IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56
|
|
- Gabi Fodorné
- 7 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban Elektronok rugalmatlan szórási közepes szabad úthosszának meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban, a 2-10 kev elektron energia tartományban Elektronok rugalmatlan közepes szabad úthosszát (IMFP) határoztam meg amorfizált Si, polikristályos Ge és polikristályos fém Co, Cu és Au minták esetében. Amint azt a fejezetben már leírtam, az IMFP-re vonatkozó eddigi elméleti leírások, prediktív formulák és kísérleti eredmények a 100 ev 3 kev-ig terjed kinetikus energiájú elektronok spektroszkópiáján alapuló, ún. ESCA tartományt célozzák. Az általam vizsgált félvezetk és átmeneti fémek nagyenergiás Auger spektrumainak kiértékelése és vékony fedréteg minták esetén a rugalmatlan szórás okozta háttér levonása szükségessé teszi az IMFP ismeretét ebben az energiatartományban is. Az IMFP meghatározására egy relatív módszert, az ún. Rugalmas Csúcs Elektronspektroszkópiai Módszert (Elastic Peak Electron Spectroscopic Method) használtam [77], amely a mérend mintáról és egy ismert IMFP-j, referencia mintáról rugalmasan visszaszóródó elektronok hozamainak mérésén és Monte-Carlo szimulációval történ összehasonlításán alapszik. A rugalmas visszaszórási valószínség modellezésére a Jablonski és munkatársai által kifejlesztett Monte-Carlo programot használtam [122]. A program többkomponens, homogén minták tanulmányozására alkalmas. Bemen paraméterei a kísérleti berendezés geometriai adatai (beérkez és detektált elektronok iránya, a detektálás szögablaka), a minta összetétele és srsége, valamint a minta atomjaira vonatkozó differenciális rugalmas szórási hatáskeresztmetszetek. Az utóbbi mennyiségekkel kapcsolatban a [50] adatbázisból származó, szabad atomra vonatkozó számításokból kapott adatokat használtam. A program az adott geometriai feltételek mellett a mintára érkez, ott λ i feltételezett IMFP-vel rendelkez, E 0 energiájú elektronokra vonatkozó P( λ i ) visszaszórási valószínséget a n 1 P( λi ) = P k ( λi ) (38) n k= 1
2 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 57 egyenlettel számolja, ahol n a szimulált pályák száma, P k pedig egy elektron detektálási valószínsége. A P k értéke nulla, ha az elektron nem jut be az analizátor bemen szögablakába, ill. x = k P k ( λ i ) Exp (39) λi abban az esetben, ha az anyagban összesen x k út megtétele után bejut a szögablakba. A ered-ménye anyagra, vizsgált modellszámítások minden minden elektron energián egy P( λ i ), ún. mestergörbe, amely egy, a mintában kizárólag rugalmas szórásokat elszenvedett elektronnak az analizátorba jutási valószínségét írja le az adott energiájú elektronok mintában feltételezett IMFP-jének a függvényében. A 15. ábra egy ilyen mestergörbe párost mutat be a vizsgált Ge és a referenciának használt Ag minta esetében, 7 kev kinetikus energiájú elektronok esetére. 15. ábra: Monte-Carlo szimulációból kapott mestergörbék A módszer, kísérleti oldalról a rugalmasan visszaszórt elektronok relatív intenzitásainak pontos mérését igényli, ezért kiemelten fontos, hogy a besugárzó elektronágyú árama idben stabil legyen. Bár az intenzitásmérés nem igényel nagy energiafelbontást, azonban a gyakorlatban a rugalmas csúcsot és annak kis környezetét a rugalmas csúcs és a rugalmatlan rész szétválaszthatóságához optimalizált energiafelbontással kell megmérni. Ebbl, a rugalmas csúcs alatti rugalmatlan járulék levonása után, a rugalmas visszaszórási intenzitások megkaphatóak. Adott anyagpáros és primer elektron kinetikus energia esetén a mestergörbék és a kísérletbl kapott rugalmas intenzitásarány segítségével ezek után megkonstruálhatóak az ún. lambda-lambda görbék, amelyek a két anyag lehetséges IMFP-i között teremtenek kölcsönösen egyértelm leképezést. A görbe kiegészíthet a módszer során
