Roncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések. 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni?

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "Roncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések. 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni?"

Átírás

1 Roncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni? Makroszerkezethez rendelt koord.r. (RD,TD,ND)hengerléssel párhuzamos, hengerlésre merőleges, normális irány, szemcse elemi cellájához rendelt koord.r. A kettő viszonya az orientáció, általában a bezárt szög cosinusával adják meg, de megadható az Euler szögekkel is. A szemcsét felépítő kristálytani rend és a test makroszkopikus kiterjedése közti geometriai kapcsolatot szemcseorientációnak hívjuk. A szemcseorientáció meghatározásának legelterjedtebb módja a transzmissziós elektronmikroszkópos (TEM) vizsgálat. Ennek során egy kiválasztott területről (kihasználva a TEM kettős működését, hogy ti. egyidejű1leg képes nagy nagyítású képek előállítására, és az adott terület elektron-diffrakciós vizsgálatára) elektron diffrakciós felvételt készítünk, és azt kiértékeljük. * Anyagvizsgálók lapja SZPJ cikke nyomán. 2. Mi a különbség az egykristály és a polikristály között? 3. Milyen szerkezetvizsgálat szinteket ismerünk, és azokon milyen vizsgálati módszereket alkalmazhatunk? A szerkezetvizsgálat szintjei: - Atomi elrendeződés vizsgálat (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp/kutató eszköz/, atomerő mikroszkóp/elektromos képalkotás van csak/) - Mikroszerkezet vizsgálat (pásztázó elektronmikroszkóp, röntgenspektroszkópia/vegyi összetétel meghatározás/) - Makroszerkezet vizsgálat (10-100mm) klasszikus metallográfia - materialográfia 4. Hogyan hozunk létre röntgensugárzást? A legalapvetőbb előállítási módja az, hogy elektront gyorsítanak, majd azt fém (gyakran volfrám) céltárggyal ütköztetik. A céltárgynál az elektron hirtelen lefékeződik a fém céltárgyban, és ha elég nagy energiájú az elektron, akkor képes az atom belső héjon lévő elektronját kiütni. Az atom egy magasabb energiájú elektronja visszaesve az üressé vált szintre röntgenfotont bocsát ki. (katódot felfűtik elektronokat emittál becsapódnak az anódba és az röntgensugárzást bocsát ki) A kilépő elektronok energiája: g U =h = h c h Planck állandó, n - frekvencia 5. Milyen fajta röntgensugárzásokat ismer? Fehér röntgensugárzás: A fékezési sugárzás a beeső nagyenergiájú elektron és az atommag erőterének kölcsönhatásából származik. Fékeződési sugárzás tehát csak akkor jön létre, ha az elektronnak megfelelően nagy energiája van az elektronhéjak között áthaladni. Mivel az atommagnak pozitív töltése van és a beeső elektronnak pedig negatív, ezek egymást vonzzák.

2 Ugyanakkor ha a beeső elektron az atommaghoz túl közel kerül, az atommag erőterén az elektron nem képes áthatolni. Ezért a beeső elektron lelassul és haladási iránya megváltozik. elektronok fékeződnek az atomok terében folyamatos energia vesztés során keletkezik. Karakterisztikus röntgensugárzás: Ha egy atom gerjesztés hatására egy belső K elektronhéjon lévő elektronját elveszíti (ionizálódik), akkor "erre a helyre" egy magasabb energiájú, pl. az L-héjon "helyet foglaló" elektron mehet át, miközben az energiakülönbség elektromágneses sugárzás formájában emittálódik. Minél nagyobb a gerjesztett atom rendszáma, annál nagyobb a kibocsátott elektromágneses sugárzás hullámszáma, illetve energiája. Z rendszámú elemnél az L - K-elektronhéj-átmenetek esetében felszabaduló elektromágneses sugárzás hullámhossza közelítőleg az elem rendszámának négyzetével arányos (MOSELEY). belső héj ionizáció, a karakterisztikus csúcsok sokkal intenzívebbek, rekombinálódást követően fotonkibocsátás 6. Ismertesse a röntgensugarak elnyelődésének törvényszerűségeit! Mire használhatjuk a jelenséget? I (x) =I 0 *e -mx m- abszorpciós tényező milyen az anyag röntgenelnyelő képessége - kis hullámhossznál nagyobb az energia, nagyobbnál kisebb -alkalmazása: orvosi diagnosztika, a nagyobb atomsúlyú jobban elnyeli (lágy szövetek csontok, fémes tárgyak, stb.), repedés, üregkeresés 7. Mi a röntgendiffrakció alapegyenlete? Mi az alapelve? nl=2d*sinq Kristályos mintán a röntgen-sugárzás szóródik (rugalmas szórás), a szórt sugárzás interferenciát mutat. Azonos fázisban összeadódnak, ellentétes fázisban kioltják egymást. 8. Ismertesse a Laue-módszert! - fehér röntgensugárzás - egykristály minta - orientáció meghatározás

