Őrlés. Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM)
|
|
- Gusztáv Csaba Székely
- 8 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Őrlés A mechanikai őrlés egy hatékony, gazdaságos és széleskörűen vizsgált módszer. A mechanikai őrlés egyik előnyös jellemzője, hogy egyszerű az átjárhatóság a laboratóriumi módszerek és a nagyságrendekkel nagyobb mennyiségekkel operáló ipari technológiák között. A különféle golyósmalmok különbözőek lehetnek működési elvükben, anyagukban, jellemző méretükben. A legelterjedtebb a hagyományos golyósmalom, a vibrációs malom, a bolygó malom és az attritor malom. 1.ábra. Az őrlésre használt attritor malom. A nanokompozit porkeverékeket nagy hatékonyságú, attritor malommal készítettük (1. ábra). Ennél egy álló tartályba kerül az őrlendő anyag (különböző adalékokkal) az őrlő golyókkal. Ebbe merül bele a tárcsákkal felszerelt forgó rúd, ami nagy sebességgel (néhány száztól akár több ezer fordulat/percig) megkeveri az anyagot. A mozgó golyók egymással, az őrlendő anyaggal és a tartály falával való kölcsönhatása hatékony keverést és őrlést biztosít. Az őrlés nagy energiájú attritor malomban történt (Union Process ami a 750 ml alumíniumoxid vagy rozsdamentes acéltartályba merülő cirkónium tárcsákkal és őrlőgolyókkal (vagy rozsdamentes acéltárcsákkal és őrlőgolyókkal) volt felszerelve. Az őrlés 600 és 4000 fordulat/perc fordulatszámokon különböző ideig (1, 3h) zajlott. Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) A másodlagos elektronok és a visszaszórt elektronok a pásztázó elektronmikroszkópiában (Scanning Electron Microscopy, SEM) használhatók képalkotásra. A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) (2. ábra) esetében egy igen vékony, mágneses lencsékkel fókuszált elektronnyalábbal pásztázzuk végig a vizsgálandó anyag felületét, és a visszaverődött jeleket detektorokkal gyűjtjük össze. A detektorba jutó elektronok számával arányos intenzitású képet pásztázással jelenítjük meg egy képernyőn. A SEM vákuumban működik, így egyrészt megakadályozható a minta szennyeződése, másrészt az elektronsugár sem ütközik akadályokba. A jó minőségű képhez lényeges a lencsehibák csökkentése, és a külső (elektromágneses, mechanikai) zavarok kiküszöbölése. Vizsgálatainkhoz LEO 1540 XB típusú berendezést használtunk.
2 2. ábra. SEM mikroszkóp. Röntgen diffraktométer (XRD) A röntgen diffrakciós (X-ray Diffraction, XRD) vizsgálat (3. ábra) alapja, hogy a röntgen sugarat azaz egy elektromágneses sugárzást szóratunk kristályos anyagon, és a szórt sugárzás detektálásával nyerhetünk információt a kristályszerkezetről. A röntgensugárzás elhajlásával (diffrakciójával) kapott intenzitásmaximumok térbeli helyzetéből és relatív erősségéből meghatározhatjuk ismeretlen anyagok kristályszerkezetét. Kinematikus közelítést alkalmazva (csak rugalmas, egyszeres szórás, direkt nem gyengül, síkhullámok) a Bragg-egyenlet írja le, hogy a besugárzási irányhoz (k 0 ) képest milyen 2θ szögben kapjuk a szórt sugárzás intenzitás maximumait (a kristály atomjairól visszaverődő hullám interferenciájának következtében, 4a. ábra): nλ = 2d sin(θ), ahol n egész szám (a gyakorlatban értéke 1), λ a röntgensugárzás hullámhossza (L K átmenetnek megfelelő CuKα-nak: λ = Å), d a rácssíktávolság, és θ a Bragg-szög. Amikor por mintánk van, ami nagyszámú, véletlenszerűen elhelyezkedő krisztallitból áll, akkor a minta körül megmérjük a szórt sugárzás intenzitás eloszlását a 2θ függvényében (pordiffrakció). Forgás közben a detektor begyűjti a különböző 2θ szögekben szórt röntgenfotonokat, miközben a mérés során a mintára eső és a szórt nyalábnak a minta felületével bezárt szöge mindvégig egyenlő marad (szimmetrikus sugármenet). Mivel a polikristályos minta esetén a kristályszemcsék véletlenszerű irányítása miatt minden lehetséges rácssík előfordul, ezért a kristályszerkezetnek megfelelő összes reflexió megjelenik a pordiffraktogramon. A kristályrácsot jellemző d hkl rácssík távolságoknak megfelelő 2θ szögeknél kapjuk az intenzitás-maximumokat. A polikristályos minták krisztallitjainak karakterisztikus mérete kiszámítható a Scherrer egyenlettel: L C = kλ / (βcos(θ)), ahol k a részecskealakra jellemző állandó ( k = 0,89), λ a röntgen hullámhossza (CuKα-nak λ = Å), β a csúcs félértékszélessége (FWHM) radiánban és θ a Bragg-szög.