3 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 58 fellép hibaforrásokból adódó hibákkal, amelyek pl. a mérés többszöri megismétlésével kapott eredmény szórásából vagy a Monte-Carlo módszer során, a véges számú lefuttatott pályák miatti statisztikus szórásból származnak. A referenciaminta IMFP-jének (esetleg annak Ag E hibájának) ismeretében így a vizsgálandó 0 / kev [69] [72] minta IMFP-je és annak hibája a lambdalambda görbékrl közvetlenül leolvasható. A vizsgálatok során referencia mintaként mindig Ag mintát használtam. Az Ag IMFPjének Tanuma és munkatársaitól származó , ,2 25,5 34,9 43, ,1 67,7 [69], optikai adatokból származtatott ,2 veszteségi függvények integrálásából kapott, 9 81,7 82,5 és a [72] referenciában található, számos 10 89,3 89,5 elméleti számolás illesztéseként kapott adatokat fogadtam el. (5. táblázat) 5. táblázat: Referencia Ag IMFP-k Kísérlet A mérésekhez polikristályos Co és Cu; DC magnetronos technikával Si lapkára párologtatott [123], kb. 250 nm vastag Ge; elektrolízissel készített Au és Ag [124]; és ionbombázással amorfizált Si mintákat használtam. Az EPES módszer referenciájaként az Ag mintát használtam. A 2-10 kev energiájú elektronok rugalmas szórási spektrumát az ESA-31 spektrométerrel vettem fel. A minták felületét közvetlenül mérések eltt 2 kev-es Ar + ionokkal történ bombázással tisztítottam meg. Az Ar gáztér nyomása a bombázás alatt mbar volt. Egy tisztítás alkalmával a mintát bombázó ionok fluxusa C/cm 2 volt. A felülettisztítás eredményességét XPS mérésekkel teszteltem, amelyek 1% alatti felületi szén vagy oxigén koncentrációt mutattak. A felületre érkez elektronok áramerssége, az elektronenergiától függen, na között változott. Az áramersség relatív ingadozása minden beállításban 1% alatt volt. Mivel az elektronágyúból maximum 5 kev energiájú elektronok nyerhetek, a 6-10 kev kinetikus energia tartományban az elektronágyúból kilép elektronokat a mintára kapcsolt, (1-5 kv) feszültséggel gyorsítottam a kívánt energiára. A gyorsítófeszültség relatív stabilitásának értéke 10-5 volt. Az analizátorba, minta felületére merleges
4 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 59 irányhoz képest os kúpszögben kilép elektronok jutottak. Az energia-analizátor E felbontása ev ( = E / k szórása pedig kb. 0.4 ev volt. 3, k = 50), a primer elektronnyaláb energia A kiértékelés els lépésében a mért spektrumokat a detektor holtidejébl adódó effektus kiküszöbölésének érdekében korrigáltam. A jó feloldás miatt a rugalmas csúcs csak nagyon kis mértékben lapolt át a veszteségi spektrummal. (Tipikusan, a rugalmas csúcs amplitúdójának és a rugalmas és rugalmatlan spektrumrészek közötti tartomány ( völgy ) amplitúdójának a hányadosa a 10 3 nagyságrendbe esett.) A rugalmas csúcs alá benyúló veszteségi részt Shirley-típusú függvénnyel [125] közelítettem és ezt a csúcsból levontam. A csúcsintenzitásokat és azok statisztikus hibáját ezek után numerikusan határoztam meg. Megjegyzend, hogy a jó energiafelbontás és spektrum statisztika miatt mind a háttérlevonásnál alkalmazott függvény megválasztásából, mind a spektrum pontjainak statisztikus ingadozásából származó hiba elhanyagolhatóan kicsi a többi, a módszer alkalmazása során megjelen hibák mellett. Az intenzitásarányok kísérleti hibáját a reprodukálhatósági hiba adja. Ennek becslésére néhány mérés (mind a vizsgált, mind a referencia minta újabb felülettisztítása utáni) ismételt elvégezése ad lehetséget. Eredmények 1. A kísérleti spektrumok kiértékelésébl kapott rugalmas csúcs intenzitás arányokat és azok becsült hibáit tartalmazza a 6. táblázat.
