletesebben

1026 Budapest, Riadó u Pf.: 166. Tel.: 06-1/ , fax: 06-1/ Elektronikus kapcsolattartás: kozbeszerzes.hu D.361/28/2018.

1026 Budapest, Riadó u Pf.: 166. Tel.: 06-1/ , fax: 06-1/ Elektronikus kapcsolattartás: kozbeszerzes.hu D.361/28/2018. KÖZBESZERZÉSI HATÓSÁG KÖZBESZERZÉSI DÖNTŐBIZOTTSÁG 1026 Budapest, Riadó u. 5. 1525 Pf.: 166. Tel.: 06-1/882-8592, fax: 06-1/882-8592 Elektronikus kapcsolattartás: kozbeszerzes.hu Az ügy iktatószáma: D.361/28/2018.

Részletesebben

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 2. A NANOTECHNOLÓGIA ESZKÖZEI I 2012/2013 1. félév 1 2. ELŐADÁS A NANOTECHNOLÓGIA

Részletesebben

Ábrajegyzék. Táblajegyzék

Ábrajegyzék. Táblajegyzék Tartalomjegyzék 1. Bevezetés... 3 2. Fizikai háttér... 4 2.2 A fókuszált ionsugaras mikroszkóp (FIB) általános felépítése és működési elve... 6 2.3 Kétsugaras mikroszkópok... 8 2.4 Anyag-ion kölcsönhatások...

Részletesebben

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása

Részletesebben

TÖMEGSPEKTROMÉTEREK SZEREPE A FÖLDTUDOMÁNYBAN. Palcsu László MTA Atommagkutató Intézet (Atomki) Környezet- és Földtudományi Laboratórium, Debrecen

TÖMEGSPEKTROMÉTEREK SZEREPE A FÖLDTUDOMÁNYBAN. Palcsu László MTA Atommagkutató Intézet (Atomki) Környezet- és Földtudományi Laboratórium, Debrecen TÖMEGSPEKTROMÉTEREK SZEREPE A FÖLDTUDOMÁNYBAN Palcsu László MTA Atommagkutató Intézet (Atomki) Környezet- és Földtudományi Laboratórium, Debrecen Miről lesz szó? - Előzmények - Meglévő, hamarosan beszerzendő

Részletesebben

Ringwooditok EBSD vizsgálata az NWA 5011 számú L6-os kondritos meteoritban

Ringwooditok EBSD vizsgálata az NWA 5011 számú L6-os kondritos meteoritban Ringwooditok EBSD vizsgálata az NWA 5011 számú L6-os kondritos meteoritban Bérczi Sz.*, Nagy Sz.*, Gyollai I.*, Józsa S.**, Havancsák K.*, Varga G.*, Dankházi Z.*, Ratter K.* *ELTE TTK Fizika Intézet,

Részletesebben

Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél

Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél Fémgőz és plazma Buza Gábor, Bauer Attila Messer Innovation Forum 2016. december

Részletesebben

JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS!

JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS! JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS! Szakács Tibor, Szepesi Ildikó ABL&E-JASCO Magyarország Kft. 1116 Budapest, Fehérvári út 132-144. ablehun@ablelab.com www.ablelab.com JASCO SPEKTROSZKÓPIA

Részletesebben

PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA

PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA Molnár László Milán Mikro- és nanotechnológia 2008.10.14. MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK I. OPTIKAI ÉS ELEKTRON Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Optikai Egyszerő Diffrakciólimitált

Részletesebben

NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK

NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK Dr. Palotás Béla Mechanikai Technológia és Anyagszerkezettani Tanszék Elektronsugaras hegesztés A katódból kilépő

Részletesebben

Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére

Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére Közbeszerzési Értesítő száma: 2016/11 Beszerzés tárgya: Árubeszerzés Hirdetmény típusa: Tájékoztató az eljárás eredményéről/eu/2011.08.19.

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)

Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA) Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA) Anyagtudományi analitikai vizsgálati módszerek Koczka Béla Szervetlen és Analitikai kémia Tanszék Mikroszkópos leképezési technikák

Részletesebben

Köpenyfluidzárványok kutatása mikro- és nanométeres léptékben

Köpenyfluidzárványok kutatása mikro- és nanométeres léptékben Köpenyfluidzárványok kutatása mikro- és nanométeres léptékben a nagyfelbontású Raman spektroszkóp és a fókuszált ionsugaras technika (FIB-SEM) alkalmazásának előnyei BERKESI Márta 1, SZABÓ Csaba 1, GUZMICS

Részletesebben

Detektorok. Siklér Ferenc MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest

Detektorok. Siklér Ferenc MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest Detektorok Siklér Ferenc sikler@rmki.kfki.hu MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest Hungarian Teachers Programme 2008 Genf, 2008. augusztus 19. Detektorok 1970 16 GeV π nyaláb, folyékony

