Folytonos idejű jelek mintavételezése, diszkrét adatsorok analízise
|
|
- Ede Pintér
- 7 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Folytonos idejű jelek mintavételezése, diszkrét adatsorok analízise Mérésadatgyűjtés, jelfeldolgozás 8. előadás Dr. Iványi Miklósné, egyetemi tanár Schiffer Ádám, egyetemi adjunktus LabVIEW-7. EA-/
2 Jelalak modellek. Sztohasztikus jelalak modellek Statisztikus tulajdonságok alaján jellemzik l. G m g (nem relativisztikus térben) l. σ E ε, HOOK törvény l. F Q E, Coulomb törvény LabVIEW-7. EA-/2
3 2. Determinisztikus jelalak modellek I. Folytonos argumentumú jelek a) Imulzus b) Egységugrás LabVIEW-7. EA-/3
4 c) Szinuszos, eriodikus jelek () t X0 t () t ( t + ), 0 < t < ( t) α t e sin ( ω t) d) Nem eriodikus jelek acoma Narrows Bridge Függőhíd, USA, Washington State, 940. június-november, szél kb. 70 km/óra LabVIEW-7. EA-/4
5 II. Diszkrét idejű jelek Folytonos idejű jelek diszkrét idejű mintái (t) folytonos jel min tavételezési eriodus idő, idő n s ( k) [k] { [k] } diszkrét min tái f s min tavételezési frekvencia a jel rekontrukciója min ták / eriodus n n * (t) s / f s f s / zár, K nyit k < t < k + dt k + dt < t < ( k + ) ( t) [k], k < t < ( k ) * + nulladrendű tartó LabVIEW-7. EA-/5
6 A mintavételezési araméterek beállítása f, ns /, fs, fs f ns /, ns / n n b,. Példa, Egy 20 ms eriódusidejű analóg jelből s 0 ns időközönként veszünk mintákat. Adja meg a mintavételezési frekvenciát. Megoldás, s 0 Hz f 8 s MHz. 2. Példa A 20 ms eriódusidejű analóg jelből f s 00 khz mintavételezési frekvenciával veszünk mintákat. Hány mintát veszünk eriódusonként? Megoldás, ns / fs 2000 minta. LabVIEW-7. EA-/6
7 f, ns /, fs s, fs f ns /, ns / n n b, 3. Példa Egy f 20 Hz frekvenciájú, eriodikus analóg jelből mintavételezési frekvenciával veszünk mintákat. Adja meg a mintavételezési időt. f s 5 khz Megoldás, 0,2 0 f s 0,2 ms 4. Példa Egy f 25 Hz eriódusidejű analóg jelből f s 2kHz mintavételezési frekvenciával veszünk mintákat. Hány mintát veszünk, ha két eriódust vizsgálunk. f Megoldás, n s s / 80 minta f LabVIEW-7. EA-/7
8 f, ns /, fs s, fs f ns /, ns / n n b, 5. Példa Egy 6 ms eriódusidejű analóg jelből 30 ns időközönként veszünk mintákat. Egy eriódus beolvasásához mekkora tárterületre, "buffer size", van szükség. Megoldás, n 2 05 b, s 6. Példa Mekkora annak az analóg jelnek a eriódus ideje, amelyből 5µ s mintavételezési idő mellett 00 mintát veszünk. Megoldás, 6 ns / ,5 ms LabVIEW-7. EA-/8
9 Hány diszkrét mintát vegyünk? minta/eriódus 2 minta/eriódus 7 minta/eriódus 0 minta/eriódus LabVIEW-7. EA-/9
10 Hány diszkrét mintát vegyünk? (i) Egyszerű közéérték/ DC value e a 0 () t dt, e a [k], d ε d n s ns - k 0 e e a e Szinuszos jel esetén: 0 (ii) Abszolút közéérték/ Absolute value abs a eff a 0 0 () t dt, abs a [k], d ε d n ns - 2 () t dt, eff a [k] 2, d ε d n (iii) Effektív érték / RMS value s ns - k 0 s k 0 abs Szinuszos jel esetén: 0,637X abs abs a Szinuszos jel esetén: 0,707X eff eff a eff LabVIEW-7. EA-/0
11 Hány diszkrét mintát vegyünk? (élda) A váltakozó feszültséget is mérő digitális voltmérőkszokásos elnevezésük digitális multiméterek rendszerint - a jel abszolút közéértékét mérik. Kijelzőjük azonban az elektromechanikus műszerek hagyományait követve effektív értéket (RMS) mutatnak. LabVIEW-7. EA-/
12 LabVIEW-7. EA-/2 () 0 dt t sin Xˆ dt t 0 0 e a ω () a 2 t, sin Xˆ t π ω ω Példa () 2 Xˆ 2 cos Xˆ 4 t cos Xˆ 4 dt t sin Xˆ 4 t dt sin Xˆ dt t abs a π π ω ω ω ω π () 2 Xˆ 2 Xˆ dt t sin Xˆ dt t t cos eff a ω ω
13 Hány diszkrét mintát vegyünk? (élda) LabVIEW-7. EA-/3
14 A mintavételezett jel közéértékei e d n s ns - k 0 [k], abs d n s ns - k 0 [k], eff d n s ns - k 0 [k] 2,. Példa Egy n6 mintából álló diszkrét idejű jelsorozat értékei k,.2,.8, 2.4, 2.2,.9. Határozza meg a jelsorozat közéértékeit. [ ] { } Megoldás, A jelsorozat egyszerű közéértéke e d n s ns - k 0 [k] 6 ( +,2 +,8 + 2,4 + 2,2 +,9),7500 A jelsorozat abszolút közéértéke megegyezik az egyszerű közéel, minthogy a jelsorozat minden eleme ozitív. A jelsorozat négyzetes közéértéke eff d n s ns - k 0 [k] 2 6 ( 2 +,2 2 +, , ,2 2 +,9 2 ),,8207, LabVIEW-7. EA-/4
15 2. Példa Egy n6 mintából álló diszkrét idejű jelsorozat értékei [ k] { ; -,2; -,8; 2,4; - 2,2;,9}. Határozza meg a jelsorozat közéértékeit. Megoldás, A jelsorozat egyszerű közéértéke e d n s ns - k 0 [k] 6 (,2,8 + 2,4 2,2 +,9) 0,067, A jelsorozat abszolút közéértéke abs d n s ns - k 0 [k] A jelsorozat négyzetes közéértéke 6 ( +,2 +,8 + 2,4 + 2,2 +,9),7500, eff d n 6 s ns - k 0 [k] 2 ( ( ) ( ) ( ) ) ,2 +,8 + 2,4 + 2,2 2 +,9 2,8207, LabVIEW-7. EA-/5
16 3. Példa Egy n4 mintából álló diszkrét idejű jelsorozat értékei [ k] { ; - 2; - 4; 3; } Határozza meg a jelsorozat közéértékeit. Megoldás, A jelsorozat egyszerű közéértéke e d n s ns - k 0 [k] 4 ( ) 3 / 4, A jelsorozat abszolút közéértéke abs d n s ns - k 0 [k] A jelsorozat négyzetes közéértéke 4 ( ) 2,5, eff d n 4 s ns - k 0 [k] 2 ( ( ) ( ) ( ) ) ,4772, LabVIEW-7. EA-/6
17 A mérés célja és feladata Virtuális jelgenerátor mintavételezett gerjesztő jelének vizsgálata egyszerű közé Jelgenerátor Signal generator Mintavételezett jel abszolút közé négyzetes közé A jel adatainak beállítása A mintavételezés beállítása LabVIEW-7. EA-/7
18 Jelek felosztása. Determinisztikus jelek: Matematikai kifejezésekkel leírhatóak és matematikai összefüggésekkel kezelhetők. Sztochasztikus jelek: Matematikai módszerekkel csak részlegesen kezelhetőek. LabVIEW-7. EA-/8
19 Jelek felosztása 2. Sztochasztikus jelek statisztikai jellemzőkkel vázolhatóak: várható érték - idő függvény négyzetes közéérték - idő függvény variancia autokorreláció függvény autokovariancia függvény keresztkorreláció függvény keresztkovariancia függvény LabVIEW-7. EA-/9