5 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban A 7. és a 16. ábra táblázat a Tanuma és munkatársai [69] ill. a [72] által javasolt Ag referencia IMFP-k felhasználásával nyert rugalmatlan szórási közepes szabad úthossz értékeket és azok hibáit mutatja Si, Co, Cu, Ge és Au minták esetén. A kapott eredményeket a [69] prediktív formulával és a [72] referenciában a vizsgált anyagokra található formulákkal a 16. ábra hasonlítja össze. (A [69] elmélet egy fontos paramétere az N v, ún. valencia elektronok száma, amelynek a legjobb illeszkedést adó, a formulában megengedett értékét az ábrákon külön feltüntettem.) Si és Ge esetében a mérésbl származó IMFP értékek hiba határon belül mindkét Si E 0 / kev Si/Ag Co/Ag Cu/Ag Ge/Ag Au/Ag 2 0,156 0,508 0,708 0,630 0, ,111 0,497 0,587 0,523 0, ,105 0,451 0,535 0,480 1, ,099 0,424 0,506 0,453 1, ,107 0,407 0,487 0,430 1, ,103 0,383 0,470 0,412 2, ,104 0,376 0,446 0,396 2, ,096 0,383 0,452 0,382 2, ,113 0,394 0,495 0,371 2,912 becsült, átlagos relatív hiba 12 % 4 % 2,5 % 3 % 2,5 % 6. táblázat: Mért intenzitásarányok és becsült hibáik 2 38±3,7 40±3,8 3 50±6,1 53±6,3 4 70±9,5 73± ±15 93± ±18 107± ±23 113± ±25 115± ±36 144± ±42 165±42 formula által adott jóslatra jól illeszkednek. A [69] formulában használatos valencia elektronszámra a Si esetében a szabad atom képpel magyarázható 4 ([Ne] + 3s 2 3p 2 ) ad megfelel értéket, míg Ge esetében a 4 elektront tartalmazó nyitott n=4 héjhoz hozzá kell venni a 10 elektronnal zárt 3d héjat is. A Co esetében a mért IMFP-k szisztematikusan, mintegy 27%-kal kisebb értéket mutatnak, mint a [69] referencia. A valencia elektronok számára itt is jó értéket szolgáltat az alapállapoti szabad atom
6 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 61 Co 2 17±1,3 18±1,3 Ge 3 30±2,5 32±2,6 4 38±3,4 39±3,4 5 45±4,5 47±4,6 6 52±5,5 53±5,6 7 58±6,6 59±6,6 8 64±8,2 65±8,2 9 75±10,0 76±10, ±12,2 94±12,2 2 31±2,4 33±2,5 3 46±3,9 49±4,1 4 56±5,2 58±5,3 5 68±7,1 70±7,3 6 77±8,6 79±8,7 7 86±10,3 88±10,4 8 97±13,1 99±13, ±15,1 108±15, ±15,3 108±15,4 Cu 2 22±1,4 23±1,5 Au 3 31±2,2 32±2,3 4 38±3,1 40±3,2 5 52±4,4 54±4,5 6 56±5,4 58±5,5 7 62±6,4 63±6,4 8 68±7,6 69±7,7 9 78±9,1 79±9, ±12,1 100±12,1 2 16,3±0,8 17,1±0,8 3 28±1,5 29±1,6 4 34±2,1 35±2,2 5 44±3,0 45±3,1 6 52±3,9 53±3,9 7 59±4,8 61±4,8 8 70±6,0 72±6,0 9 85±7,5 86±7, ±8,3 90±8,3 7. táblázat: Az EPES módszerrel kapott Si, Co, Cu, Ge és Au IMFP-k, [69] és [72] által szolgáltatott referencia Ag IMFP-k felhasználásával részelegesen betöltött héjainak figyelembevétele (3d 7 4s 2 ). (A [72] referencia Co-ra nem tartalmaz IMFP értékeket.) Cu-nél a [72] által ajánlott IMFP értékek átlagosan mintegy 22%-kal, a [69]-beliek pedig 18%-kal becslik felül a mérésbl kapott IMFP adatokat. A jobb egyezés érdekében a valencia elektronok kiszámításánál itt is figyelembe kellett venni a 3d héj 10 elektronját. Az Au esetében mindkét formula a kísérletbl származtatott adatpontokhoz képest némileg eltér meredekség függvényt javasol. A kísérleti pontokkal való egyezés még így is megfelelnek mondható.
7 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban ábra: A kapott Si, Co, Cu, Ge és Au IMFP-k ([69] referencia Ag adatok felhasználásával) összehasonlítása a [69] prediktív formula (folytonos vonal) és a [72] által javasolt adatokkal (szaggatott vonal).
8 IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 63 Összegzés EPES módszerrel meghatároztuk nagyenergiájú (2-10 kev) elektronok rugalmatlan szórási közepes szabad úthosszát (IMFP) polikristályos Ge, amorfizált Si, és polikristályos, fém Co, Cu és Au anyagokban. A fejezetben saját munkámnak a mérések egy részének elvégzése, a mért spektrumok kiértékelésére és a lambda-lambda görbék meghatározására szolgáló programrészletek megírása és a kiértékelések végrehajtása tekinthet. Az elektronok közepes rugalmatlan szórási szabad úthosszának a lambdalambda görbék megkonstruálásán keresztüli meghatározásának módszerét, valamint a Ge esetében kapott IMFP értékeket a [K4] közlemény tartalmazza. A további anyagokra kapott eredményeket az [E5, P3, P4] konferencia eladáson és posztereken mutattam be.
