Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
|
|
- Endre Németh
- 5 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10.
2 Műszer: FEI Quanta 3D FEG Magyarországon egyedülálló: kétsugaras elektron és Ga ion nyaláb teljes detektor készlet szekunder elektron, visszaszórt elektron, röntgen, EBSD,... mikroszkópia ( 1 nm felbontás) spektroszkópia elektron diffrakció (EBSD) Részletesen: a poszterbemutatón (Kalácska Szilvia) 2
3 Műszer: FEI Quanta 3D FEG Magyarországon egyedülálló: kétsugaras elektron és Ga ion nyaláb teljes detektor készlet szekunder elektron, visszaszórt elektron, röntgen, EBSD,... mikroszkópia ( 1 nm felbontás) spektroszkópia elektron diffrakció (EBSD) Részletesen: a poszterbemutatón (Kalácska Szilvia) 3
4 Az anyagvizsgálatban a szemcseszerkezet vizsgálat alapvető szemcseméret meghatározás orientációs térkép készítés fázisazonosítás 3D térképezés Szemcse megjelenítési módszerek: orientációs kontraszt (BSE, SE) SE kép - hőkezelt nikkel drót 4
5 Az anyagvizsgálatban a szemcseszerkezet vizsgálat alapvető szemcseméret meghatározás orientációs térkép készítés fázisazonosítás 3D térképezés Szemcse megjelenítési módszerek: orientációs kontraszt (BSE, SE) Ga ionos képalkotás (channelling) Ga ion kép - hőkezelt nikkel drót 5
6 Az anyagvizsgálatban a szemcseszerkezet vizsgálat alapvető szemcseméret meghatározás orientációs térkép készítés fázisazonosítás 3D térképezés Szemcse megjelenítési módszerek: orientációs kontraszt (BSE, SE) Ga ionos képalkotás (channelling) elektron diffrakciós vizsgálat (EBSD) EBSD szemcsetérkép: nikkel drót 6
7 TEM-hez hasonló diffrakció, de: a minta vastag 20 -os e - nyaláb beesés pontok helyett sávok Információs tartomány: pontról-pontra pásztázva a minta néhányszor 10 nm-es felületi rétege Hagyományos minta-előkészítés: sokszor nem jó! 7
8 Képminőség (Image Quality, IQ) nikkel bemetszés IQ térkép 8
9 Képminőség (Image Quality, IQ) Inverz pólus ábra (Inverse Pole Figure, IPF) nikkel bemetszés IQ térkép IPF térkép 9
10 Kipróbált módszerek: hagyományos elektrokémiai polírozás mechanikus polírozás 1 µm szemcsemértel polírozott réz EBSD IPF térkép 10
11 Kipróbált módszerek: hagyományos elektrokémiai polírozás mechanikus polírozás Fókuszált ion nyaláb (FIB) bemetszés EBSD IPF térkép ECAP deformált, hőkezelt ezüst 11
12 Kipróbált módszerek: hagyományos mechanikus polírozás elektrokémiai polírozás FIB bemetszés Hosszadalmas vagy drága módszerek, és sok esetben nem adnak EBSD mérésre alkalmas felületet. Más mintakészítési módszer: SC-1000 SEMPrep magyar fejlesztés és gyártás Technoorg Linda Kft. (a vállalat kiállítóként jelen van a konferencián) kutatás-fejlesztési együttműködés az EBSD protokollok fejlesztésére 12
13 2 db Ar ion ágyú kisenergiás (0,1-2) kev, max. 10 ma/cm² nagyenergiás (2-10) kev, max. 240 ma/cm² Polírozás: kis- és nagyenergiás ágyú Bemetszés: nagyenergiás ágyú Minta mozgatás: döntés 0-30 síkban forgatás 360 síkban oszcillálás ±(10-45) 13
14 Martenzites acél : 10 kv, 7 döntés, 26 perc, forgatással EBSD IQ térkép EBSD IPF térkép 14
15 A kialakított felület minősítése: EBSD IQ térkép átlaga Azonos területek vizsgálata (hely, méret ill. képpontszám) IQ átlag meghatározás a felület-kialakítás előtt és után FIB bemetszés (mészkő) IPF térkép IQ térkép 15
