PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA"

Átírás

1 PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA Molnár László Milán Mikro- és nanotechnológia MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK I. OPTIKAI ÉS ELEKTRON Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Optikai Egyszerő Diffrakciólimitált Optikai transzmissziós, Kiforrott Korlátozott mikroszkóp vagy reflexiós technológia mélységélesség Pásztázó elekronmikroszkóp SEM (scanning electron microscope) Mintából kilépı (vagy visszaszórt, vagy szekunder) elektronok detektálása Nagy mélységélesség ( 3D kép ) Spektro-szkópiai lehetıség (EDS) szigetelı minták esetében mintaelıkészítést igényel Vákuumot igényel

2 MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK II. ELEKTRON Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Transzmissziós elektronmikroszkóp TEM (transmission electron microscope) Nagyenergiájú elektronokkal világítjuk át a mintát Atomi felbontás Spektroszkópia Körülményes mintaelıkészítés (ionsugaras vékonyítás) Költséges Ultranagy vákuumot igényel MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK III. SPM Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Atomerı-mikroszkóp AFM (Atomic Force Microscope) Pásztázó alagútmikroszkóp STM (Scanning Tunneling Microscope) Minta és AFM hegy közötti erıhatás mérése Minta és SPM hegy közötti alagútáram mérése Sokrétő felhasználás Nem igényel mintaelıkészítést Nincs szükség különleges atmoszférára Nem igényel mintaelıkészítést Nincs szükség különleges atmoszférára Atomi felbontás csak speciális körülmények között elérhetı Rezgésre fokozottan érzékeny Csak vezetı (esetleg félvezetı) minta vizsgálható

3 SPM MÓDSZEREK TÖRTÉNETE NOBEL-DÍJAK STM (Scanning Tuneling Microscope) 1981: Gerd Binnig, Heinrich Rohrer (IBM, Zürich); Nobel: 1986 (Ernst Ruskával megosztva, aki a SEM feltalálója) A felfedezés és a díj között csupán 5 év telt el! AFM (Atomic Force Microscope) 1986: Binnig, Rohrer, Quate (IBM, Zürich és Stanford University) PÁSZTÁTÓ ALAGÚTMIKROSZKÓP I. Vegyünk egy elektront, melynek adott a mozgási energiája, és beleütközik egy véges kiterjedéső potenciálgátba (ez a gát lehet például egy vékony szigetelı réteg). Az elektron mozgását a Schrödingeregyenlet írja le Egydimenziós esetben, és véges, L szélességő négyszögletes potenciálgát esetében a Schrödinger-egyenlet: 2 2 h Ψ + V Ψ = E Ψ 2m x 2 Ψ 1 Ψ 3 = Ae ikx ikx = Ce A e ikx 2 C T = A T ( E) a 16E V0 e 2 V 0 2α

4 PÁSZTÁTÓ ALAGÚTMIKROSZKÓP II. AZ STM HEGY Az STM hegy természetesen vezetı kell, hogy legyen ezen kívül pedig követelmény az anyagával szemben, hogy ellenálló legyen Volfrám, platina-iridium ötvözet A hegyezés legkifinomultabb az elektrokémiai maratás: a volfrám esetében kálium-hidroxid (KOH) a platina-iridium ötvözet esetében kálium-klorid vizes oldata Az STM heggyel szemben nincsenek olyan konkrét követelmények, az STM képalkotását alig befolyásolják a mikroszkóp hegyének geometriai viszonyai. A legegyszerőbb STM alkalmazásokban gyakran elég egy finom vágóeszközzel kis szögben elvágni egy volfrám huzalt. Az ilyen módszerrel elkészített STM hegyek geometriája véletlenszerően alakul ki, a csúcs görbületi sugara 0,1 µm és 1 µm közé esik.

5 MANIPULÁCIÓ STM-MEL Elıször megkeressük a mozgati kívánt, felületen kötött atomot Az STM tőt az atom felé helyezzük Az alagútáram növelésével csökkentjük a tő és az atom közötti távolságot Ha a megfelelı alagútáram értéket állítottuk be, akkor ezek után az atom együtt fog mozogni a minta felszínén. Mozgassuk tehát a tőt a kiválasztott pozícióig. Csökkentsük az alagútáram értékét, aminek hatására az atom-tő kölcsönhatás gyengül, Az atom-felszín kötıerı hatására ismét megkötıdik a felszínen. AFM ATOMERİ MIKROSZKÓP Az AFM mőködése hasonló a mikrotős profilmérıkéhez, azonban annál jóval kifinomultabb eszközrıl van szó. Egy hegyes tőt a minta felületén mozgatjuk. A tő egy vékony, és ezáltal könnyen hajló konzol (kantilever) végén található. A tő követi a minta felületén lévı kitüremkedéseket és bemélyedéseket.