3 *Debye-Scherrer módszer - monokromatikus rtg. Sugárzás - porminta - fázisanalízis - rácsállandó meghatározás Pordiffrakciós eljárás (pordiffraktometria) A Debye-Scherrer-módszer lényege, hogy a kristályos port vékony pálcikává sajtolják, kapillárisba töltik, vagy filmszerűen szétkenik egy alkalmas felületen, és elhelyezik a Debye-Scherrer-kamra közepén lévő forgatható mintatartóba. A pormintában a szemcsék, kristálykák különböző orientációban helyezkednek el, és lesz közöttük számos olyan helyzetű, melyek hálózati síkjai a röntgensugár irányával megfelelő Q szöget zárnak be, így a sugarakat diffraktálják. A diffraktált sugár a primer sugárral 2Q szöget zár be. A sugárkúp teljes nyílása azonban 4Q, az így létrejött sugárkúpok görbe vonalak, ívek alakjában metszik a kamra belső falát és az ott, a minta köré henger alakban elhelyezett filmet. A két összetartozó ív közötti S távolság megfelel 4Q-nak, így Q = S/4R (ahol R a körbe elhelyezett film rádiusza). A kapott Q értékekbõl a Bragg-egyenlettel megkaphatjuk a d értékeket, illetve megállapíthatjuk a d értékekhez tartozó vonalak intenzitását. A porfelvétellel nyert diagrammal, a d értékekkel és hozzájuk tartozó intenzitásokkal jellemezni tudjuk a kérdéses kristályos anyagot. A diffraktogramon megjelenő vonalak helyéből az adott ásványra jellemző síkok kiszámíthatók, a vonalak (csúcsok) magassága pedig az intenzitást mutatja. A vizsgálathoz szükséges anyagmennyiség a berendezéstől, ezen belül is elsősorban a használt röntgenkamra típusától függően 1 és 0,01 g között változhat. Extrém kis anyagmennyiség mérése (akár mmes szemcse) a speciálisan ilyen célra kifejlesztett Gandolfi-kamerával történik. 9. Ismertesse a diffraktométeres módszert! Ismeretlen anyagok teljes szerkezetvizsgálata: ehhez jól fejlett (ma akár tized mm-es méretű), jól orientálható kristályra van szükség (egykristály diffraktometria). A sokkal elterjedtebb feladat a röntgendiffrakciós fázisanalízis, azaz kristálykeverékek alkotórészeinek azonosítása. A kvalitatív fázisanalízis során a keverék reflexiórendszerét a benne szereplő kristályfajták reflexiórendszereire bontjuk fel, homogén polikristályos anyagok reflexiós adatainak összehasonlításával. Ehhez szükség van egy adattárra: ilyen az ASTM, JCPDS (ebben például több, mint 30ezer (250000) fázis adatai találhatók meg). A kvantitatív fázisanalízis során az intenzitás és a kristálytérfogat közötti összefüggést használjuk fel. A röntgendiffrakciós eljárás korlátai: - közel azonos rácsparaméterrel rendelkező izomorf szerkezeteket nem lehet egymástól megkülönböztetni, mert reflexiórendszerük szinte azonos. - amorf ásványok vizsgálatára nem alkalmas. - egyéb alkalmazások: szemcseméret, rugalmas rácstorzulás, diszlokációs szerkezet

4 10. Hogyan értékelünk ki egy diffraktogramot? A 4 legintenzívebb csúcsot összehasonlítom az adattáblákkal, utána írom be ezek után a síkok indexeit. ASTM kártyarendszer, a kártya tartalmazza a fázis tulajdonságait, a mért csúcsok indexelését 11. Mit nevezünk felbontóképességnek, és milyen tényezők határozzák meg fénymikroszkóp esetében? A felbontóképesség a vizsgált mintán az a legkisebb távolság, melynek a két végét különálló pontként látom a képen. Fénymikroszkóp esetében: d opt =0,1mm, d szem =0,1mm, nagyítás M= d szem /d opt =1000 hasznos nagyítás. A diffrakció miatt a felbontás nem növelhető minden határon túl. 12. Milyen módokon lehet(ne) a felbontóképességet javítani? Mi ezeknek az előnye és hátránya? Már az 1870-es években megállapította Ernst Abbe jénai professzor, a Zeiss Művek alapítója, hogy hullámtermészete miatt (a létrejövő diffrakció miatt) a fény nem fókuszálható kisebb átmérőjű területre, mint a hullámhosszának körülbelül a harmada, vagyis látható fény esetében durván 200 nm. Ezért a fénymikroszkóppal ennél jobb felbontóképesség nem érhető el. A fénymikroszkóp korlátainak legyőzése céljából fejlesztették ki az elektronmikroszkópot és a térerőmikroszkópot. Ezekkel azonban csak vákuumba tett minta vizsgálható, ami biológiai anyagok esetében egyszersmind elölt mintát jelent, annak is csak a felülete. Az optikai mikroszkóppal viszont élő anyag vizsgálható, ha pedig ez az anyag átlátszó vagy áttetsző (mint például a sejtplazma), akkor a belsejét is megmutatja a fénymikroszkóp. Ezért továbbra is van igény a fénymikroszkóp felbontásának a javítására. A Max Planck Biofizikai Kémiai Intézet (Göttingen) kutatói olyan trükköt találtak, amellyel az áhított cél legalább az optikai mikroszkópok egyik családja, a fluoreszcens mikroszkópok esetében elérhető. A fluoreszcens mikroszkópokban ultraibolya fénnyel gerjesztik a mintában található fluoreszcens anyagot (biológiai minták esetén a mintába bevitt és annak egyik-másik komponenséhez kötődő fluoreszcens festéket) majd látható fényben vizsgálják az így létrehozott fluoreszcenciát. 13. Hogyan működik a termoemissziós elektronágyú? - 2-féle elektronágyú: termoemissziós és téremissziós - Wehnelt-henger, crossover pontszerű fényforrás, - TEM min. 200 kv - téremissziós: kihúzó térerősség: 10 7 V/cm ez rántja ki a katódból az elektronokat, 1000x fényesebb a termoemissziósnál, ultranagy vákuum kell neki

