Roncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések. 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni?
|
|
- Borbála Nemes
- 7 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Roncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni? Makroszerkezethez rendelt koord.r. (RD,TD,ND)hengerléssel párhuzamos, hengerlésre merőleges, normális irány, szemcse elemi cellájához rendelt koord.r. A kettő viszonya az orientáció, általában a bezárt szög cosinusával adják meg, de megadható az Euler szögekkel is. A szemcsét felépítő kristálytani rend és a test makroszkopikus kiterjedése közti geometriai kapcsolatot szemcseorientációnak hívjuk. A szemcseorientáció meghatározásának legelterjedtebb módja a transzmissziós elektronmikroszkópos (TEM) vizsgálat. Ennek során egy kiválasztott területről (kihasználva a TEM kettős működését, hogy ti. egyidejű1leg képes nagy nagyítású képek előállítására, és az adott terület elektron-diffrakciós vizsgálatára) elektron diffrakciós felvételt készítünk, és azt kiértékeljük. * Anyagvizsgálók lapja SZPJ cikke nyomán. 2. Mi a különbség az egykristály és a polikristály között? 3. Milyen szerkezetvizsgálat szinteket ismerünk, és azokon milyen vizsgálati módszereket alkalmazhatunk? A szerkezetvizsgálat szintjei: - Atomi elrendeződés vizsgálat (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp/kutató eszköz/, atomerő mikroszkóp/elektromos képalkotás van csak/) - Mikroszerkezet vizsgálat (pásztázó elektronmikroszkóp, röntgenspektroszkópia/vegyi összetétel meghatározás/) - Makroszerkezet vizsgálat (10-100mm) klasszikus metallográfia - materialográfia 4. Hogyan hozunk létre röntgensugárzást? A legalapvetőbb előállítási módja az, hogy elektront gyorsítanak, majd azt fém (gyakran volfrám) céltárggyal ütköztetik. A céltárgynál az elektron hirtelen lefékeződik a fém céltárgyban, és ha elég nagy energiájú az elektron, akkor képes az atom belső héjon lévő elektronját kiütni. Az atom egy magasabb energiájú elektronja visszaesve az üressé vált szintre röntgenfotont bocsát ki. (katódot felfűtik elektronokat emittál becsapódnak az anódba és az röntgensugárzást bocsát ki) A kilépő elektronok energiája: g U =h = h c h Planck állandó, n - frekvencia 5. Milyen fajta röntgensugárzásokat ismer? Fehér röntgensugárzás: A fékezési sugárzás a beeső nagyenergiájú elektron és az atommag erőterének kölcsönhatásából származik. Fékeződési sugárzás tehát csak akkor jön létre, ha az elektronnak megfelelően nagy energiája van az elektronhéjak között áthaladni. Mivel az atommagnak pozitív töltése van és a beeső elektronnak pedig negatív, ezek egymást vonzzák.
2 Ugyanakkor ha a beeső elektron az atommaghoz túl közel kerül, az atommag erőterén az elektron nem képes áthatolni. Ezért a beeső elektron lelassul és haladási iránya megváltozik. elektronok fékeződnek az atomok terében folyamatos energia vesztés során keletkezik. Karakterisztikus röntgensugárzás: Ha egy atom gerjesztés hatására egy belső K elektronhéjon lévő elektronját elveszíti (ionizálódik), akkor "erre a helyre" egy magasabb energiájú, pl. az L-héjon "helyet foglaló" elektron mehet át, miközben az energiakülönbség elektromágneses sugárzás formájában emittálódik. Minél nagyobb a gerjesztett atom rendszáma, annál nagyobb a kibocsátott elektromágneses sugárzás hullámszáma, illetve energiája. Z rendszámú elemnél az L - K-elektronhéj-átmenetek esetében felszabaduló elektromágneses sugárzás hullámhossza közelítőleg az elem rendszámának négyzetével arányos (MOSELEY). belső héj ionizáció, a karakterisztikus csúcsok sokkal intenzívebbek, rekombinálódást követően fotonkibocsátás 6. Ismertesse a röntgensugarak elnyelődésének törvényszerűségeit! Mire használhatjuk a jelenséget? I (x) =I 0 *e -mx m- abszorpciós tényező milyen az anyag röntgenelnyelő képessége - kis hullámhossznál nagyobb az energia, nagyobbnál kisebb -alkalmazása: orvosi diagnosztika, a nagyobb atomsúlyú jobban elnyeli (lágy szövetek csontok, fémes tárgyak, stb.), repedés, üregkeresés 7. Mi a röntgendiffrakció alapegyenlete? Mi az alapelve? nl=2d*sinq Kristályos mintán a röntgen-sugárzás szóródik (rugalmas szórás), a szórt sugárzás interferenciát mutat. Azonos fázisban összeadódnak, ellentétes fázisban kioltják egymást. 8. Ismertesse a Laue-módszert! - fehér röntgensugárzás - egykristály minta - orientáció meghatározás