6 AFM ATOMERİ MIKROSZKÓP TŐ MOZGATÁSÁVAL AFM ATOMERİ MIKROSZKÓP MINTA MOZGATÁSÁVAL

7 AZ AFM TŐ Anyaga legtöbbször szilícium, vagy szilícium-nitrid. Elektrokémiai maratással: Egy passziváló réteggel (például oxiddal) megóvjuk azokat a részeket, amelyeket nem kívánunk marni a munkadarabot az anyagához megfelelı maratószerbe helyezzük. (Ez a maratószer sokféle lehet, pl. fluorsav) A maratószeren keresztül zárunk egy áramkört, amibe belekapcsoljuk a munkadarabot. Így az átfolyó áram nagyságával tudjuk szabályozni a maratás sebességét. Fókuszált ionnyalábbal (FIB Focused Ion Beam): A mechanikai úton kialakított hegyre elekromos térben gyorsított ionokat (például argont) lınek, és ezzel alakítják ki a kis hegygörbületet. Az eljárás elınye, hogy reprodukálható, és jó minıségő végeredményt ad, azonban speciális eszközt igényel. AZ AFM TŐ Szén nanocsı ragasztásával Az elızıleg elıkészített AFM hegyre szén nanocsövet helyeznek (ezt pick-up technikával valósítják meg). A nanocsövet van der Waals erı tartja a helyén.

8 AFM MINTA MOZGATÁSA Szervetlen kristály (például Lítium-nióbát - LiNbO 3, bárium-titanát BaTiO 3 ). A piezoelektromos együttható tipikus értéke ezeknél az anyagoknál m/v nagyságrendjébe esik. Ebbıl látszik, hogy a piezoelektromos anyagokkal rendkívül pontos pozícionálást végezhetünk el, feltéve, hogy a maximális elmozdulás kicsi. Az SPM módszerek esetében leggyakrabban egy speciális kerámiából, ólom-cirkónium-titanátból (PZT) szinterelt hengert használnak. AFM MINTA MOZGATÁSA

9 KANTILEVER ELMOZDULÁSÁNAK MÉRÉSE AFM MÉRÉSI MÓDOK 3 alapvetı mód van: kontakt, tapping, nem kontakt. A kantilever lényeges paraméterei: rezonancia-frekvencia, rugóállandó, rezgés ampitudója.

10 AFM MÉRÉSI MÓDOK A KONTAKT MÓD 0,01 és 1,0 N/m közötti rugóállandó Mérendı erı tipikusan nn-tól µn-ig Levegıben és folyadék alatt is mőködik Elınyök: gyors, egyetlen módszer, amivel atomi felbontás elérhetı (spec. felszínen), nagyon egyenetlen felületrıl a legjobb eredményt adja. Hátrányok: nyíróerık befolyásolják a térképet, felületen adszorbeált folyadékréteg rontja a képminıséget, bizonyos minták megsérülhetnek.

11 A TAPPING MÓD A TAPPING MÓD 1 és 100 N/m közötti rugóállandó Rezonancia-frekvencia 300 khz körül A rezgési ampitudó RMS-e az, amire visszacsatolunk. Amplitudó: 20nm és 100 nm között Mőködik folyadékban is, csak a frekvencia változik. Elınyök: a legtöbbféle mintán 1 és 5 nm közötti felbontás, kisebb erıhatás, nincs nyíróerı. Hátrányok: Kisebb pásztázási sebesség,

12 A NEM-KONTAKT MÓD A NEM-KONTAKT MÓD A kantilever hasonló, mint a tapping módnál Amplitudó: <10 nm A felülethez közeledve csökken a rezonancia-frekvencia (az elhangolás felfelé történik); ezt detektáljuk Elınyök: a legtöbbféle mintán 1 és 5 nm közötti felbontás, kisebb erıhatás, nincs nyíróerı. Hátrányok: sokkal kisebb pásztázási sebesség, hiszen meg kell akadályozni, hogy a tő leragadjon kisebb felbontás csak hidrofób anyagokon mőködik

13 MÁGNESES ERİ MIKROSZKÓP KÉPALKOTÁSI HIBÁK TŐGEOMETRIA HATÁSA

14 KÉPALKOTÁSI HIBÁK GEOMETRIAI KONVOLÚCIÓ KÉPALKOTÁSI HIBÁK TÖBB HEGY

15 KÉPALKOTÁSI HIBÁK GYŐRŐS HIBA (TAPPING) KÉPALKOTÁSI HIBÁK PIEZO HAJLÁSA (100 µm)

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek

Részletesebben

Pásztázó mikroszkópiás módszerek

Pásztázó mikroszkópiás módszerek Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai

Részletesebben

Mikroszerkezeti vizsgálatok

Mikroszerkezeti vizsgálatok Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,

Részletesebben

Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék

Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék 2011. szeptember 22. Mi az a nano? 1 nm = 10 9 m = 0.000000001 m Nanotudományok: 1-100

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópja

A nanotechnológia mikroszkópja 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január 1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),

Részletesebben

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 3. A NANOTECHNOLÓGIA ESZKÖZEI II 2011/2012 1. félév 1 3. ELŐADÁS A NANOTECHNOLÓGIA

