Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS)

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS)"

Átírás

1 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS) Ebben a feezetben a alfeezetben ismertetett alapelenségekre épül néhány alapvet elektronspektroszkópiai módszert szeretnék röviden áttekinteni. A felsoroltakon kívül még számos felületanalitikai technika létezik, itt most csak a munkám során használt, vagy az azokhoz szorosan kötd módszereket említem, az eddigi megfigyelések és az irodalom bsége miatt azonban ezeknél sem törekedhetem a telességre. Az elektronspektroszkópiai módszerek információt szolgáltatnak az anyag fizikai és elektronszerkezetérl, és széles körben alkalmazhatóak szilárd testek felületi kémiai elemzésére. Az elektronok analízisén alapuló, a szilárd minta elemösszetételét és az összetevk kémiai állapotát kutató módszercsaládot szaknyelven ESCA-nak (Elecrton Spectroscopy for Chemical Analysis, magyarul elektronspektroszkópia kémiai analízisre) nevezzük. (Szkebb értelemben az ESCA módszer a röntgen-fotoelektron spektroszkópiát elenti.) Röntgen Fotoelektron Spektroszkópia XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) Röntgensugarak által az anyagból kiváltott elektronok spektroszkópiáa. A módszer lényege, hogy a mintából ismert energiáú röntgensugárzással kiváltott fotoelektron csúcsok energiáinak és intenzitásainak mérésével azonosítuk a mintában elforduló elemeket, esetenként azok kémiai állapotait, valamint következtethetünk azok koncentrációira. A méréseket - ahogy a felsorolásra kerül többi technikában is ultra nagy vákuumban végzik. A konvencionális XPS-ben általában Al, Mg; esetleg más (pl. Cr, Ag, Mo, Cu) anódú röntgencsövek karakterisztikus vonalait használák geresztésként. A kilép elektronok tipikus kinetikus energiáa 50 ev-tól a néhány kev-ig tered. Jó energiafelbontás kívánalma esetén monokromatizált röntgennyalábot alkalmaznak. A konvencionális, röntgenágyús geresztés mellett, az utóbbi idben, a szinkrotron sugárzással történ geresztés is elteredt, amelynek legfbb elnyei, hogy a gereszt röntgennyaláb nagyintenzitású, energiában folytonosan hangolható és polarizált. A

2 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 26 nagy intenzitás lehetvé teszi igen kis energiaszélesség röntgennyaláb monokromátorok segítségével történ elállítását. Az XPS széles körben elteredt, mind ipari, mind alapkutatási célokra rutinszeren használatos analitikai technika. Tipikusan XPS-sel vizsgált problémák pl. a felületi tisztaság ellenrzése, felületi szennyezk meghatározása, vékonyrétegek növekedése, felületi réteg összetételének és vastagságának meghatározása, a felületi összetétel módosulásának monitorozása ötvözetekben, valamint diffúziós, felületi szegregációs, oxidációs, korróziós és katalitikus folyamatok megfigyelése. A fotoelektron vonalak energiáinak eltolódásából következtethetünk az adott elem kémiai állapotára [79-83]. Más technikákkal összehasonlítva, az XPS kiemelkedik a kvantitatív elemösszetétel és kémiai állapot meghatározásának pontosságában és gyorsaságában. A töltött részekkel való geresztéseken alapuló módszerekkel szembeni nagy elnye, hogy kevésbé roncsola a mintát. Hátrányai között meg kell említeni, hogy a módszer nem képes hidrogén detektálására, valamint, mivel a röntgennyaláb a töltött részecske nyalábokhoz képest nehezen formálható, így a ó laterális felbontás elérése az elbbiekhez képest nagyobb nehézségeket és költségeket elent. A kommerciálisan gyártott XPS berendezések között manapság elérhet legobb laterális felbontás 2-5 µm, míg szinkrotron sugárzást alkalmazva ez kb. 20 nm [84]. Szilárd anyagokban a röntgenfotonok rugalmatlan kölcsönhatási közepes szabad úthossza nagyságrendekkel nagyobb az elektronokénál, így megfelel geometriai körülmények esetén általában ó közelítéssel telesül, hogy a beöv röntgennyaláb egyenletesen sugározza be azt a mélységi tartományt, ahonnan a kiváltott fotoelektronok kiuthatnak a mintából. A fotoelektron spektrumban a karakterisztikus csúcsokon kívül megelenik a rugalmatlanul szóródott elektronok áruléka is ( feezet). Mivel a rugalmatlan szórás valószínsége az elektron által az anyagban megtett úthosszal, így a keletkezési mélységgel is, növekszik, ezért a fotoelektron ( rugalmas ) csúcsokban lév elektronok származási helye a felület közeli rétegben van. Ennek a rétegnek a vastagsága tovább csökkenthet, ha mintát megdöntve, a felülethez képest kis szögben kilép elektronokat detektáluk. A fotoelektron csúcsok helyzetébl kvalitatív információt nyerhetünk az elemösszetételre, esetleges eltolódásukból pedig az alkotó atomok kémiai állapotára vonatkozóan. Jó közelítéssel feltehetük, hogy a felület közelében keletkez fotoelektron további ütközések nélkül ut a detektorba. Így a