3 a) b) 3. ábra. Röntgen diffraktométer. a) működési elve, b) Bruker AXS D8 típusú berendezés. Spark Plasma Sintering (SPS); Szikrakisüléses szinterelés A szikrakisüléses szinterelés egy viszonylag új, az utóbbi egy-két évtizedben kifejlesztett pormetallurgiai eljárás, amely tömbi testek előállítását teszi lehetővé a szervetlen anyagok kis szemcseméretű porából kiindulva. Az eljárás fő előnye a rövid mindössze néhány perces szinterelési idő, az alacsonyabb szinterelési hőmérséklet, valamint a szintelerés során a mikroszerkezetben bekövetkező minimális mértékű szemcsenövekedés. A zsugorítási eljárás során a formára tömörített poron keresztül szaggatott nagy egyenáramot (1-2 ka) engedünk át, miközben egyidejűleg tengelyirányú mechanikai nyomást is kifejtünk. A szinterelés vákuumozott vagy atmoszférikus nyomású áramló Ar ill. N 2 gázzal telített zárt térben zajlik. Míg a hagyományos szinterelési technikák során a mintát kívülről hevítjük, addig az SPS-nél a hő a porkeverékben képződik. A képződő Joule hő nagysebességű akár több 100 C min -1 hevítést eredményez, amely segít elkerülni az alacsony hőmérsékletű régióban domináló és szemcsenövekedést okozó felületi diffúziót. A szinterelődésért így főként a magasabb hőmérsékleten végbemenő tömbi diffúzió a felelős. A szaggatott elektromos áram a szemcsék felületének aktiválásán keresztül hozzájárul a porok gyors szinterelhetőségéhez. A szemcsék közt kialakuló kisülések pedig a szemcsehatárokon előforduló szennyeződést gátolják. Az eljárás során a műszer kiépítése lehetővé teszi a minta felületi hőmérsékletének közvetlen mérését, valamint a hőmérséklet és préserő reprodukálható programvezetését az idő függvényében mind a felfűtés, mind a hűtés során. 6.1.ábra: Az SPS elvi összeállítása Az SPS működési elvének lényegét a 6.1. ábra mutatja. A szinterelendő port egy hengeres grafitszerszámba helyezzük, amibe alulról egy ugyancsak hengeres grafitdugattyút helyezünk, majd a por behelyezése után felülről egy másik grafitdugattyúval zárunk le. A grafitszerszámot a szinterelőkamrában két elektróda közé helyezzük, majd a
4 kamrában vákuumot hozunk létre. A hőkezelés során a grafitdugattyúk előre meghatározott nyomással préselik össze az apró szemcséket. A hőmérséklet növelését a grafitdugattyúkkal érintkező elektródákon átfolyó szaggatott egyenáram biztosítja. A hőmérsékletet a grafitelektródában elhelyezett termoelemmel mértük. Az anyag zsugorodását szinterelés során folyamatos figyelemmel követhetjük az elektródák elmozdulásából ábra: Az SPS berendezés fényképe zárt, illetve nyitott kamrával. Transzmissziós elektronmikroszkópia (TEM) A transzmissziós elektronmikroszkóp vékony (néhányszor 10 nm) minták átvilágításával vizsgálja az anyag szerkezetét (és hozzá kapcsolódó analitikai feltétek, pl. EELS, EDS, segítségével az atomi összetételt is). Működése hasonló az optikai mikroszkópokéhoz, csak sokkal kisebb hullámhosszú (λ=0,00251 nm) elektron-hullámot használ fény helyett a leképezéshez. A készülék teljesítőképességét meghatározó alkatrész az objektív lencse, amelynek képsíkjában nagyított kép, fókuszsíkjában pedig az atomok térbeli elrendeződéséről információt adó diffrakciós ábra jelenik meg. Ezeket további vetítő lencsékkel választjuk ki, illetve nagyítjuk tovább. A mérésekhez két TEM-et használtunk: Philips CM-20, 200 kv-on üzemelő mikroszkóp, röntgen analizátorral (EDS) felszerelve, illetve JEOL 3010, 300 kv-on üzemeltetett TEM, GATAN GIF energiaszűrővel felszerelve. Ez utóbbinak kétféle üzemmódja van: elektron energiaveszteségi spektrométerként (EELS) illetve energia szűrőként is használhatjuk. Az energia szűrt TEM (EFTEM) a kémiai elemek térbeli eloszlásának térképezésére (is) alkalmas, 2 nm térbeli felbontással. Képi üzemmódban a JEOL 3010 térbeli felbontása 0,17 nm. A hagyományos világos látóterű (BF) és sötét látóterű (DF) TEM képek a határolt területű elektron diffrakcióból (SAED) nyert információval kiegészítve alkalmasak az egyes kristályos fázisok azonosítására, illetve térbeli elhelyezkedésük lefényképezésére. A köztük elhelyezkedő amorf fázisok is azonosíthatók a felvételeken.
5 6.3 ábra: a/ CM-20 TEM; b/ JEOL 3010 TEM Tömbi mintákból ionsugaras vékonyítással készítünk a TEM vizsgálatra alkalmas vékony mintát (lamellát). Ennek során a tömbből kivágott kb. 1mm*0,5mm darabot 50µm vastag plánparalell lemezzé csiszoljuk mechanikus csiszoló és polírozó berendezésben. Az így polírozott felszínű mintadarabot súrlódó szög alatt beeső Ar + -ionokkal bombázzuk minkét oldalról (a minta forgatása mellett). Így az előre kijelölt helyen kilyukadó mintában a lyuk pereme mentén körkörösen olyan lapos ék alakban lassan vastagodó tartomány áll elő, ami alkalmas a TEM vizsgálatra. A porózus mintáknál szükség volt a vékonyítás előtt a mintát polimerizálódó műgyantával átitatni, hogy a pórusok kitöltésével megakadályozzuk az elvékonyítás során a minta szétesését. 6.4 ábra: Nyitott ionsugaras vékonyító fényképe (IV-4 típus, gyártó: Technoorg Linda). A forgatható tartó két oldalán a két ionágyú látható. Sűrűségmérés A sűrűségmérésre az Archimedes-i módszert használtuk. Annak függvényében, hogy a próbatest porozitása milyen mértékű, kétféle eljárást alkalmazunk. 1. kis porozitású (nyílt pórusokat nem tartalmazó) minták esetében a méréskor a mintát egy vékony nikkel drótra helyezzük és felületaktív anyagot tartalmazó desztillált vízbe merítve mérjük a sűrűséget. Ezt követően a mérést megismételjük. Ha a mérendő mintadarab valóban nem tartalmaz nyílt pórusokat, a két érték megegyezik. 2. porózus minták esetében a mérés menete három lépésből tevődik össze. Először szárazon megmérjük a minta tömegét. Második lépésben a mintákat órás áztatásnak vetjük alá, a fentebb említett folyadékban, annak érdekében, hogy pórusaik kellőképp telítődjenek folyadékkal. Ekkor ismét folyadékba mártva, megmérjük a sűrűségüket. A harmadik lépésben a próbatestek mérése előtt felületükről felitatásra kerül a folyadék. Az így kapott sűrűségérték értelemszerűen kisebb lesz, mint az előzőleg mért értékek, így érdemes elkülöníteni a valódi és látszólagos sűrűség értékeket.