16 A kezdő lépés mindig mechanikus polírozás Recept meghatározása különböző anyagokra optimalizálás beesési szögre marási időre példa: idő IQ függés vizsgálata polikristályos réz IQ(t) függvény (Cu, 7 döntés) 16
17 A kezdő lépés mindig mechanikus polírozás Recept meghatározása különböző anyagokra optimalizálás beesési szögre marási időre IQ(t) függvény (Cu, 7 döntés) 17
18 A kezdő lépés mindig mechanikus polírozás Recept meghatározása különböző anyagokra optimalizálás beesési szögre marási időre IQ(t) függvény (Cu, 7 döntés) 18
19 Al-Si drót: 10 kv, 30 -os döntés, ± 30 -os oszcilláció, 120 perc, 1.8 µm/perc sebesség IPF térkép szekunder elektron kép 19
20 Nanoszerkezetű anyag vizsgálata szemcseméret 50 nm (HPT ezüst minta) szekunder elektron kép IPF térkép 20
21 SC-1000 SEMPrep berendezés: Gyorsabb, mint a hagyományos eljárások 3 mm 2 polírozott felület Az ionos marások közül a leghatékonyabb költségben, ráfordított időben, a kialakított felület nagyságában. EBSD felület-előkészítési vizsgálatok: paraméterek és módszerek kidolgozása különböző anyagokra fémek, kőzetek, nanoszerkezetű anyagok 50 nm szemcseméretig orientációs térkép, fázistérkép készítés 21
22 Kalácska Szilvia PhD hallgató (ELTE Fizikus Doktori Iskola) Baris Adrienn MSc diplamunkás (ELTE Fizikus Anyagtudomány szak), operátor Varga Gábor fizikus (ELTE Anyagfizikai tanszék), operátor Ratter Kitti PhD hallgató (ILL, Grenoble), volt operátor Radi Zsolt fizikus (Technoorg Linda Kft.), fejlesztési vezető Havancsák Károly fizikus (ELTE TTK KKMC), SEM laborvezető
EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés
VISSZASZÓRTELEKTRON-DIFFRAKCIÓS VIZSGÁLATOK AZ EÖTVÖS LORÁND TUDOMÁNYEGYETEMEN 2. RÉSZ Havancsák Károly, Kalácska Szilvia, Baris Adrienn, Dankházi Zoltán, Varga Gábor Eötvös Loránd Tudományegyetem, Természettudományi
RészletesebbenHavancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
RészletesebbenEBSD vizsgálatok alkalmazása a geológiában: Enargit és luzonit kristályok orientációs vizsgálata
ELTE TTK, Ásványtani Tanszék EBSD vizsgálatok alkalmazása a geológiában: Enargit és luzonit kristályok orientációs vizsgálata Takács Ágnes & Molnár Ferenc TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 Szubmikroszkópos
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15
RészletesebbenKristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához Takács Ágnes, Molnár Ferenc & Dankházi Zoltán Ásványtani Tanszék & Anyagfizikai Tanszék Centrumban
RészletesebbenFEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n
FEI Quanta 3D Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n Havancsák Károly, Dankházi Zoltán, Varga Gábor, Ratter Kitti ELTE TTK Anyagfizikai Tanszék ELFT
RészletesebbenRingwooditok EBSD vizsgálata az NWA 5011 számú L6-os kondritos meteoritban
Ringwooditok EBSD vizsgálata az NWA 5011 számú L6-os kondritos meteoritban Bérczi Sz.*, Nagy Sz.*, Gyollai I.*, Józsa S.**, Havancsák K.*, Varga G.*, Dankházi Z.*, Ratter K.* *ELTE TTK Fizika Intézet,
RészletesebbenFEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december
1 Havancsák Károly 2010. december 2 Időrend A helyiség kialakítás tervezése 2010. május Mágneses tér, vibráció mérése 2010. május A helyiség kialakítása 2010. augusztus 4 22. A berendezés szállítása 2010.
RészletesebbenKépalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal
1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 9:30-11:00 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai és visszaszórtelektron diffrakció
RészletesebbenAz opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban
ELTE TTK, Ásványtani Tanszék Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban Takács Ágnes & Molnár Ferenc 6. Téli Ásványtudományi Iskola, Balatonfüred
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok
RészletesebbenQuanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái
RészletesebbenOpakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben
Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben Takács Ágnes & Molnár Ferenc Ásványtani Tanszék Visegrád, 2012. január 18-20. Kutatási téma Infravörös fluidzárvány vizsgálathoz
RészletesebbenMikropillárok plasztikus deformációja 3.
Mikropillárok plasztikus deformációja 3. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 projekt Visegrád 2012 Mikropillárok plasztikus deformációja 3.: Ultra-finomszemcsés Al-30Zn ötvözet plasztikus deformációjának
RészletesebbenNagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása
Nagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása P. Jenei a, E.Y. Yoon b, J. Gubicza a, H.S. Kim b, J.L. Lábár a,c, T. Ungár a a Anyagfizikai Tanszék,
RészletesebbenA felület EBSD vizsgálata
Cirkónium Anyagtudományi Kutatások A felület EBSD vizsgálata Dankházi Zoltán, Heczel Anita, Maksa Zsolt, Szabó Ábel, Varga Gábor, Vida Ádám ELTE Anyagfizikai Tanszék Kutatási jelentés a Nemzeti Kutatási,
RészletesebbenEDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása
EDX Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EBSD Elméleti háttér Felület előkészítése Orientálás Hough-transzformáció IPF, IQ Felület minősége 2 Elektron besugárzás Röntgen foton kisugárzás
RészletesebbenTechnoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary. Innováció és Kommunikáció február 20.
Egy high tech cég g 17 éve Út t a kutatói ötletektıl l a világsz gszínvonalú termékekig egy tudományos mőszerfejlesztm szerfejlesztı vállalkozás s példp ldáján Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary
RészletesebbenMikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
RészletesebbenDeformáció hatása a hidrogéntárolás tulajdonságaira Mg-alapú amorf ötvözetben
Deformáció hatása a hidrogéntárolás tulajdonságaira Mg-alapú amorf ötvözetben Révész Ádám Kis-Tóth Ágnes Eötvös Loránd Tudományegyetem Anyagfizikai Tanszék Visegrád, 2012. január 18-20 TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003
RészletesebbenNanoszemcsés anyagok mikroszerkezete és vizsgálata
Nanoszemcsés anyagok mikroszerkezete és vizsgálata Jenei Péter Eötvös Loránd Tudományegyetem Anyagfizikai Tanszék Budapest 2014 A felhasznált anyagok minősége és mennyisége meghatározza meg az adott kor
RészletesebbenA szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.
