Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et. Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék
|
|
- Benedek Dudás
- 6 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék
2 1947-ben kezdődött a bipoláris germánium tranzisztor létrehozásával (Bell Laboratory). mikrotechnológia 1956-ban fizikai Nobel-díj. Feynman 1959 Mihal C. Roco
3 Az első tömegtermelt microelectromechanical system (MEMS): légzsák kioldó szenzor
4
5 A fotolitográfia méretcsökkenése Moore-törvény, évtizedeken át érvényes tendencia Gordon Moore ~2000-ben vonal vastagság [nm]
6 A fotolitográfia méretcsökkenése Moore-törvény, évtizedeken át érvényes tendencia. Manapság a vonalvastagság elérte a nm-t, Ha a tendencia folytatódik, akkor és között a 10 nm-es határt is elérjük. Ez a nanotechnológián belül újabb kihívásokat rejt magában. Gordon Moore 2009-ben vonal vastagság [nm] ITRS (International Technology Roadmap of Semiconductors)
7
8 ZnO nanoőv, -spirál, -rugó
9
10
11
12
13
14
15
16 Cu Brenner SS Tensile strength of whiskers. J. Appl. Phys. 27:
17 Al Tabata T, Fujita H, Yamamoto S, Cyoji T The effect of specimen diameter on tensile behaviors of aluminum thin wires. J. Phys. Soc. Japan 40:
18 Cu drótok - csavarási deformáció [Fleck et al. Acta Mat. 1994]
19 Nanoindenterek MTS_Nano-Indenter XP CSIRO_UMIS (Ultra-Micro-Indentation System) Hysitron_Triboscope CSM_NHT (Nano-Hardness Tester)
20 Commercial machine implementation MTS_Nano-Indenter CSIRO_UMIS Inductive force generation system Displacement measured by capacitance gage Hysitron_TriboScope Load via leaf springs by expansion of load actuato Deflection measured using a force LVDT CSM_NHT Two perpendicular transducer systems Force applied by an electromagnetic actuator
21
22
23 Deformáció szemcseméret-csökkenést eredményezhet:
24 L. Zhang et al.: Evaluation of matrix strength in ultra-fine grained pure Al by nanoindentation, J. Mater. Res., Vol. 24, No. 9, Sep 2009
25
26
27 Fig. 1. Mechanical behavior at room temperature for pure Ni microsamples having a 134 orientation. M D Uchic et al. Science 2004;305:
28
29 [P. Shade, 2008]
30 Fig. 1. A typical stress-strain curve obtained from simulation of the three-dimensional dislocation dynamics model in a load-controlled test in multiple-slip conditions. F F Csikor, C. Motz, D. Weygand, M. Zaiser, S. Zapieri Science 2007;318:
31 Fig. 2. Progress of a large dislocation avalanche in [010] symmetrical multiple slip for a specimen of size L = 0.5 µm. F F Csikor et al. Science 2007;318:
32 Fig. 3. Scaling collapse of avalanche size distributions. F F Csikor et al. Science 2007;318:
33 Fig. 4. Shapes of rods (aspect ratio 1:50) after simulated bending; rod thickness t from top left to bottom right: t = 100 µm, t = 10 µm, t = 1 µm, t = 0.1 µm; b = m, Θ = E/1000; the color code indicates the local bending angle over a segment of length t. F F Csikor et al. Science 2007;318:
34 A fotolitográfia méretcsökkenése vonal vastagság [nm]
35 P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, (2010)
36 P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, (2010)
37 P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, (2010) 3D
38 P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, (2010) 2D
39 FEI Quanta 3D SEM/FIB
40 FEI Quanta 3D SEM/FIB ion oszlop elektron oszlop omniprobe nanomanipulátor DX detektor gáz injektorok nt. dynode electr. ultiplier = CDEM tektor (SE, SI) mintakamra ajtó mintatartó mechanikus mozgatógombokkal EBSD detektor GSED erősítő
41 FEI Quanta 3D SEM/FIB low kv vcd (visszahúzható pásztázó transz missziós detekt (STEM) nt. dynode electr. ultiplier = CDEM detektor E, SI) ion oszlop vége elektron oszlop vége áz injektor Everhard-Thorn SED/BSED EBSD detektor infravörös CCD kamera alacsony nyomás szekunder elektro detektot (LVSED)
42 FEI Quanta 3D SEM/FIB mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval
43
44
45 Bulatov et al.
46 Blue Gene a LLNL-ban
47 Köszönöm szépen a figyelmet! Kellemes Ünnepeket!
A nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
FEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december
1 Havancsák Károly 2010. december 2 Időrend A helyiség kialakítás tervezése 2010. május Mágneses tér, vibráció mérése 2010. május A helyiség kialakítása 2010. augusztus 4 22. A berendezés szállítása 2010.