3 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 27 beérkez foton és a mintából kilép elektron iránya közötti szögtl függ, adott fotonenergiára és atomi alhéra vonatkozó differenciális fotoionizációs hatáskeresztmetszet ismeretében az egyes csúcsok intenzitásából kiindulva kvantitatív elemzés is végezhet. A homogén szilárd minta adott típusú atomainak, adott atomi alhéáról keltett fotoelektronok mért intenzitása közelítleg a I det ( dσ ) ( E, ) c = K λ i( E ) G( E ) ϑ (27) alakban írható. K az adott geometriától és besugárzási körülményektl függ állandó, c az atomi koncentráció, λ i pedig az adott kinetikus energiáú elektron rugalmatlan közepes szabad úthossza az anyagban. Mivel általában a detektált intenzitás relatív értékére van szükség, így K értékét nem kell meghatározni. Ilyenkor elegend λ i energiafüggését ismerni, amelyet a λ i ~E 3/4 arányossággal közelíthetünk. G a spektrométer transzmisszióától és a detektor hatásfokától függ tényez, amely a konstans fékezési arányt alkalmazó spektrométereknél (ld feezet), mint az általam is használt ESA-31 spektrométer, a G = E p η( E p ) ( E E p = k, ahol k a fékezési arány) alakban írható, ahol η a detektor hatásfoka a detektált elektron kinetikus energiáánál, az E p (az analizátoron áthaladó elektron kinetikus energiáa) szorzó pedig az energiaablak változását figyelembe vev korrekció. dσ A ( ) ( E, ϑ) differenciális fotoionizációs hatáskeresztmetszetet a ( dσ σ, tot β ) ϑ = + ( E, ) 1 P [ Cos ϑ ] 2 4π 2 (28) formula íra le, ahol [ x] = 1 ( 3x 2 1) P 2 a másodfokú Legendre-polinom; 2 β pedig a alhé dipól-anizotrópia faktorának (β ), a szilárdtestben bekövetkez rugalmas szórások 5 2 által, a = β ( Z Z ) β tapasztalati összefüggés szerint

4 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 28 módosított értéke [85]. σ, tot a alhé teles fotoionizációs hatáskeresztmetszete, ϑ pedig a röntgen foton és a fotoelektron irányai közötti szög. A fentiek alapán a minta felületi rétegében az adott szolgáltató atomok c koncentrációára a I det fotoelektron intenzitást c E 1.75 η I det dσ ( E) ( ) (29) közelít arányosság adódik. A fotoelektronok energiáának megváltozását kihasználva, a vizsgált elem különböz kémiai állapotaihoz tartozó atomi koncentrációi is meghatározhatóak. A módszer ionmaratással kombinálva mélységi analízist is lehetvé tesz. A fotoelektron spektrum rugalmatlan szórási tartományában lév elektronok a minta felületétl mért nagyobb mélységekbl (néhány IMFP) is származhatnak, ezért itt, az elektronszórás kapcsán leírtakhoz ( feezet) hasonló veszteségi struktúrák figyelhetek meg. Szögfeloldású Röntgen Fotoelektron Spektroszkópia AR-XPS (Angular Resolved XPS) A fent bemutatott XPS technika kiegészíthet a mintából kilép elektronok szögeloszlásának mérésével. A fotoelektron csúcsok intenzitásának szögfüggését tanulmányozva következtethetünk az adott elem koncentrációának mélységi eloszlására. Elfordulhat az is, hogy ugyanaz az elem a mélység függvényében másmás atomokhoz kötdik; a kémiai eltolódást kihasználva ezek között is különbséget tehetünk. A rugalmatlan szórás valószínségének ers mélységfüggése miatt ez technika a néhány λ i mélységi tartományra korlátozódik. Elnye viszont, hogy nem roncsola a mintát. A következkben röviden áttekintem az AR-XPS módszer alapelvét.