1 A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum 2012. július. Mikroszkópok 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp
RészletesebbenAz alacsony rétegződési hibaenergia hatása az ultrafinom szemcseszerkezet kialakulására és stabilitására
Az alacsony rétegződési hibaenergia hatása az ultrafinom szemcseszerkezet kialakulására és stabilitására Z. Hegedűs, J. Gubicza, M. Kawasaki, N.Q. Chinh, Zs. Fogarassy and T.G. Langdon Eötvös Loránd Tudományegyetem
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-23/16-M Dr. Szalóki Imre, fizikus, egyetemi docens Radócz Gábor,
RészletesebbenEnergia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB
Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2015. március 1 Energia-diszperzív Fókuszált ionsugaras röntgen megmunkálás elemanalízis
RészletesebbenNem mind arany, ami fénylik középkori nanotechnológia: történeti fémfonalak FIB/SEM vizsgálata
Nem mind arany, ami fénylik középkori nanotechnológia: történeti fémfonalak FIB/SEM vizsgálata Gherdán K., Weiszburg T., Járó M., Tóth A., Ratter K., Zajzon N., Bendő Zs., Varga G. és Szakmány Gy. 10 µm
RészletesebbenAZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA
95 AZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA DUAL BEAM SCANNING ELECTRONMICROSCOPE AT EÖTVÖS LORÁND UNIVERSITY HAVANCSÁK KÁROLY 1, BARIS ADRIENN 2, KALÁCSKA SZILVIA 3 Eötvös Loránd Tudományegyetem,
RészletesebbenTörténeti aranyozott ezüstfonalak készítéstechnikai vizsgálata
Történeti aranyozott ezüstfonalak készítéstechnikai vizsgálata Gherdán K., Weiszburg T., Járó M., Tóth A., Ratter K., Zajzon N., Bendő Zs., Varga G. és Szakmány Gy. 10 µm 100 µm Azonosíthatók-e a korabeli
RészletesebbenEnergia-diszperzív röntgen elemanalízis
Fókuszált ionsugaras megmunkálás Energia-diszperzív röntgen elemanalízis FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 EDS = Energy Dispersive Spectroscopy Hol található a SEM/FIB berendezésen?
RészletesebbenKÉSŐ AVAR ÜVEGGYÖNGYÖK ÖSSZETÉTEL- VIZSGÁLATA
. BUDAPESTINENSIS DE EÖTVÖS NOM. * KÉSŐ AVAR ÜVEGGYÖNGYÖK ÖSSZETÉTEL- VIZSGÁLATA különös tekintettel a mállási jelenségek kimutatására Készítette: Király Csilla: Környezettudomány MSc. I. évf. Mácsai Cecília:
RészletesebbenKöpenyfluidzárványok kutatása mikro- és nanométeres léptékben
Köpenyfluidzárványok kutatása mikro- és nanométeres léptékben a nagyfelbontású Raman spektroszkóp és a fókuszált ionsugaras technika (FIB-SEM) alkalmazásának előnyei BERKESI Márta 1, SZABÓ Csaba 1, GUZMICS
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
RészletesebbenA FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA
A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA Müller Melinda és Berta Márton Környezettan BSc és Környezettudomány MSc hallgatók Témavezető: Szabó
RészletesebbenBÍRÁLAT. Szabó Péter János
BÍRÁLAT Szabó Péter János Intenzív alakítási és hőkezelési folyamatok mikroszerkezetre gyakorolt hatásának értelmezése visszaszórtelektron-diffrakcióval című MTA doktori értekezéséről A Szabó Péter János
RészletesebbenFényhullámhossz és diszperzió mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 9. MÉRÉS Fényhullámhossz és diszperzió mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 19. Szerda délelőtti csoport 1. A mérés célja