20 Jelek felosztása 3. Periodikus jelek: eriódusidő, Fourier sorba fejthetők (szinusz és koszinuszok összegeként felírhatók) Szinuszos jelek: ( t) X cos( ω t + ϕ) LabVIEW-7. EA-/20
21 A/D átalakítók Mintavételezésnek nevezzük, ha egy folyamatos analóg jelből egy adott t 0 időillanatban vagy meghatározott időközönként ( s ) mintát veszünk. A mintavételezés lehet egyenletes (eriodikus), vagy nem egyenletes. A továbbiakban az egyenletes mintavételezés elvi és gyakorlati kérdéseivel foglalkozunk. s LabVIEW-7. EA-/2
22 A/D átalakítók Egy jelből olyan gyakorisággal kell mintát venni, hogy az eredeti jel rerodukálható legyen. A Nyquist - Shannon mintavételi törvénye értelmében a mintavételi frekvenciát úgy kell megválasztani, hogy az nagyobb legyen, mint a mintavételezett analóg jel legnagyobb frekvenciájú összetevőjének a kétszerese. f s > 2 f ma LabVIEW-7. EA-/22
23 A/D átalakítók Szükségszerűen a mintavételezett jelet digitalizálni kell. A minták függőleges tartományokba sorolását kvantálásnak nevezzük. Egy tartomány szélessége a kvantum (Q). A kvantumok száma meghatározza az átalakító kvantálási ontosságát. A kvantumok számát 2 hatványaként adják meg. Így éldául egy 8 bites átalakító azt jelenti, hogy a kvantumok száma 2 8., azaz 256. A méréstechnikában legelterjedtebb átalakítók 2 és 6 bitesek. Ezek az analóg jelet 4096, ill kvantumba osztják. LabVIEW-7. EA-/23
24 A/D átalakítók jellemzői A bemeneti jel tartománya lehet unioláris vagy bioláris. Az összes kvantumhoz tartozó maimális feszültség bemenet: FS (full scale) 2 N kvantum, vagyis uniloáris esetben: 0 - U ma bioláris esetben ±U ma /2. Az egy kvantumhoz tartozó feszültég érteket a legkisebb helyértékű bit alaján határoz-hatjuk meg: LSB (least significant bit): FS/2 N LabVIEW-7. EA-/24
25 A/D átalakítók jellemzői LSB Least Significant Bit (kvantum) MSB Most Significant Bit FS Full Scale LabVIEW-7. EA-/25
26 aertúra idő A mintavételezés frekvenciáját, mint láttuk, egyrészt meghatározza a mintavételezett jel frekvenciája, másrészt felülről korlátozza az átalakítás ideje. Azt az időt, amely egy minta vételezéséhez és digitalizáláshoz szükséges, aertúra időnek nevezzük. Az aertúra idő meghatározza az átalakító maimális mintavételi frekvenciáját. LabVIEW-7. EA-/26
27 A/D átalakítás hibái Offset hiba (javítható) erősítési hiba (javítható) Linearitási hiba (nem javítható) Kódkiesés (nem javítható) LabVIEW-7. EA-/27
28 kvantálási hiba Abszolút kvantálási hiba: H Q ± Q 2 U 2 LSB Relatív kvantálási hiba: h Q H U Q 00% LabVIEW-7. EA-/28
29 kvantálási hiba - élda Legyen egy 2 bites átalakító maimális bementi feszültsége 0V. U FS 0V U LSB 0/2 2 0/4096 2,44mV U MSB 0/2 5V Mekkora a kvantálás hibája, ha ezzel az átalakítóval 8V-ot mérünk? H Q ±2,44mV/2 ±,22mV h Q (, V/ 8 V) 00% ±0,05% teljes skálára (FS full scale) h Q,FS (, V/ 0 V) 00% ±0,022% Mekkora a kvantálás hibája, ha ezzel az átalakítóval 50mV-ot mérünk? h Q (, V/ 0,05 V) 00% ±2,44% Legyen egy 6 bites átalakító H Q U LSB /2(0/65536)/2 ±76µV h Q,FS ( V/ 0 V) 00% ±7,6 0-4 % 50mV-ot mérve h Q ( V/ 0,05 V) 00% ±0,52% LabVIEW-7. EA-/29
30 kvantálás és dinamika zajos jelek esetén a túl kicsire választott Q kvantum érzékelhetően viszi át a zajt a digitális jelre, túl nagy Q kvantum edig kvantálási zaj formájában növeli meg a zajt. otimális esetben a digitális jel zaja ± kvantum élda OP ( osztályontosságú, végkitérés %-nál nem nagyobb hibával mérő) analóg műszer esetén a kvantálást min 7 bites kvantálóval kell elvégezni, mivel 00%/28 0,782< % kvantálási zaj: maimálisan a kvantum fele így az % hibával mérő analóg műszernél a kvantálást követően fellé 00/2560,39% kvantálási zaj is. vagyis, kedvezőtlen esetben a mért érték a valódi értékhez kéest,4% is lehet LabVIEW-7. EA-/30
31 jel- zajviszony a diszkrét szintek kiindulásánál sokszor a jel-zajviszonyt adják meg. az előző esetben,4/00,4 db-ben ez megfelel: 20 lg,4 2,92 db élda: a 65 db-es jel-zajviszonynak 20 lg >65, vagyis > 780 szintű digitális jel tesz eleget. Így bites digitalizáló szükséges. LabVIEW-7. EA-/3
32 LabVIEW 7. grafikus rogram nyelv valódi és virtuális műszerekkel való mérések, jelfeldolgozás LabVIEW-7. EA-/32
33 front anel A rogramozási felületek blokk diagram LabVIEW-7. EA-/33
34 front anel blokk diagram bemenő adatok, araméterek controls, constants kimenő adatok, grafikonok, értékek indicators, constants A feladat grafikus nyelven megírt rogramja, rogram elemek összekacsolása aletták eszköz aletta kontroll aletta függvény aletta LabVIEW-7. EA-/34
35 LabVIEW-data tíusok I LabVIEW-7. EA-/35
36 LabVIEW-data tíusok II LabVIEW-7. EA-/36
37 LabVIEW-data tíusok III LabVIEW-7. EA-/37
38 Virtuális gerjesztő jel előállítása D jelgenerátorral LabVIEW-7. EA-/38
39 Az D jelgenerátor LabVIEW-7. EA-/39
40 Virtuális gerjesztő jel előállítása D jelgenerátorral (Blokk diagram) a LabVIEW-7. EA-/40
41 Virtuális gerjesztő jel előállítása D jelgenerátorral (Front anel) LabVIEW-7. EA-/4
42 Virtuális gerjesztő jel előállítása D jelgenerátorral (Blokk diagram) a samling info kiváltása saját adatokkal b LabVIEW-7. EA-/42
43 Virtuális gerjesztő jel előállítása D jelgenerátorral (Front anel) a samling info kiváltása saját adatokkal LabVIEW-7. EA-/43
44 Virtuális gerjesztő jel előállítása D jelgenerátorral gerjesztő jelalakok azonos araméterek mellett f f f s s n n b n s / s / f n n s / n b buffer size LabVIEW-7. EA-/44
45 D jelgenerátor közéértékei I, egyszerű közéérték/dc value d LabVIEW-7. EA-/45
