Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék
|
|
- Ádám Pintér
- 7 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom Elektron anyag kölcsönhatás Rugalmas szórás Rugalmatlan szórás Kölcsönhatási térfogat, átlagos teljes úthossz Monte-Carlo-szimuláció 20 Irodalom A pásztázó elektronmikroszkóp felépítése A vákuumrendszer Az elektronágyú Termikus volfrámkatód Mágneses lencsék Termikus volfrámkatód A legkisebb nyalábátmérő Pásztázó tekercsek 48 Irodalom Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkópiában A képalkotás alapfogalmai Képpont Mélységélesség Kontraszt Jel/zaj viszony Laterális felbontóképesség Szekunder- és visszaszórtelektron-kép Everhart Thornleydetektorral Everhart Thornley-detektor Szekunder elektronok a képalkotásban Visszaszórt elektronok a képalkotásban A minta megvilágításának fényoptikai analógiája Visszaszórtelektron-kép szilárdtest-detektorokkal Félvezető detektorok Robinson-detektor Autrata-detektor Mintaáramkép 71
2 Potenciálkontraszt-üzemmód Kvantitatív feszültségmérés potenciálkontraszt alapján Stroboszkópos vizsgálatok Képalkotás elektronsugár-indukálta árammal (EBIC) Katódlumineszcens üzemmód Mágneses anyagok leképezése Az I. típusú mágneses kontraszt A II. típusú mágneses kontraszt A III. típusú mágneses kontraszt Kristályszerkezet vizsgálata csatornahatás alapján A csatornahatás A csatornadiagram megjelenésének feltételei Határolt területű csatornadiagram A csatornadiagramok információs tartalma Képtorzítások és egyéb műtermékek Képtorzítások a minta döntése miatt A pásztázás torzítása Moire-effektus Képhiba elektromos feltöltődés miatt Képhiba külső mágneses tér miatt Képhiba mechanikai rezgés miatt Képhibák a mikroszkóp hibái miatt Sugárkárosodás, mintaszennyeződés 111 Irodalom Minta-előkészítés a pásztázó elektronmikroszkópiában Vezetőbevonat készítése vákuumpárologtatással Katódporlasztás Biológiai minták előkészítése Fixálás Víztelenítés Kritikus ponton való szárítás Fagyasztva szárítás Fagyasztásos helyettesítés Egyéb minta-előkészítési folyamatok 125 Irodalom Elektronsugaras mikroanalízis a pásztázó elektronmikroszkópban Az elektronsugaras mikroanalízis terminológiája és helye az analitikában A röntgensugárzás keletkezése és kölcsönhatása az anyaggal A röntgensugárzás keletkezése A röntgensugárzásnak az anyaggal való kölcsönhatása A hullámhosszdiszperzív röntgenspektrométer (WDS) Analizátorkristály Proporcionális számláló Jelfeldolgozó elektronika Az energiadiszperzív röntgenspektrométer 142 8
3 Tartalomjegyzék A detektálás mechanizmusa A Si(Li)-detektor Az energiadiszperzív röntgenspektrométer elektronikája Az energiadiszperzív és hullámhosszdiszperzív technika összehasonlítása Az elektronsugaras mikroanalízis gyakorlata Minta-előkészítés Minőségi analízis Optimális mérési feltételek beállítása A röntgenintenzitások mérése Vonalmenti analízis és térképezés 157 Irodalom Csúcstechnika Az ipar és orvostudomány mint a fejlődés hajtóereje 159 Irodalom A téremissziós pásztázó elektronmikroszkópok felépítése Az első generációk Három modern optikai oszlop A leképező elektronok szerepének részletesebb megvilágítása Detektorok és energiaszűrés 171 Irodalom Kisfeszültségű és kis energiás pásztázó elektronmikroszkópia SEM és FESEM alacsony gyorsítófeszültségen Az alacsony feszültségű SEM fizikai vonatkozásai Az elektronágyú szerepe Gerjesztési térfogat A rugalmasan szórt elektronok közepes szabad úthossza Szekunderelektron-hozam és visszaszórási koefficiens Lencsehibák alacsony gyorsítófeszültségen Nyalábfékezés (kis energiás pásztázó elektronmikroszkópia) A minta elektromos feltöltődése Sugárkárosodás, mintaszennyeződés alacsony gyorsítófeszültségen Alkalmazások 193 Irodalom Transzmissziós üzemmód a téremissziós pásztázó elektronmikroszkópban Világos és sötét látóterű leképezés A transzmissziós üzemmód Transzmissziós mintatartó a FESEM-hez Biológiai alkalmazás 199 Irodalom Környezeti elektronmikroszkópia Az ESEM vákuumrendszere Gáz alapú detektorok 203