RészletesebbenSEM/FIB kétsugaras mikroszkóp alkalmazásának lehetőségei az olvadék- és fluidumzárvány kutatásban
SEM/FIB kétsugaras mikroszkóp alkalmazásának lehetőségei az olvadék- és fluidumzárvány kutatásban Guzmics Tibor, Berkesi Márta és Szabó Csaba ELTE Litoszféra Fluidum Kutató Laboratórium, Kőzettani és Geokémiai
RészletesebbenIpari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban
Gyártás 08 konferenciára 2008. november 6-7. Ipari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban Szerző: Varga Bernadett, okl. gépészmérnök, III. PhD hallgató a BME VIK ET Tanszékén
RészletesebbenCirkon újrakristályosodásának vizsgálata kisenergiájú elektronbesugárzás után
Cirkon újrakristályosodásának vizsgálata kisenergiájú elektronbesugárzás után Váczi Tamás és Lutz Nasdala ELTE Ásványtani Tanszék Bécsi Egyetem Ásványtani és Krisztallográfiai Intézet 7. Téli Ásványtudományi
RészletesebbenRöntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november
Röntgendiffrakció Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet 2013. november Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia, diffrakció (elektromágneses hullámok) Kristályok szerkezete Röntgendiffrakció
RészletesebbenKészítette: Kurcz Regina
Készítette: Kurcz Regina ELTE TTK, Környezettudomány MSc Témavezetők: Dr. Horváth Ákos, ELTE TTK Atomfizikai Tanszék Dr. Erőss Anita, ELTE TTK Általános és Alkalmazott Földtani Tanszék 2014, Budapest Magyarország
RészletesebbenNanokeménység mérések
Cirkónium Anyagtudományi Kutatások ek Nguyen Quang Chinh, Ugi Dávid ELTE Anyagfizikai Tanszék Kutatási jelentés a Nemzeti Kutatási, Fejlesztési és Innovációs Hivatal támogatásával az NKFI Alapból létrejött
RészletesebbenMŰANYAGOK és CSOMAGOLÓ ANYAGOK VIZSGÁLATA,
MEGHÍVJUK ÖNT ÉS KOLLÉGÁIT A az és a szervezésében, a MŰANYAGOK és CSOMAGOLÓ ANYAGOK VIZSGÁLATA, gyakorlati bemutatóra. Az esemény védnöke: prof. Dr. Belina Károly dékán Kecskeméti Főiskola GAMF Kar Anyagvizsgálati
Részletesebben. -. - Baris A. - Varga G. - Ratter K. - Radi Zs. K.
2. TEREM KEDD Orbulov Imre 09:00 Bereczki P. -. - Varga R. - Veres A. 09:20 Mucsi A. 09:40 Karacs G. 10:00 Cseh D. Benke M. Mertinger V. 10:20 -. 10:40 14 1. TEREM KEDD Hargitai Hajnalka 11:00 I. 11:20
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)
Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az
RészletesebbenTypotex Kiadó. Tartalomjegyzék
Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás
RészletesebbenPásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére
Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére Közbeszerzési Értesítő száma: 2016/11 Beszerzés tárgya: Árubeszerzés Hirdetmény típusa: Tájékoztató az eljárás eredményéről/eu/2011.08.19.
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 6. félév Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenPásztázó mikroszkópiás módszerek
Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai
RészletesebbenTALAJMINTÁK RADIOAKTIVITÁSÁNAK VIZSGÁLATA PEST MEGYÉBEN
TALAJMINTÁK RADIOAKTIVITÁSÁNAK VIZSGÁLATA PEST MEGYÉBEN SZABÓ KATALIN ZSUZSANNA KÖRNYEZETTUDOMÁNY SZAKOS HALLGATÓ Témavezetők: Szabó Csaba, ELTE TTK, Kőzettani és Geokémiai Tanszék, Litoszféra Fluidum
RészletesebbenAmerícium-241 szennyezés fizikai és kémiai sajátosságainak vizsgálatai a KFKI telephelyen