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 9:30-11:00 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai és visszaszórtelektron diffrakció
Fókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok
ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január
1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),
Fókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
Fókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal
1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n
FEI Quanta 3D Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n Havancsák Károly, Dankházi Zoltán, Varga Gábor, Ratter Kitti ELTE TTK Anyagfizikai Tanszék ELFT
József Attila Gimnázium és Eü. Szakközépiskola spec. mat.
1 MESTERSÉGEM CÍMERE F, mint FIZIKUS Tateyama Kagaku Ind. Co. Ltd., Toyama, Japan 3 irányú szilícium gyorsulásérzékelő József Attila Gimnázium és Eü. Szakközépiskola spec. mat. Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi
Grafén nanoszerkezetek
Grafén nanoszerkezetek Dobrik Gergely Atomoktól a csillagokig 2012 február 16 Nanométer : 10-9 m 1 méter 1 000 000 000 = 1 nanométer 10 m 10 cm 1 mm 10 µm 100 nm 1 nm 1 m 1 cm 100 µm 1 µm 10 nm 1Å A szén
Nagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása
Nagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása P. Jenei a, E.Y. Yoon b, J. Gubicza a, H.S. Kim b, J.L. Lábár a,c, T. Ungár a a Anyagfizikai Tanszék,
Mikroszerkezet Krisztallitonként Tömbi Polikristályos Mintában
Mikroszerkezet Krisztallitonként Tömbi Polikristályos Mintában Ribárik Gábor, Zilahi Gyula és Ungár Tamás Anyagfizikai Tanszék TAMOP Szeminárium, Visegrád 2012, január 18-20. Diffrakciós vonalak kiszélesedése
Diszlokációrendszerek és a szubmikronos plaszticitás statisztikus tulajdonságai
Diszlokációrendszerek és a szubmikronos plaszticitás statisztikus tulajdonságai Ispánovity Péter Dusán ELTE, Anyagfizikai Tanszék SZFKI kollokvium, 2012. február 14. Tartalom Bevezetés 2D diszlokációrendszerek
Réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és mechanikai viselkedése
Réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és mechanikai viselkedése P. Jenei a, E.Y. Yoon b, J. Gubicza a, H.S. Kim b, J.L. Lábár a,c, T. Ungár a a Department of Materials Physics, Eötvös Loránd University,
EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés
VISSZASZÓRTELEKTRON-DIFFRAKCIÓS VIZSGÁLATOK AZ EÖTVÖS LORÁND TUDOMÁNYEGYETEMEN 2. RÉSZ Havancsák Károly, Kalácska Szilvia, Baris Adrienn, Dankházi Zoltán, Varga Gábor Eötvös Loránd Tudományegyetem, Természettudományi
Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához Takács Ágnes, Molnár Ferenc & Dankházi Zoltán Ásványtani Tanszék & Anyagfizikai Tanszék Centrumban
PLATTÍROZOTT ALUMÍNIUM LEMEZEK KÖTÉSI VISZONYAINAK TECHNOLÓGIAI VIZSGÁLATA TECHNOLOGICAL INVESTIGATION OF PLATED ALUMINIUM SHEETS BONDING PROPERTIES
Anyagmérnöki Tudományok, 37. kötet, 1. szám (2012), pp. 371 379. PLATTÍROZOTT ALUMÍNIUM LEMEZEK KÖTÉSI VISZONYAINAK TECHNOLÓGIAI VIZSGÁLATA TECHNOLOGICAL INVESTIGATION OF PLATED ALUMINIUM SHEETS BONDING
MELEGZÖMÍTŐ VIZSGÁLATOK ALUMÍNIUMÖTVÖZETEKEN HOT COMPRESSION TESTS IN ALUMINIUM ALLOYS MIKÓ TAMÁS 1
Anyagmérnöki Tudományok, 39/1 (2016) pp. 107 112. MELEGZÖMÍTŐ VIZSGÁLATOK ALUMÍNIUMÖTVÖZETEKEN HOT COMPRESSION TESTS IN ALUMINIUM ALLOYS MIKÓ TAMÁS 1 A fémek alakváltozási tulajdonságainak laboratóriumi
Alkalmazott kutatások kozmikus részecskék detektálásával
MAFIHE FIZIKA TDK Hét Alkalmazott kutatások kozmikus részecskék detektálásával Oláh László a REGARD csoport nevében 2015. November 10. Tartalom I. Kozmikus sugárzás II. Részecske-detektorok III. Föld alatti
Reinforced Concrete Structures I. / Vasbetonszerkezetek I. II.