3 *Debye-Scherrer módszer - monokromatikus rtg. Sugárzás - porminta - fázisanalízis - rácsállandó meghatározás Pordiffrakciós eljárás (pordiffraktometria) A Debye-Scherrer-módszer lényege, hogy a kristályos port vékony pálcikává sajtolják, kapillárisba töltik, vagy filmszerűen szétkenik egy alkalmas felületen, és elhelyezik a Debye-Scherrer-kamra közepén lévő forgatható mintatartóba. A pormintában a szemcsék, kristálykák különböző orientációban helyezkednek el, és lesz közöttük számos olyan helyzetű, melyek hálózati síkjai a röntgensugár irányával megfelelő Q szöget zárnak be, így a sugarakat diffraktálják. A diffraktált sugár a primer sugárral 2Q szöget zár be. A sugárkúp teljes nyílása azonban 4Q, az így létrejött sugárkúpok görbe vonalak, ívek alakjában metszik a kamra belső falát és az ott, a minta köré henger alakban elhelyezett filmet. A két összetartozó ív közötti S távolság megfelel 4Q-nak, így Q = S/4R (ahol R a körbe elhelyezett film rádiusza). A kapott Q értékekbõl a Bragg-egyenlettel megkaphatjuk a d értékeket, illetve megállapíthatjuk a d értékekhez tartozó vonalak intenzitását. A porfelvétellel nyert diagrammal, a d értékekkel és hozzájuk tartozó intenzitásokkal jellemezni tudjuk a kérdéses kristályos anyagot. A diffraktogramon megjelenő vonalak helyéből az adott ásványra jellemző síkok kiszámíthatók, a vonalak (csúcsok) magassága pedig az intenzitást mutatja. A vizsgálathoz szükséges anyagmennyiség a berendezéstől, ezen belül is elsősorban a használt röntgenkamra típusától függően 1 és 0,01 g között változhat. Extrém kis anyagmennyiség mérése (akár mmes szemcse) a speciálisan ilyen célra kifejlesztett Gandolfi-kamerával történik. 9. Ismertesse a diffraktométeres módszert! Ismeretlen anyagok teljes szerkezetvizsgálata: ehhez jól fejlett (ma akár tized mm-es méretű), jól orientálható kristályra van szükség (egykristály diffraktometria). A sokkal elterjedtebb feladat a röntgendiffrakciós fázisanalízis, azaz kristálykeverékek alkotórészeinek azonosítása. A kvalitatív fázisanalízis során a keverék reflexiórendszerét a benne szereplő kristályfajták reflexiórendszereire bontjuk fel, homogén polikristályos anyagok reflexiós adatainak összehasonlításával. Ehhez szükség van egy adattárra: ilyen az ASTM, JCPDS (ebben például több, mint 30ezer (250000) fázis adatai találhatók meg). A kvantitatív fázisanalízis során az intenzitás és a kristálytérfogat közötti összefüggést használjuk fel. A röntgendiffrakciós eljárás korlátai: - közel azonos rácsparaméterrel rendelkező izomorf szerkezeteket nem lehet egymástól megkülönböztetni, mert reflexiórendszerük szinte azonos. - amorf ásványok vizsgálatára nem alkalmas. - egyéb alkalmazások: szemcseméret, rugalmas rácstorzulás, diszlokációs szerkezet
4 10. Hogyan értékelünk ki egy diffraktogramot? A 4 legintenzívebb csúcsot összehasonlítom az adattáblákkal, utána írom be ezek után a síkok indexeit. ASTM kártyarendszer, a kártya tartalmazza a fázis tulajdonságait, a mért csúcsok indexelését 11. Mit nevezünk felbontóképességnek, és milyen tényezők határozzák meg fénymikroszkóp esetében? A felbontóképesség a vizsgált mintán az a legkisebb távolság, melynek a két végét különálló pontként látom a képen. Fénymikroszkóp esetében: d opt =0,1mm, d szem =0,1mm, nagyítás M= d szem /d opt =1000 hasznos nagyítás. A diffrakció miatt a felbontás nem növelhető minden határon túl. 12. Milyen módokon lehet(ne) a felbontóképességet javítani? Mi ezeknek az előnye és hátránya? Már az 1870-es években megállapította Ernst Abbe jénai professzor, a Zeiss Művek alapítója, hogy hullámtermészete miatt (a létrejövő diffrakció miatt) a fény nem fókuszálható kisebb átmérőjű területre, mint a hullámhosszának körülbelül a harmada, vagyis látható fény