46 D jelgenerátor közéértékei II, abszolút közéérték/absolute value e LabVIEW-7. EA-/46
47 D jelgenerátor közéértékei III, effektív érték/rms value LabVIEW-7. EA-/47
48 D jelgenerátor közéértékei III, effektív érték/rms value LabVIEW-7. EA-/48
49 Közéértékek a LV rogramban, ala-harmonikus közéértékek LabVIEW-7. EA-/49
50 D jelgenerátor közéértékei, Front anel LabVIEW-7. EA-/50
51 Programozás a front anelen LabVIEW-7. EA-/5
52 Programozás a front anelen LabVIEW-7. EA-/52
53 Programozás a front anelen LabVIEW-7. EA-/53
54 Az. villamos mérés feladatai (LV7-). feladat, Készítsen egyszerű LabVIEW rogramot, amelyben egy Basic Function Generator (D) bemenő aramétereit megadva grafikus megjelenítőn ábrázolja egy eriodikus szinusz (ill. négyszög, háromszög, vagy fűrészfog) jel mintavételezését. Állítson be olyan tengely-osztásokat az ábrázoláson, amivel jól tudja szemléltetni az oktató által megadott araméterű jel és mintavételezett alakjának jellegzetességeit. Jelenítse meg a samling info adatárt és állaítsa meg milyen kacsolat van a jel frekvenciája, a mintavételezési frekvencia és a minták száma között. Mutasson be két esetet és adjon magyarázatot. 2. feladat, Vizsgálja meg hogyan változik a mintavételezett jel különböző átlagértékeinek értéke a mintaszám, a eriódusidő és a eriódusszám függvényében, ehhez 2 hatványai szerint választva az egy eriódushoz tartozó minták számát, vegye fel 2 hatványkitevőinek függvényében a mintákból kaott (egyszerű közé,) abszolút közé (ill. effektív) értékeit és ábrázolja azokat lineáris valamint logaritmikus létékben. 3. feladat, Hasonlítsa össze az előző mintavételezett jelből számított közéértékeket az analóg jelből analitikusan számítható közéértékekkel és adja meg a relatív eltérést százalékban. Állaítsa meg a folytonos idejű eriodikus analóg jel egy eriódusához tartozó azon legkisebb mintáinak számát, amely a mintavételezett jel nulladrendű tartóval történő rekonstrukciója után a jel (egyszerű közé,) abszolút közé (ill. effektív) értékét legalább az oktató által megadott ε% ontossággal állítja elő. Hozzon floy lemezt/usb flash endrive-ot az adatsorok, grafikonok mentéséhez! Készítsen jegyzőkönyvet az oktató által kiválasztott mérésről! LabVIEW-7. EA-/54
55 Irodalom. Szakonyi L. Jelek és Rendszerek I. Pécsi udományegyetem, Szakonyi L. Jelek és Rendszerek, II. Pécsi udományegyetem, Fodor Gy. Jelek és Rendszerek Műegyetemi Kiadó, Schnell L. Jelek és Rendszerek Méréstechnikája I. Műegyetemi Kiadó, LabVIEW-7. EA-/55
56 LV7.mérés alarogramja (Blokk diagram) LabVIEW-7. EA-/56
57 LV7.mérés alarogram (Front anel) LabVIEW-7. EA-/57
58 LV7.mérés rogramja (Blokk diagram) LabVIEW-7. EA-/58
59 LV7.mérés adatok és eredmények (Front anel) LabVIEW-7. EA-/59
60 LV7-. mérési adatok és eredmények 0 2 n n 2 a d a ana log ε( %) 00 a d a an a an Ha offset 0, akkor a a ( n ) an d LabVIEW-7. EA-/60
61 Mérési eredmények LabVIEW-7. EA-/6
Villamos jelek mintavételezése, feldolgozása. LabVIEW 7.1
Villamos jelek mintavételezése, feldolgozása (ellenállás mérés LabVIEW támogatással) LabVIEW 7.1 előadás Dr. Iványi Miklósné, egyetemi tanár LabVIEW-7.1 KONF-5_2/1 Ellenállás mérés és adatbeolvasás Rn
RészletesebbenVillamos jelek mintavételezése, feldolgozása. LabVIEW előadás
Villamos jelek mintavételezése, feldolgozása (ellenállás mérés LabVIEW támogatással) LabVIEW 7.1 2. előadás Dr. Iványi Miklósné, egyetemi tanár LabVIEW-7.1 EA-2/1 Ellenállás mérés és adatbeolvasás Rn ismert
RészletesebbenMintavételezés és AD átalakítók
HORVÁTH ESZTER BUDAPEST MŰSZAKI ÉS GAZDASÁGTUDOMÁNYI EGYETEM JÁRMŰELEMEK ÉS JÁRMŰ-SZERKEZETANALÍZIS TANSZÉK ÉRZÉKELÉS FOLYAMATA Az érzékelés, jelfeldolgozás általános folyamata Mérés Adatfeldolgozás 2/31
RészletesebbenJelgenerálás virtuális eszközökkel. LabVIEW 7.1
Jelgenerálás virtuális eszközökkel (mágneses hiszterézis mérése) LabVIEW 7.1 3. előadás Dr. Iványi Miklósné, egyetemi tanár LabVIEW-7.1 EA-3/1 Folytonos idejű jelek diszkrét idejű mérése A mintavételezési
RészletesebbenKompenzációs kör vizsgálata. LabVIEW 7.1 4. előadás
Kompenzációs kör vizsgálata LabVIEW 7.1 4. előadás Dr. Iványi Miklósné, egyetemi tanár LabVIEW-7.1 EA-4/1 Mágneses hiszterézis mérése előírt kimeneti jel mellett DAQ Rn Un etalon ellenállás etalon ellenállás
RészletesebbenAz Informatika Elméleti Alapjai
Az Informatika Elméleti Alapjai dr. Kutor László Jelek típusai Átalakítás az analóg és digitális rendszerek között http://mobil.nik.bmf.hu/tantargyak/iea.html Felhasználónév: iea Jelszó: IEA07 IEA 3/1
RészletesebbenJelek és rendszerek 1. 10/9/2011 Dr. Buchman Attila Informatikai Rendszerek és Hálózatok Tanszék
Jelek és rendszerek 1 10/9/2011 Dr. Buchman Attila Informatikai Rendszerek és Hálózatok Tanszék 1 Ajánlott irodalom: FODOR GYÖRGY : JELEK ÉS RENDSZEREK EGYETEMI TANKÖNYV Műegyetemi Kiadó, Budapest, 2006
RészletesebbenInformatika Rendszerek Alapjai
Informatika Rendszerek Alapjai Dr. Kutor László Jelek típusai Átalakítás analóg és digitális rendszerek között http://uni-obuda.hu/users/kutor/ IRA 2014 2014. ősz IRA3/1 Analóg jelek digitális feldolgozhatóságának
RészletesebbenVillamos jelek mintavételezése, feldolgozása. Mérésadatgyűjtés, jelfeldolgozás 9. előadás
Villamos jelek mintavételezése, feldolgozása (ellenállás mérés LabVIEW támogatással) Számítógépes mérőrendszerek Mérésadatgyűjtés, jelfeldolgozás 9. előadás Dr. Iványi Miklósné, egyetemi tanár Schiffer
RészletesebbenX. ANALÓG JELEK ILLESZTÉSE DIGITÁLIS ESZKÖZÖKHÖZ
X. ANALÓG JELEK ILLESZTÉSE DIGITÁLIS ESZKÖZÖKHÖZ Ma az analóg jelek feldolgozása (is) mindinkább digitális eszközökkel és módszerekkel történik. A feldolgozás előtt az analóg jeleket digitalizálni kell.