6 Keménység mérés Az egyik legelterjedtebb anyagvizsgálati módszer, melynek segítségével a számszerűsíthető anyagtulajdonság szoros kapcsolatban áll számos, a felhasználás szempontjából fontos anyagjellemzővel. A mérés kis térfogatú anyagon is elvégezhető, egyszerű és gyors, ugyanakkor minimális előkészítési munkálatot igényel. a) b) 4. ábra. Keménységmérés. a) Vickers keménységmérő, b) a próbatest és a létrejött repedés geometriája a mért geometriai jellemzők. Az alumínium alapú kompozitok esetében mikro-vickers eljárást alkalmaztuk az anyag keménységének a meghatározására. A módszer elve ugyanaz, mint a Vickers keménységmérés, eltérés csak az alkalmazott terhelőerők nagyságában van, mely esetünkben jellemzően 1-5 N közé esik. A mérés első lépéseként Vickers lenyomatot készítünk a minta két, egymással párhuzamos felületének egyikén. A terhelés hatására a gúla alakú lenyomat sarkaiból repedések indulnak ki, melyek hosszaival együtt lemérjük a lenyomat geometriai jellemzőit: d 1 és d 2 lenyomatátlók, 2 c1 és 2 c2 teljes repedéshosszak. Terheléskor a Vickers lenyomat sarkaiban egy ún. egyensúlyi repedéshossz alakul ki, mely az adott anyagra jellemző érték és amelynek nagyságát az anyag mikroszerkezete mellett befolyásolhatja a lenyomat készítés előtti feszültségállapot; illetve a minta felületi megmunkáltsága is. A repedéshossz mérés pontossága a mérés során alkalmazott berendezéstől és a mérési eljárástól függ, ami legtöbbször optikai vagy pásztázó elektronmikroszkóp alkalmazásával történik. Három pontos törés teszt A hajlítószilárdság, a törést okozó maximális hajlítófeszültség. A fémekkel ellentétben, kerámiák esetében a szilárdság jellemzésére a hajlítószilárdság különböző értékeit használják, aminek oka, hogy a kerámiák esetében elsősorban a nagy nyomószilárdságot, illetve keménységet szokták kihasználni. A vizsgálatot megelőzően a próbatestek felületét gyémánt köszörűkorongon simára csiszoljuk. A megmunkálás a felületi hibák megszüntetését célozza, amelyek döntő módon befolyásolnák a mért hajlítószilárdság értékét. A felületi hibák kiküszöbölése lehetővé teszi, hogy az anyagokra jellemző tulajdonságokat mérjük, ezáltal összehasonlíthatóvá válnak a különböző próbatesteken mért hajlítószilárdsági értékek. Ennek a gyakorlati megvalósításához a csiszolással kisebb, mint 5 μm-es felületi érdességet kell elérni. A hárompontos hajlítószilárdság vizsgálatakor a 3. ábrán látható módon a próbatesteket két ponton alátámasztjuk, míg felülről egy pontban alkalmazzuk a terhelést. A 7a. ábrán feltüntetett geometriai jellemzők az ENV 843-6:200x hajlítószilárdságra vonatkozó szabvány szerint előírt méretek. A három illetve négypontos hajlítószilárdság mérések esetében a mért értékek közötti különbséget a mechanikai feszültségnek a próbatest mentén történő eloszlása adja, amely a 3b. ábra szerint alakul. A hajlítószilárdság fenti módszerekkel történő meghatározása egyszerű és költséghatékony módszer, ugyanakkor figyelembe kell venni a mérethatás okozta különbségeket. Ennek következtében egy nagyobb próbatest esetében a
7 hajlítószilárdság kisebb lehet a fenti módszerekkel mért jellemző értéknél, abból az egyszerű tényből kifolyólag, hogy a nagyobb mintákban nagyobb valószínűséggel vannak jelen véletlenszerű hibák (repedések) az anyagban, amik lényegesen csökkentik a hajlítószilárdság értékét. a) b) 3. ábra. Hárompontos hajlítószilárdság mérés. a) elrendezés vázlatos ábrázolása, b) mechanikai feszültségnek a próbatest mentén történő eloszlása. A hajlítószilárdság kiszámítása, a már korábban említett ENV 843-6: 200x szabványban feltűntetett képlet alapján történik ahol: F max : a mért maximális erő, L S a támaszköz, W a próbatest szélessége, B a próbatest vastagsága. Tribológiai mérés: ball-on-disk (kopás, súrlódási együttható) A mesterséges koptatás méréséhez ball-on disk elrendezésű tribométert használtunk. Méréseinket egy korszerű CSM Instruments gyártmányú tribométeren végeztük, amely automatizáltan képes végrehajtani nagyon hosszú koptatási feladatokat is. A vizsgálandó mintadarabot egy forgatható tárcsára erősítjük és meghatározott nagyságú merőleges erővel kerámia golyót nyomunk a felületére. Így ismerve a geometriai paramétereket és a merőlegesen ható erő nagyságát kiszámíthatjuk az ún. kopási rátát, azaz az egységnyi erő hatására elkoptatott anyagmennyiséget egy adott koptatási ciklus után. CSM típusú tribométer