Amerícium-241 szennyezés fizikai és kémiai sajátosságainak vizsgálatai a KFKI telephelyen Andrási A. 3, Fehér I. 3, Földi A. 1, Gonter K. 1, Kocsonya A. 1, Molnár Zs. 3, Osán J. 1, Pálfalvi J. 2, Pázmándi
RészletesebbenAkusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel
Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Fürjes Andor Tamás BME Híradástechnikai Tanszék Kép- és Hangtechnikai Laborcsoport, Rezgésakusztika Laboratórium 1 Tartalom A geometriai akusztika
RészletesebbenTérbeli talajgeokémiai heterogenitás vizsgálata finomréteg mintázással
Jávor A. 1, Földeáki D. 1, Könczöl A. 1, Bata G. 1, Kovács J. 2, Csányi V. 3 1 REPÉT Környezetvédelmi Kft., 1118 Budapest, Brassó út 169-179. G. ép. repet@t-online.hu 2 ELTE Alkalmazott és Környezetföldtani
Részletesebben1214 Budapest, Puli sétány 2-4. www.grimas.hu 1 420 5883 1 276 0557 info@grimas.hu. Rétegvastagságmérő. MEGA-CHECK Pocket
Rétegvastagságmérő MEGA-CHECK Pocket A "MEGA-CHECK Pocket" rétegvastagságmérő műszer alkalmas minden fémen a rétegvastagság mérésére. Az új "MEGA-CHECK Pocket" rétegvastagság mérő digitális mérő szondákkal
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január
1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),
RészletesebbenNemzeti Akkreditáló Testület. RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAT-1-1132/2014 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
Nemzeti Akkreditáló Testület RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAT-1-1132/2014 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz Az AGMI Anyagvizsgáló és Minőségellenőrző ZRt. Anyagvizsgálati Főmérnökség (1211 Budapest, Központi
RészletesebbenDekonvolúció a mikroszkópiában. Barna László MTA Kísérleti Orvostudományi Kutatóintézet Nikon-KOKI képalkotó Központ
Dekonvolúció a mikroszkópiában Barna László MTA Kísérleti Orvostudományi Kutatóintézet Nikon-KOKI képalkotó Központ 2015 Fourier-Sorok Minden 2π szerint periodikus függvény előállítható f x ~ a 0 2 + (a
RészletesebbenNanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással. Erdélyi Zoltán
Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással Erdélyi Zoltán Debreceni Egyetem, Szilárdtest Fizika Tanszék Erdélyi Zoltán ESS minikonferencia 1
RészletesebbenAz ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika
Részletesebben6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT
6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP
RészletesebbenNagyszerű képminőség. Az SCI tisztább képet ad a többszögű összetett nyaláb kivetítés által növelt kontraszt felbontással.
All- in-one Nagyszerű képminőség Az E-CUBE 7 jelenti a következő mérföldkövet az E-Cube sorozat fejlődésében, beépített képalkotó technológiája a képek egységességével, nagy felbontással és vizsgálati
RészletesebbenELTE Természettudományi Kar. a "Közalkalmazottak jogállásáról szóló" évi XXXIII. törvény 20/A. alapján pályázatot hirdet
ELTE Természettudományi Kar a "Közalkalmazottak jogállásáról szóló" 1992. évi XXXIII. törvény 20/A. alapján pályázatot hirdet A közalkalmazotti jogviszony időtartama: határozatlan idejű közalkalmazotti
RészletesebbenAnyagtudomány 2018/19. Bevezetés. Dr. Szabó Péter János
Anyagtudomány 2018/19 Bevezetés Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Anyagtudomány Előadás: szerda 8:15-10:00, Aud. Max. Előadók: Dr. Szabó Péter János ATT (1-7. oktatási hét) Dr. Mészáros László PT (8-14.
RészletesebbenHavancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet. A nanovilág. tudománya és technológiája
Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet 1 A nanovilág tudománya és technológiája Miről lesz szó 2 - Mi a manó az a nano? - Fontos-e a méret? - Miért akarunk egyre kisebb eszközöket gyártani? - Mikor
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenAktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György
Aktuátorok korszerű anyagai Készítette: Tomozi György Technológiai fejlődés iránya Mikro nanotechnológia egyre kisebb aktuátorok egyre gyorsabb aktuátorok nem feltétlenül villamos, hanem egyéb csatolás
RészletesebbenTÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR (minden téma külön lapra) június május 31
1. A téma megnevezése TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 (minden téma külön lapra) 2010. június 1 2012. május 31 Nanostruktúrák szerkezeti jellemzése 2. A témavezető (neve, intézet, tanszék)
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 3. félév Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenMTA AKI Kíváncsi Kémikus Kutatótábor Kétdimenziós kémia. Balogh Ádám Pósa Szonja Polett. Témavezetők: Klébert Szilvia Mohai Miklós
MTA AKI Kíváncsi Kémikus Kutatótábor 2 0 1 6. Kétdimenziós kémia Balogh Ádám Pósa Szonja Polett Témavezetők: Klébert Szilvia Mohai Miklós A műanyagok és azok felületi kezelése Miért népszerűek napjainkban
RészletesebbenRadon, mint nyomjelzı elem a környezetfizikában
Radon, mint nyomjelzı elem a környezetfizikában Horváth Ákos ELTE Atomfizikai Tanszék XV. Magfizikus Találkozó Jávorkút, 2012. szeptember 4. Radon környezetfizikai folyamatokban 1 Mi ebben a magfizika?
RészletesebbenA TERMÉSZETES RADIOAKTIVITÁS VIZSGÁLATA A RUDAS-FÜRDŐ TÖRÖK- FORRÁSÁBAN
A TERMÉSZETES RADIOAKTIVITÁS VIZSGÁLATA A RUDAS-FÜRDŐ TÖRÖK- FORRÁSÁBAN Készítette: Freiler Ágnes II. Környezettudomány MSc. szak Témavezetők: Horváth Ákos Atomfizikai Tanszék Erőss Anita Általános és
RészletesebbenKutatóegyetemi Kiválósági Központ 1. Szuperlézer alprogram: lézerek fejlesztése, alkalmazásai felkészülés az ELI-re Dr. Varjú Katalin egyetemi docens
Kutatóegyetemi 1. Szuperlézer alprogram: lézerek fejlesztése, alkalmazásai felkészülés az ELI-re Dr. Varjú Katalin egyetemi docens Lézer = speciális fény koherens (fázisban) kicsi a divergenciája (irányított)
RészletesebbenNanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék
Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék 2011. szeptember 22. Mi az a nano? 1 nm = 10 9 m = 0.000000001 m Nanotudományok: 1-100
RészletesebbenVIZSGÁLATOK MEGFELELŐSÉGE
VIZSGÁLATOK MEGFELELŐSÉGE Anyagmérnök mesterképzés (MsC) Tantárgyi kommunikációs dosszié MISKOLCI EGYETEM Műszaki Anyagtudományi Kar Energia- és Minőségügyi Intézet Minőségügyi Intézeti Kihelyezett Tanszék
RészletesebbenA nagy-kopasz hegyi cheralit környezetgeokémiai vizsgálata
A nagy-kopasz hegyi cheralit környezetgeokémiai vizsgálata Készítette: Grosch Mariann Környezettan B. Sc. III. Témavezető: Szabó Csaba, Ph. D. Konzulens: Szabó Zsuzsanna, Ph. D. hallgató TDK Budapest,
RészletesebbenTÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 (minden téma külön lapra) 2010. június 1 2012. május 31
1. A téma megnevezése TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR-2010-0003 (minden téma külön lapra) 2010. június 1 2012. május 31 Nagymértékű képlékeny deformációval előállított az ultrafinom szemcsés szerkezetek
RészletesebbenSpektrográf elvi felépítése. B: maszk. A: távcső. Ø maszk. Rés Itt lencse, de általában komplex tükörrendszer
Spektrográf elvi felépítése A: távcső Itt lencse, de általában komplex tükörrendszer Kis kromatikus aberráció fontos Leképezés a fókuszsíkban: sugarak itt metszik egymást B: maszk Fókuszsíkba kerül (kamera
RészletesebbenMikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et. Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék
Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék 1947-ben kezdődött a bipoláris germánium tranzisztor létrehozásával (Bell Laboratory). mikrotechnológia
RészletesebbenFelületmódosító technológiák
ANYAGTUDOMÁNY ÉS TECHNOLÓGIA TANSZÉK Biokompatibilis anyagok 2011. Felületm letmódosító eljárások Dr. Mészáros István 1 Felületmódosító technológiák A leggyakrabban változtatott tulajdonságok a felület
RészletesebbenRezervoár kőzetek gázáteresztőképességének. fotoakusztikus detektálási módszer segítségével
Rezervoár kőzetek gázáteresztőképességének vizsgálata fotoakusztikus detektálási módszer segítségével Tóth Nikolett II. PhD hallgató SZTE Környezettudományi Doktori Iskola 2012. augusztus 30. Budapest,
Részletesebben----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)
Részletesebben1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió
1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió A hőkamera által észlelt hosszú hullámú sugárzás - amit a hőkamera a látómezejében érzékel - a felület emissziójának, reflexiójának és transzmissziójának függvénye.