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz

Részletesebben

Atomi, illetve molekuláris kölcsönhatások és alkalmazásaik

Atomi, illetve molekuláris kölcsönhatások és alkalmazásaik Atomi, illetve molekuláris kölcsönhatások és alkalmazásaik Bozó Tamás 2012. október 16. Atomi kölcsönhatások Nemesgázok: atomi előfordulás (He, Ne, Ar, Kr, Xe, Rn) Többi elem: molekulákat alkot (pl. H

Részletesebben

A pásztázó mikroszkóp. (Takács Gergő)

A pásztázó mikroszkóp. (Takács Gergő) A pásztázó mikroszkóp (Takács Gergő) Az emberiség már az ősidők óta a világ megismerésére törekszik. Az univerzum megismerésére a nagyon távoli, nagyon nagy csillagok megismerésére óriási távcsöveket hozott

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)

Részletesebben

Finomszerkezetvizsgálat

Finomszerkezetvizsgálat Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,

Részletesebben

ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA

ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA 1 ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA Szabó Bálint ELTE TTK, Biológiai Fizika Tanszék A MÉRÉS TEMATIKÁJA Az atomi erőmikroszkóp (AFM) a nanotechnológia egyik legfontosabb vizsgálati és manipulációs

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az

Részletesebben

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Galbács Gábor Bevezetés A felületvizsgáló módszere köre az elmúlt évtizedekben az egyik leggyorsabban fejlődő területe volt az analitikai kémiának (és az anyagtudománynak).

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs

Részletesebben

Hidegsajtoló hegesztés

Hidegsajtoló hegesztés Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem SAJTOLÓ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK 1. Hőbevitel nélküli eljárások Dr. Palotás Béla Mechanikai Technológia és Anyagszerkezettani Tanszék Hidegsajtoló hegesztés A

Részletesebben

A MIKROVILÁG ELSŐ FELFEDEZŐI - II.

A MIKROVILÁG ELSŐ FELFEDEZŐI - II. Forrás: http://www.kfki.hu/fszemle/archivum/fsz1105/radnai1105.html Fizikai Szemle, 2011. No. 5. Radnai Gyula ELTE Anyagfizikai tanszék A MIKROVILÁG ELSŐ FELFEDEZŐI - II. A téremissziós és a térion-mikroszkópok

Részletesebben

A pásztázó mikroszkópok

A pásztázó mikroszkópok A pásztázó mikroszkópok Az emberiség már az ősidők óta a világ megismerésére törekszik. Az univerzum megismerésére a nagyon távoli, nagyon nagy csillagok megismerésére óriási távcsöveket hozott létre.

Részletesebben

Nanotechnológia építıkövei: Nanocsövek és nanovezetékek

Nanotechnológia építıkövei: Nanocsövek és nanovezetékek Nanotechnológia építıkövei: Nanocsövek és nanovezetékek Molnár László Milán okl. mérnök-fizikus adjunktus Budapesti Mőszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikai Technológia Tanszék Mi az a nano? Nanosz

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok

Részletesebben

Nanotanoda: érdekességek a nanoanyagok köréből

Nanotanoda: érdekességek a nanoanyagok köréből Nanotanoda: érdekességek a nanoanyagok köréből Szén nanoszerkezetek Dr. Zsoldos Ibolya Széchenyi István Egyetem, Győr Anyagismereti és Járműgyártási Tanszék 2011 január 12 Nanoméret, nanoanyagok fogalma

Részletesebben

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT 6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP

Részletesebben

KÖSZÖNTJÜK HALLGATÓINKAT!

KÖSZÖNTJÜK HALLGATÓINKAT! 2011. Január 12. KÖSZÖNTJÜK HALLGATÓINKAT! Önök Dr. Zsoldos Ibolya Nanotanoda - érdekességek a nanoanyagok köréből (Szén nanoszerkezetek) előadását hallhatják! Nanoméret, nanoanyagok 1 km = 1000 m 1 m

Részletesebben

Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary. Innováció és Kommunikáció február 20.

Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary. Innováció és Kommunikáció február 20. Egy high tech cég g 17 éve Út t a kutatói ötletektıl l a világsz gszínvonalú termékekig egy tudományos mőszerfejlesztm szerfejlesztı vállalkozás s példp ldáján Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary

Részletesebben

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18.

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18. Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 28. március 18. A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 28. március 26. A mérést végezte: 1/7 A mérés leírása:

Részletesebben

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás

Részletesebben

Grafén nanoszerkezetek

Grafén nanoszerkezetek Grafén nanoszerkezetek Dobrik Gergely Atomoktól a csillagokig 2012 február 16 Nanométer : 10-9 m 1 méter 1 000 000 000 = 1 nanométer 10 m 10 cm 1 mm 10 µm 100 nm 1 nm 1 m 1 cm 100 µm 1 µm 10 nm 1Å A szén

Részletesebben

STM laborgyakorlat segédlet, MTA MFA, v. 2.1 1. BEVEZETÉS

STM laborgyakorlat segédlet, MTA MFA, v. 2.1 1. BEVEZETÉS STM laborgyakorlat segédlet, MTA MFA, verzió 2.1 STM laborgyakorlat segédlet, MTA MFA, v. 2.1 Page 1 of 16 Infók Bevezetés Mûszerek Minták Mérés Képfeldolgozás Jegyzõkönyv Irodalom A gyakorlaton 4. éves