Részletesebben2. gyakorlat Mintavételezés, kvantálás
2. gyakorlat Mintavételezés, kvantálás x(t) x[k]= =x(k T) Q x[k] ^ D/A x(t) ~ ampl. FOLYTONOS idı FOLYTONOS ANALÓG DISZKRÉT MINTAVÉTELEZETT DISZKRÉT KVANTÁLT DIGITÁLIS Jelek visszaállítása egyenköző mintáinak
RészletesebbenAnalóg digitális átalakítók ELEKTRONIKA_2
Analóg digitális átalakítók ELEKTRONIKA_2 TEMATIKA Analóg vs. Digital Analóg/Digital átalakítás Mintavételezés Kvantálás Kódolás A/D átalakítók csoportosítása A közvetlen átalakítás A szukcesszív approximációs
RészletesebbenDigitális jelfeldolgozás
Digitális jelfeldolgozás Mintavételezés és jel-rekonstrukció Magyar Attila Pannon Egyetem Műszaki Informatikai Kar Villamosmérnöki és Információs Rendszerek Tanszék magyar.attila@virt.uni-pannon.hu 2010.
RészletesebbenMérés 3 - Ellenörzö mérés - 5. Alakítsunk A-t meg D-t oda-vissza (A/D, D/A átlakító)
Mérés 3 - Ellenörzö mérés - 5. Alakítsunk A-t meg D-t oda-vissza (A/D, D/A átlakító) 1. A D/A átalakító erısítési hibája és beállása Mérje meg a D/A átalakító erısítési hibáját! A hibát százalékban adja
RészletesebbenBevezetés a méréstechnikába és jelfeldolgozásba 7. mérés RC tag Bartha András, Dobránszky Márk
Bevezetés a méréstechnikába és jelfeldolgozásba 7. mérés 2015.05.13. RC tag Bartha András, Dobránszky Márk 1. Tanulmányozza át az ELVIS rendszer rövid leírását! Áttanulmányoztuk. 2. Húzzon a tartóból két
Részletesebben11. Analóg/digitális (ADC) és Digital/analóg (DAC) átalakítók
1 11. Analóg/digitális (ADC) és Digital/analóg (DAC) átalakítók A digitális jelekkel dolgozó mikroprocesszoros adatgyűjtő és vezérlő rendszerek csatlakoztatása az analóg jelekkel dolgozó mérő- és beavatkozó
RészletesebbenElektronika Előadás. Digitális-analóg és analóg-digitális átalakítók
Elektronika 2 9. Előadás Digitális-analóg és analóg-digitális átalakítók Irodalom - Megyeri János: Analóg elektronika, Tankönyvkiadó, 1990 - U. Tiecze, Ch. Schenk: Analóg és digitális áramkörök, Műszaki
RészletesebbenMintavételezés, jelgenerálás
Mintavételezés, jelgenerálás Mérésadatgyűjtés, jelfeldolgozás előadás Schiffer Ádám, egyetemi adjunktus LabVIEW-7.1 EA-1/1 A mintavételezési paraméterek beállítása f =1/T p, T p /n s / p =T, f s=1/t, f
RészletesebbenMérés és adatgyűjtés
Mérés és adatgyűjtés 4. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2012. február 27. MA - 4. óra Verzió: 2.1 Utolsó frissítés: 2012. március 12. 1/41 Tartalom I 1 Jelek 2 Mintavételezés 3 A/D konverterek
RészletesebbenA/D és D/A átalakítók gyakorlat
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem A/D és D/A átalakítók gyakorlat Takács Gábor Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME) 2013. február 27. ebook ready Tartalom 1 A/D átalakítás alapjai (feladatok)
RészletesebbenAnalóg-digitális átalakítás. Rencz Márta/ Ress S. Elektronikus Eszközök Tanszék
Analóg-digitális átalakítás Rencz Márta/ Ress S. Elektronikus Eszközök Tanszék Mai témák Mintavételezés A/D átalakítók típusok D/A átalakítás 12/10/2007 2/17 A/D ill. D/A átalakítók A világ analóg, a jelfeldolgozás
RészletesebbenFourier-sorfejtés vizsgálata Négyszögjel sorfejtése, átviteli vizsgálata
Fourier-sorfejtés vizsgálata Négyszögjel sorfejtése, átviteli vizsgálata Reichardt, András 27. szeptember 2. 2 / 5 NDSM Komplex alak U C k = T (T ) ahol ω = 2π T, k módusindex. Időfüggvény előállítása
RészletesebbenOrvosi Fizika és Statisztika
Orvosi Fizika és Statisztika Szegedi Tudományegyetem Általános Orvostudományi Kar Természettudományi és Informatikai Kar Orvosi Fizikai és Orvosi Informatikai Intézet www.szote.u-szeged.hu/dmi Orvosi fizika
Részletesebben1. Jelgenerálás, megjelenítés, jelfeldolgozás alapfunkciói
1. Jelgenerálás, megjelenítés, jelfeldolgozás alapfunkciói FELADAT Készítsen egy olyan tömböt, amelynek az elemeit egy START gomb megnyomásakor feltölt a program 1 periódusnyi szinuszosan változó értékekkel.