5 14. Hogyan működik az elektromágneses lencse? Mi a nagy előnye az üveglencsékhez képest? Lorentz-törvény: F=-q(E+nxB), E=0 érvényesül az elektronmikroszkópon belül. Előnyük a változtatható fókusz (az áram változtatásával). Elektromágneses lencsék: Kondenzor lencse párhuzamos nyaláb Objektív lencse képalkotás Köztes lencsék nagyítás Projektív lencsék ernyőre vetítés A lencsékben folyamatosan változtatható a gerjesztés, így a nagyítás is. A lencséket a stabilitás és a lehetséges legnagyobb nagyítás elérése érdekében vízhűtik. (Ez lehet egy zárt vízrendszer is) Lencse hibák: Szférikus aberráció - szélen-középen más a fókusztávolság, aperturák alkalmazásával kivédhető intenzitás csökkenés Kromatikus aberráció - hullámhossztól függő fókuszálás, a fehér fény komponenseit kül. helyeken fogja törni, kül. energiájú elektronok, kül. pontokba fókuszálódnak elektron energia szórásának minimalizálása: DE term =1-2 ev, De tr. =0,2-0,3 ev Asztigmatizmus vagy üstököshiba - A mintában lévő kör a képben ellipszis, mert a nyaláb nem kör keresztmetszetű ez a leggyakrabban állítandó paraméter 15. Mire lehet használni a transzmissziós elektronmikroszkópot? Milyen üzemmódjai vannak? A transzmissziós elektronmikroszkóp üzemmódjai: Képalkotás (szemcsék, szemcsehatárok, kristályhibák, diszlokációs szerkezet, kiválások, inhomogenitások) Elektrondiffrakciós ábra (kristályszerkezet,kristálytani orientáció) Működése: A fényforrást V-alakban hajlított izzószál helyettesíti, amelyből felfűtve elektronok lépnek ki. Ezekből úgy keletkezik sugár, hogy az izzószál (katód) és egy tőle bizonyos távolságban elhelyezett anód között nagy, kv ún. gyorsítófeszültséget létesítünk, amely az elektronokat felgyorsítja és az anód felé irányítja. Ennek nyílásán áthaladva az elektronsugár először a kondenzorlencséken fókuszálódik a preparátumra, ezen átjutva pedig az objektív és a projektív lencséken halad keresztül. Végül az erősen felnagyított kép fluoreszkáló ernyőre vetődik, ahol az az emberi szem számára is láthatóvá válik. A kép élesre állítását az elektromágneses lencséken átfolyó áram erősségének a változtatásával lehet elérni. A szilárd testek szubmikroszkópos területeinek leképezése az elektronmikroszkópok esetében azért lehetséges mert: a >50 kev energiájú elektron hullámoknak elegendően kicsi a hullámhossza ( nm) az elektronhullámok alkalmasan megválasztott inhomogén (mágneses ill. elektromos) térrel jól fókuszálhatók Az kev energiájú elektronokkal csak nagyon vékony 0.1 μm vastag minták átvilágítására alkalmasak. Mennél nagyobb az elektronok energiája, annál vastagabb minták világíthatók át (1 MeV ~ néhány μm). Átvilágításra alkalmasak: a párologtatott vagy porlasztott vékonyrétegek, vagy réteg-kezdetek (szigetek) elvékonyított (kémiai, vagy elektrokémiai úton, továbbá részecske bombázással ionmaratással) anyagok