4 10 Tartalomjegyzék Optikai mikroszkóppal kombinált atmoszferikus SEM 207 Irodalom Pásztázó krio-elektronmikroszkópia 209 Irodalom Visszaszórtelektron-diffrakció Sztereografikus vetület Euler-háromszögek Gnomonikus vetület Az EBSD-kép kiértékelése Az EBSD-képek információs tartalmának megjelenítése Követelmények a minta felületével szemben CCD-kamera Előreszórtelektron-detektorok Kikuchi-transzmissziós diagram Az EBSD összehasonlítása más módszerekkel Alkalmazások 240 Irodalom Röntgenanalitika a pásztázó elektronmikroszkópban Szilícium-drift-röntgendetektorok Szilícium-drift-röntgendetektorok felépítése Az SDD és Si(Li) összehasonlítása Energiafelbontás (felbontóképesség) Az energiafelbontás stabilitása Impulzusátvitel Analízis-szoftver Szupravezetésen alapuló röntgendetektorok Mikrokaloriméter detektor (Transition Edge Sensor) Szupravezető alagútdetektorok Energiafelbontás Az alacsony hőmérséklet előállítása Alkalmazások Hullámhosszdiszperzív (WDS) spektrometria Hullámhosszdiszperzív analízis diffrakciós rács segítségével Zónalemezes hullámhosszdiszperzív röntgenspektrométer Mikro-röntgenfluoreszcens analízis (µxrf) Kapilláris optika µxrf polikapilláris fókuszálással 270 Irodalom Ionsugaras pásztázó elektronmikroszkópok Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp (elektron- és ionsugárral, FIB-SEM) Galliumion-sugaras oszlop A galliumionok kölcsönhatása az anyaggal A FIB-SEM működése Alkalmazások Biológiai minták tomográfiája 285
5 Tartalomjegyzék Ultramikrotommal ellátott FESEM Minta-előkészítés FIB-SEM-mel TEM-tomográfiához Pásztázó héliumion-mikroszkóp (HIM) A héliumion-mikroszkóp felépítése Szekunderelektron-kép a héliumion-mikroszkópban Leképezés visszaszórt héliumionokkal és héliumatomokkal 293 Irodalom Függelék Kristálytani és diffrakciós ismeretek A diffrakcióval nyerhető információk Kristálytani alapfogalmak A diffrakció kinematikus elmélete Egyetlen atom szórása Az elemi cella szórása A kristály szórása Hough-transzformáció Mennyiségi analízis elektronsugaras mikroanalízissel Rendszámkorrekció Abszorpciókorrekció Fluoreszcenciakorrekció Etalon nélküli analízis A röntgensugárzás mélységi eloszlási függvényén alapuló mennyiségi analízis A Φ(ρz) meghatározása paraméteres formában Irodalom Néhány rövidítés angol és magyar jelentése
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)
Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az
RészletesebbenMikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 8:30-9:15 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai. (Havancsák Károly) 9:30-10:15
RészletesebbenNagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 9:30-11:00 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai és visszaszórtelektron diffrakció
Részletesebben6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT
6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP
RészletesebbenQuanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái
RészletesebbenSugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek
Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)
Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA) Anyagtudományi analitikai vizsgálati módszerek Koczka Béla Szervetlen és Analitikai kémia Tanszék Mikroszkópos leképezési technikák
RészletesebbenFinomszerkezetvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs
RészletesebbenFizikai Szemle MAGYAR FIZIKAI FOLYÓIRAT
Fizikai Szemle MAGYAR FIZIKAI FOLYÓIRAT A Mathematikai és Természettudományi Értesítõt az Akadémia 1882-ben indította A Mathematikai és Physikai Lapokat Eötvös Loránd 1891-ben alapította LVI. évfolyam
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)
RészletesebbenFEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n
FEI Quanta 3D Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n Havancsák Károly, Dankházi Zoltán, Varga Gábor, Ratter Kitti ELTE TTK Anyagfizikai Tanszék ELFT
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
RészletesebbenSZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ
SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,
RészletesebbenKristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához Takács Ágnes, Molnár Ferenc & Dankházi Zoltán Ásványtani Tanszék & Anyagfizikai Tanszék Centrumban
RészletesebbenNAGYFELBONTÁSÚ PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP AZ EÖTVÖS EGYETEMEN
NAGYFELBONTÁSÚ PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP AZ EÖTVÖS EGYETEMEN Havancsák Károly, Lendvai János ELTE Természettudományi Kar 2010 ôszén az Eötvös Loránd Tudományegyetem Európai Léptékkel a Tudásért, ELTE
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
RészletesebbenDankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
RészletesebbenRövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése
Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél
RészletesebbenPÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA
PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1 Havancsák Károly, Dankházi Zoltán ELTE Anyagfizikai Tanszék PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1. BEVEZETÉS A hagyományos optikai mikroszkóp felbontóképessége a diffrakciós korlát
RészletesebbenA szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.
1 A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum 2012. július. Mikroszkópok 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp
RészletesebbenFIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA
FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA Kolozsvár, 2003. március 21-22. A Fe-C-Mo SZINTERELT ANYAGOK SEM / EDS VIZSGÁLATA Zsók János Csaba, Dr. Pálfalvi Attila 1.Összefoglaló A dolgozat a szintereit alkatrészek
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
RészletesebbenElektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. II. rész: A röntgensugaras mérés és interpretációja
Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. II. rész: A röntgensugaras mérés és interpretációja Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés Jelen cikksorozat első részében megismertük, hogy a különböző kölcsönhatások
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-23/16-M Dr. Szalóki Imre, fizikus, egyetemi docens Radócz Gábor,
RészletesebbenVázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István
Dódony István: TEM, vázlat vegyészeknek, 1996 1 Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István A TEM a szilárd anyagok kémiai és szerkezeti jellemzésére alkalmas vizsgálati módszer.
RészletesebbenSZAKDOLGOZAT. Lőmaradványok vizsgálata elektronsugaras gerjesztésű röntgen-emissziós spektroszkópiával
SZAKDOLGOZAT Lőmaradványok vizsgálata elektronsugaras gerjesztésű röntgen-emissziós spektroszkópiával Tóth Enikő Fizika BSc szak Alkalmazott fizika szakirány Témavezető: Tóth Péter főtanácsos laborvezető
RészletesebbenModern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012
MIKROSZKÓPIA AZ ORVOS GYÓGYSZERÉSZ GYAKORLATBAN - DIAGOSZTIKA -TERÁPIA például: szemészet nőgyógyászat szövettan bakteriológia patológia gyógyszerek fejlesztése, tesztelése Modern mikroszkópiai módszerek
Részletesebben1026 Budapest, Riadó u Pf.: 166. Tel.: 06-1/ , fax: 06-1/ Elektronikus kapcsolattartás: kozbeszerzes.hu D.361/28/2018.
KÖZBESZERZÉSI HATÓSÁG KÖZBESZERZÉSI DÖNTŐBIZOTTSÁG 1026 Budapest, Riadó u. 5. 1525 Pf.: 166. Tel.: 06-1/882-8592, fax: 06-1/882-8592 Elektronikus kapcsolattartás: kozbeszerzes.hu Az ügy iktatószáma: D.361/28/2018.