esetében durván 200 nm. Ezért a fénymikroszkóppal ennél jobb felbontóképesség nem érhető el. A fénymikroszkóp korlátainak legyőzése céljából fejlesztették ki az elektronmikroszkópot és a térerőmikroszkópot. Ezekkel azonban csak vákuumba tett minta vizsgálható, ami biológiai anyagok esetében egyszersmind elölt mintát jelent, annak is csak a felülete. Az optikai mikroszkóppal viszont élő anyag vizsgálható, ha pedig ez az anyag átlátszó vagy áttetsző (mint például a sejtplazma), akkor a belsejét is megmutatja a fénymikroszkóp. Ezért továbbra is van igény a fénymikroszkóp felbontásának a javítására. A Max Planck Biofizikai Kémiai Intézet (Göttingen) kutatói olyan trükköt találtak, amellyel az áhított cél legalább az optikai mikroszkópok egyik családja, a fluoreszcens mikroszkópok esetében elérhető. A fluoreszcens mikroszkópokban ultraibolya fénnyel gerjesztik a mintában található fluoreszcens anyagot (biológiai minták esetén a mintába bevitt és annak egyik-másik komponenséhez kötődő fluoreszcens festéket) majd látható fényben vizsgálják az így létrehozott fluoreszcenciát. 13. Hogyan működik a termoemissziós elektronágyú? - 2-féle elektronágyú: termoemissziós és téremissziós - Wehnelt-henger, crossover pontszerű fényforrás, - TEM min. 200 kv - téremissziós: kihúzó térerősség: 10 7 V/cm ez rántja ki a katódból az elektronokat, 1000x fényesebb a termoemissziósnál, ultranagy vákuum kell neki
5 14. Hogyan működik az elektromágneses lencse? Mi a nagy előnye az üveglencsékhez képest? Lorentz-törvény: F=-q(E+nxB), E=0 érvényesül az elektronmikroszkópon belül. Előnyük a változtatható fókusz (az áram változtatásával). Elektromágneses lencsék: Kondenzor lencse párhuzamos nyaláb Objektív lencse képalkotás Köztes lencsék nagyítás Projektív lencsék ernyőre vetítés A lencsékben folyamatosan változtatható a gerjesztés, így a nagyítás is. A lencséket a stabilitás és a lehetséges legnagyobb nagyítás elérése érdekében vízhűtik. (Ez lehet egy zárt vízrendszer is) Lencse hibák: Szférikus aberráció - szélen-középen más a fókusztávolság, aperturák alkalmazásával kivédhető intenzitás csökkenés Kromatikus aberráció - hullámhossztól függő fókuszálás, a fehér fény komponenseit kül. helyeken fogja törni, kül. energiájú elektronok, kül. pontokba fókuszálódnak elektron energia szórásának minimalizálása: DE term =1-2 ev, De tr. =0,2-0,3 ev Asztigmatizmus vagy üstököshiba - A mintában lévő kör a képben ellipszis, mert a nyaláb nem kör keresztmetszetű ez a leggyakrabban állítandó paraméter 15. Mire lehet használni a transzmissziós elektronmikroszkópot? Milyen üzemmódjai vannak? A transzmissziós elektronmikroszkóp üzemmódjai: Képalkotás (szemcsék, szemcsehatárok, kristályhibák, diszlokációs szerkezet, kiválások, inhomogenitások) Elektrondiffrakciós ábra (kristályszerkezet,kristálytani orientáció) Működése: A fényforrást V-alakban hajlított izzószál helyettesíti, amelyből felfűtve elektronok lépnek ki. Ezekből úgy keletkezik sugár, hogy az izzószál (katód) és egy tőle bizonyos távolságban elhelyezett anód között nagy, kv ún. gyorsítófeszültséget létesítünk, amely az elektronokat felgyorsítja és az anód felé irányítja. Ennek nyílásán áthaladva az elektronsugár először a kondenzorlencséken fókuszálódik a preparátumra, ezen átjutva pedig az objektív és a projektív lencséken halad keresztül. Végül az erősen felnagyított kép fluoreszkáló ernyőre vetődik, ahol az az emberi szem számára is láthatóvá válik. A kép élesre állítását az elektromágneses lencséken átfolyó áram erősségének a változtatásával lehet elérni. A szilárd testek szubmikroszkópos területeinek leképezése az elektronmikroszkópok esetében azért lehetséges mert: a >50 kev energiájú elektron hullámoknak elegendően kicsi a hullámhossza ( nm) az elektronhullámok alkalmasan megválasztott inhomogén (mágneses ill. elektromos) térrel jól fókuszálhatók Az kev energiájú elektronokkal csak nagyon vékony 0.1 μm vastag minták átvilágítására alkalmasak. Mennél nagyobb az elektronok energiája, annál vastagabb minták világíthatók át (1 MeV ~ néhány μm). Átvilágításra alkalmasak: a párologtatott vagy porlasztott vékonyrétegek, vagy réteg-kezdetek (szigetek) elvékonyított (kémiai, vagy elektrokémiai úton, továbbá részecske bombázással ionmaratással) anyagok