Részletesebben

Száloptika, endoszkópok

Száloptika, endoszkópok Száloptika, endoszkópok Optikai mikroszkópok a diagnosztikában Elektronmikroszkópia, fluorescens és konfokális mikroszkópia PTE-ÁOK Biofizikai ntézet Czimbalek Lívia 2009.03.16. Száloptika, endoszkópok

Részletesebben

Pásztázó mikroszkópiás módszerek

Pásztázó mikroszkópiás módszerek Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai

Részletesebben

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses

Részletesebben

Aktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György

Aktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György Aktuátorok korszerű anyagai Készítette: Tomozi György Technológiai fejlődés iránya Mikro nanotechnológia egyre kisebb aktuátorok egyre gyorsabb aktuátorok nem feltétlenül villamos, hanem egyéb csatolás

Részletesebben

A sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása

A sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása A sugárzás és az anyag kölcsönhatása A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása Cserenkov-sugárzás v>c/n, n törésmutató cos c nv Cserenkov-sugárzás Pl. vízre (n=1,337): 0,26 MeV c 8 m / s 2. 2* 10 A sugárzás

Részletesebben

Mikropillárok plasztikus deformációja 3.

Mikropillárok plasztikus deformációja 3. Mikropillárok plasztikus deformációja 3. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 projekt Visegrád 2012 Mikropillárok plasztikus deformációja 3.: Ultra-finomszemcsés Al-30Zn ötvözet plasztikus deformációjának

Részletesebben

Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal

Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal Radioaktivitás Biofizika előadások 2013 december Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal PTE ÁOK Biofizikai Intézet, Orbán József Összefoglaló radioaktivitás alapok Nukleononkénti kötési energia (MeV) Egy

Részletesebben

Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze

Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Ritvayné Szomolányi Mária Frombach Gabriella VITUKI CONSULT Zrt. A távérzékelés segítségével: különböz6 magasságból, tetsz6leges id6ben és a kívánt hullámhossz tartományokban

Részletesebben

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 4. ELŐADÁS: ELEKTRON- ÉS IONSUGARAS NANOMEGMUNKÁLÁS 2012/2013 tanév 1. félév 1 4. ELŐADÁS: ELEKTRON-

Részletesebben

Mérés és adatgyűjtés

Mérés és adatgyűjtés Mérés és adatgyűjtés 7. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2013. április 11. MA - 7. óra Verzió: 2.2 Utolsó frissítés: 2013. április 10. 1/37 Tartalom I 1 Szenzorok 2 Hőmérséklet mérése 3 Fény

Részletesebben

72-74. Képernyő. monitor

72-74. Képernyő. monitor 72-74 Képernyő monitor Monitorok. A monitorok szöveg és grafika megjelenítésére alkalmas kimeneti (output) eszközök. A képet képpontok (pixel) alkotják. Általános jellemzők (LCD) Képátló Képarány Felbontás

Részletesebben

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

Részletesebben

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Különböző sugárzások tulajdonságai Típus töltés Energia hordozó E spektrum Radioaktí sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktí sugárzások detektálása. α-sugárzás pozití

Részletesebben

A részecskefizika kísérleti eszközei

A részecskefizika kísérleti eszközei A részecskefizika kísérleti eszközei (Gyorsítók és Detektorok) Hamar Gergő MTA Wigner FK 1 Tartalom Mit kell/lehet mérni egy részecskén? miben különböznek? hogyan és mit mérünk? Részecskegyorsítók, CERN

Részletesebben

A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA

A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA Müller Melinda és Berta Márton Környezettan BSc és Környezettudomány MSc hallgatók Témavezető: Szabó

Részletesebben

Alapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat

Alapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Roncsolásmentes anyagvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Alapvető eljárások Szemrevételezés (vizuális vizsgálat, VT) Folyadékbehatolásos vizsgálat

Részletesebben

MIKRO-TÜKÖR BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY

MIKRO-TÜKÖR BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY MIKRO-TÜKÖR BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY TV Kiforrott technológia Kiváló képminőség Környezeti fény nem befolyásolja 4:3, 16:9 Max méret 100 cm Mélységi

Részletesebben

EBSD vizsgálatok alkalmazása a geológiában: Enargit és luzonit kristályok orientációs vizsgálata

EBSD vizsgálatok alkalmazása a geológiában: Enargit és luzonit kristályok orientációs vizsgálata ELTE TTK, Ásványtani Tanszék EBSD vizsgálatok alkalmazása a geológiában: Enargit és luzonit kristályok orientációs vizsgálata Takács Ágnes & Molnár Ferenc TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 Szubmikroszkópos

Részletesebben

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék 3. (b) Kereszthatások Utolsó módosítás: 2013. április 1. Vezetési együtthatók fémekben (1) 1 Az elektrongáz hővezetési együtthatója A levezetésben alkalmazott feltételek: 1. Minden elektron ugyanazzal

Részletesebben

Nagy érzékenységű AMS módszerek hosszú felezési idejű könnyű radioizotópok elemzésében