II. Reinforced Concrete Structures I. Vasbetonszerkezetek I. - A beton fizikai és mechanikai tulajdonságai - Dr. Kovács Imre PhD tanszékvezető főiskolai tanár E-mail: dr.kovacs.imre@gmail.com Mobil: 6-3-743-68-65
Lézeres eljárások Teflon vékonyréteg leválasztására valamint Teflon adhéziójának módosítására
Lézeres eljárások Teflon vékonyréteg leválasztására valamint Teflon adhéziójának módosítására PhD tézisek Kresz Norbert Róbert Témavezető: Dr. Hopp Béla tudományos főmunkatárs Szegedi Tudományegyetem Optikai
Heterogén hegesztett kötés integritásának értékelése
ADIMEW Heterogén hegesztett kötés integritásának értékelése BAY-LOGI Szávai Szabolcs Lenkeyné Biró Gyöngyvér EU5 ADIMEW projekt az európai nukleáris iparban használatos szerkezetintegritást értékelo eljárások
LED UTCAI LÁMPATESTEK STREET LIGHTING
LED UTCAI LÁMPATESTEK STREET LIGHTING LED Utcai lámpatestek Street Lights 1. Öntött ADC12 alumínium ház NOBEL porszórt festéssel 3. Edzett optikai lencsék irányított sugárzási szöggel 5. Meanwell meghajtó
Nanokeménység mérések
Cirkónium Anyagtudományi Kutatások ek Nguyen Quang Chinh, Ugi Dávid ELTE Anyagfizikai Tanszék Kutatási jelentés a Nemzeti Kutatási, Fejlesztési és Innovációs Hivatal támogatásával az NKFI Alapból létrejött
Intelligens és összetett szenzorok
Intelligens és összetett szenzorok Galbács Gábor Összetett és intelligens szenzorok Bevezetés A mikroelektronika fejlődésével, a mikroprocesszorok (CPU), mikrokontrollerek (µc, MCU), mikroprogramozható
DECLARATION OF PERFORMANCE. No. CPR-20-IC-204
Page 1 of 3 DECLARATION OF PERFORMANCE No. CPR-20-IC-204 1. Unique identification code of the product-type: 1000003- Uponor Tacker Panel Roll 30-3 1000009- Uponor Tacker Panel 30-3 1000004- Uponor Tacker
Lapcentrált köbös fémek és ötvözetek képlékeny alakváltozási folyamatainak leírása és elemzése
Lapcentrált köbös fémek és ötvözetek képlékeny alakváltozási folyamatainak leírása és elemzése MTA doktori értekezés tézisei Nguyen Quang Chinh Eötvös Loránd Tudományegyetem Anyagfizikai Tanszék Budapest,
A kerámiaipar struktúrája napjainkban Magyarországon
A 1. század lehetőségei a kerámiák kutatása és fejlesztése területén Gömze A. László, Kerámia- és Szilikátmérnöki Intézeti Tanszék Miskolci Egyetem Tel.: +36 30 746 714 femgomze@uni-miskolc.hu http://keramia.uni-miskolc.hu
Construction of a cube given with its centre and a sideline
Transformation of a plane of projection Construction of a cube given with its centre and a sideline Exercise. Given the center O and a sideline e of a cube, where e is a vertical line. Construct the projections