6 elmetszett (mikrotommal) anyagok amorf anyagokból (pld. műanyagokból készített lenyomatok 16. Milyen követelmények vannak egy transzmissziós elektronmikroszkópos mintával szemben? Vékony mintára van szükség, hogy az elektronnyaláb kellő intezitással tudjon rajta áthaladni dmax=100 nm! Mintavétel helye bizonytalan 17. Milyen előkészítési technikákat ismer? Elektrolitos maratás: nem vezető minta is, problémák: rácshibák jönnek létre, hevítés átalakulás Jet-módszer: csak vezető minta, mechanikus polírozás ~0,1 mm-ig, elektrolitos edénybe helyezni a minta el kezd fogyni,ha átlyukadt kiveszem Replika: fémes anyag szövetszerkezetéhez, kis nagyítás, a minta felületére amorf szenet választunk le ~1mm vastagságban, rácsot hasogatunk rá (3x3mm) a részecskék leúsztathatók hordozza a minta morfológiáját 18. Ismertesse a pásztázó alagútmikroszkóp és az atomerőmikroszkóp működési elvét! A pásztázó alagút mikroszkóp (Scanning Tunneling Microscope, STM) működésének elve dióhéjban a következő: egy igen hegyes tű végigpásztázza a vizsgálandó felszínt (fémes, vezető minta) attól néhány Å-nyi távolságban, miközben a tű és a minta között az alagút effektus miatt elektromos áram folyik. Ezt folyamatosan mérve számítógép segítségével megkapható a felület topográfiája - akár atomi felbontásban is. A mozgatást piezoelektromos aktuátorokkal oldják meg. Binnigék az STM kifejlesztése után szinte azonnal rájöttek, hogy az alagútáram mérése helyettesíthető a tű és a felület között ébredő lokális erő mérésével. Így jutottak el a pásztázó erőméréses mikroszkóp, az AFM (Atomic Force Microscope) feltalálásához. Bár a technikai megvalósítás sokféleképpen történhet, a mikroszkóp főbb részei minden esetben a következők: - egy laprugón lévő hegyes tű - a rugó deformációját érzékelő rendszer (detektor) - visszacsatoló-vezérlő rendszer - mozgató-rendszer (általában piezoelektromos) - adatfeldolgozó rendszer 19. Hogyan működik a pásztázó elektronmikroszkóp? - egy elektronágyúval vékony e - nyalábot állítunk elő, ezzel pásztázzuk a minta felszínét (eltérítő tekercsekkel) - válaszként kilépő jeleket kapunk (Visszaszórt elektronok, Szekunder elektronok, Karakterisztikus röntgensugárzás, Fény, Hő, Mintaáram) - szinkronpásztázás: 1-leolvasás, 2-leképzés - vákuumban kell végezni: -szénhidrogének krakkolása, gázatomok ionizációja (katód károsodása), katódporlasztás (30 kv szétbombázza a katódot) Jól fókuszált ( nm) elektronnyaláb Szinkronizált pásztázás a minta felületén és a képalkotó egységen (monitoron) Képalkotás: a minta felületéről kilépő válaszjelek intenzitásával moduláljuk a monitor képpontjainak fényességét
7 20. Mit tud az anyag és az elektron kölcsönhatásáról? 21. Mi a különbség a szekunder és a visszaszórt elektronok által alkotott kép között? Szekunder elektron üzemmód A minta 5 nm-es felületi rétegében a külső elektronhéjakról leszakított u.n. szekunder elektronok és a kisenergiájú visszaszórt elektronok <50 ev energiájú rugalmatlanul szórt elektronok, ezekből hozzuk létre a szekunder elektron képeket (SEI). Ezek a minta 3-50 nm-es mélységéből jöhetnek. A szekunder elektronhozam nem függ a rendszámtól. Visszaszórt, vagy reflektált elektron üzemmód Hasonlóképpen rugalmasan szórtak a pásztázó elektronmikroszkópban a minta felszínét >50 ev energiával elhagyó és a reflektált (visszaszórt) elektron üzemmódban feldolgozott (BEI) elektronok. Ezek a minta 200 nm-es mélységéből jöhetnek. A visszaszórt elektronok mennyisége függ a rendszámtól, a visszaszórási koefficiens növekszik a rendszám növekedésével. 22. Hogyan detektáljuk a szekunder és a visszaszórt elektronokat? 23. Mi a környezetszimuláló elektronmikroszkóp? 24. Hogyan jön létre a karakterisztikus röntgensugárzás? Hogyan használhatjuk fel anyagvizsgálatra? 25. Mit tud az EDS és WDS technikákról? Hasonlítsa össze a kettőt!
Mikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
RészletesebbenFinomszerkezetvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
Részletesebben6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT
6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)
Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs
Részletesebben4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM)
4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM) A transzmissziós elektronmikroszkópia [27,28] kifejlesztése idestova 70 éves múltra tekint vissza. Ernst Ruska 1933
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenRöntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD)
Röntgenanalitika Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) A röntgensugárzás Felfedezése (1895, W. K. Röntgen, katódsugárcső,
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
RészletesebbenSugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek
Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a
RészletesebbenVázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István
Dódony István: TEM, vázlat vegyészeknek, 1996 1 Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István A TEM a szilárd anyagok kémiai és szerkezeti jellemzésére alkalmas vizsgálati módszer.
RészletesebbenHavancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
RészletesebbenRöntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november
Röntgendiffrakció Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet 2013. november Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia, diffrakció (elektromágneses hullámok) Kristályok szerkezete Röntgendiffrakció
RészletesebbenA szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.
1 A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum 2012. július. Mikroszkópok 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenTypotex Kiadó. Tartalomjegyzék
Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás
RészletesebbenRöntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)
Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
RészletesebbenSZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ
SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,
RészletesebbenRöntgensugárzás. Röntgensugárzás
Röntgensugárzás 2012.11.21. Röntgensugárzás Elektromágneses sugárzás (f=10 16 10 19 Hz, E=120eV 120keV (1.9*10-17 10-14 J), λ
RészletesebbenRöntgenanalitikai módszerek I. Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán
Röntgenanalitikai módszerek I Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán (Röntgen)analitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha
RészletesebbenSugárzások kölcsönhatása az anyaggal
Radioaktivitás Biofizika előadások 2013 december Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal PTE ÁOK Biofizikai Intézet, Orbán József Összefoglaló radioaktivitás alapok Nukleononkénti kötési energia (MeV) Egy
RészletesebbenRöntgendiagnosztikai alapok
Röntgendiagnosztikai alapok Dr. Voszka István A röntgensugárzás keltésének alternatív lehetőségei (röntgensugárzás keletkezik nagy sebességű, töltéssel rendelkező részecskék lefékeződésekor) Röntgencső:
RészletesebbenMűszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása
Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása
RészletesebbenRöntgensugárzás. Karakterisztikus röntgensugárzás
Röntgensugárzás Tudjuk, hogy a különböző körülmények között létrejövő, gyakorlati szempontból fontos elektromágneses hullámok (elektromágneses sugárzás) hullámhosszai egy igen széles mintegy 18 nagyságrendet
RészletesebbenAz elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László
Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses
RészletesebbenKvalitatív fázisanalízis
MISKOLCI EGYETEM ANYAG ÉS KOHÓMÉRNÖKI KAR FÉMTANI TANSZÉK GYAKORLATI ÚTMUTATÓ PHARE HU 9705000006 ÖSSZEÁLLÍTOTTA: NAGY ERZSÉBET LEKTORÁLTA: DR. MERTINGER VALÉRIA Kvalitatív fázisanalízis. A gyakorlat célja
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok
RészletesebbenModern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012
MIKROSZKÓPIA AZ ORVOS GYÓGYSZERÉSZ GYAKORLATBAN - DIAGOSZTIKA -TERÁPIA például: szemészet nőgyógyászat szövettan bakteriológia patológia gyógyszerek fejlesztése, tesztelése Modern mikroszkópiai módszerek
RészletesebbenA sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása
A sugárzás és az anyag kölcsönhatása A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása Cserenkov-sugárzás v>c/n, n törésmutató cos c nv Cserenkov-sugárzás Pl. vízre (n=1,337): 0,26 MeV c 8 m / s 2. 2* 10 A sugárzás
RészletesebbenRadioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.