Részletesebben

Modern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012

Modern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012 MIKROSZKÓPIA AZ ORVOS GYÓGYSZERÉSZ GYAKORLATBAN - DIAGOSZTIKA -TERÁPIA például: szemészet nőgyógyászat szövettan bakteriológia patológia gyógyszerek fejlesztése, tesztelése Modern mikroszkópiai módszerek

Részletesebben

Villamosipari anyagismeret. Program, követelmények ősz

Villamosipari anyagismeret. Program, követelmények ősz Villamosipari anyagismeret Program, követelmények 2015. ősz I. félév: 2 óra előadás, vizsga II. félév: 1 óra labor, évközi jegy* Követelmények: Előadás látogatása kötelező; ellenőrzése (katalógus) minimum

Részletesebben

Biomolekuláris rendszerek vizsgálata

Biomolekuláris rendszerek vizsgálata A mikroszkópok legfontosabb típusai Biomolekuláris rendszerek vizsgálata Osváth Szabolcs Semmelweis Egyetem - optikai mikroszkópok (Optical Microscope) - elektron mikroszkópok (Electron Microscope) - pásztázó

Részletesebben

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses

Részletesebben

TERMOELEM-HİMÉRİK (Elméleti összefoglaló)

TERMOELEM-HİMÉRİK (Elméleti összefoglaló) Alapfogalmak, meghatározások TERMOELEM-HİMÉRİK (Elméleti összefoglaló) A termoelektromos átalakítók hımérsékletkülönbség hatására villamos feszültséget szolgáltatnak. Ezért a termoelektromos jelátalakítók

Részletesebben

7.3. Plazmasugaras megmunkálások

7.3. Plazmasugaras megmunkálások 7.3. Plazmasugaras megmunkálások (Plasma Beam Machining, PBM) Plazma: - nagy energiaállapotú gáz - az anyag negyedik halmazállapota - ionok és elektronok halmaza - egyenáramú ív segítségével állítják elő

Részletesebben

Rezgőmozgás. A mechanikai rezgések vizsgálata, jellemzői és dinamikai feltétele

Rezgőmozgás. A mechanikai rezgések vizsgálata, jellemzői és dinamikai feltétele Rezgőmozgás A mechanikai rezgések vizsgálata, jellemzői és dinamikai feltétele A rezgés fogalma Minden olyan változás, amely az időben valamilyen ismétlődést mutat rezgésnek nevezünk. A rezgések fajtái:

Részletesebben

LEHET-E TÖKÉLETES NANOELEKTRONIKAI ESZKÖZÖKET KÉSZÍTENI TÖKÉLETLEN GRAFÉNBÔL?

LEHET-E TÖKÉLETES NANOELEKTRONIKAI ESZKÖZÖKET KÉSZÍTENI TÖKÉLETLEN GRAFÉNBÔL? LEHET-E TÖKÉLETES NANOELEKTRONIKAI ESZKÖZÖKET KÉSZÍTENI TÖKÉLETLEN GRAFÉNBÔL? Márk Géza, Vancsó Péter, Biró László Péter MTA TTK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet A grafén a grafit egyetlen

Részletesebben

Villamos tulajdonságok

Villamos tulajdonságok Villamos tulajdonságok A vezetés s magyarázata Elektron függıleges falú potenciálgödörben: állóhullámok alap és gerjesztett állapotok Több elektron: Pauli-elv Sok elektron: Energia sávok Sávelméletlet

Részletesebben

Atomi er mikroszkópia jegyz könyv

Atomi er mikroszkópia jegyz könyv Atomi er mikroszkópia jegyz könyv Zsigmond Anna Julia Fizika MSc III. Mérés vezet je: Szabó Bálint Mérés dátuma: 2010. október 7. Leadás dátuma: 2010. október 20. 1. Mérés leírása A laboratóriumi mérés

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

Fényérzékeny amorf nanokompozitok: technológia és alkalmazásuk a fotonikában. Csarnovics István

Fényérzékeny amorf nanokompozitok: technológia és alkalmazásuk a fotonikában. Csarnovics István Új irányok és eredményak A mikro- és nanotechnológiák területén 2013.05.15. Budapest Fényérzékeny amorf nanokompozitok: technológia és alkalmazásuk a fotonikában Csarnovics István Debreceni Egyetem, Fizika

Részletesebben

Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09.

Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09. Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09. Konkurens (szimultán) tervezés: Alapötlet Részletterv Vázlat Prototípus Előzetes prototípus Bevizsgálás A prototípus készítés indoka: - formai

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

Mőködési elv alapján. Alkalmazás szerint. Folyadéktöltéső nyomásmérık Rugalmas alakváltozáson alapuló nyomásmérık. Manométerek Barométerek Vákuummérık

Mőködési elv alapján. Alkalmazás szerint. Folyadéktöltéső nyomásmérık Rugalmas alakváltozáson alapuló nyomásmérık. Manométerek Barométerek Vákuummérık Nyomásm smérés Nyomásm smérés Mőködési elv alapján Folyadéktöltéső nyomásmérık Rugalmas alakváltozáson alapuló nyomásmérık Alkalmazás szerint Manométerek Barométerek Vákuummérık Nyomásm smérés Mérési módszer

Részletesebben

ATOMI ERŐ MIKROSZKÓP OKTATÁSI MODELL ATOMIC FORCE MICROSCOPE MODEL IN SCHOOL

ATOMI ERŐ MIKROSZKÓP OKTATÁSI MODELL ATOMIC FORCE MICROSCOPE MODEL IN SCHOOL ATOMI ERŐ MIKROSZKÓP OKTATÁSI MODELL ATOMIC FORCE MICROSCOPE MODEL IN SCHOOL Hajdú Csaba, Papp Katalin SZTE TTIK Kísérleti Fizika Tanszék ÖSSZEFOGLALÁS A modern fizika oktatásakor gyakran találkozunk olyan

Részletesebben

Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet. A nanovilág. tudománya és technológiája

Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet. A nanovilág. tudománya és technológiája Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet 1 A nanovilág tudománya és technológiája Miről lesz szó 2 - Mi a manó az a nano? - Fontos-e a méret? - Miért akarunk egyre kisebb eszközöket gyártani? - Mikor

Részletesebben

Méréstechnika. Rezgésmérés. Készítette: Ángyán Béla. Iszak Gábor. Seidl Áron. Veszprém. [Ide írhatja a szöveget] oldal 1

Méréstechnika. Rezgésmérés. Készítette: Ángyán Béla. Iszak Gábor. Seidl Áron. Veszprém. [Ide írhatja a szöveget] oldal 1 Méréstechnika Rezgésmérés Készítette: Ángyán Béla Iszak Gábor Seidl Áron Veszprém 2014 [Ide írhatja a szöveget] oldal 1 A rezgésekkel kapcsolatos alapfogalmak A rezgés a Magyar Értelmező Szótár megfogalmazása

Részletesebben

1. Szerszámjavítás lézerhegesztéssel 2. Műanyagok lézeres feliratozása

1. Szerszámjavítás lézerhegesztéssel 2. Műanyagok lézeres feliratozása 50 éves a lézer Lézertechnológiák műanyagipari alkalmazásai 1. Szerszámjavítás lézerhegesztéssel 2. Műanyagok lézeres feliratozása Előadó: Tóth Gábor Szerszámjavítás lézerhegesztéssel Áttekintés 1. Alkalmazása

Részletesebben

Robotika. Relatív helymeghatározás Odometria

Robotika. Relatív helymeghatározás Odometria Robotika Relatív helymeghatározás Odometria Differenciális hajtás c m =πd n /nc e c m D n C e n = hány mm-t tesz meg a robot egy jeladó impulzusra = névleges kerék átmérő = jeladó fölbontása (impulzus/ford.)

Részletesebben

Vizsgálatok Scanning elektronmikroszkóppal

Vizsgálatok Scanning elektronmikroszkóppal Óbuda University e Bulletin Vol. 2, No. 1, 2011 Nagyné Halász Erzsébet Óbudai Egyetem, Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar nagyne.halasz@bgk.uni-obuda.hu Abstract: The paper describes

Részletesebben

MIKRO-TÜKÖR BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY

MIKRO-TÜKÖR BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY MIKRO-TÜKÖR BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY TV Kiforrott technológia Kiváló képminőség Környezeti fény nem befolyásolja 4:3, 16:9 Max méret 100 cm Mélységi

Részletesebben

SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK

SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK 22. ELŐADÁS: NANOTECHNOLÓGIA ÉS ÉRZÉKELŐK I: BEVEZETÉS A NANOTECHNOLÓGIÁBA 2015/2016 2. félév 1 AJÁNLOTT IRODALOM: NANOTECHNOLÓGIA Mojzes Imre, Molnár László Milán: Nanotechnológia,

Részletesebben

ESZTERGÁLT MŐSZAKI MŐANYAG FELÜLETEK MIKROTOPOGRÁFIAI JELLEMZİI

ESZTERGÁLT MŐSZAKI MŐANYAG FELÜLETEK MIKROTOPOGRÁFIAI JELLEMZİI Szent István Egyetem ESZTERGÁLT MŐSZAKI MŐANYAG FELÜLETEK MIKROTOPOGRÁFIAI JELLEMZİI Doktori (Ph.D) értekezés Farkas Gabriella Gödöllı 2010 A doktori iskola megnevezése: tudományága: vezetıje: Mőszaki

Részletesebben

Anyagos rész: Lásd: állapotábrás pdf. Ha többet akarsz tudni a metallográfiai vizsgálatok csodáiról, akkor: http://testorg.eu/editor_up/up/egyeb/2012_01/16/132671554730168934/metallografia.pdf

Részletesebben

6. változat. 3. Jelöld meg a nem molekuláris szerkezetű anyagot! A SO 2 ; Б C 6 H 12 O 6 ; В NaBr; Г CO 2.