RészletesebbenElektronmikroszkópia és diffrakció
Elektronmikroszkópia és diffrakció ZSOLDOS LEHEL MTA Műszaki Fizikai Kutatóintézet il ÖSSZEFOGLALÁS A félvezető eszközök kémiai és szerkezeti ínhomogenitásai és az ezekkel összefüggő lokális tulajdonságok
RészletesebbenMikroelektronika és technológia, IV. sz gyakorlat Integrált áramkörök mikroszkópi vizsgálata
Mikroelektronika és technológia, IV. sz gyakorlat Integrált áramkörök mikroszkópi vizsgálata Célkitûzés: A gyakorlat célja az integrált áramkörök belsõ felépítésének megismerése. Fontos lehet ugyanis az
RészletesebbenIMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56
3.1.2. IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56 3.1.2. Elektronok rugalmatlan szórási közepes szabad úthosszának meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban, a 2-10 kev elektron energia tartományban
RészletesebbenElektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia
Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés A pásztázó (scanning) elektronmikroszkópot (SEM), és röntgensugaras kémiai elemzésre
RészletesebbenFEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december
1 Havancsák Károly 2010. december 2 Időrend A helyiség kialakítás tervezése 2010. május Mágneses tér, vibráció mérése 2010. május A helyiség kialakítása 2010. augusztus 4 22. A berendezés szállítása 2010.
Részletesebben41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése
készült az UElektronikai gyártás és minıségbiztosításu c. tárgy elıadásainak diáiból 41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése 1.Mik a teljeskörő minıségszabályozás (=TQM)
RészletesebbenI. Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkópban.
A Hitachi S4700 pásztázó elektronmikroszkóp bemutatása, és kezelési útmutatója I. Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkópban. Képet valamilyen tárgyról alapvetően kétféle módon készíthetünk: valamilyen
RészletesebbenKft. Audiotechnika Kft.
Karotázs Kft. Audiotechnika Kft. Projektzáró előadás Műszerfejlesztés kutak fúrások tesztelésére Projekt azonosító száma: GOP-1.3.1-08/1-2008-0006 Projekt lezárása: 2011. december 16. Brenner Csaba, Henézi
RészletesebbenVizsgálatok Scanning elektronmikroszkóppal
Óbuda University e Bulletin Vol. 2, No. 1, 2011 Nagyné Halász Erzsébet Óbudai Egyetem, Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar nagyne.halasz@bgk.uni-obuda.hu Abstract: The paper describes
RészletesebbenSZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ
SZERKEZETVIZSGÁLAT ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR FÉMTANI, KÉPLÉKENYALAKÍTÁSI ÉS NANOTECHNOLÓGIAI INTÉZET Miskolc,
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
Részletesebben----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró
RészletesebbenEDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása
EDX Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EBSD Elméleti háttér Felület előkészítése Orientálás Hough-transzformáció IPF, IQ Felület minősége 2 Elektron besugárzás Röntgen foton kisugárzás
RészletesebbenE (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic
Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses
Részletesebben4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM)
4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM) A transzmissziós elektronmikroszkópia [27,28] kifejlesztése idestova 70 éves múltra tekint vissza. Ernst Ruska 1933
RészletesebbenSzemcsehatárok geometriai jellemzése a TEM-ben. Lábár János
Szemcsehatárok geometriai jellemzése a TEM-ben Lábár János Szemcsehatárok geometriai jellemzése Rácsok relatív orientációja Coincidence Site Lattice (CSL) O-lattice Határ közelítése síkkal Határsík orientációja
RészletesebbenAZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA
95 AZ ELTE TTK KÉTSUGARAS PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPJA DUAL BEAM SCANNING ELECTRONMICROSCOPE AT EÖTVÖS LORÁND UNIVERSITY HAVANCSÁK KÁROLY 1, BARIS ADRIENN 2, KALÁCSKA SZILVIA 3 Eötvös Loránd Tudományegyetem,
RészletesebbenFOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév
FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév A kollokviumon egy-egy tételt kell húzni az 1-10. és a 11-20. kérdések közül. 1. Atomi kölcsönhatások, kötéstípusok.
RészletesebbenOpakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben
Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben Takács Ágnes & Molnár Ferenc Ásványtani Tanszék Visegrád, 2012. január 18-20. Kutatási téma Infravörös fluidzárvány vizsgálathoz
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január
1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),
RészletesebbenKözbeszerzési Értesítő száma: 2017/196. Közzététel dátuma: Iktatószám: 15410/2017 CPV Kód:
Elektronmikroszkópok és kiegészítő berendezések beszerzése a Pannon Egyetem részére 4 megajánlható részben a GINOP-2.3.3-15-2016-00009 azonosítószámú projekt keretében Közbeszerzési Értesítő száma: 2017/196
Részletesebben9. évfolyam. Osztályozóvizsga tananyaga FIZIKA
9. évfolyam Osztályozóvizsga tananyaga A testek mozgása 1. Egyenes vonalú egyenletes mozgás 2. Változó mozgás: gyorsulás fogalma, szabadon eső test mozgása 3. Bolygók mozgása: Kepler törvények A Newtoni
RészletesebbenMIKROSZKÓPIA ÉS LOKÁLIS ANALÍZIS
MIKROSZKÓPIA ÉS LOKÁLIS ANALÍZIS Pozsgai Imre Richter Gedeon Rt. A lézerek elterjedésének köszönhetôen a fénymikroszkópia jelentôs fejlôdésen ment keresztül az elmúlt háromnégy évtizedben. Ezzel párhuzamosan,
RészletesebbenDIGITÁLIS KÉPANALÍZIS KÉSZÍTETTE: KISS ALEXANDRA ELÉRHETŐSÉG:
DIGITÁLIS KÉPANALÍZIS KÉSZÍTETTE: KISS ALEXANDRA ELÉRHETŐSÉG: kisszandi@mailbox.unideb.hu ImageJ (Fiji) Nyílt forrás kódú, java alapú képelemző szoftver https://fiji.sc/ Számos képformátumhoz megfelelő
RészletesebbenFOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév
FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév A kollokviumon egy-egy tételt kell húzni az 1-10. és a 11-20. kérdések közül, valamint egy számolási feladatot az év közben
RészletesebbenMűszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása
Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása
RészletesebbenEnergia-diszperzív röntgen elemanalízis
Fókuszált ionsugaras megmunkálás Energia-diszperzív röntgen elemanalízis FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 EDS = Energy Dispersive Spectroscopy Hol található a SEM/FIB berendezésen?
RészletesebbenMIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA
NANO MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA Dr. Pődör Bálint Óbudai Egyetem KVK Mikroelektronikai és Technológia Intézet 2. A NANOTECHNOLÓGIA ESZKÖZEI I 2012/2013 1. félév 1 2. ELŐADÁS A NANOTECHNOLÓGIA
RészletesebbenKépalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal
1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás
RészletesebbenSzerves kémiai analízis TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ
BSC ANYAGMÉRNÖK SZAK VEGYIPARI TECHNOLÓGIAI SZÁMÁRA KÖTELEZŐ TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR KÉMIAI INTÉZET Miskolc, 2016 1 Tartalomjegyzék 1. Tantárgyleírás,
RészletesebbenRöntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD)
Röntgenanalitika Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) A röntgensugárzás Felfedezése (1895, W. K. Röntgen, katódsugárcső,
RészletesebbenEnergia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB
Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2015. március 1 Energia-diszperzív Fókuszált ionsugaras röntgen megmunkálás elemanalízis
RészletesebbenAtomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia.
Atomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia. Kiss Balázs Nanobiotechnológia és Egyedi Molekula Kutatócsoport, Biofizikai és Sugárbiológiai Intézet 2013. november 28. 2 Atomi kölcsönhatások
RészletesebbenAnyagszerkezettan vizsgajegyzet
- 1 - Anyagszerkezettan vizsgajegyzet Előadástémák: 1. Atomszerkezet 1.1. Atommag 1.2. Atomszám 1.3. Atomtömeg 1.4. Bohr-féle atommodell 1.5. Schrödinger-egyenlet 1.6. Kvantumszámok 1.7. Elektron orbitál
RészletesebbenFinomszemcsés anyagok mikroszerkezetének vizsgálata kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóppal
Finomszemcsés anyagok mikroszerkezetének vizsgálata kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóppal Szakdolgozat Írta: Laschober Dóra Ágnes ELTE TTK, Fizika BSc Témavezető: Havancsák Károly CSc ELTE TTK Anyagfizikai
RészletesebbenRöntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)
Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken
RészletesebbenSzáloptika, endoszkópok
Száloptika, endoszkópok Optikai mikroszkópok a diagnosztikában Elektronmikroszkópia, fluorescens és konfokális mikroszkópia PTE-ÁOK Biofizikai ntézet Czimbalek Lívia 2009.03.16. Száloptika, endoszkópok
Részletesebben3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék
3. (b) Kereszthatások Utolsó módosítás: 2013. április 1. Vezetési együtthatók fémekben (1) 1 Az elektrongáz hővezetési együtthatója A levezetésben alkalmazott feltételek: 1. Minden elektron ugyanazzal
RészletesebbenSugárzások kölcsönhatása az anyaggal
Radioaktivitás Biofizika előadások 2013 december Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal PTE ÁOK Biofizikai Intézet, Orbán József Összefoglaló radioaktivitás alapok Nukleononkénti kötési energia (MeV) Egy
RészletesebbenAz ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika
RészletesebbenMérés és adatgyűjtés
Mérés és adatgyűjtés 7. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2013. április 11. MA - 7. óra Verzió: 2.2 Utolsó frissítés: 2013. április 10. 1/37 Tartalom I 1 Szenzorok 2 Hőmérséklet mérése 3 Fény
RészletesebbenOptikai mikroszkópia. Bereznai Miklós SZTE Optika és Kvantumelektronikai Tanszék
Optikai mikroszkópia Bereznai Miklós SZTE Optika és Kvantumelektronikai Tanszék Vázlat A mikroszkópiáról általában Lupétól a mikroszkópig (nagyítás) Mikroszkóp feloldási határa Lencsehibák Fejezetek a
RészletesebbenAbszorpciós spektrometria összefoglaló
Abszorpciós spektrometria összefoglaló smétlés: fény (elektromágneses sugárzás) tulajdonságai, kettős természet fény anyag kölcsönhatás típusok (reflexió, transzmisszió, abszorpció, szórás) Abszorpció
RészletesebbenKözbeszerzési Értesítő száma: 2017/55. Közzététel dátuma: Iktatószám: 4535/2017 CPV Kód:
Elektronmikroszkópok és kiegészítő berendezések beszerzése a Pannon Egyetem részére 4 megajánlható részben a GINOP-2.3.3-15-2016-00009 azonosítószámú projekt keretében Közbeszerzési Értesítő száma: 2017/55
RészletesebbenÚjpesti Bródy Imre Gimnázium és Ál tal án os Isk ola
Újpesti Bródy Imre Gimnázium és Ál tal án os Isk ola 1047 Budapest, Langlet Valdemár utca 3-5. www.brody-bp.sulinet.hu e-mail: titkar@big.sulinet.hu Telefon: (1) 369 4917 OM: 034866 Osztályozóvizsga részletes
RészletesebbenAz elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László
Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses
RészletesebbenTantárgy neve. Környezetfizika. Meghirdetés féléve 6 Kreditpont 2 Összóraszám (elm+gyak) 2+0
Tantárgy neve Környezetfizika Tantárgy kódja FIB2402 Meghirdetés féléve 6 Kreditpont 2 Összóraszám (elm+gyak) 2+0 Számonkérés módja Kollokvium Előfeltétel (tantárgyi kód) - Tantárgyfelelős neve Dr. Varga
RészletesebbenPÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA
PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1 Havancsák Károly, Dankházi Zoltán ELTE Anyagfizikai Tanszék PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA 1. BEVEZETÉS A hagyományos optikai mikroszkóp felbontóképessége a diffrakciós korlát
RészletesebbenFény és anyag munkában
Nanofizika, nanotechnológia és anyagtudomány Fény és anyag munkában Dr. Koppa Pál BME TTK, Fizikai ntézet, Atomfizika Tsz. 1 Alkalmazott fizika az ipar szolgálatában Néhány alkalmazási terület: Fényforrások
Részletesebben2008 Small World contest -18th Prize - Dr. Tamily Weissman (Harvard University - Cambridge, Massachusetts, United States) Specimen: Brainbow
2008 Small World contest -18th Prize - Dr. Tamily Weissman (Harvard University - Cambridge, Massachusetts, United States) Specimen: Brainbow transgenic mouse hippocampus (40x) Technique: Confocal Mikroszkóp
Részletesebben72-74. Képernyő. monitor
72-74 Képernyő monitor Monitorok. A monitorok szöveg és grafika megjelenítésére alkalmas kimeneti (output) eszközök. A képet képpontok (pixel) alkotják. Általános jellemzők (LCD) Képátló Képarány Felbontás
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-16/14-M Dr. Szalóki Imre, egyetemi docens Radócz Gábor, PhD
RészletesebbenRoncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések. 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni?