Különböző sugárzások tulajdonságai Típus töltés Energia hordozó E spektrum Radioaktí sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktí sugárzások detektálása. α-sugárzás pozití
RészletesebbenRöntgen. W. C. Röntgen. Fizika-Biofizika
Röntgen Fizika-Biofizika 2014. 11. 11. Thomas Edison (1847-1931, USA) Első működő fluoroszkóp (röntgen-készülék) feltalálása, 1896 Sugárvédelem hiánya égési sérülések Clarence Madison Dally (Edison aszisztense):
RészletesebbenRövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése
Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél
RészletesebbenAz elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal
Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal Radiometriai alapfogalmak Kisugárzott felületi teljesítmény Besugárzott felületi teljesítmény A fény kölcsönhatása az anyaggal 1. M ΔP W ΔA m 2 E be
RészletesebbenOPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István
OPTIKA Fénykibocsátás mechanizmusa Dr. Seres István Bohr modell Niels Bohr (19) Rutherford felfedezte az atommagot, és igazolta, hogy negatív töltésű elektronok keringenek körülötte. Niels Bohr Bohr ezt
RészletesebbenFIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA
FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA Kolozsvár, 2003. március 21-22. A Fe-C-Mo SZINTERELT ANYAGOK SEM / EDS VIZSGÁLATA Zsók János Csaba, Dr. Pálfalvi Attila 1.Összefoglaló A dolgozat a szintereit alkatrészek
RészletesebbenSZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ
SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,
RészletesebbenOrvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény
Orvosi iofizika I. Fénysugárzásanyaggalvalókölcsönhatásai. Fényszóródás, fényabszorpció. Az abszorpciós spektrometria alapelvei. (Segítséga 12. tételmegértéséhezésmegtanulásához, továbbá a Fényabszorpció
RészletesebbenAz atommag összetétele, radioaktivitás
Az atommag összetétele, radioaktivitás Az atommag alkotórészei proton: pozitív töltésű részecske, töltése egyenlő az elektron töltésével, csak nem negatív, hanem pozitív: 1,6 10-19 C tömege az elektron
RészletesebbenDankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
RészletesebbenMIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA
NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 2. A NANOTECHNOLÓGIA ESZKÖZEI I 2012/2013 1. félév 1 2. ELŐADÁS A NANOTECHNOLÓGIA
Részletesebben1. Röntgensugárzás és méréstechnikája
1. Röntgensugárzás és méréstechnikája 1.1. A röntgensugárzás és kölcsönhatásai az anyaggal 1895-ben W. K Röntgen német fizikus egy új, a katódsugárcső anódjából eredő, láthatatlan, de nagy áthatoló képességű
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai ntézet 2011. szeptember 15. E B x x Transzverzális hullám A fény elektromos térerősségvektor hullámhossz Az elektromos a mágneses térerősség
RészletesebbenGyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1
Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,
RészletesebbenRöntgensugárzást alkalmazó fıbb tudományterületek
Röntgensugárzást alkalmazó fıbb tudományterületek -Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) -Röntgenfluoreszcens spektrometria (XRF) -Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) Történeti áttekintés
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)
Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA) Anyagtudományi analitikai vizsgálati módszerek Koczka Béla Szervetlen és Analitikai kémia Tanszék Mikroszkópos leképezési technikák
RészletesebbenDiffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek
Diffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek Röntgendiffrakció Angler Gábor ELTE TTK Fizika BSc hallgató 2009. december 3. Kondenzált anyagok fizikája szeminárium Az előadás vázlata Bevezetés, motiváció,
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond
RészletesebbenNév... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez
A Név... Válassza ki a helyes mértékegységeket! állandó intenzitás abszorbancia moláris extinkciós A) J s -1 - l mol -1 cm B) W g/cm 3 - C) J s -1 m -2 - l mol -1 cm -1 D) J m -2 cm - A Wien-féle eltolódási
RészletesebbenA TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI
A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására
RészletesebbenSzinkrotronspektroszkópiák május 14.