Szundikáló macska Sleeping kitty
Model: Peter Budai 999. Diagrams: Peter Budai 999.. Oda-visszahajtás átlósan. Fold and unfold diagonally. 2. Behajtunk középre. Fold to the center. 3. Oda-visszahajtások derékszögben. Fold and unfold at
Titán alapú biokompatibilis vékonyrétegek: előállítása és vizsgálata
ELFT Vákuumfizikai, -technológiai és Alkalmazásai Szakcsoport szemináriuma, Balázsi Katalin (balazsi.katalin@ttk.mta.hu) Titán alapú biokompatibilis vékonyrétegek: előállítása és vizsgálata Vékonyrétegfizika
Spin Hall effect. Egy kis spintronika Spin-pálya kölcsönhatás. Miért szeretjük mégis? A spin-injektálás buktatói
Spin Hall effect Egy kis spintronika Spin-pálya kölcsönhatás Miért nem szeretjük a spin-pálya pálya kölcsönhatást? Miért szeretjük mégis? A spin-injektálás buktatói Spin Hall effect: a kezdetek Dyakonov
A katalógusban szereplő adatok változásának jogát fenntartjuk. 2015. 02-es kiadás
RUGÓKATALÓGUS A Biotek Kft. több mint 20 év tudásával és tapasztalatával valamint kiváló minőségű rögzítéstechnikai és gépépítő elemek nagy választékával kínál megoldásokat termékek tervezéséhez és gyártásához.
Lehet-e tökéletes nanotechnológiai eszközöket készíteni tökéletlen grafénból?
Lehet-e tökéletes nanotechnológiai eszközöket készíteni tökéletlen grafénból? Márk Géza, Vancsó Péter, Nemes-Incze Péter, Tapasztó Levente, Dobrik Gergely, Osváth Zoltán, Philippe Lamin, Chanyong Hwang,
Supplementary Table 1. Cystometric parameters in sham-operated wild type and Trpv4 -/- rats during saline infusion and
WT sham Trpv4 -/- sham Saline 10µM GSK1016709A P value Saline 10µM GSK1016709A P value Number 10 10 8 8 Intercontractile interval (sec) 143 (102 155) 98.4 (71.4 148) 0.01 96 (92 121) 109 (95 123) 0.3 Voided
Egyrétegű tömörfalapok ragasztási szilárdságának vizsgálata kisméretű próbatesteken
Köszönetnyilvánítás A kutatás részben az OTKA (projekt szám T 025985), részben a NATO Cooperative Research Grant (CRG.LG 973967) anyagi támogatásával folyt. Irodalomjegyzék 1. Molnár S. Szerk. 2000. Faipari
Analitikai szenzorok második rész
2010.09.28. Analitikai szenzorok második rész Galbács Gábor A szilícium fizikai tulajdonságai A szenzorok egy igen jelentős része ma a mikrofabrikáció eszközeivel, közvetlenül a mikroelektronikai félvezető
Hibák kristályos anyagokban: hogyan keletkeznek és mire használjuk ket?
Hibák kristályos anyagokban: hogyan keletkeznek és mire használjuk ket? Gubicza Jen ELTE TTK Fizikai Intézet, Anyagfizikai Tanszék Atomoktól a csillagokig eladássorozat ELTE TTK, 2015. január 29. Kristályos
Mikropillárok plasztikus deformációja 3.