Magspektroszkópiai gyakorlatok
Magspektroszkópiai gyakorlatok jegyzıkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetıje: Deák Ferenc Mérés dátuma: 010. április 8. Leadás dátuma: 010. április 13. I. γ-spekroszkópiai mérések A γ-spekroszkópiai
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
RészletesebbenCompton-effektus. Zsigmond Anna. jegyzıkönyv. Fizika BSc III.
Compton-effektus jegyzıkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetıje: Csanád Máté Mérés dátuma: 010. április. Leadás dátuma: 010. május 5. Mérés célja A kvantumelmélet egyik bizonyítékának a Compton-effektusnak
RészletesebbenAbszolút és relatív aktivitás mérése
Korszerű vizsgálati módszerek labor 8. mérés Abszolút és relatív aktivitás mérése Mérést végezte: Ugi Dávid B4VBAA Szak: Fizika Mérésvezető: Lökös Sándor Mérőtársak: Musza Alexandra Török Mátyás Mérés
RészletesebbenFolyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv
Folyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv Zsigmond Anna Julia Fizika MSc I. Mérés vezet je: Horváth Ákos Mérés dátuma: 2010. október 21. Leadás dátuma: 2010. november 8. 1 1. Bevezetés A mérés
RészletesebbenModern fizika laboratórium
Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-16/14-M Dr. Szalóki Imre, egyetemi docens Radócz Gábor, PhD
Részletesebben3.1.1. Rugalmas elektronszórás; Recoil- és Doppler-effektus megfigyelése
3.1.1. Rugalmas elektroszórás 45 3.1.1. Rugalmas elektroszórás; Recoil- és Doppler-effektus megfigyelése Aray, ikkel, szilícium és grafit mitákról rugalmasa visszaszórt elektrook eergiaeloszlását mértem
RészletesebbenModern Fizika Labor. A mérés száma és címe: A mérés dátuma: Értékelés: Infravörös spektroszkópia. A beadás dátuma: A mérést végezte:
Modern Fizika Labor A mérés dátuma: 2005.10.26. A mérés száma és címe: 12. Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 2005.11.09. A mérést végezte: Orosz Katalin Tóth Bence 1 A mérés során egy
RészletesebbenNi és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge
Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge doktori (PhD) értekezés tézisei abstracts of Ph.D. thesis Egri Sándor
RészletesebbenKépalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal
1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás
Részletesebben2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS)
2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 25 2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS) Ebben a feezetben a 2.1.1. alfeezetben ismertetett alapelenségekre
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
RészletesebbenModern fizika laboratórium
Modern fizika laboratórium 11. Az I 2 molekula disszociációs energiája Készítette: Hagymási Imre A mérés dátuma: 2007. október 3. A beadás dátuma: 2007. október xx. 1. Bevezetés Ebben a mérésben egy kétatomos
RészletesebbenAkusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel
Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Fürjes Andor Tamás BME Híradástechnikai Tanszék Kép- és Hangtechnikai Laborcsoport, Rezgésakusztika Laboratórium 1 Tartalom A geometriai akusztika
RészletesebbenModern Fizika Labor. 5. ESR (Elektronspin rezonancia) Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 25. A mérés száma és címe: Értékelés:
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 2011. okt. 25. A mérés száma és címe: 5. ESR (Elektronspin rezonancia) Értékelés: A beadás dátuma: 2011. nov. 16. A mérést végezte: Szőke Kálmán Benjamin
RészletesebbenRöntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)
Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-23/16-M Dr. Szalóki Imre, fizikus, egyetemi docens Radócz Gábor,
RészletesebbenModern Fizika Labor. 11. Spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: dec. 16. A mérés száma és címe: Értékelés: A beadás dátuma: dec. 21.