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenMAGYAR TUDOMÁNYOS AKADÉMIA SZILÁRDTESTFIZIKAI ÉS OPTIKAI KUTATÓINTÉZET (MTA SZFKI)
MTA SZFKI Fémkutatási Osztály (1972: Fémfizikai O.) Tudományos osztályvezető (1995 óta): BAKONYI Imre (MTA Doktora) Fő tevékenység: szilárdtestfizikai és anyagtudományi kísérleti alapkutatás fémek, fémhidridek,
RészletesebbenMMT Vándorgyűlés: A meteorológia oktatása -- Eger, 2010. augusztus 30-31. VÁZLAT
MMT MMT Vándorgyűlés: A A meteorológia oktatása -- --Eger, Eger, 2010. 2010. augusztus 30-31. 30-31. ÉGHAJLATTAN - HIDROMETEOROLÓGIA - MŰHOLDMETEOROLÓGIA METEOROLÓGIA Pongrácz Rita ELTE Meteorológiai Tanszék,
RészletesebbenRéz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és mechanikai viselkedése
Réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és mechanikai viselkedése P. Jenei a, E.Y. Yoon b, J. Gubicza a, H.S. Kim b, J.L. Lábár a,c, T. Ungár a a Department of Materials Physics, Eötvös Loránd University,
RészletesebbenSW KÖZVILÁGÍTÁSI RENDSZER. Innovatív megoldások az SW-től
SW KÖZVILÁGÍTÁSI RENDSZER Innovatív megoldások az SW-től KÖZVILÁGÍTÁSI RENDSZER A magyarországi közvilágítási piac fontos és meghatározó szereplőjeként határoztuk el a közvilágítási rendszer komplett kidolgozását,
RészletesebbenRÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAH /2016 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAH-1-1677/2016 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz A Control Labor Kft. Anyagvizsgáló Laboratórium (1211 Budapest, Károli Gáspár utca 2.) akkreditált területe: I. Az akkreditált
RészletesebbenA visszaszórt elektrondiffrakció alkalmazása az anyagvizsgálatban
A visszaszórt elektrondiffrakció alkalmazása az anyagvizsgálatban Bevezetés Szabó Péter János BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 1111 Budapest, Goldmann tér 3., V2/153. szpj@eik.bme.hu Hagyományos
RészletesebbenAz ásványok és a régészetikulturális
Az ásványok és a régészetikulturális örökség Ásványok és a régészeti-kulturális örökség Archeometria: az építészetben, művészettörténetben, régészetben ismert kőzetek, kőzetekhez hasonló anyagok ásványi
RészletesebbenDigitális képalkotás a fogászatban Problémák - megoldások Dr. Ackermann Gábor gabor@dentesthic.hu www.dentesthic.hu/oktatas/
Digitális képalkotás a fogászatban Problémák - megoldások Dr. Ackermann Gábor gabor@dentesthic.hu www.dentesthic.hu/oktatas/ A sikeres gyógyító munkánk alapvető része a pontos diagnózis felállítása. Napjainkban,
Részletesebben