6. változat. 3. Jelöld meg a nem molekuláris szerkezetű anyagot! A SO 2 ; Б C 6 H 12 O 6 ; В NaBr; Г CO 2. 6. változat Az 1-től 16-ig terjedő feladatokban négy válaszlehetőség van, amelyek közül csak egy helyes. Válaszd ki a helyes választ és jelöld be a válaszlapon! 1. Jelöld meg azt a sort, amely helyesen

Részletesebben

Aktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György

Aktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György Aktuátorok korszerű anyagai Készítette: Tomozi György Technológiai fejlődés iránya Mikro nanotechnológia egyre kisebb aktuátorok egyre gyorsabb aktuátorok nem feltétlenül villamos, hanem egyéb csatolás

Részletesebben

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 4. ELŐADÁS: ELEKTRON- ÉS IONSUGARAS NANOMEGMUNKÁLÁS 2012/2013 tanév 1. félév 1 4. ELŐADÁS: ELEKTRON-

Részletesebben

Cserti József. Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék január 3.

Cserti József. Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék január 3. A Chladni-féle porábráktól a nanofizikáig Cserti József Eötvös Loránd Tudományegyetem, Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék. 2004. január 3. 1 Bevezetés Napjainkban a fizikai kutatások egyik izgalmas területe

Részletesebben

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés VISSZASZÓRTELEKTRON-DIFFRAKCIÓS VIZSGÁLATOK AZ EÖTVÖS LORÁND TUDOMÁNYEGYETEMEN 2. RÉSZ Havancsák Károly, Kalácska Szilvia, Baris Adrienn, Dankházi Zoltán, Varga Gábor Eötvös Loránd Tudományegyetem, Természettudományi

Részletesebben

A periódusos rendszer, periodikus tulajdonságok

A periódusos rendszer, periodikus tulajdonságok A periódusos rendszer, periodikus tulajdonságok Szalai István ELTE Kémiai Intézet 1/45 Az előadás vázlata ˆ Ismétlés ˆ Történeti áttekintés ˆ Mengyelejev periódusos rendszere ˆ Atomsugár, ionsugár ˆ Ionizációs

Részletesebben

ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén

ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén A paraméterek anizotrópiája egykristályok rögzített tengely körüli forgatásakor

Részletesebben

GRAFÉN MEGMUNKÁLÁSA. Dobrik Gergely. Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet

GRAFÉN MEGMUNKÁLÁSA. Dobrik Gergely.  Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet GRAFÉN MEGMUNKÁLÁSA Dobrik Gergely Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet http://www.nanotechnology.hu/ MAFIHE Téli Iskola 2011 Megmunkálni? Minek? A grafén önmagában is figyelemreméltó anyag.

Részletesebben

Rezgés, Hullámok. Rezgés, oszcilláció. Harmonikus rezgő mozgás jellemzői

Rezgés, Hullámok. Rezgés, oszcilláció. Harmonikus rezgő mozgás jellemzői Rezgés, oszcilláció Rezgés, Hullámok Fogorvos képzés 2016/17 Szatmári Dávid (david.szatmari@aok.pte.hu) 2016.09.26. Bármilyen azonos időközönként ismétlődő mozgást, periodikus mozgásnak nevezünk. A rezgési

Részletesebben

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására

Részletesebben

Abszorpciós spektroszkópia

Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses

Részletesebben

Egy hullámcsomag kalandjai az alagútmikroszkópban

Egy hullámcsomag kalandjai az alagútmikroszkópban Egy hullámcsomag kalandjai az alagútmikroszkópban Márk Géza István MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet Nanotechnológia Főosztály www.nanotechnolgy.hu mark@sunserv.kfki.hu Bevezetés A modern

Részletesebben

FIZIKA KÖZÉPSZINTŐ SZÓBELI FIZIKA ÉRETTSÉGI TÉTELEK Premontrei Szent Norbert Gimnázium, Gödöllı, 2012. május-június

FIZIKA KÖZÉPSZINTŐ SZÓBELI FIZIKA ÉRETTSÉGI TÉTELEK Premontrei Szent Norbert Gimnázium, Gödöllı, 2012. május-június 1. Egyenes vonalú mozgások kinematikája mozgásokra jellemzı fizikai mennyiségek és mértékegységeik. átlagsebesség egyenes vonalú egyenletes mozgás egyenes vonalú egyenletesen változó mozgás mozgásokra

Részletesebben

Elektrosztatika tesztek

Elektrosztatika tesztek Elektrosztatika tesztek 1. A megdörzsölt ebonitrúd az asztalon külön-külön heverı kis papírdarabkákat messzirıl magához vonzza. A jelenségnek mi az oka? a) A papírdarabok nem voltak semlegesek. b) A semleges

Részletesebben

Ipari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban

Ipari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban Gyártás 08 konferenciára 2008. november 6-7. Ipari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban Szerző: Varga Bernadett, okl. gépészmérnök, III. PhD hallgató a BME VIK ET Tanszékén

Részletesebben

POLÍROZÁS A SZERSZÁMGYÁRTÁSBAN I. rész.