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 2011. dec. 16. A mérés száma és címe: 11. Spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 2011. dec. 21. A mérést végezte: Domokos Zoltán Szőke Kálmán Benjamin
RészletesebbenMATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson. Kató Zoltán, Pálfalvi József
MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson Kató Zoltán, Pálfalvi József Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló 2010 A Matroshka kísérletek: Az Európai Űrügynökség (ESA) dozimetriai programjának
RészletesebbenAl-Mg-Si háromalkotós egyensúlyi fázisdiagram közelítő számítása
l--si háromalkotós egyensúlyi fázisdiagram közelítő számítása evezetés Farkas János 1, Dr. Roósz ndrás 1 doktorandusz, tanszékvezető egyetemi tanár Miskolci Egyetem nyag- és Kohómérnöki Kar Fémtani Tanszék
RészletesebbenHavancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
Részletesebben2. Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata jegyzőkönyv. Zsigmond Anna Fizika Bsc II. Mérés dátuma: Leadás dátuma:
2. Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata jegyzőkönyv Zsigmond Anna Fizika Bsc II. Mérés dátuma: 2008. 09. 24. Leadás dátuma: 2008. 10. 01. 1 1. Mérések ismertetése Az 1. ábrán látható összeállításban
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
RészletesebbenKutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése
Kutatási beszámoló 2015. február Gyüre Balázs BME Fizika tanszék Dr. Simon Ferenc csoportja Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése A TKI-Ferrit Fejlsztő és Gyártó Kft.-nek munkája
RészletesebbenA sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása
A sugárzás és az anyag kölcsönhatása A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása Cserenkov-sugárzás v>c/n, n törésmutató cos c nv Cserenkov-sugárzás Pl. vízre (n=1,337): 0,26 MeV c 8 m / s 2. 2* 10 A sugárzás
RészletesebbenAbszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses
RészletesebbenMikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 8. MÉRÉS Mikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 12. Szerda délelőtti csoport
RészletesebbenA hőterjedés dinamikája vékony szilikon rétegekben. Gambár Katalin, Márkus Ferenc. Tudomány Napja 2012 Gábor Dénes Főiskola
A hőterjedés dinamikája vékony szilikon rétegekben Gambár Katalin, Márkus Ferenc Tudomány Napja 2012 Gábor Dénes Főiskola Miről szeretnék beszélni: A kutatás motivációi A fizikai egyenletek (elméleti modellek)
RészletesebbenModern Fizika Labor. 21. PET (Pozitron Annihiláció vizsgálata) Fizika BSc. A mérés száma és címe: A mérés dátuma: nov. 15.
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 2011. nov. 15. A mérés száma és címe: 21. PET (Pozitron Annihiláció vizsgálata) Értékelés: A beadás dátuma: 2011. nov. 30. A mérést végezte: Németh Gergely
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
Részletesebben19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata
19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata PÁPICS PÉTER ISTVÁN csillagász, 3. évfolyam Mérőpár: Balázs Miklós 2006.04.19. Beadva: 2006.05.15. Értékelés: A MÉRÉS LEÍRÁSA Fontos megállapítás, hogy a fénysugárzásban
RészletesebbenModern Fizika Labor. 12. Infravörös spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 04. A mérés száma és címe: Értékelés:
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 011. okt. 04. A mérés száma és címe: 1. Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 011. dec. 1. A mérést végezte: Domokos Zoltán Szőke Kálmán Benjamin
RészletesebbenMikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
RészletesebbenAlapjelenségek II.; Elektronok rugalmas és rugalmatlan szóródása
2.1.1.2. Alajelenségek II. 16 2.1.1.2. Alajelenségek II.; lektronok rugalmas és rugalmatlan szóródása Az elektronok atomokon való szóródását az átadott energia és imulzus szemontjából alaveten kétféle
RészletesebbenNagyenergiájú Auger elektronok keltését kísér gerjesztési és elektrontranszport folyamatok szilárd anyagokban
Nagyenergiájú Auger elektronok keltését kísér gerjesztési és elektrontranszport folyamatok szilárd anyagokban Excitation and electron transport processes accompanying high-energy Auger emissions in solids
RészletesebbenDoktori (Ph. D.) értekezés. kev-os ELEKTRONOK VISSZASZÓRT ENERGIASPEKTRUMÁNAK MONTE CARLO SZIMULÁCIÓJA
Doktori (Ph. D.) értekezés kev-os ELEKTRONOK VISSZASZÓRT ENERGIASPEKTRUMÁNAK MONTE CARLO SZIMULÁCIÓJA Készítette: Orosz Gábor Tamás Kémia Doktori Iskola Készült az MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi
RészletesebbenNA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja
NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja László András Wigner Fizikai Kutatóintézet, Részecske- és Magfizikai Intézet 1 Kivonat Az erősen kölcsönható anyag és fázisai Megfigyelések a fázisszerkezettel
RészletesebbenATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA
ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA Elvi jellemzők, amelyek meghatározzák a készülék felépítését magas hőmérsékletű fényforrás (elsősorban plazma, szikra, stb.) kis méretű sugárforrás (az önabszorpció csökkentése
RészletesebbenAsztrofizikai jelentőségű befogási reakciók kísérleti vizsgálata. Válasz Kiss Ádám opponensi véleményében feltett kérdéseire
Asztrofizikai jelentőségű befogási reakciók kísérleti vizsgálata Válasz Kiss Ádám opponensi véleményében feltett kérdéseire Először is szeretném megköszönni Kiss Ádámnak dolgozatom elbírálását és az arról
RészletesebbenModern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18.