Szinkrotronspektroszkópiák 2009. május 14. információ www.szinkrotron.hu www.esrf.eu www.aps.anl.gov www.spring8.or.jp http://en.wikipedia.org/wiki/synchrotron http://www.lightsources.org/ Szinkrotrongyorsítók
RészletesebbenRöntgendiffrakciós fázisanalízis gyakorlat vegyész és környezettudomány Lovas A. György
Röntgendiffrakciós fázisanalízis (a mérést vezeti: Dr. egyetemi docens) Az anyagvizsgálatok során a klasszikus analitika két alapvető kérdésre keres választ; a. milyen elemekből áll a minta és b. ezen
RészletesebbenAz elektromágneses hullámok
203. október Az elektromágneses hullámok PTE ÁOK Biofizikai Intézet Kutatók fizikusok, kémikusok, asztronómusok Sir Isaac Newton Sir William Herschel Johann Wilhelm Ritter Joseph von Fraunhofer Robert
RészletesebbenAbszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses
RészletesebbenPásztázó mikroszkópiás módszerek
Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai
RészletesebbenTörténeti áttekintés
A fény Történeti áttekintés Arkhimédész tükrök segítségével gyújtotta fel a római hajókat. A fény hullámtermészetét Cristian Huygens holland fizikus alapozta meg a 17. században. A fénysebességet először
RészletesebbenFEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n
FEI Quanta 3D Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n Havancsák Károly, Dankházi Zoltán, Varga Gábor, Ratter Kitti ELTE TTK Anyagfizikai Tanszék ELFT
RészletesebbenAtomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István
Atomfizika Fizika kurzus Dr. Seres István Történeti áttekintés J.J. Thomson (1897) Katódsugárcsővel végzett kísérleteket az elektron fajlagos töltésének (e/m) meghatározására. A katódsugarat alkotó részecskét
RészletesebbenV. előadás március 4.
Bevezetés s az anyagtudományba nyba V. előadás 2010. március 4. Az z optikai vagy fénymikroszkóp Olyan összetett nagyítórendszer, amely két gyűjtőlencse-rendszer segítségével kis méretű tárgyak jelentősen
RészletesebbenAbszorpciós spektrometria összefoglaló
Abszorpciós spektrometria összefoglaló smétlés: fény (elektromágneses sugárzás) tulajdonságai, kettős természet fény anyag kölcsönhatás típusok (reflexió, transzmisszió, abszorpció, szórás) Abszorpció
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15
RészletesebbenElektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia
Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés A pásztázó (scanning) elektronmikroszkópot (SEM), és röntgensugaras kémiai elemzésre
RészletesebbenEDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása
EDX Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EBSD Elméleti háttér Felület előkészítése Orientálás Hough-transzformáció IPF, IQ Felület minősége 2 Elektron besugárzás Röntgen foton kisugárzás
RészletesebbenModern fizika laboratórium
Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid
RészletesebbenMűszeres analitika II. (TKBE0532)
Műszeres analitika II. (TKBE0532) 4. előadás Spektroszkópia alapjai Dr. Andrási Melinda Debreceni Egyetem Természettudományi és Technológiai Kar Szervetlen és Analitikai Kémiai Tanszék A fény elektromágneses
RészletesebbenFelületvizsgáló és képalkotó módszerek
Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Galbács Gábor Bevezetés A felületvizsgáló módszere köre az elmúlt évtizedekben az egyik leggyorsabban fejlődő területe volt az analitikai kémiának (és az anyagtudománynak).
Részletesebben----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró
Részletesebben7.3. Plazmasugaras megmunkálások
7.3. Plazmasugaras megmunkálások (Plasma Beam Machining, PBM) Plazma: - nagy energiaállapotú gáz - az anyag negyedik halmazállapota - ionok és elektronok halmaza - egyenáramú ív segítségével állítják elő
RészletesebbenSugárzások és anyag kölcsönhatása
Sugárzások és anyag kölcsönhatása Az anyaggal kölcsönhatásba lépő részecskék Töltött részecskék Semleges részecskék Nehéz Könnyű Nehéz Könnyű T D p - + n Radioaktív sugárzás + anyag energia- szóródás abszorpció
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
RészletesebbenRöntgendiagnosztika és CT
Röntgendiagnosztika és CT 2013.04.09. Röntgensugárzás Elektromágneses sugárzás (f=10 16 10 19 Hz, E=120eV 120keV (1.9*10-17 10-14 J), λ
RészletesebbenElektromágneses hullámok - Interferencia
Bevezetés a modern fizika fejezeteibe 2. (d) Elektromágneses hullámok - Interferencia Utolsó módosítás: 2012 október 18. 1 Interferencia (1) Mi történik két elektromágneses hullám találkozásakor? Az elektromágneses
RészletesebbenTartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban 4/11/2016. A fény; Abszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2016 március 1.) Az abszorpció mérése;
RészletesebbenRadioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.
Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Magsugárzások (α, β, γ) kölcsönhatása atomi rendszerekkel (170-174, 540-545 o.) Direkt és
RészletesebbenAlapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Roncsolásmentes anyagvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Alapvető eljárások Szemrevételezés (vizuális vizsgálat, VT) Folyadékbehatolásos vizsgálat
RészletesebbenTartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény; Abszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2015 január 27.) Az abszorpció mérése;
RészletesebbenBiofizika. Sugárzások. Csik Gabriella. Mi a biofizika tárgya? Mi a biofizika tárgya? Biológiai jelenségek fizikai leírása/értelmezése
Mi a biofizika tárgya? Biofizika Csik Gabriella Biológiai jelenségek fizikai leírása/értelmezése Pl. szívműködés, membránok szerkezete és működése, érzékelés stb. csik.gabriella@med.semmelweis-univ.hu
RészletesebbenA fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske
A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske Segítség az 5. tétel (Hogyan alkalmazható a hullám-részecske kettősség gondolata a fénysugárzás esetében?) megértéséhez és megtanulásához, továbbá
RészletesebbenVizsgálatok Scanning elektronmikroszkóppal
Óbuda University e Bulletin Vol. 2, No. 1, 2011 Nagyné Halász Erzsébet Óbudai Egyetem, Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar nagyne.halasz@bgk.uni-obuda.hu Abstract: The paper describes
RészletesebbenArany-Tóth Attila. Sebészeti röntgenvizit: 8.30. Általános radiológia - előadás
1 2 Röntgen Osztály 9-15 8.00 10.00 2. illetve 5. csoport 11.00 13.00 1. illetve 4. csoport 13.00 15.00 3. illetve 6. csoport 3 4 Sebészeti röntgenvizit: 8.30 5 6 Honlapok www. univet.hu egységek sebészet
RészletesebbenAtomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia.
Atomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia. Kiss Balázs Nanobiotechnológia és Egyedi Molekula Kutatócsoport, Biofizikai és Sugárbiológiai Intézet 2013. november 28. 2 Atomi kölcsönhatások
RészletesebbenLencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú
Jegyzeteim 1. lap Fotó elmélet 2015. október 9. 14:42 Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú Kardinális elemek A lencse képalkotását meghatározó geometriai elemek,
RészletesebbenAnyagvizsgálatok. Fémtani vizsgálatok
Anyagvizsgálatok Fémtani vizsgálatok Cél: Az anyagok szövetszerkezetének, szemcsenagyságának, a zárványosság (nemfémes alkotók) stb. meghatározása A vizsgálatok a nagyítás szerint csoportosíthatók: makroszkópos
RészletesebbenAz Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény
Az Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény Maxwell elméleti meggondolások alapján feltételezte, hogy a változó elektromos tér örvényes mágneses teret kelt (hasonlóan ahhoz ahogy a változó mágneses tér
RészletesebbenQuanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái
RészletesebbenFény- és fluoreszcens mikroszkópia. A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia
Fény- és fluoreszcens mikroszkópia A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia Történeti áttekintés 1595. Jensen (Hollandia): első összetett mikroszkóp (2 lencse, állítható távolság) 1625. Giovanni
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
abszorpció A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2013. január Elektromágneses hullám Transzverzális hullám elektromos térerősségvektor hullámhossz E B x mágneses térerősségvektor
RészletesebbenElektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47
Elektronmikroszkópia Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 x Miért van szükség elektronmikroszkópra? intenzitásprofil képernyő apertúra Egy fénnyel
RészletesebbenAz ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika
RészletesebbenAtomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István
Atomfizika Fizika kurzus Dr. Seres István Történeti áttekintés 440 BC Democritus, Leucippus, Epicurus 1660 Pierre Gassendi 1803 1897 1904 1911 19 193 John Dalton Joseph John (J.J.) Thomson J.J. Thomson
RészletesebbenÁttekintés 5/11/2015 MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA. Mikroszkópia, fénymikroszkópia
forrás: ldutolsó dia PÉCSI TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNYI KAR www.aok.pte.hu MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA humán tüdőszövet (hisztológia) sejtmozgás (fázis
RészletesebbenPÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA
PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA Molnár László Milán Mikro- és nanotechnológia 2008.10.14. MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK I. OPTIKAI ÉS ELEKTRON Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Optikai Egyszerő Diffrakciólimitált
RészletesebbenBiomolekuláris rendszerek. vizsgálata. Semmelweis Egyetem. Osváth Szabolcs
Hans Jansen és Zacharias Jansen 1590-ben összetett mikroszkópot épít Semmelweis Egyetem szabolcs.osvath@eok.sote.hu Osváth Szabolcs Biomolekuláris rendszerek vizsgálata Antoni van Leeuwenhoek (Thonis Philipszoon)
RészletesebbenModern fizika vegyes tesztek
Modern fizika vegyes tesztek 1. Egy fotonnak és egy elektronnak ugyanakkora a hullámhossza. Melyik a helyes állítás? a) A foton lendülete (impulzusa) kisebb, mint az elektroné. b) A fotonnak és az elektronnak
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január
1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),
Részletesebben