6 elmetszett (mikrotommal) anyagok amorf anyagokból (pld. műanyagokból készített lenyomatok 16. Milyen követelmények vannak egy transzmissziós elektronmikroszkópos mintával szemben? Vékony mintára van szükség, hogy az elektronnyaláb kellő intezitással tudjon rajta áthaladni dmax=100 nm! Mintavétel helye bizonytalan 17. Milyen előkészítési technikákat ismer? Elektrolitos maratás: nem vezető minta is, problémák: rácshibák jönnek létre, hevítés átalakulás Jet-módszer: csak vezető minta, mechanikus polírozás ~0,1 mm-ig, elektrolitos edénybe helyezni a minta el kezd fogyni,ha átlyukadt kiveszem Replika: fémes anyag szövetszerkezetéhez, kis nagyítás, a minta felületére amorf szenet választunk le ~1mm vastagságban, rácsot hasogatunk rá (3x3mm) a részecskék leúsztathatók hordozza a minta morfológiáját 18. Ismertesse a pásztázó alagútmikroszkóp és az atomerőmikroszkóp működési elvét! A pásztázó alagút mikroszkóp (Scanning Tunneling Microscope, STM) működésének elve dióhéjban a következő: egy igen hegyes tű végigpásztázza a vizsgálandó felszínt (fémes, vezető minta) attól néhány Å-nyi távolságban, miközben a tű és a minta között az alagút effektus miatt elektromos áram folyik. Ezt folyamatosan mérve számítógép segítségével megkapható a felület topográfiája - akár atomi felbontásban is. A mozgatást piezoelektromos aktuátorokkal oldják meg. Binnigék az STM kifejlesztése után szinte azonnal rájöttek, hogy az alagútáram mérése helyettesíthető a tű és a felület között ébredő lokális erő mérésével. Így jutottak el a pásztázó erőméréses mikroszkóp, az AFM (Atomic Force Microscope) feltalálásához. Bár a technikai megvalósítás sokféleképpen történhet, a mikroszkóp főbb részei minden esetben a következők: - egy laprugón lévő hegyes tű - a rugó deformációját érzékelő rendszer (detektor) - visszacsatoló-vezérlő rendszer - mozgató-rendszer (általában piezoelektromos) - adatfeldolgozó rendszer 19. Hogyan működik a pásztázó elektronmikroszkóp? - egy elektronágyúval vékony e - nyalábot állítunk elő, ezzel pásztázzuk a minta felszínét (eltérítő tekercsekkel) - válaszként kilépő jeleket kapunk (Visszaszórt elektronok, Szekunder elektronok, Karakterisztikus röntgensugárzás, Fény, Hő, Mintaáram) - szinkronpásztázás: 1-leolvasás, 2-leképzés - vákuumban kell végezni: -szénhidrogének krakkolása, gázatomok ionizációja (katód károsodása), katódporlasztás (30 kv szétbombázza a katódot) Jól fókuszált ( nm) elektronnyaláb Szinkronizált pásztázás a minta felületén és a képalkotó egységen (monitoron) Képalkotás: a minta felületéről kilépő válaszjelek intenzitásával moduláljuk a monitor képpontjainak fényességét

7 20. Mit tud az anyag és az elektron kölcsönhatásáról? 21. Mi a különbség a szekunder és a visszaszórt elektronok által alkotott kép között? Szekunder elektron üzemmód A minta 5 nm-es felületi rétegében a külső elektronhéjakról leszakított u.n. szekunder elektronok és a kisenergiájú visszaszórt elektronok <50 ev energiájú rugalmatlanul szórt elektronok, ezekből hozzuk létre a szekunder elektron képeket (SEI). Ezek a minta 3-50 nm-es mélységéből jöhetnek. A szekunder elektronhozam nem függ a rendszámtól. Visszaszórt, vagy reflektált elektron üzemmód Hasonlóképpen rugalmasan szórtak a pásztázó elektronmikroszkópban a minta felszínét >50 ev energiával elhagyó és a reflektált (visszaszórt) elektron üzemmódban feldolgozott (BEI) elektronok. Ezek a minta 200 nm-es mélységéből jöhetnek. A visszaszórt elektronok mennyisége függ a rendszámtól, a visszaszórási koefficiens növekszik a rendszám növekedésével. 22. Hogyan detektáljuk a szekunder és a visszaszórt elektronokat? 23. Mi a környezetszimuláló elektronmikroszkóp? 24. Hogyan jön létre a karakterisztikus röntgensugárzás? Hogyan használhatjuk fel anyagvizsgálatra? 25. Mit tud az EDS és WDS technikákról? Hasonlítsa össze a kettőt!