8 Többféle vizsgálati paraméter különböző terhelőerő, és csúszási sebesség alkalmazásával az alábbi tribológiai jellemzőket határoztam meg: - súrlódási együttható; - kikopott térfogat a mintadarabon és az ellentesten, ebből kopási tényező; - a keletkezett kopásnyomok morfológiája; - a károsodási folyamatot kontrolláló kopási mechanizmus. A ball-on-disc kopásvizsgálat sematikus ábrája A golyó és a tárcsa érintkezési felülete A vizsgálat során egy golyót (ellentestet) egy definiált FN nagyságú normálerővel a forgó mintadarab (alaptest) sík felületéhez szorítunk úgy, hogy a vizsgálat elején pontszerű érintkezési kapcsolat jöjjön létre. A pontszer érintkezési felület a kopás mértékének növekedésével egyre növekvő felületté tágul. A vizsgálat során a rögzített tengelyű golyó a korongon csúszik és így idéz elő kopást, míg a korongot egy motor segítségével különböző sebességgel forgatjuk. A próbatestek vizsgálatához egy olyan zárt rendszert (fülke) kell biztosítani, amelyben a környezet paraméterei különös tekintettel a relatív páratartalomra szabályozhatók. A golyót úgy kell rögzíteni, hogy kizárható legyen bármilyen másfajta forgó mozgás, pl. gördülés, tehát tiszta súrlódás valósuljon meg a golyó és a sík felület között. A vizsgálat során választható paraméterek: - az alkalmazott terhelőerő, - az ellentest, azaz a golyó anyagminősége, átmérője; - csúszási úthossz; - a vizsgálati hőmérséklet ( C). A koptatást követően mérhető/elemezhető paraméterek és azok eszközei: - a súrlódási együttható értékének alakulása a vizsgálat során - a mintadarabból kikopott anyag tömege - az ellentestként szolgáló golyó kopása - a kopásnyom és a kikopott térfogat meghatározása Minden kopásvizsgálat során figyelembe kell venni a környezeti paramétereket, így a hőmérsékletet, illetve a jelenlévő levegő páratartalmát, amelyek rögzítése rendkívül fontos, ugyanis változásuk jelentős mértékben módosíthatja a mért kopási jellemzőket.
Mikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
Részletesebben7.1. Al2O3 95%+MLG 5% ; 3h; 4000rpm; Etanol; ZrO2 G1 (1312 keverék)
7.1. Al2O3 95%+MLG 5% ; 3h; 4000rpm; Etanol; ZrO2 G1 (1312 keverék) 7.1.1. SPS: 1150 C; 5 (1312 K1) Mért sűrűség: 3,795 g/cm 3 3,62 0,14 GPa Három pontos törés teszt: 105 4,2 GPa Súrlódási együttható:
RészletesebbenHavancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenDOKTORI ÉRTEKEZÉS NANOSZERKEZETŰ KERÁMIA KOMPOZITOK ALKALMAZÁS KÖZPONTÚ ELŐÁLLÍTÁSA ÉS VIZSGÁLATA BALÁZSI CSABA. MTA Természettudományi Kutatóközpont
DOKTORI ÉRTEKEZÉS NANOSZERKEZETŰ KERÁMIA KOMPOZITOK ALKALMAZÁS KÖZPONTÚ ELŐÁLLÍTÁSA ÉS VIZSGÁLATA BALÁZSI CSABA MTA Természettudományi Kutatóközpont Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet BUDAPEST 2013
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenA vizsgált anyag ellenállása az adott geometriájú szúrószerszám behatolásával szemben, Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika
Dunaújvárosi Főiskola Anyagtudományi és Gépészeti Intézet Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika Mechanikai anyagvizsgálat 2. Dr. Palotás Béla palotasb@mail.duf.hu Készült: Dr. Krállics György (BME,
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 6. félév Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
RészletesebbenA technológiai paraméterek hatása az Al 2 O 3 kerámiák mikrostruktúrájára és hajlítószilárdságára
Bevezetés A technológiai paraméterek hatása az Al 2 O 3 kerámiák mikrostruktúrájára és hajlítószilárdságára Csányi Judit 1, Dr. Gömze A. László 2 1 doktorandusz, 2 tanszékvezető egyetemi docens Miskolci
RészletesebbenDankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
RészletesebbenRöntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november
Röntgendiffrakció Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet 2013. november Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia, diffrakció (elektromágneses hullámok) Kristályok szerkezete Röntgendiffrakció
RészletesebbenVázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István
Dódony István: TEM, vázlat vegyészeknek, 1996 1 Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István A TEM a szilárd anyagok kémiai és szerkezeti jellemzésére alkalmas vizsgálati módszer.