Nagy érzékenységű AMS módszerek hosszú felezési idejű könnyű radioizotópok elemzésében Nagy érzékenységű AMS módszerek hosszú felezési idejű könnyű radioizotópok elemzésében Molnár M., Rinyu L., Palcsu L., Mogyorósi M., Veres M. MTA ATOMKI - Isotoptech Zrt. Hertelendi Ede Környezetanalitikai

Részletesebben

A felület EBSD vizsgálata

A felület EBSD vizsgálata Cirkónium Anyagtudományi Kutatások A felület EBSD vizsgálata Dankházi Zoltán, Heczel Anita, Maksa Zsolt, Szabó Ábel, Varga Gábor, Vida Ádám ELTE Anyagfizikai Tanszék Kutatási jelentés a Nemzeti Kutatási,

Részletesebben

Kémiai elemeloszlás vizsgálata talajlakó fonálférgekben. Sávoly Zoltán PhD hallgató ELTE Kémia Doktori Iskola

Kémiai elemeloszlás vizsgálata talajlakó fonálférgekben. Sávoly Zoltán PhD hallgató ELTE Kémia Doktori Iskola Kémiai elemeloszlás vizsgálata talajlakó fonálférgekben Sávoly Zoltán PhD hallgató ELTE Kémia Doktori Iskola Bevezetés A Földön élő minden öt többsejtű állatból négy a fonálférgek törzséhez tartozik, egy

Részletesebben

Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék

Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék 2011. szeptember 22. Mi az a nano? 1 nm = 10 9 m = 0.000000001 m Nanotudományok: 1-100

Részletesebben

Nanoelektronikai eszközök III.

Nanoelektronikai eszközök III. Nanoelektronikai eszközök III. Dr. Berta Miklós bertam@sze.hu 2017. november 23. 1 / 10 Kvantumkaszkád lézer Tekintsünk egy olyan, sok vékony rétegbõl kialakított rendszert, amelyre ha külsõ feszültséget

Részletesebben

A LUFFT GYÁRTMÁNYÚ FELHŐALAPMÉRŐ FELÉPÍTÉSE ÉS MŰKÖDÉSE

A LUFFT GYÁRTMÁNYÚ FELHŐALAPMÉRŐ FELÉPÍTÉSE ÉS MŰKÖDÉSE A LUFFT GYÁRTMÁNYÚ FELHŐALAPMÉRŐ FELÉPÍTÉSE ÉS MŰKÖDÉSE SZINI HAJNALKA Országos Meteorológiai Szolgálat Távérzékelési osztály CEILOMETER ÁLTALÁNOS JELLEMZŐI egyszerűbb, egy hullámhosszon működő elastic-backscatter

Részletesebben

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses

Részletesebben

Fényérzékeny amorf nanokompozitok: technológia és alkalmazásuk a fotonikában. Csarnovics István

Fényérzékeny amorf nanokompozitok: technológia és alkalmazásuk a fotonikában. Csarnovics István Új irányok és eredményak A mikro- és nanotechnológiák területén 2013.05.15. Budapest Fényérzékeny amorf nanokompozitok: technológia és alkalmazásuk a fotonikában Csarnovics István Debreceni Egyetem, Fizika

Részletesebben

Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése

Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. március 19. (hétfő délelőtti csoport) 1. Mikroszkóp vizsgálata 1.1. A mérés

Részletesebben

Amerícium-241 szennyezés fizikai és kémiai sajátosságainak vizsgálatai a KFKI telephelyen

Amerícium-241 szennyezés fizikai és kémiai sajátosságainak vizsgálatai a KFKI telephelyen Amerícium-241 szennyezés fizikai és kémiai sajátosságainak vizsgálatai a KFKI telephelyen Andrási A. 3, Fehér I. 3, Földi A. 1, Gonter K. 1, Kocsonya A. 1, Molnár Zs. 3, Osán J. 1, Pálfalvi J. 2, Pázmándi

Részletesebben

Cirkon újrakristályosodásának vizsgálata kisenergiájú elektronbesugárzás után

Cirkon újrakristályosodásának vizsgálata kisenergiájú elektronbesugárzás után Cirkon újrakristályosodásának vizsgálata kisenergiájú elektronbesugárzás után Váczi Tamás és Lutz Nasdala ELTE Ásványtani Tanszék Bécsi Egyetem Ásványtani és Krisztallográfiai Intézet 7. Téli Ásványtudományi

Részletesebben

Környezet nehézfém-szennyezésének mérése és terjedésének nyomon követése

Környezet nehézfém-szennyezésének mérése és terjedésének nyomon követése Környezet nehézfém-szennyezésének mérése és terjedésének nyomon követése Krisztán Csaba Témavezető: Csorba Ottó 2012 Vázlat A terület bemutatása Célkitűzés A szennyeződés jellemzése Mintavételezés Módszerek

Részletesebben