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 28. március 18. A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 28. március 26. A mérést végezte: 1/7 A mérés leírása:
Részletesebben10. mérés. Fényelhajlási jelenségek vizsgála
Bán Marcell ETR atonosító BAMTACT.ELTE Beadási határidő 2012.10.15 (engedélyezett késés) 10. mérés Fényelhajlási jelenségek vizsgála Bevezetés: A mérések során a fény hullámhosszából adódó jelenségeket
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenMérési hibák 2006.10.04. 1
Mérési hibák 2006.10.04. 1 Mérés jel- és rendszerelméleti modellje Mérési hibák_labor/2 Mérési hibák mérési hiba: a meghatározandó értékre a mérés során kapott eredmény és ideális értéke közötti különbség
RészletesebbenAz asztrofizikai p-folyamat kísérleti vizsgálata befogási reakciókban
Az asztrofizikai p-folyamat kísérleti vizsgálata befogási reakciókban Zárójelentés az F 043408 ifjúsági OTKA pályázatról Témavezető: Gyürky György A vasnál nehezebb elemek izotópjai a csillagfejlődés előrehaladott
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok
Részletesebben6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT
6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP
RészletesebbenA Mössbauer-effektus vizsgálata
A Mössbauer-effektus vizsgálata Tóth ence fizikus,. évfolyam 006.0.0. csütörtök beadva: 005.04.0. . A mérés célja három minta: lágyvas, nátrium-nitroprusszid és rozsdamentes acél Mössbauereffektusának
RészletesebbenHangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata
Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. május 7. (hétfő délelőtti csoport) 1. Bevezetés Ebben a mérésben a szilárdtestek rugalmas tulajdonságait vizsgáljuk
RészletesebbenA mérések általános és alapvető metrológiai fogalmai és definíciói. Mérések, mérési eredmények, mérési bizonytalanság. mérés. mérési elv
Mérések, mérési eredmények, mérési bizonytalanság A mérések általános és alapvető metrológiai fogalmai és definíciói mérés Műveletek összessége, amelyek célja egy mennyiség értékének meghatározása. mérési
RészletesebbenAz éghajlati modellek eredményeinek alkalmazhatósága hatásvizsgálatokban
Az éghajlati modellek eredményeinek alkalmazhatósága hatásvizsgálatokban Szépszó Gabriella Országos Meteorológiai Szolgálat, szepszo.g@met.hu RCMTéR hatásvizsgálói konzultációs workshop 2015. június 23.
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
RészletesebbenFényhullámhossz és diszperzió mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 9. MÉRÉS Fényhullámhossz és diszperzió mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 19. Szerda délelőtti csoport 1. A mérés célja
Részletesebben3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL
3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL A gamma-sugárzás elektromágneses sugárzás, amely vákuumban fénysebességgel terjed. Anyagba ütközve kölcsönhatásba lép az anyag alkotóelemeivel,
RészletesebbenDankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
RészletesebbenHangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 3. MÉRÉS Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. november 23. Szerda délelőtti csoport 1. A
RészletesebbenKristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához Takács Ágnes, Molnár Ferenc & Dankházi Zoltán Ásványtani Tanszék & Anyagfizikai Tanszék Centrumban
RészletesebbenFény kölcsönhatása az anyaggal:
Fény kölcsönhatása az Fény kölcsönhatása az : szórás, abszorpció, emisszió Kellermayer Miklós Fényszórás A fényszórás mérése, orvosi alkalmazásai Lord Rayleigh (1842-1919) J 0 Light Fényforrás source Rayleigh
RészletesebbenLoss Distribution Approach
Modeling operational risk using the Loss Distribution Approach Tartalom»Szabályozói környezet»modellezési struktúra»eseményszám eloszlás»káreloszlás»aggregált veszteségek»további problémák 2 Szabályozói
RészletesebbenA kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről
A kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről Utolsó módosítás: 2016. május 4. 1 Előzmények Franck-Hertz-kísérlet (1) A Franck-Hertz-kísérlet vázlatos elrendezése: http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/frhz.html
RészletesebbenAtomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István
Atomfizika Fizika kurzus Dr. Seres István Történeti áttekintés J.J. Thomson (1897) Katódsugárcsővel végzett kísérleteket az elektron fajlagos töltésének (e/m) meghatározására. A katódsugarat alkotó részecskét
RészletesebbenFélvezetk vizsgálata
Félvezetk vizsgálata jegyzkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetje: Böhönyei András Mérés dátuma: 010. március 4. Leadás dátuma: 010. március 17. Mérés célja A mérés célja a szilícium tulajdonságainak
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. március 2. A mérés száma és címe: 5. Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 2009. március 5. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond
RészletesebbenTypotex Kiadó. Tartalomjegyzék
Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás
Részletesebben1. Adatok kiértékelése. 2. A feltételek megvizsgálása. 3. A hipotézis megfogalmazása
HIPOTÉZIS VIZSGÁLAT A hipotézis feltételezés egy vagy több populációról. (pl. egy gyógyszer az esetek 90%-ában hatásos; egy kezelés jelentősen megnöveli a rákos betegek túlélését). A hipotézis vizsgálat
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. február 23. A mérés száma és címe: 17. Folyadékkristályok Értékelés: A beadás dátuma: 2009. március 2. A mérést végezte: Zsigmond Anna Márton Krisztina
RészletesebbenAdatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei
GazdálkodásimodulGazdaságtudományismeretekI.Közgazdaságtan KÖRNYEZETGAZDÁLKODÁSIMÉRNÖKIMScTERMÉSZETVÉDELMIMÉRNÖKIMSc Tudományos kutatásmódszertani, elemzési és közlési ismeretek modul Adatgyőjtés, mérési
RészletesebbenMikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése
Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. március 19. (hétfő délelőtti csoport) 1. Mikroszkóp vizsgálata 1.1. A mérés
RészletesebbenEGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS. Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára
EGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára Zagyvai Péter - Osváth Szabolcs Bódizs Dénes BME NTI, 2008 1. Bevezetés Az izotópok stabilak vagy radioaktívak
RészletesebbenHibrid mágneses szerkezetek
Zárójelentés Hibrid mágneses szerkezetek OTKA T046267 Négy és fél év időtartamú pályázatunkban két fő témakörben végeztünk intenzív elméleti kutatásokat: (A) Mágneses nanostruktúrák ab initio szintű vizsgálata
RészletesebbenRöntgensugárzás 9/21/2014. Röntgen sugárzás keltése: Röntgen katódsugárcső. Röntgensugárzás keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás
9/1/014 Röntgen Röntgen keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken on December 1895 and presented
RészletesebbenModern Fizika Laboratórium Fizika és Matematika BSc 8. Alkáli spektrumok
Modern Fizika Laboratórium Fizika és Matematika BSc 8. Alkáli spektrumok Mérést végezték: Bodó Ágnes Márkus Bence Gábor Kedd délelőtti csoport Mérés ideje: 03/7/0 Beadás ideje: 04/0/0 Érdemjegy: . A mérés
RészletesebbenHangterjedés szabad térben
Hangterjeés szaba térben Bevezetés Hangszint általában csökken a terjeés során. Okai: geometriai, elnyelőés, fölfelület hatása, növényzet és épületek. Ha a hangterjeés több mint 100 méteren történik, a
RészletesebbenNagyteljesítményű elemanalitikai, nyomelemanalitikai módszerek
Nagyteljesítményű elemanalitikai, nyomelemanalitikai módszerek 1. Atomspekroszkópiai módszerek 1.1. Atomabszorpciós módszerek, AAS 1.1.1. Láng-atomabszorpciós módszer, L-AAS 1.1.2. Grafitkemence atomabszorpciós
RészletesebbenModern Fizika Labor. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: Az optikai pumpálás. A beadás dátuma: A mérést végezte:
Modern Fizika Labor A mérés dátuma: 2005.10.19. A mérés száma és címe: 7. Az optikai pumpálás Értékelés: A beadás dátuma: 2005.10.28. A mérést végezte: Orosz Katalin Tóth Bence Optikai pumpálás segítségével
RészletesebbenNév... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez
A Név... Válassza ki a helyes mértékegységeket! állandó intenzitás abszorbancia moláris extinkciós A) J s -1 - l mol -1 cm B) W g/cm 3 - C) J s -1 m -2 - l mol -1 cm -1 D) J m -2 cm - A Wien-féle eltolódási
RészletesebbenElektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia
Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés A pásztázó (scanning) elektronmikroszkópot (SEM), és röntgensugaras kémiai elemzésre
RészletesebbenSzilárdtestek el e ek e tr t o r n o s n zer e k r ez e et e e t
Szilárdtestek elektronszerkezete Kvantummechanikai leírás Ismétlés: Schrödinger egyenlet, hullámfüggvény, hidrogén-atom, spin, Pauli-elv, periódusos rendszer 2 Szilárdtestek egyelektron-modellje a magok
RészletesebbenRöntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel. Cserny István
Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel Cserny István Debrecen, 2005 Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya
RészletesebbenGamma-spektrometria HPGe detektorral
Gamma-spektrometria HPGe detektorral 1. Bevezetés A gamma-spektrometria az atommagból valamilyen magfolyamat következtében (radioaktív bomlás, mesterséges vagy természetes magreakció) kilépő gamma sugárzás
RészletesebbenAtomfizikai összefoglaló: radioaktív bomlás. Varga József. Debreceni Egyetem OEC Nukleáris Medicina Intézet 2010. 2. Kötési energia (MeV) Tömegszám
Egy nukleonra jutó kötési energia Atomfizikai összefoglaló: radioaktív bomlás Varga József Debreceni Egyetem OEC Nukleáris Medicina Intézet Kötési energia (MeV) Tömegszám 1. 1. Áttekintés: atomfizika Varga
RészletesebbenModern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 12. mérés: Infravörös spektroszkópia. 2008. május 6.