Mikroszerkezeti vizsgálatok

Mikroszerkezeti vizsgálatok Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,

Részletesebben

Finomszerkezetvizsgálat

Finomszerkezetvizsgálat Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)

Részletesebben

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT 6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs

Részletesebben

4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM)

4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM) 4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM) A transzmissziós elektronmikroszkópia [27,28] kifejlesztése idestova 70 éves múltra tekint vissza. Ernst Ruska 1933

Részletesebben

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek

Részletesebben

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez 1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet

Részletesebben

Röntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD)

Röntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) Röntgenanalitika Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) A röntgensugárzás Felfedezése (1895, W. K. Röntgen, katódsugárcső,

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópja

A nanotechnológia mikroszkópja 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István

Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István Dódony István: TEM, vázlat vegyészeknek, 1996 1 Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István A TEM a szilárd anyagok kémiai és szerkezeti jellemzésére alkalmas vizsgálati módszer.

Részletesebben

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású

Részletesebben

Röntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november

Röntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november Röntgendiffrakció Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet 2013. november Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia, diffrakció (elektromágneses hullámok) Kristályok szerkezete Röntgendiffrakció

Részletesebben

A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.

A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július. 1 A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum 2012. július. Mikroszkópok 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz

Részletesebben

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100

Részletesebben

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás

Részletesebben

Röntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)

Röntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam

Részletesebben

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,

Részletesebben

Röntgensugárzás. Röntgensugárzás

Röntgensugárzás. Röntgensugárzás Röntgensugárzás 2012.11.21. Röntgensugárzás Elektromágneses sugárzás (f=10 16 10 19 Hz, E=120eV 120keV (1.9*10-17 10-14 J), λ

Részletesebben

Röntgenanalitikai módszerek I. Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán

Röntgenanalitikai módszerek I. Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán Röntgenanalitikai módszerek I Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán (Röntgen)analitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha

Részletesebben

Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal

Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal Radioaktivitás Biofizika előadások 2013 december Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal PTE ÁOK Biofizikai Intézet, Orbán József Összefoglaló radioaktivitás alapok Nukleononkénti kötési energia (MeV) Egy

Részletesebben

Röntgendiagnosztikai alapok

Röntgendiagnosztikai alapok Röntgendiagnosztikai alapok Dr. Voszka István A röntgensugárzás keltésének alternatív lehetőségei (röntgensugárzás keletkezik nagy sebességű, töltéssel rendelkező részecskék lefékeződésekor) Röntgencső:

Részletesebben

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása

Részletesebben

Röntgensugárzás. Karakterisztikus röntgensugárzás

Röntgensugárzás. Karakterisztikus röntgensugárzás Röntgensugárzás Tudjuk, hogy a különböző körülmények között létrejövő, gyakorlati szempontból fontos elektromágneses hullámok (elektromágneses sugárzás) hullámhosszai egy igen széles mintegy 18 nagyságrendet

Részletesebben

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses

Részletesebben

Kvalitatív fázisanalízis

Kvalitatív fázisanalízis MISKOLCI EGYETEM ANYAG ÉS KOHÓMÉRNÖKI KAR FÉMTANI TANSZÉK GYAKORLATI ÚTMUTATÓ PHARE HU 9705000006 ÖSSZEÁLLÍTOTTA: NAGY ERZSÉBET LEKTORÁLTA: DR. MERTINGER VALÉRIA Kvalitatív fázisanalízis. A gyakorlat célja

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok

Részletesebben

Modern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012

Modern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012 MIKROSZKÓPIA AZ ORVOS GYÓGYSZERÉSZ GYAKORLATBAN - DIAGOSZTIKA -TERÁPIA például: szemészet nőgyógyászat szövettan bakteriológia patológia gyógyszerek fejlesztése, tesztelése Modern mikroszkópiai módszerek

Részletesebben

A sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása

A sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása A sugárzás és az anyag kölcsönhatása A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása Cserenkov-sugárzás v>c/n, n törésmutató cos c nv Cserenkov-sugárzás Pl. vízre (n=1,337): 0,26 MeV c 8 m / s 2. 2* 10 A sugárzás

Részletesebben

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Különböző sugárzások tulajdonságai Típus töltés Energia hordozó E spektrum Radioaktí sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktí sugárzások detektálása. α-sugárzás pozití

Részletesebben

Röntgen. W. C. Röntgen. Fizika-Biofizika

Röntgen. W. C. Röntgen. Fizika-Biofizika Röntgen Fizika-Biofizika 2014. 11. 11. Thomas Edison (1847-1931, USA) Első működő fluoroszkóp (röntgen-készülék) feltalálása, 1896 Sugárvédelem hiánya égési sérülések Clarence Madison Dally (Edison aszisztense):

Részletesebben

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél

Részletesebben

Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal

Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal Radiometriai alapfogalmak Kisugárzott felületi teljesítmény Besugárzott felületi teljesítmény A fény kölcsönhatása az anyaggal 1. M ΔP W ΔA m 2 E be

Részletesebben

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István OPTIKA Fénykibocsátás mechanizmusa Dr. Seres István Bohr modell Niels Bohr (19) Rutherford felfedezte az atommagot, és igazolta, hogy negatív töltésű elektronok keringenek körülötte. Niels Bohr Bohr ezt