RészletesebbenKerámia, üveg és fém-kerámia implantátumok
Kerámia, üveg és fém-kerámia implantátumok Bagi István BME MTAT Bevezetés Kerámiák csoportosítása teljesen tömör bioinert porózus bioinert teljesen tömör bioaktív oldódó Definíciók Bioinert a szomszédos
RészletesebbenÁGAZATI SZAKMAI ÉRETTSÉGI VIZSGA VEGYIPAR ISMERETEK EMELT SZINTŰ GYAKORLATI VIZSGA MINTAFELADATOK ÉS ÉRTÉKELÉSÜK
06. OKTÓBER VEGYIPAR ISMERETEK EMELT SZINTŰ GYAKORLATI VIZSGA MINTAFELADATOK ÉS ÉRTÉKELÉSÜK 06. OKTÓBER. tétel Anyagvizsgálatok gyakorlat I. Viszkozitás mérése Höppler-féle viszkoziméterrel A mérés megkezdése
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15
RészletesebbenMit nevezünk nehézségi erőnek?
Mit nevezünk nehézségi erőnek? Azt az erőt, amelynek hatására a szabadon eső testek g (gravitációs) gyorsulással esnek a vonzó test centruma felé, nevezzük nehézségi erőnek. F neh = m g Mi a súly? Azt
Részletesebben2. Tantermi Gyakorlat A szerkezeti anyagok tulajdonságai és azok vizsgálata Nyomóvizsgálat, hajlítóvizsgálat, keménységmérés
SZÉCHENYI ISTVÁN EGYETEM Anyagtudományi és Technológiai Tanszék Anyagszerkezet és vizsgálat Fémtan, anyagvizsgálat 2. Tantermi Gyakorlat A szerkezeti anyagok tulajdonságai és azok vizsgálata Nyomóvizsgálat,
Részletesebben1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió
1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió A hőkamera által észlelt hosszú hullámú sugárzás - amit a hőkamera a látómezejében érzékel - a felület emissziójának, reflexiójának és transzmissziójának függvénye.
RészletesebbenPattex CF 850. Műszaki tájékoztató
BETON / TÖMÖR KŐ HASZNÁLAT FELHASZNÁLÁSI ÚTMUTATÓ 1. ALKALMAZÁSI TERÜLETEK ALAP ANYAGA: beton, tömör kő Nehéz terhet hordozó elemek rögzítése tömör kőben, betonban, porózus betonban és könnyű betonban.
RészletesebbenAnyagszerkezet és vizsgálat
SZÉCHENYI ISTVÁN EGYETEM Anyagismereti és Járműgyártási Tanszék Anyagszerkezet és vizsgálat NGB_AJ021_1 2. Tantermi Gyakorlat A szerkezeti anyagok tulajdonságai és azok vizsgálata Nyomóvizsgálat, hajlítóvizsgálat,
RészletesebbenFOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév
FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév A kollokviumon egy-egy tételt kell húzni az 1-10. és a 11-20. kérdések közül. 1. Atomi kölcsönhatások, kötéstípusok.
RészletesebbenAz ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 9:30-11:00 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai és visszaszórtelektron diffrakció
RészletesebbenModern fizika laboratórium
Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid
RészletesebbenA II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása
Nyomaték (x 0 Nm) O k t a t á si Hivatal A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása./ A mágnes-gyűrűket a feladatban meghatározott sorrendbe és helyre rögzítve az alábbi táblázatban feltüntetett
RészletesebbenQuanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái
RészletesebbenModern Fizika Labor. 17. Folyadékkristályok
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 2011. okt. 11. A mérés száma és címe: 17. Folyadékkristályok Értékelés: A beadás dátuma: 2011. okt. 23. A mérést végezte: Domokos Zoltán Szőke Kálmán Benjamin
RészletesebbenAnyagvizsgálatok. Mechanikai vizsgálatok
Anyagvizsgálatok Mechanikai vizsgálatok Szakítóvizsgálat EN 10002-1:2002 Célja: az anyagok egytengelyű húzó igénybevétellel szembeni ellenállásának meghatározása egy szabványosan kialakított próbatestet
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs
RészletesebbenSZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI
SZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI 30 Műszeres ÁSVÁNYHATÁROZÁS XXX. Műszeres ÁsVÁNYHATÁROZÁs 1. BEVEZETÉs Az ásványok természetes úton, a kémiai elemek kombinálódásával keletkezett (és ma is keletkező),
RészletesebbenPolimerek fizikai, mechanikai, termikus tulajdonságai
SZÉCHENYI ISTVÁN EGYETEM ANYAGISMERETI ÉS JÁRMŰGYÁRTÁSI TANSZÉK POLIMERTECHNIKA NGB_AJ050_1 Polimerek fizikai, mechanikai, termikus tulajdonságai DR Hargitai Hajnalka 2011.10.05. BURGERS FÉLE NÉGYPARAMÉTERES
RészletesebbenAz elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László
Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses
RészletesebbenModern Fizika Labor. 2. Elemi töltés meghatározása
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2011.09.27. A mérés száma és címe: 2. Elemi töltés meghatározása Értékelés: A beadás dátuma: 2011.10.11. A mérést végezte: Kalas György Benjámin Németh Gergely
RészletesebbenFEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december
1 Havancsák Károly 2010. december 2 Időrend A helyiség kialakítás tervezése 2010. május Mágneses tér, vibráció mérése 2010. május A helyiség kialakítása 2010. augusztus 4 22. A berendezés szállítása 2010.