RészletesebbenAnalóg elektronika - laboratóriumi gyakorlatok
Analóg elektronika - laboratóriumi gyakorlatok. Mûveleti erõsítõk váltakozó-áramú alkalmazásai. Elmélet Az integrált mûveleti erõsítõk váltakozó áramú viselkedését a. fejezetben (jegyzet és prezentáció)
RészletesebbenMéréselmélet és mérőrendszerek 2. ELŐADÁS (1. RÉSZ)
Méréselmélet és mérőrendszerek 2. ELŐADÁS (1. RÉSZ) KÉSZÍTETTE: DR. FÜVESI VIKTOR 2016. 10. Mai témáink o A hiba fogalma o Méréshatár és mérési tartomány M é r é s i h i b a o A hiba megadása o A hiba
RészletesebbenDigitális jelfeldolgozás
Digitális jelfeldolgozás Kvantálás Magyar Attila Pannon Egyetem Műszaki Informatikai Kar Villamosmérnöki és Információs Rendszerek Tanszék magyar.attila@virt.uni-pannon.hu 2010. szeptember 15. Áttekintés
RészletesebbenAnalóg-digitál átalakítók (A/D konverterek)
9. Laboratóriumi gyakorlat Analóg-digitál átalakítók (A/D konverterek) 1. A gyakorlat célja: Bemutatjuk egy sorozatos közelítés elvén működő A/D átalakító tömbvázlatát és elvi kapcsolási rajzát. Tanulmányozzuk
Részletesebben2. Elméleti összefoglaló
2. Elméleti összefoglaló 2.1 A D/A konverterek [1] A D/A konverter feladata, hogy a bemenetére érkező egész számmal arányos analóg feszültséget vagy áramot állítson elő a kimenetén. A működéséhez szükséges
RészletesebbenRC tag Amplitúdó és Fáziskarakterisztikájának felvétele
RC tag Amplitúdó és Fáziskarakterisztikájának felvétele Mérésadatgyűjtés és Jelfeldolgozás 12. ELŐADÁS Schiffer Ádám Egyetemi adjunktus Közérdekű 2008.05.09. PTE PMMK MIT 2 Közérdekű PÓTMÉRÉS: Akinek elmaradása
RészletesebbenHíradástechikai jelfeldolgozás
Híradástechikai jelfeldolgozás 13. Előadás 015. 04. 4. Jeldigitalizálás és rekonstrukció 015. április 7. Budapest Dr. Gaál József docens BME Hálózati Rendszerek és SzolgáltatásokTanszék gaal@hit.bme.hu
Részletesebben1. mérés - LabView 1
1. mérés - LabView 1 Mérést végezte: Bartha András Mérőtárs: Dobránszky Márk Mérés dátuma: 2015. február 18. Mérés helye: PPKE Információs Technológiai és Bionikai Kar A mérés célja: Ismerkedés a Labview
RészletesebbenAnalóg elektronika - laboratóriumi gyakorlatok
Analóg elektronika - laboratóriumi gyakorlatok. Passzív alkatrészek és passzív áramkörök. Elmélet A passzív elektronikai alkatrészek elméleti ismertetése az. prezentációban található. A 2. prezentáció
RészletesebbenRC tag Amplitúdó és Fáziskarakterisztikájának felvétele
RC tag Amplitúdó és Fáziskarakterisztikájának felvétele Mérésadatgyűjtés és Jelfeldolgozás 11. ELŐADÁS Schiffer Ádám Egyetemi adjunktus Közérdekű PÓTMÉRÉS: Akinek elmaradása van, egy mérést pótolhat a
RészletesebbenMéréselmélet és mérőrendszerek
Méréselmélet és mérőrendszerek 6. ELŐADÁS KÉSZÍTETTE: DR. FÜVESI VIKTOR 2016. 10. Mai témáink o A hiba fogalma o Méréshatár és mérési tartomány M é r é s i h i b a o A hiba megadása o A hiba eredete o
RészletesebbenMéréstechnika. Rezgésmérés. Készítette: Ángyán Béla. Iszak Gábor. Seidl Áron. Veszprém. [Ide írhatja a szöveget] oldal 1
Méréstechnika Rezgésmérés Készítette: Ángyán Béla Iszak Gábor Seidl Áron Veszprém 2014 [Ide írhatja a szöveget] oldal 1 A rezgésekkel kapcsolatos alapfogalmak A rezgés a Magyar Értelmező Szótár megfogalmazása
RészletesebbenMérési jegyzőkönyv a 5. mérés A/D és D/A átalakító vizsgálata című laboratóriumi gyakorlatról
Mérési jegyzőkönyv a 5. mérés A/D és D/A átalakító vizsgálata című laboratóriumi gyakorlatról A mérés helyszíne: A mérés időpontja: A mérést végezték: A mérést vezető oktató neve: A jegyzőkönyvet tartalmazó
RészletesebbenÁramkörszámítás. Nyílhurkú erősítés hatása
Áramkörszámítás 1. Thevenin tétel alkalmazása sorba kötött ellenállásosztókra a. két felező osztó sorbakötése, azonos ellenállásokkal b. az első osztó 10k, a következő fokozat 100k ellenállásokból áll
Részletesebben2.11. Feladatok megoldásai
Elektrotechnikai alaismeretek.. Feladatok megoldásai. feladat: Egy szinuszosan változó áram a olaritás váltás után μs múlva éri el első maximumát. Mekkora az áram frekvenciája? T 4 t 4 4µ s f,5 Hz 5 khz
RészletesebbenMutatós műszerek. Lágyvasas műszer. Lapos tekercsű műszerek. Kerek tekercsű műszerek
Mutatós műszerek Lágyvasas műszer Lapos tekercsű műszerek Kerek tekercsű műszerek Lágyvasas műszer Működési elv:mágneses vonzáson és taszításon alapszik 1. Lapos tekercsű műszerek Mágneses vonzáson alapszik
RészletesebbenANTAL Margit. Sapientia - Erdélyi Magyar Tudományegyetem. Jelfeldolgozás. ANTAL Margit. Adminisztratív. Bevezetés. Matematikai alapismeretek.
Jelfeldolgozás 1. Sapientia - Erdélyi Magyar Tudományegyetem 2007 és jeleket generáló és jeleket generáló és jeleket generáló Gyakorlatok - MATLAB (OCTAVE) (50%) Írásbeli vizsga (50%) és jeleket generáló
RészletesebbenIványi László ARM programozás. Szabó Béla 6. Óra ADC és DAC elmélete és használata
ARM programozás 6. Óra ADC és DAC elmélete és használata Iványi László ivanyi.laszlo@stud.uni-obuda.hu Szabó Béla szabo.bela@stud.uni-obuda.hu Mi az ADC? ADC -> Analog Digital Converter Analóg jelek mintavételezéssel
RészletesebbenA mintavételezéses mérések alapjai
A mintavételezéses mérések alapjai Sok mérési feladat során egy fizikai mennyiség időbeli változását kell meghatároznunk. Ha a folyamat lassan változik, akkor adott időpillanatokban elvégzett méréssel
RészletesebbenHázi Feladat. Méréstechnika 1-3.