Részletesebben

FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA

FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA Kolozsvár, 2003. március 21-22. A Fe-C-Mo SZINTERELT ANYAGOK SEM / EDS VIZSGÁLATA Zsók János Csaba, Dr. Pálfalvi Attila 1.Összefoglaló A dolgozat a szintereit alkatrészek

Részletesebben

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,

Részletesebben

Orvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény

Orvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény Orvosi iofizika I. Fénysugárzásanyaggalvalókölcsönhatásai. Fényszóródás, fényabszorpció. Az abszorpciós spektrometria alapelvei. (Segítséga 12. tételmegértéséhezésmegtanulásához, továbbá a Fényabszorpció

Részletesebben

Az atommag összetétele, radioaktivitás

Az atommag összetétele, radioaktivitás Az atommag összetétele, radioaktivitás Az atommag alkotórészei proton: pozitív töltésű részecske, töltése egyenlő az elektron töltésével, csak nem negatív, hanem pozitív: 1,6 10-19 C tömege az elektron

Részletesebben

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:

Részletesebben

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 2. A NANOTECHNOLÓGIA ESZKÖZEI I 2012/2013 1. félév 1 2. ELŐADÁS A NANOTECHNOLÓGIA

Részletesebben

1. Röntgensugárzás és méréstechnikája

1. Röntgensugárzás és méréstechnikája 1. Röntgensugárzás és méréstechnikája 1.1. A röntgensugárzás és kölcsönhatásai az anyaggal 1895-ben W. K Röntgen német fizikus egy új, a katódsugárcső anódjából eredő, láthatatlan, de nagy áthatoló képességű

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai ntézet 2011. szeptember 15. E B x x Transzverzális hullám A fény elektromos térerősségvektor hullámhossz Az elektromos a mágneses térerősség

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

Röntgensugárzást alkalmazó fıbb tudományterületek

Röntgensugárzást alkalmazó fıbb tudományterületek Röntgensugárzást alkalmazó fıbb tudományterületek -Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) -Röntgenfluoreszcens spektrometria (XRF) -Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) Történeti áttekintés

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)

Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA) Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA) Anyagtudományi analitikai vizsgálati módszerek Koczka Béla Szervetlen és Analitikai kémia Tanszék Mikroszkópos leképezési technikák

Részletesebben

Diffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek

Diffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek Diffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek Röntgendiffrakció Angler Gábor ELTE TTK Fizika BSc hallgató 2009. december 3. Kondenzált anyagok fizikája szeminárium Az előadás vázlata Bevezetés, motiváció,

Részletesebben

Modern Fizika Labor Fizika BSC

Modern Fizika Labor Fizika BSC Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond

Részletesebben

Név... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez

Név... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez A Név... Válassza ki a helyes mértékegységeket! állandó intenzitás abszorbancia moláris extinkciós A) J s -1 - l mol -1 cm B) W g/cm 3 - C) J s -1 m -2 - l mol -1 cm -1 D) J m -2 cm - A Wien-féle eltolódási

Részletesebben

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására

Részletesebben

Szinkrotronspektroszkópiák május 14.

Szinkrotronspektroszkópiák május 14. Szinkrotronspektroszkópiák 2009. május 14. információ www.szinkrotron.hu www.esrf.eu www.aps.anl.gov www.spring8.or.jp http://en.wikipedia.org/wiki/synchrotron http://www.lightsources.org/ Szinkrotrongyorsítók

Részletesebben

Röntgendiffrakciós fázisanalízis gyakorlat vegyész és környezettudomány Lovas A. György

Röntgendiffrakciós fázisanalízis gyakorlat vegyész és környezettudomány Lovas A. György Röntgendiffrakciós fázisanalízis (a mérést vezeti: Dr. egyetemi docens) Az anyagvizsgálatok során a klasszikus analitika két alapvető kérdésre keres választ; a. milyen elemekből áll a minta és b. ezen

Részletesebben

Az elektromágneses hullámok

Az elektromágneses hullámok 203. október Az elektromágneses hullámok PTE ÁOK Biofizikai Intézet Kutatók fizikusok, kémikusok, asztronómusok Sir Isaac Newton Sir William Herschel Johann Wilhelm Ritter Joseph von Fraunhofer Robert

Részletesebben

Abszorpciós spektroszkópia

Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses

Részletesebben

Pásztázó mikroszkópiás módszerek

Pásztázó mikroszkópiás módszerek Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai

Részletesebben

Történeti áttekintés

Történeti áttekintés A fény Történeti áttekintés Arkhimédész tükrök segítségével gyújtotta fel a római hajókat. A fény hullámtermészetét Cristian Huygens holland fizikus alapozta meg a 17. században. A fénysebességet először

Részletesebben

FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n

FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n FEI Quanta 3D Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n Havancsák Károly, Dankházi Zoltán, Varga Gábor, Ratter Kitti ELTE TTK Anyagfizikai Tanszék ELFT