Mikropillárok plasztikus deformációja 3. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 projekt Visegrád 2012 Mikropillárok plasztikus deformációja 3.: Ultra-finomszemcsés Al-30Zn ötvözet plasztikus deformációjának
CMS Pixel Detektor működése
CMS Pixel Detektor működése VÁMI Tamás Álmos Kísérleti mag- és részecskefizikai szeminárium (ELTE) Large Hadron Collider Large Hadron Collider @P5 p + p + 15 m Nyomkövető rendszer Töltött részecskék
Pásztázó mikroszkópiás módszerek
Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai
Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben
Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben Takács Ágnes & Molnár Ferenc Ásványtani Tanszék Visegrád, 2012. január 18-20. Kutatási téma Infravörös fluidzárvány vizsgálathoz
TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 (minden téma külön lapra) 2010. június 1 2012. május 31
1. A téma megnevezése TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 (minden téma külön lapra) 2010. június 1 2012. május 31 Nagymértékű képlékeny deformációval előállított az ultrafinom szemcsés szerkezetek
Amorf/nanoszerkezetű felületi réteg létrehozása lézersugaras felületkezeléssel
Amorf/nanoszerkezetű felületi réteg létrehozása lézersugaras felületkezeléssel Svéda Mária és Roósz András MTA-ME Anyagtudományi Kutatócsoport 3515-Miskolc-Egyetemváros femmaria@uni-miskolc.hu Absztrakt
Az IAAF által atlétikai versenyekre elõírt hitelesítési szabályok (súly, diszkosz, kalapács, gerely) BUDAPEST, 2014
Az IAAF által atlétikai versenyekre elõírt hitelesítési szabályok (súly, diszkosz, kalapács, gerely) BUDAPEST, 2014 ❸ BUDAPESTI ATLÉTIKAI SZÖVETSÉG 2014 ❸ 1053 Budapest, Curia u. 3. Telefon: 266-4125 Fax:
SOLiD Technology. library preparation & Sequencing Chemistry (sequencing by ligation!) Imaging and analysis. Application specific sample preparation
SOLiD Technology Application specific sample preparation Application specific data analysis library preparation & emulsion PCR Sequencing Chemistry (sequencing by ligation!) Imaging and analysis SOLiD
Pacemaker készülékek szoftverének verifikációja. Hesz Gábor
Pacemaker készülékek szoftverének verifikációja Hesz Gábor A szív felépítése http://hu.wikipedia.org/w/index.php?title=fájl:diagram_of_the_human_heart_hu.svg http://en.wikipedia.org/wiki/file:conductionsystemoftheheartwithouttheheart.png
Szerkezeti fa szilárdsági osztályozása Göcsök szerepe. Strength grading of stuctural lumber Effect of knots
19 Szerkezeti fa szilárdsági osztályozása Göcsök szerepe SISMÁNDY-KISS Ferenc 1, DIVÓS Ferenc 1 1 NymE FMK Fa-és Papíripai Technológiák Intézet Kivonat A faszerkezetek tervezésére vonatkozó nemzeti szabványt
Tamás Ferenc: CSS táblázatok 2.
Tamás Ferenc: CSS táblázatok 2. Ez az írás azoknak készült, akik már értik a HTML és a CSS nyelveket, csak használat közben kellene egy adott tulajdonság vagy érték. Kérem, hogy senki se ezzel kezdje a
Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére
Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére Közbeszerzési Értesítő száma: 2016/11 Beszerzés tárgya: Árubeszerzés Hirdetmény típusa: Tájékoztató az eljárás eredményéről/eu/2011.08.19.
SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK
SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK 22. ELŐADÁS: NANOTECHNOLÓGIA ÉS ÉRZÉKELŐK I: BEVEZETÉS A NANOTECHNOLÓGIÁBA 2015/2016 2. félév 1 AJÁNLOTT IRODALOM: NANOTECHNOLÓGIA Mojzes Imre, Molnár László Milán: Nanotechnológia,
KÉPALKOTÁSRA ALAPOZOTT RUHAIPARI
BUDAPESTI MŰSZAKI ÉS GAZDASÁGTUDOMÁNYI EGYETEM GÉPÉSZMÉRNÖKI KAR ÍRTA: SZABÓ LAJOS OKLEVELES IPARI TERMÉK- ÉS FORMATERVEZŐ MÉRNÖK KÉPALKOTÁSRA ALAPOZOTT RUHAIPARI MÉRÉSTECHNIKÁK CÍMŰ TÉMAKÖRBŐL, AMELLYEL
Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet. A nanovilág. tudománya és technológiája
Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet 1 A nanovilág tudománya és technológiája Miről lesz szó 2 - Mi a manó az a nano? - Fontos-e a méret? - Miért akarunk egyre kisebb eszközöket gyártani? - Mikor
4-42 ELECTRONICS WX210 - WX240
4-42 ELECTRONICS WX210 - WX240 PCS 40000499-en Fig. 8 WX210 - WX240 ELECTRONICS 4-43 PCS COMPONENTS 40000471-en Load-limit regulator Legend Fig. 1 Fig. 2 1 Power supply 2 PWM1 output, proportional valve
Mikroelektromechanikai szerkezetek szilárdsági és megbízhatósági vizsgálata
OTKA nyilvántartási szám: T 049848 Mikroelektromechanikai szerkezetek szilárdsági és megbízhatósági vizsgálata Témavezetı: Dr. Kovács Ádám egyetemi docens, BME Mőszaki Mechanikai Tanszék Kutatási beszámoló:
A festéktelenítési folyamatban nyert pép illetve szűrlet optikai jellemzőinek mérése
014, december illetve szűrlet optikai jellemzőinek mérése Ezt a dokumentumot eredeti formájában az INGEDE, tagjai és kutató partnerei készítették illetve adták ki. Az EcoPaperLoop projekt keretében INGEDE
A évi fizikai Nobel díj a grafénért
Cserti József ELTE, TTK Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék A 2010. évi fizikai Nobel díj a grafénért Atomcsill, 2010. október 14., ELTE, Budapest Press release: The Nobel Prize in Physics 5 October 2010
FÉMKOMPOZITOK KOPÁSÁLLÓSÁGÁNAK VIZSGÁLATA INVESTIGATION OF THE WEAR RESISTANCE PROPERTIES OF METAL MATRIX COMPOSITES
Anyagmérnöki Tudományok, 37. kötet, 1. szám (1), pp. 361 369. FÉMKOMPOZITOK KOPÁSÁLLÓSÁGÁNAK VIZSGÁLATA INVESTIGATION OF THE WEAR RESISTANCE PROPERTIES OF METAL MATRIX COMPOSITES SIMON ANDREA 1, GÁCSI
Moore & more than Moore
1 Moore & more than Moore Fürjes Péter E-mail:, www.mems.hu 2 A SZILÍCIUM (silex) 3 A SZILÍCIUM Felfedező: Jons Berzelius 1823, Svédország Természetes előfordulás: gránit, kvarc, agyag, homok 2. leggyakoribb
Alloy 718 UNS: N 07718
Alloy 718 1 Alloy 718 UNS: N 07718 Autres appellations France : NC 19 Fe Nb Germany : 2.4668 / Ni Cr 19 Nb Mo Euronorm : Ni Cr 19 Nb Mo Aerospace (high-temperature working components, fasteners...). Naval
Fémüvegek alacsonyhőmérsékleti képlékeny deformációja: belső feszültségek mérése
Fémüvegek alacsonyhőmérsékleti képlékeny deformációja: belső feszültségek mérése Kovács Zsolt Fémüvegek Intensity (a.u.) Rendezetlen szerkezet röntgen diffrakció 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120-1
TEL.: / WEB: 1
1 MADE initaly JELLEMZŐK Spiáter (cink-alumínium) pánt. irányban állítható. Alkalmazható jobb és bal oldali ajtóknál. Esztétikusabb megjelenés érdekében galvanizált felület Fokozott szilárdság és tartósság.
Vitorláshal Angelfish
Model: Peter udai 996. Diagrams: Peter udai 998.. Oda-visszahajtás felezve. Fordítsd meg a papírt! Fold in half and unfold. Turn the paper over. 2. Oda-visszahajtás átlósan. Fold and unfold diagonally.
Az elállítási körülmények hatása nanoporokból szinterelt fémek mikroszerkezetére és mechanikai tulajdonságaira
Az elállítási körülmények hatása nanoporokból szinterelt fémek mikroszerkezetére és mechanikai tulajdonságaira Gubicza Jen 1, Guy Dirras 2, Salah Ramtani 2 1 Eötvös Loránd Tudományegyetem, Anyagfizikai
Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék
Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék 2011. szeptember 22. Mi az a nano? 1 nm = 10 9 m = 0.000000001 m Nanotudományok: 1-100
Fuzzy Rendszerek. 3. előadás Alkalmazások. Ballagi Áron egyetemi adjunktus. Széchenyi István Egyetem, Automatizálási Tsz.