RészletesebbenAz elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal
Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal Radiometriai alapfogalmak Kisugárzott felületi teljesítmény Besugárzott felületi teljesítmény A fény kölcsönhatása az anyaggal 1. M ΔP W ΔA m 2 E be
RészletesebbenFOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév
FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév A kollokviumon egy-egy tételt kell húzni az 1-10. és a 11-20. kérdések közül, valamint egy számolási feladatot az év közben
RészletesebbenNagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása
Nagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása P. Jenei a, E.Y. Yoon b, J. Gubicza a, H.S. Kim b, J.L. Lábár a,c, T. Ungár a a Anyagfizikai Tanszék,
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
RészletesebbenLaborgyakorlat. Kurzus: DFAL-MUA-003 L01. Dátum: Anyagvizsgálati jegyzőkönyv ÁLTALÁNOS ADATOK ANYAGVIZSGÁLATI JEGYZŐKÖNYV
ÁLTALÁNOS ADATOK Megbízó adatai: Megbízott adatai: Cég/intézmény neve: Dunaújvárosi Egyetem. 1. csoport Cég/intézmény címe: 2400 Dunaújváros, Vasmű tér 1-3. H-2400 Dunaújváros, Táncsics M. u. 1/A Képviselő
RészletesebbenOptika gyakorlat 6. Interferencia. I = u 2 = u 1 + u I 2 cos( Φ)
Optika gyakorlat 6. Interferencia Interferencia Az interferencia az a jelenség, amikor kett vagy több hullám fázishelyes szuperpozíciója révén a térben állóhullám kép alakul ki. Ez elektromágneses hullámok
RészletesebbenA szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.
1 A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum 2012. július. Mikroszkópok 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp
RészletesebbenNév... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez
A Név... Válassza ki a helyes mértékegységeket! állandó intenzitás abszorbancia moláris extinkciós A) J s -1 - l mol -1 cm B) W g/cm 3 - C) J s -1 m -2 - l mol -1 cm -1 D) J m -2 cm - A Wien-féle eltolódási
RészletesebbenOptika gyakorlat 2. Geometriai optika: planparalel lemez, prizma, hullámvezető
Optika gyakorlat. Geometriai optika: planparalel lemez, prizma, hullámvezető. példa: Fényterjedés planparalel lemezen keresztül A plánparalel lemezen történő fényterjedés hatására a fénysugár újta távolsággal
RészletesebbenFényhullámhossz és diszperzió mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 9. MÉRÉS Fényhullámhossz és diszperzió mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 19. Szerda délelőtti csoport 1. A mérés célja
RészletesebbenRöntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD)
Röntgenanalitika Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) A röntgensugárzás Felfedezése (1895, W. K. Röntgen, katódsugárcső,
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)
Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az
RészletesebbenPOLIMERTECHNIKA Laboratóriumi gyakorlat
MÉRÉSI JEGYZŐKÖNYV Polimer anyagvizsgálat Név: Neptun kód: Dátum:. Gyakorlat célja: 1. Műanyagok folyóképességének vizsgálata, fontosabb reológiai jellemzők kiszámítása 2. Műanyagok Charpy-féle ütővizsgálata
RészletesebbenSugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.
Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. A sugárzáson alapuló hőmérsékletmérés (termográfia),azt a fizikai jelenséget használja fel, hogy az abszolút nulla K hőmérséklet (273,16
RészletesebbenMéréstechnika. Hőmérséklet mérése
Méréstechnika Hőmérséklet mérése Hőmérséklet: A hőmérséklet a termikus kölcsönhatáshoz tartozó állapotjelző. A hőmérséklet azt jelzi, hogy egy test hőtartalma milyen szintű. Amennyiben két eltérő hőmérsékletű
RészletesebbenA kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről
A kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről Utolsó módosítás: 2016. május 4. 1 Előzmények Franck-Hertz-kísérlet (1) A Franck-Hertz-kísérlet vázlatos elrendezése: http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/frhz.html
RészletesebbenFogorvosi anyagtan fizikai alapjai 8. Képlékeny viselkedés. Terhelési diagram. Mechanikai tulajdonságok 2. s sz (Pa) Tankönyv fejezetei: 16-17
rugalmas B mn 1. A rá ható erő következtében megváltozott alakját a hatás megszűntével visszanyerő. Vmihez hozzáütődve róla visszapattanó. merev B mn 1. Nem rugalmas, nem hajlékony . Rugalmasságát,
RészletesebbenFogorvosi anyagtan fizikai alapjai 7. Képlékeny viselkedés. Terhelési diagram. Mechanikai tulajdonságok 2. s sz (Pa) Tankönyv fejezetei: 16-17
rugalmas B mn 1. A rá ható erő következtében megváltozott alakját a hatás megszűntével visszanyerő. Vmihez hozzáütődve róla visszapattanó. merev B mn 1. Nem rugalmas, nem hajlékony . Rugalmasságát,
RészletesebbenFogorvosi anyagtan fizikai alapjai 7.
Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai 7. Mechanikai tulajdonságok 2. Kiemelt témák: Szilárdság, rugalmasság, képlékenység és szívósság összefüggései A képlékeny alakváltozás mechanizmusa kristályokban és
RészletesebbenFogorvosi anyagtan fizikai alapjai 7. Képlékeny viselkedés. Terhelési diagram. Mechanikai tulajdonságok 2. s sz (Pa) Tankönyv fejezetei: 16-17
rugalmas B mn 1. A rá ható erő következtében megváltozott alakját a hatás megszűntével visszanyerő. Vmihez hozzáütődve róla visszapattanó. merev B mn 1. Nem rugalmas, nem hajlékony . Rugalmasságát,
RészletesebbenINFRA HŐMÉRŐ (PIROMÉTER) AX-6520. Használati útmutató
INFRA HŐMÉRŐ (PIROMÉTER) AX-6520 Használati útmutató TARTALOMJEGYZÉK 1. Biztonsági szabályok... 3 2. Megjegyzések... 3 3. A mérőműszer leírása... 3 4. LCD kijelző leírása... 4 5. Mérési mód...4 6. A pirométer
RészletesebbenLézer hónolt felületek vizsgálata
Lézer hónolt felületek vizsgálata Dr. Czinege Imre, Csizmazia Ferencné Dr., Dr. Solecki Levente Széchenyi István Egyetem ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA 2008. Június 4-5. Áttekintés A lézer hónolás
RészletesebbenNanokeménység mérések
Cirkónium Anyagtudományi Kutatások ek Nguyen Quang Chinh, Ugi Dávid ELTE Anyagfizikai Tanszék Kutatási jelentés a Nemzeti Kutatási, Fejlesztési és Innovációs Hivatal támogatásával az NKFI Alapból létrejött
Részletesebben2.9.1. TABLETTÁK ÉS KAPSZULÁK SZÉTESÉSE
2.9.1 Tabletták és kapszulák szétesése Ph.Hg.VIII. Ph.Eur.6.3-1 01/2009:20901 2.9.1. TABLETTÁK ÉS KAPSZULÁK SZÉTESÉSE A szétesésvizsgálattal azt határozzuk meg, hogy az alábbiakban leírt kísérleti körülmények
Részletesebben10. előadás Kőzettani bevezetés
10. előadás Kőzettani bevezetés Mi a kőzet? Döntően nagy földtani folyamatok során képződik. Elsősorban ásványok keveréke. Kőzetalkotó ásványok építik fel. A kőzetalkotó komponensek azonban nemcsak ásványok,
RészletesebbenTermodinamika (Hőtan)
Termodinamika (Hőtan) Termodinamika A hőtan nagyszámú részecskéből (pl. gázmolekulából) álló makroszkópikus rendszerekkel foglalkozik. A nagy számok miatt érdemes a mólt bevezetni, ami egy Avogadro-számnyi
RészletesebbenUltrahangos anyagvizsgálati módszerek atomerőművekben
Ultrahangos anyagvizsgálati módszerek atomerőművekben Hangfrekvencia 20 000 000 Hz 20 MHz 2 000 000 Hz 20 000 Hz 20 Hz anyagvizsgálatok esetén használt UH ultrahang hallható hang infrahang 2 MHz 20 khz
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
Részletesebbentervezési szempontok (igénybevétel, feszültségeloszlás,
Elhasználódási és korróziós folyamatok Bagi István BME MTAT Biofunkcionalitás Az élő emberi szervezettel való kölcsönhatás biokompatibilitás (gyulladás, csontfelszívódás, metallózis) aktív biológiai környezet
RészletesebbenA PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR
A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR Készítette: TÓTH ESZTER A5W9CK Műszaki menedzser BSc. TUDOMÁNYOS DIÁKKÖRI DOLGOZAT CÉLJA Plazmasugaras és vízsugaras technológia
RészletesebbenMűszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása
Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása
RészletesebbenKerámia-szén nanokompozitok vizsgálata kisszög neutronszórással
Kerámia-szén nanokompozitok vizsgálata kisszög neutronszórással 1 Tapasztó Orsolya 2 Tapasztó Levente 2 Balázsi Csaba 2 1 MTA SZFKI 2 MTA MFA Tartalom 1 Nanokompozit kerámiák 2 Kisszög neutronszórás alapjai
RészletesebbenGyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09.
Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09. Konkurens (szimultán) tervezés: Alapötlet Részletterv Vázlat Prototípus Előzetes prototípus Bevizsgálás A prototípus készítés indoka: - formai
RészletesebbenRöntgen sugárzás. Wilhelm Röntgen. Röntgen feleségének keze
Röntgendiffrakció Kardos Roland 2010.03.08. Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia Huygens teória Diffrakció Diffrakciós eljárások Alkalmazás Röntgen sugárzás 1895 röntgen sugárzás felfedezés (1901
RészletesebbenRugalmas állandók mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 2. MÉRÉS Rugalmas állandók mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. november 16. Szerda délelőtti csoport 1. A mérés rövid leírása Mérésem
RészletesebbenDICHTOMATIK. Beépítési tér és konstrukciós javaslatok. Statikus tömítés
Beépítési tér és konstrukciós javaslatok Az O-gyűrűk beépítési terét (hornyot) lehetőség szerint merőlegesen beszúrva kell kialakítani. A szükséges horonymélység és horonyszélesség méretei a mindenkori
RészletesebbenElektromos áram. Vezetési jelenségek
Elektromos áram. Vezetési jelenségek Emlékeztető Elektromos áram: töltéshordozók egyirányú áramlása Áramkör részei: áramforrás, vezető, fogyasztó Áramköri jelek Emlékeztető Elektromos áram hatásai: Kémiai
RészletesebbenAlkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz
Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz A fotonok az elektromágneses sugárzás hordozó részecskéi. Spinkvantumszámuk S=, tehát kvantumstatisztikai szempontból bozonok. Fotonoknak habár a spinkvantumszámuk,
RészletesebbenTypotex Kiadó. Tartalomjegyzék
Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás
RészletesebbenElsőként ellenőrizzük, hogy a 2,5mm átmérőjű golyóval vizsgálható-e az adott vastagságú próbadarab.