Részletesebben

Atomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István

Atomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István Atomfizika Fizika kurzus Dr. Seres István Történeti áttekintés J.J. Thomson (1897) Katódsugárcsővel végzett kísérleteket az elektron fajlagos töltésének (e/m) meghatározására. A katódsugarat alkotó részecskét

Részletesebben

V. előadás március 4.

V. előadás március 4. Bevezetés s az anyagtudományba nyba V. előadás 2010. március 4. Az z optikai vagy fénymikroszkóp Olyan összetett nagyítórendszer, amely két gyűjtőlencse-rendszer segítségével kis méretű tárgyak jelentősen

Részletesebben

Abszorpciós spektrometria összefoglaló

Abszorpciós spektrometria összefoglaló Abszorpciós spektrometria összefoglaló smétlés: fény (elektromágneses sugárzás) tulajdonságai, kettős természet fény anyag kölcsönhatás típusok (reflexió, transzmisszió, abszorpció, szórás) Abszorpció

Részletesebben

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15

Részletesebben

Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia

Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés A pásztázó (scanning) elektronmikroszkópot (SEM), és röntgensugaras kémiai elemzésre

Részletesebben

EDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása

EDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EDX Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EBSD Elméleti háttér Felület előkészítése Orientálás Hough-transzformáció IPF, IQ Felület minősége 2 Elektron besugárzás Röntgen foton kisugárzás

Részletesebben

Modern fizika laboratórium

Modern fizika laboratórium Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid

Részletesebben

Műszeres analitika II. (TKBE0532)

Műszeres analitika II. (TKBE0532) Műszeres analitika II. (TKBE0532) 4. előadás Spektroszkópia alapjai Dr. Andrási Melinda Debreceni Egyetem Természettudományi és Technológiai Kar Szervetlen és Analitikai Kémiai Tanszék A fény elektromágneses

Részletesebben

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Galbács Gábor Bevezetés A felületvizsgáló módszere köre az elmúlt évtizedekben az egyik leggyorsabban fejlődő területe volt az analitikai kémiának (és az anyagtudománynak).

Részletesebben

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

Részletesebben

7.3. Plazmasugaras megmunkálások

7.3. Plazmasugaras megmunkálások 7.3. Plazmasugaras megmunkálások (Plasma Beam Machining, PBM) Plazma: - nagy energiaállapotú gáz - az anyag negyedik halmazállapota - ionok és elektronok halmaza - egyenáramú ív segítségével állítják elő

Részletesebben

Sugárzások és anyag kölcsönhatása

Sugárzások és anyag kölcsönhatása Sugárzások és anyag kölcsönhatása Az anyaggal kölcsönhatásba lépő részecskék Töltött részecskék Semleges részecskék Nehéz Könnyű Nehéz Könnyű T D p - + n Radioaktív sugárzás + anyag energia- szóródás abszorpció

Részletesebben

Röntgen-gamma spektrometria

Röntgen-gamma spektrometria Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet

Részletesebben

Röntgendiagnosztika és CT

Röntgendiagnosztika és CT Röntgendiagnosztika és CT 2013.04.09. Röntgensugárzás Elektromágneses sugárzás (f=10 16 10 19 Hz, E=120eV 120keV (1.9*10-17 10-14 J), λ

Részletesebben

Elektromágneses hullámok - Interferencia

Elektromágneses hullámok - Interferencia Bevezetés a modern fizika fejezeteibe 2. (d) Elektromágneses hullámok - Interferencia Utolsó módosítás: 2012 október 18. 1 Interferencia (1) Mi történik két elektromágneses hullám találkozásakor? Az elektromágneses

Részletesebben

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban 4/11/2016. A fény; Abszorpciós spektroszkópia

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban 4/11/2016. A fény;   Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2016 március 1.) Az abszorpció mérése;

Részletesebben

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Magsugárzások (α, β, γ) kölcsönhatása atomi rendszerekkel (170-174, 540-545 o.) Direkt és

Részletesebben

Alapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat

Alapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Roncsolásmentes anyagvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Alapvető eljárások Szemrevételezés (vizuális vizsgálat, VT) Folyadékbehatolásos vizsgálat

Részletesebben

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény; Abszorpciós spektroszkópia

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény;  Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2015 január 27.) Az abszorpció mérése;

Részletesebben

Biofizika. Sugárzások. Csik Gabriella. Mi a biofizika tárgya? Mi a biofizika tárgya? Biológiai jelenségek fizikai leírása/értelmezése

Biofizika. Sugárzások. Csik Gabriella. Mi a biofizika tárgya? Mi a biofizika tárgya? Biológiai jelenségek fizikai leírása/értelmezése Mi a biofizika tárgya? Biofizika Csik Gabriella Biológiai jelenségek fizikai leírása/értelmezése Pl. szívműködés, membránok szerkezete és működése, érzékelés stb. csik.gabriella@med.semmelweis-univ.hu