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 12. mérés: Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 28. május 13. A mérést végezte: 1/5 A mérés célja A mérés célja az
RészletesebbenSugárzások kölcsönhatása az anyaggal
Radioaktivitás Biofizika előadások 2013 december Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal PTE ÁOK Biofizikai Intézet, Orbán József Összefoglaló radioaktivitás alapok Nukleononkénti kötési energia (MeV) Egy
RészletesebbenMunkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél
Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél Fémgőz és plazma Buza Gábor, Bauer Attila Messer Innovation Forum 2016. december
RészletesebbenHipotézis STATISZTIKA. Kétmintás hipotézisek. Munkahipotézis (H a ) Tematika. Tudományos hipotézis. 1. Előadás. Hipotézisvizsgálatok
STATISZTIKA 1. Előadás Hipotézisvizsgálatok Tematika 1. Hipotézis vizsgálatok 2. t-próbák 3. Variancia-analízis 4. A variancia-analízis validálása, erőfüggvény 5. Korreláció számítás 6. Kétváltozós lineáris
RészletesebbenMűszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása
Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása
RészletesebbenKoherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban
Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Kis Zsolt MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont H-1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33 2015. június 8. Hogyan nyerjünk információt egyes
RészletesebbenESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén
ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén A paraméterek anizotrópiája egykristályok rögzített tengely körüli forgatásakor
Részletesebben6. Előadás. Vereb György, DE OEC BSI, október 12.
6. Előadás Visszatekintés: a normális eloszlás Becslés, mintavételezés Reprezentatív minta A statisztika, mint változó Paraméter és Statisztika Torzítatlan becslés A mintaközép eloszlása - centrális határeloszlás
RészletesebbenÜtközések vizsgálatához alkalmazható számítási eljárások
Ütközések vizsgálatához alkalmazható számítási eljárások Az eljárások a kiindulási adatoktól és a számítás menetétől függően két csoportba sorolhatók. Az egyik a visszafelé történő számítások csoportja,
RészletesebbenMagyarkuti András. Nanofizika szeminárium JC Március 29. 1
Magyarkuti András Nanofizika szeminárium - JC 2012. Március 29. Nanofizika szeminárium JC 2012. Március 29. 1 Abstract Az áram jelentős részéhez a grafén csík szélén lokalizált állapotok járulnak hozzá
RészletesebbenÁltalános Kémia, BMEVESAA101
Általános Kémia, BMEVESAA101 Dr Csonka Gábor, egyetemi tanár Az anyag Készítette: Dr. Csonka Gábor egyetemi tanár, csonkagi@gmail.com 1 Jegyzet Dr. Csonka Gábor http://web.inc.bme.hu/csonka/ Óravázlatok:
RészletesebbenJegyzet. Kémia, BMEVEAAAMM1 Műszaki menedzser hallgatók számára Dr Csonka Gábor, egyetemi tanár Dr Madarász János, egyetemi docens.
Kémia, BMEVEAAAMM Műszaki menedzser hallgatók számára Dr Csonka Gábor, egyetemi tanár Dr Madarász János, egyetemi docens Jegyzet dr. Horváth Viola, KÉMIA I. http://oktatas.ch.bme.hu/oktatas/konyvek/anal/
RészletesebbenMérési jegyzőkönyv. 3. mérés: Röntgen-cső, emissziós spektrumok, abszorpció
Mérési jegyzőkönyv 3. mérés: Röntgen-cső, emissziós spektrumok, abszorpció A mérés helyszíne: Semmelweis Egyetem, Elméleti Orvostudományi Központ Biofizika laboratórium A mérés időpontja: 2013.02.27. A
Részletesebben1. Katalizátorok elemzése XRF módszerrel Bevezetés A nehézfémek okozta környezetterhelés a XX. század közepe óta egyre fontosabb problémává válik. Egyes nehézfémek esetében az emberi tevékenységekből eredő
Részletesebben2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása
2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 35 2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása Az ATOMKI ESA-31 jel spektrométere Méréseim egy részét az ATOMKI-ban, az Atomfizikai
RészletesebbenSugárzások és anyag kölcsönhatása
Sugárzások és anyag kölcsönhatása Az anyaggal kölcsönhatásba lépő részecskék Töltött részecskék Semleges részecskék Nehéz Könnyű Nehéz Könnyű T D p - + n Radioaktív sugárzás + anyag energia- szóródás abszorpció
Részletesebben