Roncsolás mentes anyagvizsgálat mintakérdések 1. Mit jelent a kristályorientáció? Hogyan lehet meghatározni? Makroszerkezethez rendelt koord.r. (RD,TD,ND)hengerléssel párhuzamos, hengerlésre merőleges,
RészletesebbenAz opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban
ELTE TTK, Ásványtani Tanszék Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban Takács Ágnes & Molnár Ferenc 6. Téli Ásványtudományi Iskola, Balatonfüred
Részletesebben- Pozsgai Imre: A pásztázó elektronmikroszkópia és elektronsugaras mikroanalízis alapjai (Budapest, 1994) - Brümmer, Heydenreich, Krebs, Schneider:
ANYAGSZERKEZET VIZSGÁLATI MÓDSZEREK irodalom: - Pozsgai Imre: A pásztázó elektronmikroszkópia és elektronsugaras mikroanalízis alapjai (Budapest, 1994) - Brümmer, Heydenreich, Krebs, Schneider: Szilárd
Részletesebbenfizikai szemle fizikai 2006/4
fizikai szemle 2006/4 Az Eötvös Loránd Fizikai Társulat havonta megjelenô folyóirata. Támogatók: A Magyar Tudományos Akadémia Fizikai Tudományok Osztálya, az Oktatási Minisztérium, a Magyar Biofizikai
RészletesebbenMintaterv. PTE PMMIK - Tanulmányi tájékoztató 2012 - Gépipari mérnökasszisztens. Anyagtan és alkalmazások
PTE PMMIK - Tanulmányi tájékoztató 0 - Gépipari mérnökasszisztens oldal / Mintaterv korszerű munkaszervezés Számítógépes és hálózati alapismeretek Felhasználói programok alkalmazása Környezet- és munkavédelem
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok
RészletesebbenDetektorok. Siklér Ferenc MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest
Detektorok Siklér Ferenc sikler@rmki.kfki.hu MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest Hungarian Teachers Programme 2008 Genf, 2008. augusztus 19. Detektorok 1970 16 GeV π nyaláb, folyékony
RészletesebbenOH ionok LiNbO 3 kristályban (HPC felhasználás) 1/16
OH ionok LiNbO 3 kristályban (HPC felhasználás) Lengyel Krisztián MTA SZFKI Kristályfizikai osztály 2011. november 14. OH ionok LiNbO 3 kristályban (HPC felhasználás) 1/16 Tartalom A LiNbO 3 kristály és
RészletesebbenORVOSI BIOFIZIKA. Damjanovich Sándor Mátyus László QT Szerkesztette
ORVOSI BIOFIZIKA Szerkesztette Damjanovich Sándor Mátyus László QT34 078 Medicina Könyvkiadó Rt. Budapest, 2000 Készült az Oktatási Minisztérium támogatásával írta Damjanovich Sándor Gáspár Rezső Krasznai
RészletesebbenGyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1
Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,
RészletesebbenFélvezető- és gáztöltésű detektorok. Kiss Gábor november 4.
Félvezető- és gáztöltésű detektorok Detektorok Feladat: nyomkövetés (tracking) és részecskeazonosítás (PID) 2 Detektorok II. Szempontok: Az ütközkési ponthoz közel minél jobb helyfelbontás Az áthaladó
Részletesebben