POLÍROZÁS A SZERSZÁMGYÁRTÁSBAN I. rész. 1, A polírozás fogalma: POLÍROZÁS A SZERSZÁMGYÁRTÁSBAN I. rész. A polírozás olyan felület-megmunkálási eljárás, melynek során sima, tükörfényes felületet hozunk létre mechanikai vagy kémiai módszerekkel.

Részletesebben

Az elemeket 3 csoportba osztjuk: Félfémek vagy átmeneti fémek nemfémek. fémek

Az elemeket 3 csoportba osztjuk: Félfémek vagy átmeneti fémek nemfémek. fémek Kémiai kötések Az elemeket 3 csoportba osztjuk: Félfémek vagy átmeneti fémek nemfémek fémek Fémek Szürke színűek, kivétel a színesfémek: arany,réz. Szilárd halmazállapotúak, kivétel a higany. Vezetik az

Részletesebben

41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése

41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése készült az UElektronikai gyártás és minıségbiztosításu c. tárgy elıadásainak diáiból 41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése 1.Mik a teljeskörő minıségszabályozás (=TQM)

Részletesebben

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék 3. (b) Kereszthatások Utolsó módosítás: 2013. április 1. Vezetési együtthatók fémekben (1) 1 Az elektrongáz hővezetési együtthatója A levezetésben alkalmazott feltételek: 1. Minden elektron ugyanazzal

Részletesebben

A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA

A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA A FŐVÁROSI HULLADÉKHASZNOSÍTÓ MŰ KAZÁNJÁBAN KELETKEZETT SZILÁRD ANYAGOK KÖRNYEZET- GEOKÉMIAI VIZSGÁLATA Müller Melinda és Berta Márton Környezettan BSc és Környezettudomány MSc hallgatók Témavezető: Szabó

Részletesebben

Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban

Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Kis Zsolt MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont H-1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33 2015. június 8. Hogyan nyerjünk információt egyes

Részletesebben

Lézer hónolt felületek vizsgálata

Lézer hónolt felületek vizsgálata Lézer hónolt felületek vizsgálata Dr. Czinege Imre, Csizmazia Ferencné Dr., Dr. Solecki Levente Széchenyi István Egyetem ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA 2008. Június 4-5. Áttekintés A lézer hónolás

Részletesebben

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2015. március 1 Energia-diszperzív Fókuszált ionsugaras röntgen megmunkálás elemanalízis

Részletesebben

Modern Fizika Labor Fizika BSC

Modern Fizika Labor Fizika BSC Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond

Részletesebben

Digitális műszer fejlesztése az atomi erő mikroszkóp dinamikus üzemmódjai számára

Digitális műszer fejlesztése az atomi erő mikroszkóp dinamikus üzemmódjai számára Digitális műszer fejlesztése az atomi erő mikroszkóp dinamikus üzemmódjai számára Írta: Mingesz Róbert V. éves fizikus hallgató SZTE Kísérleti Fizika Tanszék Témavezetők: Dr. Gingl Zoltán egy. adjunktus

Részletesebben

Kötőanyagok habarcsok. a mikroszkóp rt?

Kötőanyagok habarcsok. a mikroszkóp rt? Kötőanyagok habarcsok a mikroszkóp alatt: : mit, mivel, miért rt? Dr. rer. nat. Pintér Farkas Habarcsrendszerek vizsgálati módszerek Fizikai módszerek - nyomó-, húzószilárdság - porozitás (Hg-penetrációs

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok

Részletesebben

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél

Részletesebben

7.1. Al2O3 95%+MLG 5% ; 3h; 4000rpm; Etanol; ZrO2 G1 (1312 keverék)

7.1. Al2O3 95%+MLG 5% ; 3h; 4000rpm; Etanol; ZrO2 G1 (1312 keverék) 7.1. Al2O3 95%+MLG 5% ; 3h; 4000rpm; Etanol; ZrO2 G1 (1312 keverék) 7.1.1. SPS: 1150 C; 5 (1312 K1) Mért sűrűség: 3,795 g/cm 3 3,62 0,14 GPa Három pontos törés teszt: 105 4,2 GPa Súrlódási együttható:

Részletesebben

FELKÉSZÍTÉS AZ EMELTSZINTŰ KÉMIA ÉRETTSÉGIRE 11. ÉVFOLYAM ÉVES ÓRASZÁM: 72 HETI ÓRASZÁM: 2

FELKÉSZÍTÉS AZ EMELTSZINTŰ KÉMIA ÉRETTSÉGIRE 11. ÉVFOLYAM ÉVES ÓRASZÁM: 72 HETI ÓRASZÁM: 2 FELKÉSZÍTÉS AZ EMELTSZINTŰ KÉMIA ÉRETTSÉGIRE 11. ÉVFOLYAM ÉVES ÓRASZÁM: 72 HETI ÓRASZÁM: 2 Tematikai egység Órakeret 1. Anyagszerkezeti ismeretek 10 2. Anyagi halmazok 10 3. Kémiai reakciótípusok 15 4.