1 Keménységmérés minta példa Brinell keme nyse gme re s minta pe lda A Feladat: Határozza meg a kapott próbadarab Brinell keménységét HPO 250-es típusú keménység mérőgép segítségével. A méréssorán a próbadarab
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond
RészletesebbenOrvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény
Orvosi iofizika I. Fénysugárzásanyaggalvalókölcsönhatásai. Fényszóródás, fényabszorpció. Az abszorpciós spektrometria alapelvei. (Segítséga 12. tételmegértéséhezésmegtanulásához, továbbá a Fényabszorpció
Részletesebben9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK
9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK 1.A gyakorlat célja Az MPX12DP piezorezisztiv differenciális nyomásérzékelő tanulmányozása. A nyomás feszültség p=f(u) karakterisztika megrajzolása. 2. Elméleti
RészletesebbenLézerrel színterelt vagy olvasztott gyorsprototípusok tulajdonságfejlesztése
OTKA 48708 Lézerrel színterelt vagy olvasztott gyorsprototípusok p tulajdonságfejlesztése Zárójelentés OTKA - T048708 támogatásáért Vezető kutató: dr. Takács János tanszékvezető, egyetemi tanár Budapest,
RészletesebbenIpari robotok megfogó szerkezetei
IPARI ROBOTOK Ipari robotok megfogó szerkezetei 6. előadás Dr. Pintér József Tananyag vázlata Ipari robotok megfogó szerkezetei 1. Effektor fogalma 2. Megfogó szerkezetek csoportosítása 3. Mechanikus megfogó
RészletesebbenAkusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel
Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Fürjes Andor Tamás BME Híradástechnikai Tanszék Kép- és Hangtechnikai Laborcsoport, Rezgésakusztika Laboratórium 1 Tartalom A geometriai akusztika
RészletesebbenFelhasználói kézikönyv
Felhasználói kézikönyv 6234C Fordulatszámmérő TARTALOMJEGYZÉK 1. Termékjellemzők... 2 2. Műszaki jellemzők... 2 3. Előlap és kezelőszervek... 2 4. Működési leírás... 3 5. Mérési folyamat... 4 6. Elem cseréje...
Részletesebben----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró
RészletesebbenE (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic
Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses
RészletesebbenAnyagismeret a gyakorlatban (BMEGEPTAGA0) KEMÉNYSÉGMÉRÉS
Anyagismeret a gyakorlatban (BMEGEPTAGA0) KEMÉNYSÉGMÉRÉS Elméleti áttekintés Az anyag képlékeny alakváltozással, különösen valamely mérőszerszám beatolásával, szembeni ellenállását keménységnek nevezzük.
RészletesebbenRugalmas állandók mérése
Rugalmas állandók mérése (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. április 23. (hétfő délelőtti csoport) 1. Young-modulus mérése behajlásból 1.1. A mérés menete A mérés elméleti háttere megtalálható a jegyzetben
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenOptika és Relativitáselmélet II. BsC fizikus hallgatóknak
Optika és Relativitáselmélet II. BsC fizikus hallgatóknak 3. Fényelhajlás (Diffrakció) Cserti József, jegyzet, ELTE, 2007. Akadályok között elhaladó hullámok továbbterjedése nem azonos a geometriai árnyékkal.
Részletesebben11. Egy Y alakú gumikötél egyik ága 20 cm, másik ága 50 cm. A két ág végeit azonos, f = 4 Hz
Hullámok tesztek 1. Melyik állítás nem igaz a mechanikai hullámok körében? a) Transzverzális hullám esetén a részecskék rezgésének iránya merőleges a hullámterjedés irányára. b) Csak a transzverzális hullám
RészletesebbenFinomszerkezetvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenRöntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)
Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken
RészletesebbenAnyagismeret I. Nyomó, hajlító vizsgálat Keménységmérés. Összeállította: Csizmazia Ferencné dr.
Anyagismeret I. Nyomó, hajlító vizsgálat Keménységmérés Összeállította: Csizmazia Ferencné dr. Mechanikai tulajdonságok Statikus igénybevétel Nyomó igénybevétellel szembeni ellenállásának meghatározása
Részletesebben9. évfolyam. Osztályozóvizsga tananyaga FIZIKA
9. évfolyam Osztályozóvizsga tananyaga A testek mozgása 1. Egyenes vonalú egyenletes mozgás 2. Változó mozgás: gyorsulás fogalma, szabadon eső test mozgása 3. Bolygók mozgása: Kepler törvények A Newtoni
RészletesebbenAZ ALUMINUM KORRÓZIÓJÁNAK VIZSGÁLATA LÚGOS KÖZEGBEN
Laboratóriumi gyakorlat AZ ALUMINUM KORRÓZIÓJÁNAK VIZSGÁLATA LÚGOS KÖZEGBEN Az alumínium - mivel tipikusan amfoter sajátságú elem - mind savakban, mind pedig lúgokban H 2 fejldés közben oldódik. A fémoldódási
RészletesebbenReális kristályok, rácshibák. Anyagtudomány gyakorlat 2006/2007 I.félév Gépész BSC
Reális kristályok, rácshibák Anyagtudomány gyakorlat 2006/2007 I.félév Gépész BSC Valódi, reális kristályok Reális rács rendezetlenségeket, rácshibákat tartalmaz Az anyagok tulajdonságainak bizonyos csoportja
Részletesebbenvmax A részecskék mozgása Nyomás amplitúdó értelmezése (P) ULTRAHANG ULTRAHANG Dr. Bacsó Zsolt c = f λ Δt = x/c ω (=2π/T) x t d 2 kitérés sebesség
ULTRAHANG Dr. Basó solt kitérés A részeskék mozgása x y Asinω t Δt x/ ω (π/t) sebesség gyorsulás d y x v Aω osω t d t d v x a Aω sinω t d t ULTRAHANG Hang mehanikai rezgés longitudinális hullám inrahang
Részletesebben