Házi Feladat Méréstechnika 1-3. Tantárgy: Méréstechnika Tanár neve: Tényi V. Gusztáv Készítette: Fazekas István AKYBRR 45. csoport 2010-09-18 1/1. Ismertesse a villamos jelek felosztását, és az egyes csoportokban
RészletesebbenÉRZÉKELŐK ÉS BEAVATKOZÓK I. 5. A JELFELDOLGOZÁS ALAPJAI: JELEK
ÉRZÉKELŐK ÉS BEAVATKOZÓK I. 5. A JELFELDOLGOZÁS ALAPJAI: JELEK Dr. Soumelidis Alexandros 2018.10.18. BME KÖZLEKEDÉSMÉRNÖKI ÉS JÁRMŰMÉRNÖKI KAR 32708-2/2017/INTFIN SZÁMÚ EMMI ÁLTAL TÁMOGATOTT TANANYAG Mérések
RészletesebbenMilyen elvi mérési és számítási módszerrel lehet a Thevenin helyettesítő kép elemeit meghatározni?
1. mérés Definiálja a korrekciót! Definiálja a mérés eredményét metrológiailag helyes formában! Definiálja a relatív formában megadott mérési hibát! Definiálja a rendszeres hibát! Definiálja a véletlen
RészletesebbenÉRZÉKELŐK ÉS BEAVATKOZÓK I. 6. A MINTAVÉTELI TÖRVÉNY
ÉRZÉKELŐK ÉS BEAVATKOZÓK I. 6. A MINTAVÉTELI TÖRVÉNY Dr. Soumelidis Alexandros 2018.10.25. BME KÖZLEKEDÉSMÉRNÖKI ÉS JÁRMŰMÉRNÖKI KAR 32708-2/2017/INTFIN SZÁMÚ EMMI ÁLTAL TÁMOGATOTT TANANYAG Mintavételezés
RészletesebbenNemzeti Akkreditáló Testület. MÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (1) a NAT /2013 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
Nemzeti Akkreditáló Testület MÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (1) a NAT-2-0306/2013 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz A ROHDE & SCHWARZ Hungária Szolgáltató Kft. Kalibráló laboratóriuma (1138 Budapest,
RészletesebbenElső egyéni feladat (Minta)
Első egyéni feladat (Minta) 1. Készítsen olyan programot, amely segítségével a felhasználó 3 különböző jelet tud generálni, amelyeknek bemenő adatait egyedileg lehet változtatni. Legyen mód a jelgenerátorok
RészletesebbenTörténeti Áttekintés
Történeti Áttekintés Történeti Áttekintés Értesülés, Információ Érzékelő Ítéletalkotó Értesülés, Információ Anyag, Energia BE Jelformáló Módosító Termelőeszköz Folyamat Rendelkezés Beavatkozás Anyag,
RészletesebbenÖNÁLLÓ LABOR Mérésadatgyűjtő rendszer tervezése és implementációja
ÖNÁLLÓ LABOR Mérésadatgyűjtő rendszer tervezése és implementációja Nagy Mihály Péter 1 Feladat ismertetése Általános célú (univerzális) digitális mérőműszer elkészítése Egy- vagy többcsatornás feszültségmérés
RészletesebbenVéletlen jelenség: okok rendszere hozza létre - nem ismerhetjük mind, ezért sztochasztikus.
Valószín ségelméleti és matematikai statisztikai alapfogalmak összefoglalása (Kemény Sándor - Deák András: Mérések tervezése és eredményeik értékelése, kivonat) Véletlen jelenség: okok rendszere hozza
RészletesebbenNemzeti Akkreditáló Testület. RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAT /2013 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
Nemzeti Akkreditáló Testület RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAT-2-0306/2013 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz A ROHDE & SCHWARZ Hungária Szolgáltató Kft. Kalibráló laboratóriuma (1138 Budapest, Madarász
Részletesebben4. mérés Jelek és jelvezetékek vizsgálata
4. mérés Jelek és jelvezetékek vizsgálata (BME-MI, H.J.) Bevezetés A mérési gyakorlat első része a mérésekkel foglalkozó tudomány, a metrológia (méréstechnika) néhány alapfogalmával foglalkozik. A korszerű
RészletesebbenMŰVELETI ERŐSÍTŐS KAPCSOLÁSOK MÉRÉSE (DR. Kovács Ernő jegyzete alapján)
MŰVELETI ERŐSÍTŐS KPCSOLÁSOK MÉRÉSE (DR. Kovács Ernő jegyzete alapján) mérések célja: megismerni a leggyakoribb alap- és alkalmazott műveleti erősítős kapcsolások jellemző tulajdonságait. mérések elméleti
Részletesebben07. mérés Erősítő kapcsolások vizsgálata.
07. mérés Erősítő kapcsolások vizsgálata. A leggyakrabban használt üzemi paraméterek a következők: - a feszültségerősítés Au - az áramerősítés Ai - a teljesítményerősítés Ap - a bemeneti impedancia Rbe
RészletesebbenLabVIEW példák és bemutatók KÉSZÍTETTE: DR. FÜVESI VIKTOR
LabVIEW példák és bemutatók KÉSZÍTETTE: DR. FÜVESI VIKTOR LabVIEW-ról National Instruments (NI) által fejlesztett Grafikus programfejlesztő környezet, méréstechnikai, vezérlési, jelfeldolgozási feladatok
Részletesebben1. ábra. Repülő eszköz matematikai modellje ( fekete doboz )
Wührl Tibor DIGITÁLIS SZABÁLYZÓ KÖRÖK NEMLINEARITÁSI PROBLÉMÁI FIXPONTOS SZÁMÁBRÁZOLÁS ESETÉN RENDSZERMODELL A pilóta nélküli repülő eszközök szabályzó körének tervezése során első lépésben a repülő eszköz
RészletesebbenZ v 1 (t)v 2 (t τ)dt. R 12 (τ) = 1 R 12 (τ) = lim T T. ill. periódikus jelekre:
1 Korrelációs fügvények Hasonlóság mértéke a két függvény szorzatának integrálja Időbeli változások esetén lehet vizsgálni a hasonlóságot a τ relatív időkülönbség szerint: Keresztkorrelációs függvény:
RészletesebbenSzimmetrikus bemenetű erősítők működésének tanulmányozása, áramköri paramétereinek vizsgálata.
El. II. 5. mérés. SZIMMETRIKUS ERŐSÍTŐK MÉRÉSE. A mérés célja : Szimmetrikus bemenetű erősítők működésének tanulmányozása, áramköri paramétereinek vizsgálata. A mérésre való felkészülés során tanulmányozza
RészletesebbenMÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (2) a NAH /2014 nyilvántartási számú (2) akkreditált státuszhoz
MÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (2) a NAH-2-0177/2014 nyilvántartási számú (2) akkreditált státuszhoz A Nemzeti Média- és Hírközlési Hatóság Nemzeti Média- és Hírközlési Hatóság Hivatala Infokommunikációs
Részletesebben1. Metrológiai alapfogalmak. 2. Egységrendszerek. 2.0 verzió
Mérés és adatgyűjtés - Kérdések 2.0 verzió Megjegyzés: ezek a kérdések a felkészülést szolgálják, nem ezek lesznek a vizsgán. Ha valaki a felkészülése alapján önállóan válaszolni tud ezekre a kérdésekre,
RészletesebbenGyakorló többnyire régebbi zh feladatok. Intelligens orvosi műszerek október 2.