Fuzzy Rendszerek 3. előadás Alkalmazások Ballagi Áron egyetemi adjunktus Széchenyi István Egyetem, Automatizálási Tsz. 1 IEEE fuzzy szabályozások felmérése [1996] Több mint 1100 sikeres fuzzy alkalmazás
Flowering time. Col C24 Cvi C24xCol C24xCvi ColxCvi
Flowering time Rosette leaf number 50 45 40 35 30 25 20 15 10 5 0 Col C24 Cvi C24xCol C24xCvi ColxCvi Figure S1. Flowering time in three F 1 hybrids and their parental lines as measured by leaf number
Feszítőbetét erőátadódási hossza acélszál erősítésű betonban
Feszítőbetét erőátadódási hossza acélszál erősítésű betonban Dr. Kovács Imre PhD tanszékvezető főiskolai docens Mély- és Szerkezetépítési Tanszék 1 A feszítés elve K Teher K s s 2 A feszítés elve K Teher
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
i1400 Image Processing Guide A-61623_zh-tw
i1400 Image Processing Guide A-61623_zh-tw ................................................................. 1.............................................................. 1.........................................................
Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban
ELTE TTK, Ásványtani Tanszék Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban Takács Ágnes & Molnár Ferenc 6. Téli Ásványtudományi Iskola, Balatonfüred
MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA I
MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA I Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem, KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 6. ELŐADÁS 2009/2010 tanév 1. félév 1 ÁLTALÁNOS BEVEZETÉS A mikro- és nanotechnika c. tárgy megkísérli
Integrált áramkörök termikus szimulációja
BUDAPESTI MŰSZAKI ÉS GAZDASÁGTUDOMÁNYI EGYETEM Villamosmérnöki és Informatikai Kar Elektronikus Eszközök Tanszéke Dr. Székely Vladimír Integrált áramkörök termikus szimulációja Segédlet a Mikroelektronika
A minta-előkészítés hatása a visszaszórt elektron-diffrakció képminőségére AISI 304-es acéltípus esetében
A minta-előkészítés hatása a visszaszórt elektron-diffrakció képminőségére AISI 304-es acéltípus esetében Gaál Zoltán, Szabó Péter János, Ginsztler János Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem,
Heterogén anyagok károsodása és törése
Debreceni Egyetem Fizikai Tudományok Doktori Iskola Heterogén anyagok károsodása és törése Halász Zoltán Doktori értekezés védése Témavezető: Dr. Kun Ferenc A prezentáció elkészítését a TÁMOP-4.2.2/B-10/1-2010-0024
Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB
Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2015. március 1 Energia-diszperzív Fókuszált ionsugaras röntgen megmunkálás elemanalízis
TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR (minden téma külön lapra) június május 31
1. A téma megnevezése TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 (minden téma külön lapra) 2010. június 1 2012. május 31 Nanostruktúrák szerkezeti jellemzése 2. A témavezető (neve, intézet, tanszék)
SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK
SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK 24. ELŐADÁS: NANOÉRZÉKELŐK ÉS NANO- ELEKTROMECHANIKAI RENDSZEREK (NEMS) 2014/2015 2. félév 1 Az érzékelők/beavatkozók forradalma Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS) A mikroelektronikai
GÉPÉSZETI ALKALMAZOTT SZÁMÍTÁSTECHNIKA f iskolai mérnökhallgatók számára. A 4. gyakorlat anyaga. Adott: Geometriai méretek:
SZÉCHENYI ISTVÁN EGYETEM KÖZLEKEDÉSI ÉS GÉPÉSZMÉRNÖKI INTÉZET ÁLTALÁNOS GÉPÉSZETI TANSZÉK GÉPÉSZETI ALKALMAZOTT SZÁMÍTÁSTECHNIKA f iskolai mérnökhallgatók számára A 4. gyakorlat anyaga Feladat: Saját síkjában