Részletesebben

A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske

A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske Segítség az 5. tétel (Hogyan alkalmazható a hullám-részecske kettősség gondolata a fénysugárzás esetében?) megértéséhez és megtanulásához, továbbá

Részletesebben

Vizsgálatok Scanning elektronmikroszkóppal

Vizsgálatok Scanning elektronmikroszkóppal Óbuda University e Bulletin Vol. 2, No. 1, 2011 Nagyné Halász Erzsébet Óbudai Egyetem, Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar nagyne.halasz@bgk.uni-obuda.hu Abstract: The paper describes

Részletesebben

Arany-Tóth Attila. Sebészeti röntgenvizit: 8.30. Általános radiológia - előadás

Arany-Tóth Attila. Sebészeti röntgenvizit: 8.30. Általános radiológia - előadás 1 2 Röntgen Osztály 9-15 8.00 10.00 2. illetve 5. csoport 11.00 13.00 1. illetve 4. csoport 13.00 15.00 3. illetve 6. csoport 3 4 Sebészeti röntgenvizit: 8.30 5 6 Honlapok www. univet.hu egységek sebészet

Részletesebben

Atomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia.

Atomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia. Atomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia. Kiss Balázs Nanobiotechnológia és Egyedi Molekula Kutatócsoport, Biofizikai és Sugárbiológiai Intézet 2013. november 28. 2 Atomi kölcsönhatások

Részletesebben

Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú

Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú Jegyzeteim 1. lap Fotó elmélet 2015. október 9. 14:42 Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú Kardinális elemek A lencse képalkotását meghatározó geometriai elemek,

Részletesebben

Anyagvizsgálatok. Fémtani vizsgálatok

Anyagvizsgálatok. Fémtani vizsgálatok Anyagvizsgálatok Fémtani vizsgálatok Cél: Az anyagok szövetszerkezetének, szemcsenagyságának, a zárványosság (nemfémes alkotók) stb. meghatározása A vizsgálatok a nagyítás szerint csoportosíthatók: makroszkópos

Részletesebben

Az Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény

Az Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény Az Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény Maxwell elméleti meggondolások alapján feltételezte, hogy a változó elektromos tér örvényes mágneses teret kelt (hasonlóan ahhoz ahogy a változó mágneses tér

Részletesebben

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái

Részletesebben

Fény- és fluoreszcens mikroszkópia. A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia

Fény- és fluoreszcens mikroszkópia. A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia Fény- és fluoreszcens mikroszkópia A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia Történeti áttekintés 1595. Jensen (Hollandia): első összetett mikroszkóp (2 lencse, állítható távolság) 1625. Giovanni

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2013. január Elektromágneses hullám Transzverzális hullám elektromos térerősségvektor hullámhossz E B x mágneses térerősségvektor

Részletesebben

Elektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47

Elektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 Elektronmikroszkópia Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 x Miért van szükség elektronmikroszkópra? intenzitásprofil képernyő apertúra Egy fénnyel

Részletesebben

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika

Részletesebben

Atomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István

Atomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István Atomfizika Fizika kurzus Dr. Seres István Történeti áttekintés 440 BC Democritus, Leucippus, Epicurus 1660 Pierre Gassendi 1803 1897 1904 1911 19 193 John Dalton Joseph John (J.J.) Thomson J.J. Thomson

Részletesebben

Áttekintés 5/11/2015 MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA. Mikroszkópia, fénymikroszkópia

Áttekintés 5/11/2015 MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA. Mikroszkópia, fénymikroszkópia forrás: ldutolsó dia PÉCSI TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNYI KAR www.aok.pte.hu MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA humán tüdőszövet (hisztológia) sejtmozgás (fázis

Részletesebben

PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA

PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA Molnár László Milán Mikro- és nanotechnológia 2008.10.14. MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK I. OPTIKAI ÉS ELEKTRON Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Optikai Egyszerő Diffrakciólimitált

Részletesebben

Biomolekuláris rendszerek. vizsgálata. Semmelweis Egyetem. Osváth Szabolcs

Biomolekuláris rendszerek. vizsgálata. Semmelweis Egyetem. Osváth Szabolcs Hans Jansen és Zacharias Jansen 1590-ben összetett mikroszkópot épít Semmelweis Egyetem szabolcs.osvath@eok.sote.hu Osváth Szabolcs Biomolekuláris rendszerek vizsgálata Antoni van Leeuwenhoek (Thonis Philipszoon)

Részletesebben

Modern fizika vegyes tesztek

Modern fizika vegyes tesztek Modern fizika vegyes tesztek 1. Egy fotonnak és egy elektronnak ugyanakkora a hullámhossza. Melyik a helyes állítás? a) A foton lendülete (impulzusa) kisebb, mint az elektroné. b) A fotonnak és az elektronnak

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január 1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),

Részletesebben