Gyakorló többnyire régebbi zh feladatok Intelligens orvosi műszerek 2018. október 2. Régebbi zh feladat - #1 Az ábrán látható két jelet, illetve összegüket mozgóablak mediánszűréssel szűrjük egy 11 pontos
RészletesebbenHangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata
Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. május 7. (hétfő délelőtti csoport) 1. Bevezetés Ebben a mérésben a szilárdtestek rugalmas tulajdonságait vizsgáljuk
RészletesebbenNégyszög - Háromszög Oszcillátor Mérése Mérési Útmutató
ÓBUDAI EGYETEM Kandó Kálmán Villamosmérnöki Kar Híradástechnika Intézet Négyszög - Háromszög Oszcillátor Mérése Mérési Útmutató A mérést végezte: Neptun kód: A mérés időpontja: A méréshez szükséges eszközök:
RészletesebbenNéhány fontosabb folytonosidejű jel
Jelek és rendszerek MEMO_2 Néhány fontosabb folytonosidejű jel Ugrásfüggvény Bármely választással: Egységugrás vagy Heaviside-féle függvény Ideális kapcsoló. Signum függvény, előjel függvény. MEMO_2 1
RészletesebbenKövetkezõ: Lineáris rendszerek jellemzõi és vizsgálatuk. Jelfeldolgozás. Lineáris rendszerek jellemzõi és vizsgálatuk
1 1 Következõ: Lineáris rendszerek jellemzõi és vizsgálatuk Jelfeldolgozás 1 Lineáris rendszerek jellemzõi és vizsgálatuk 2 Bevezetés 5 Kérdések, feladatok 6 Fourier sorok, Fourier transzformáció 7 Jelek
RészletesebbenBevezetés a méréstechinkába, és jelfeldologzásba jegyzőkönyv
Bevezetés a méréstechinkába, és jelfeldologzásba jegyzőkönyv Lódi Péter(D1WBA1) 2015 Március 18. Bevezetés: Mérés helye: PPKE-ITK 3. emeleti 321-es Mérőlabor Mérés ideje: 2015.03.25. 13:15-16:00 Mérés
RészletesebbenE-Laboratórium 5 Közös Emitteres erősítő vizsgálata NI ELVIS-II tesztállomással Mérés menete
E-Laboratórium 5 Közös Emitteres erősítő vizsgálata NI ELVIS-II tesztállomással Mérés menete Mérési feladatok: 1. Egyenáramú munkaponti adatok mérése Tápfeszültség beállítása, mérése (UT) Bázisfeszültség
RészletesebbenMérés és adatgyűjtés
Mérés és adatgyűjtés 5. óra - levelező Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2011. március 18. MA lev - 5. óra Verzió: 1.1 Utolsó frissítés: 2011. április 12. 1/20 Tartalom I 1 Demók 2 Digitális multiméterek
Részletesebben1. ábra A Wien-hidas mérőpanel kapcsolási rajza
Ismeretellenőrző kérdések A mérések megkezdése előtt kérem, gondolja végig a következő kérdéseket, feladatokat! Szükség esetén elevenítse fel ismereteit az ide vonatkozó elméleti tananyag segítségével!
RészletesebbenA KALIBRÁLÓ LABORATÓRIUM LEGJOBB MÉRÉSI KÉPESSÉGE
MTA-MMSZ Kft. Kalibráló Laboratóriuma A KALIBRÁLÓ LABORATÓRIUM LEGJOBB MÉRÉSI KÉPESSÉGE 1. Egyenfeszültség-mérés 1.1 Egyenfeszültség-mérők 0...3 mv 1,5 µv 1.2 Egyenfeszültségű jelforrások - kalibrátorok,
Részletesebben1.1 Számítógéppel irányított rendszerek
Számítógépes irányításelmélet 4. Számítógéppel irányított rendszerek A fejezetnek az a célja, hogy bevezesse a számítógéppel irányított rendszerek alapfogalmait. Bemutatja a folytonos jel mintavételezését,
RészletesebbenÉRZÉKELŐK ÉS BEAVATKOZÓK I. 3. MÉRÉSFELDOLGOZÁS
ÉRZÉKELŐK ÉS BEAVATKOZÓK I. 3. MÉRÉSFELDOLGOZÁS Dr. Soumelidis Alexandros 2018.10.04. BME KÖZLEKEDÉSMÉRNÖKI ÉS JÁRMŰMÉRNÖKI KAR 32708-2/2017/INTFIN SZÁMÚ EMMI ÁLTAL TÁMOGATOTT TANANYAG Mérés-feldolgozás
RészletesebbenA kísérlet, mérés megnevezése célkitűzései: Váltakozó áramú körök vizsgálata, induktív ellenállás mérése, induktivitás értelmezése.
A kísérlet, mérés megnevezése célkitűzései: Váltakozó áramú körök vizsgálata, induktív ellenállás mérése, induktivitás értelmezése. Eszközszükséglet: tanulói tápegység funkcionál generátor tekercsek digitális
RészletesebbenDigitális tárolós oszcilloszkópok
1 Az analóg oszcilloszkópok elsősorban periodikus jelek megjelenítésére alkalmasak, tehát nem teszik lehetővé a nem periodikusan ismétlődő vagy csak egyszeri alkalommal bekövetkező jelváltozások megjelenítését.
RészletesebbenMűveleti erősítők. Előzetes kérdések: Milyen tápfeszültség szükséges a műveleti erősítő működtetéséhez?