A felület vizsgálata mikrokeménységméréssel
Óbuda University e Bulletin Vol. 2, No. 1, 2011 A felület vizsgálata mikrokeménységméréssel Kovács-Coskun Tünde, Bitay Enikő Óbudai Egyetem, Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar kovacs.tunde@bgk.uni-obuda.hu
DIGIT. ÁRAMLÁSÉRZÉKELŐ
Integrált kijelző típus Gáz DIGIT. ÁRAMLÁSÉRZÉKELŐ FM-2SOROZAT Ro RoHS. / /, / 2//24 Könnyen látható, két színű kijelző kijelzővel! A beállítások a segédkijelzőn jeleníthetők meg, így könnyebben követhetők
Végeselem módszer 3. gyakorlat
b SZÉCHENYI ISTVÁN EGYETEM ALKALMAZOTT MECHANIKA TANSZÉK Végeselem módszer 3. gyakorlat (kidolgozta: Dr.Molnár Zoltán egyetemi adjunktus,szüle Veronika egyetemi tanársegéd) Feladat: Saját síkjában terhelt
NANORENDSZEREK ÁLTALÁNOS TULAJDONSÁGAI ÉS ORVOSI ALKALMAZÁSAI
NANORENDSZEREK ÁLTALÁNOS TULAJDONSÁGAI ÉS ORVOSI ALKALMAZÁSAI (Bóta Attila, MTA TTK Molekuláris Farmakológiai Intézet, Biológiai Nanokémia Osztály) Berényi Szilvia, Deák Róbert, Holló Gábor, Kiss Teréz,
János Radó MTA EK MFA MEMS labratory. Third semester
Fabrication and application of 3D force sensors based on piezoelectric and piezoresistive effects János Radó MTA EK MFA MEMS labratory Third semester Supervisor: Csikósné Papp Andrea Edit Introduction
Őrlés hatására porokban végbemenő kristályos-amorf szerkezetváltozás tanulmányozása
Őrlés hatására porokban végbemenő kristályos-amorf szerkezetváltozás tanulmányozása K. Tomolya*, D. Janovszky, A. Sycheva, A. Roósz 1,2,3,4 MTA-ME Anyagtudományi Kutatócsoport, Miskolc-Egyetemváros *femkinga@uni-miskolc.hu
Rod Eye Digital User Manual
Rod Eye Digital User Manual Version 1.0 EN,,,,,,,,,,,, A B 4 3 5 1 4 6 7 2 3 2 8 6a 1 7 6 6c 6b 5 13 E 12 11 10 7 13 9 Használati utasítás magyar A használati utasítás fontos Biztonsági Előírásokat és
VÍZKEZELÉS, ADAGOLÁS, MÉRÉS, SZABÁLYOZÁS, AUTOMATIZÁLÁS
MÉRÉS, VX SÓS ELEKTROLIZIS RENDSZER VX Sós elektrolízis készülék VX sorozatú, sós elektrolizis készülék polaritás váltóval. A korszerű elektronikus vezérlés hosszú élettartamot biztosít a celláknak. Nagyméretű
Mikro és nanorobot koncepciók. Horváth Gergő Márton Gergely
Mikro és nanorobot koncepciók Készítette: Horváth Gergő Márton Gergely Nanorobotok alatt mikroszpókikus méretű robotokat értünk, melyeket specifikus feladatok végrehajtására terveztek. (Leendő) alkalmazások?
Fűrészáru érintésmentes sűrűségmérése. Non-contact density determination of lumber
18 TUDOMÁNY Fűrészáru érintésmentes sűrűségmérése UTASSY Viktor 1, DIVÓS Ferenc 1 1 NymE FMK, FMK MSc. hallgató 2 NymE FMK, Fa-és Papíripai Technológiák Intézet Kivonat Fűrészáru elektromágneses hullámok
Expression analysis of PIN genes in root tips and nodules of Lotus japonicus
Article Expression analysis of PIN genes in root tips and nodules of Lotus japonicus Izabela Sańko-Sawczenko 1, Dominika Dmitruk 1, Barbara Łotocka 1, Elżbieta Różańska 1 and Weronika Czarnocka 1, * 1
Magyar japán műszaki kutatási együttműködés az iparban: sikerek és remények
Magyar japán műszaki kutatási együttműködés az iparban: sikerek és remények Besztercey Gyula, Ph.D. Furukawa Electric Technológiai Intézet Kft. 2013. február 21. A Furukawa Electric 1974 2000 1920 1963
Effect of the different parameters to the surface roughness in freeform surface milling
19 November 0, Budapest Effect of the different parameters to the surface roughness in freeform surface milling Balázs MIKÓ Óbuda University 1 Abstract Effect of the different parameters to the surface