Részletesebben

Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János. Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves,

Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János. Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves, Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves, 2013.06.21-23 PIXE Particle Induced X-ray Emission Részecske indukált röntgenemissziós

Részletesebben

A fizika és geofizika alapjai (mérési gyakorlatok)

A fizika és geofizika alapjai (mérési gyakorlatok) II. Rákóczi Ferenc Kárpátaljai Magyar Fıiskola Barkáts Jenı A fizika és geofizika alapjai (mérési gyakorlatok) Beregszász, 2004 1 A kiadvány megjelenését a Magyar Köztársaság Oktatási Minisztériuma támogatta

Részletesebben

Anyagszerkezet, anyaghullámok, atomi és molekuláris kölcsönhatások Példaként: atomi erő mikroszkópia

Anyagszerkezet, anyaghullámok, atomi és molekuláris kölcsönhatások Példaként: atomi erő mikroszkópia Áttekintés Anyagszerkezet, anyaghullámok, atomi és molekuláris kölcsönhatások Példaként: atomi erő mikroszkópia Bozó Tamás Nanobiotechnológia és Molekuláris Biofizika Munkacsoport Biofizikai és Sugárbiológiai

Részletesebben

4. elıadás A KRISTÁLYFIZIKA ALAPJAI

4. elıadás A KRISTÁLYFIZIKA ALAPJAI 4. elıadás A KRISTÁLYFIZIKA ALAPJAI KRISTÁLYFIZIKA ANIZOTRÓPIA IZOTRÓPIA JELENSÉGE Izotrópia (irányok szerint egyenlı): ha a fizikai sajátságok függetlenek az iránytól. Ide tartoznak a köbös rendszerbe

Részletesebben

DIPLOMAMUNKA. Krisztallográfiailag orientált grafén szélek vizsgálata pásztázó alagútmikroszkóppal. Magda Gábor Zsolt

DIPLOMAMUNKA. Krisztallográfiailag orientált grafén szélek vizsgálata pásztázó alagútmikroszkóppal. Magda Gábor Zsolt DIPLOMAMUNKA Krisztallográfiailag orientált grafén szélek vizsgálata pásztázó alagútmikroszkóppal Magda Gábor Zsolt Témavezető: Dr. Biró László Péter címzetes egyetemi tanár, MTA doktora MTA MFA, Nanoszerkezetek

Részletesebben

DÖNTİ április évfolyam

DÖNTİ április évfolyam Bor Pál Fizikaverseny 20010/2011-es tanév DÖNTİ 2011. április 9. 7. évfolyam Versenyzı neve:.. Figyelj arra, hogy ezen kívül még két helyen (a bels ı lapokon erre kijelölt téglalapokban) fel kell írnod

Részletesebben

Ellenállásmérés Wheatstone híddal

Ellenállásmérés Wheatstone híddal Ellenállásmérés Wheatstone híddal A nagypontosságú elektromos ellenállásmérésre a gyakorlatban sokszor szükség van. Nagyon sok esetben nem elektromos mennyiségek mérését is visszavezethetjük ellenállásmérésre.

Részletesebben

A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR

A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR Készítette: TÓTH ESZTER A5W9CK Műszaki menedzser BSc. TUDOMÁNYOS DIÁKKÖRI DOLGOZAT CÉLJA Plazmasugaras és vízsugaras technológia

Részletesebben

A grafén fizikája. Cserti József. ELTE, TTK Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék

A grafén fizikája. Cserti József. ELTE, TTK Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék Cserti József ELTE, TTK Komplex Rendszerek Fizikája Tanszék A grafén fizikája Az előadásról cikk jelent meg a Természet Világa 2009. januári számában Atomcsill, 2009. január 29, ELTE, TTK, Fizikai Intézet,

Részletesebben

ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA

ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA Elvi jellemzők, amelyek meghatározzák a készülék felépítését magas hőmérsékletű fényforrás (elsősorban plazma, szikra, stb.) kis méretű sugárforrás (az önabszorpció csökkentése

Részletesebben

A szilárd állapot. A szilárd állapot. A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011

A szilárd állapot. A szilárd állapot. A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011 A szilárd állapot A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011 1 Szobahőmérsékleten és légköri nyomáson szilárd halmazállapot létrejöttének feltétele, hogy a szilárd részecskék

Részletesebben

11.3. Az Achilles- ín egy olyan rugónak tekinthető, amelynek rugóállandója 3 10 5 N/m. Mekkora erő szükséges az ín 2 mm- rel történő megnyújtásához?

11.3. Az Achilles- ín egy olyan rugónak tekinthető, amelynek rugóállandója 3 10 5 N/m. Mekkora erő szükséges az ín 2 mm- rel történő megnyújtásához? Fényemisszió 2.45. Az elektromágneses spektrum látható tartománya a 400 és 800 nm- es hullámhosszak között található. Mely energiatartomány (ev- ban) felel meg ennek a hullámhossztartománynak? 2.56. A

Részletesebben

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

Részletesebben

Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása

Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011 1 1 A rendszer fogalma A körülöttünk levő anyagi világot atomok, ionok, molekulák építik

Részletesebben