Műveleti erősítők Előzetes kérdések: Milyen tápfeszültség szükséges a műveleti erősítő működtetéséhez? Milyen kimenő jel jelenik meg a műveleti erősítő bemeneteire adott jel hatására? Nem invertáló bemenetre
RészletesebbenAnalóg elektronika - laboratóriumi gyakorlatok
Analóg elektronika - laboratóriumi gyakorlatok. Mûveleti erõsítõk egyenáramú jellemzése és alkalmazásai. Elmélet Az erõsítõ fogalmát valamint az integrált mûveleti erõsítõk szerkezetét és viselkedését
RészletesebbenElektronika Oszcillátorok
8. Az oszcillátorok periodikus jelet előállító jelforrások, generátorok. Olyan áramkörök, amelyeknek csak kimenete van, bemenete nincs. Leggyakoribb jelalakok: - négyszög - szinusz A jelgenerálás alapja
RészletesebbenMinden mérésre vonatkozó minimumkérdések
Minden mérésre vonatkozó minimumkérdések 1) Definiálja a rendszeres hibát 2) Definiálja a véletlen hibát 3) Definiálja az abszolút hibát 4) Definiálja a relatív hibát 5) Hogyan lehet az abszolút-, és a
RészletesebbenKiegészítés a Párbeszédes Informatikai Rendszerek tantárgyhoz
Kiegészítés a Párbeszédes Informatikai Rendszerek tantárgyhoz Fazekas István 2011 R1 Tartalomjegyzék 1. Hangtani alapok...5 1.1 Periodikus jelek...5 1.1.1 Időben periodikus jelek...5 1.1.2 Térben periodikus
RészletesebbenNEPTUN-kód: KHTIA21TNC
Kredit: 5 Informatika II. KHTIA21TNC Programozás II. oratórium nappali: 2 ea+ 0 gy+ 0 KMAPR22TNC Dr. Beinschróth József Az aláírás megszerzésnek feltétele: a félév folyamán 2db. ZH mindegyikének legalább
RészletesebbenEGYENÁRAMÚ TÁPEGYSÉGEK
dátum:... a mérést végezte:... EGYENÁRAMÚ TÁPEGYSÉGEK m é r é s i j e g y z k ö n y v 1/A. Mérje meg az adott hálózati szabályozható (toroid) transzformátor szekunder tekercsének minimálisan és maximálisan
RészletesebbenFelvételi vizsga. BME Villamosmérnöki és Informatikai Kar
V Név, azonosító: pont(90): Felvételi vizsga Mesterképzés, villamosmérnöki szak BME Villamosmérnöki és Informatikai Kar 2009. június 8. MEGOLDÁSOK A dolgozat minden lapjára, a kerettel jelölt részre írja
RészletesebbenRC tag mérési jegyz könyv
RC tag mérési jegyz könyv Mérést végezte: Csutak Balázs, Farkas Viktória Mérés helye és ideje: ITK 320. terem, 2016.03.09 A mérés célja: Az ELVIS próbapanel és az ELVIS m szerek használatának elsajátítása,
RészletesebbenMÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (1) a NAH / nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
MÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (1) a NAH-2-0263/2015 1 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz A COMMED TRADE Kft. Kalibráló Laboratórium (1074 Budapest, Vörösmarty u. 3. A. ép.) akkreditált területe
RészletesebbenBeszédinformációs rendszerek 5. gyakorlat Mintavételezés, kvantálás, beszédkódolás. Csapó Tamás Gábor
Beszédinformációs rendszerek 5. gyakorlat Mintavételezés, kvantálás, beszédkódolás Csapó Tamás Gábor 2016/2017 ősz MINTAVÉTELEZÉS 2 1. Egy 6 khz-es szinusz jelet szűrés nélkül mintavételezünk
RészletesebbenGibbs-jelenség viselkedésének vizsgálata egyszer négyszögjel esetén
Matematikai modellek, I. kisprojekt Gibbs-jelenség viselkedésének vizsgálata egyszer négyszögjel esetén Unger amás István B.Sc. szakos matematikus hallgató ungert@maxwell.sze.hu, http://maxwell.sze.hu/~ungert
RészletesebbenZárt mágneskörű induktív átalakítók
árt mágneskörű induktív átalakítók zárt mágneskörű átalakítók felépítésükből következően kis elmozdulások mérésére használhatók megfelelő érzékenységgel. zárt mágneskörű induktív átalakítók mágnesköre
RészletesebbenA digitális jelek időben és értékben elkülönülő, diszkrét mintákból állnak. Ezek a jelek diszkrét értékűek és idejűek.
A digitális hangrögzítés és lejátszás A digitális hangrögzítés és lejátszás az analóg felvételhez és lejátszáshoz hasonló módon történik, viszont a rögzítés módja már nagymértékben eltér. Ezt a folyamatot
RészletesebbenMŰVELETI ERŐSÍTŐS KAPCSOLÁSOK MÉRÉSE (DR. Kovács Ernő jegyzete alapján)
MŰVELETI ERŐSÍTŐS KPCSOLÁSOK MÉRÉSE (DR. Kovács Ernő jegyzete alapján) mérések célja: megismerni a leggyakoribb alap- és alkalmazott műveleti erősítős kapcsolások jellemző tulajdonságait. mérések elméleti
RészletesebbenNemzeti Akkreditáló Testület. RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAT /2015 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
Nemzeti Akkreditáló Testület RÉSZLETEZŐ OKIRAT a NAT-2-0294/2015 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz A C+D AUTOMATIKA Kft. Kalibráló laboratórium (1191 Budapest, Földváry u. 2.) akkreditált területe
RészletesebbenHangtechnika. Médiatechnológus asszisztens
Vázlat 3. Előadás - alapjai Pécsi Tudományegyetem, Pollack Mihály Műszaki Kar Műszaki Informatika és Villamos Intézet Műszaki Informatika Tanszék Ismétlés Vázlat I.rész: Ismétlés II.rész: A digitális Jelfeldolgozás
RészletesebbenMÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (1) a NAH / nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz
MÓDOSÍTOTT RÉSZLETEZŐ OKIRAT (1) a NAH-2-0294/2015 1 nyilvántartási számú akkreditált státuszhoz A C+D AUTOMATIKA Kft. Kalibráló laboratórium (1191 Budapest, Földváry u. 2.) akkreditált területe I. Az
RészletesebbenKANDÓ KÁLMÁN VILLAMOSMÉRNÖKI FŐISKOLAI KAR. Mikroelektronikai és Technológiai Intézet. Aktív Szűrők. Analóg és Hírközlési Áramkörök
KANDÓ KÁLMÁN VILLAMOSMÉRNÖKI FŐISKOLAI KAR Mikroelektronikai és Technológiai Intézet Analóg és Hírközlési Áramkörök Laboratóriumi Gyakorlatok Készítette: Joó Gábor és Pintér Tamás OE-MTI 2011 1.Szűrők
RészletesebbenMérés és adatgyűjtés
Mérés és adatgyűjtés 9. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2012. április 2. MA - 9. óra Verzió: 2.1 Utolsó frissítés: 2012. április 2. 1/42 Tartalom I 1 További műszerek 2 Multifinkciós műszerek
RészletesebbenMintavételezés tanulmányozása. AD - konverzió. Soros kommunikáció
Mintavételezés tanulmányozása. AD - konverzió. Soros kommunikáció A gyakorlat célja A gyakorlat során a dspic30f6010 digitális jelprocesszor Analóg Digital konverterét tanulmányozzuk. A mintavételezett
RészletesebbenFourier térbeli analízis, inverz probléma. Orvosi képdiagnosztika 5-7. ea ősz
Fourier térbeli analízis, inverz probléma Orvosi képdiagnosztika 5-7. ea. 2017 ősz 5. Előadás témái Fourier transzformációk és kapcsolataik: FS, FT, DTFT, DFT, DFS Mintavételezés, interpoláció Folytonos
RészletesebbenDigitális hangtechnika. Segédlet a Kommunikáció-akusztika tanulásához
Digitális hangtechnika Segédlet a Kommunikáció-akusztika tanulásához Miért digitális? A hangminőség szempontjából: a minőség csak az A/D D/A átalakítástól függ, a jelhordozó médiumtól független a felvételek
Részletesebben* Egyes méréstartományon belül, a megengedett maximális érték túllépését a műszer a 3 legkisebb helyi értékű számjegy eltűnésével jelzi a kijelzőn.
I. Digitális multiméter 1.M 830B Egyenfeszültség 200mV, 2, 20,200, 1000V Egyenáram 200μA, 2, 20, 200mA, 10A *!! Váltófeszültség 200, 750V 200Ω, 2, 20, 200kΩ, 2MΩ Dióda teszter U F [mv] / I F =1.5 ma Tranzisztor
Részletesebben