5 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 29 Általában a kísérleti körülmények olyanok, hogy a minta, a mérés szempontából laterálisan végtelen kiteredésnek, mélységben pedig félvégtelennek tekinthet. A besugárzás a gytési tartományban homogén. A mintából elektronokat emittáló rész tipikus méreteit mélységben a néhány λ i, (azaz max nm), átmérben pedig a gytési folt (100µm-2mm) felületre es vetülete szabák meg. (8. ábra) Ez azt elenti, hogy a minta emittáló részének a térfogata a θ szög változtatásával 1/Cosθ szerint n, amit a detektorba utó intenzitás modellezésénél figyelembe kell venni. Els közelítésben feltesszük, hogy a mintában keletkezett fotoelektron, amennyiben nem szenved rugalmatlan szórást, (a spektrumban ezzel a rugalmas fotoelektron csúcson kívülre kerülve,) további eltérülés nélkül, egyenes pályán távozik az anyagból. (A rugalmas szórás hatásának figyelembevételére Monte-Carlo módszeren alapuló elárások léteznek, ezeket itt most nem részletezem. Egy ilyen található a [86] referenciában.) Szintén feltesszük, hogy a gytési foltról a detektorba utható elektronok szögszórása elhanyagolhatóan kicsi. A minta z mélységében egy adott dv térfogatelemében keltett elektronok által a detektorba kerül di intenzitás: di( ( d ) z σ ( E, θ ) G( E ) Exp λ Cosθ dv z, θ ) = K c( z ), (30) A 0 8. ábra: AR-XPS mérés sematikus raza θ ahol c(z) az elem koncentrációa a z mélységben, λ az emittált elektron rugalmatlan közepes szabad úthossza az anyagban, ( d ) σ és G az elem adott átmenetére vonatkozó differenciális fotoionizációs hatáskeresztmetszete, ill. a spektrométer transzmisszióától és a detektor hatásfokától függ tényez, az elz pontban leírtak szerint. Mivel explicite feltételezzük, hogy a koncentráció csak a mélységtl függ, (legalábbis a gytési tartományban), azaz réteges szerkezet mintát vizsgálunk, A0 dv = dz írható. Cosθ

6 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 30 A mérhet intenzitás ezután a (30) egyenlet mélység szerinti integrálásával adódik: ( dσ ) K A0 G I( ) = λ Cos θ c( z ) e θ dz, (31) Cosθ 0 z azaz az I(θ) függvény c(z) Laplace-transzformálta. A gyakorlatban c(z)-re, az egyenlet inverzére van szükségünk. Auger Elektron Spektroszkópia AES (Auger Electron Spectroscopy) Az AES, az XPS-hez hasonlóan, kvalitatív és kvantitatív felületanalízisre használatos technika, amely a mintából kilép Auger elektronok analízisén alapszik. Gereszt forrásként általában elektronnyalábot, ritkábban más töltött- vagy semleges részecske nyalábot használnak. Az összetételre vonatkozó információk itt is kiegészülhetnek az adott atom kémiai környezetére vonatkozókkal. A konvencionális AES módszer 3-5 kev primer energiáú elektronok általi Auger átmenetek geresztésén alapszik. Az elektronnyaláb tipikus árama a na, foltmérete a mikrométer tartományban mozog. Az elvet a pásztázó Auger-mikroszkópiában (SAM, Scanning Auger Microscopy) is alkalmazzák, ott a obb (kb nm) laterális feloldás érdekében általában a nagyobb, kb kev-es kinetikus energia tartományban. Az AES alkalmazásával leggyakrabban vizsgált problémák a felülettisztaság monitorozása, gázok ad- és deszorpcióa, vékonyrétegek növekedése, oxidációs- és korróziós folyamatok megfigyelése, a katalitikus aktiválás, a felületi és szemcsehatár szegregáció, a felületi- és térfogati diffúzió nyomon követése. Nagy gyakorlati elentsége van az ionmarással kombinált, destruktív mélységi profilírozásra használatos AES technikának [87, 88]. A más technikákkal való összehasonlítás kapcsán az AES módszer legfbb elnyei a gyorsasága és a ó laterális felbontás (~ 10 nm) elérhetsége. Könnyen és ól kombinálható ionmarással és pásztázó üzemmóddal. Hátrányai között a viszonylag magas kimutathatósági határ (0.1 atom %), az XPS-nél nehezebb kvantitatív

7 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 31 kiértékelhetség és a primer elektronnyaláb által indukált roncsolási hatások említendek. Történeti szempontból fontos megemlíteni a differenciális spektrum rögzítési technikát, ami a mérsékelt energiafelbontású Auger spektrumokban elents árulékot adó szórt elektronok által okozott, az energiával nem, vagy csak nagyon lassan változó hozamú háttér kiküszöbölése miatt volt szükséges. A differenciális elektron spektrumok felvételekor nem a detektált elektronok számát, hanem annak változását (dn/de) ábrázolták, mint az elektron energia függvényét. Az összetétel kvalitatív analízise a mintában elfordulható elemek beazonosítható, ismert kinetikus energiáú Auger csúcsának mérését teszi szükségessé. Kvantitatív elemanalízis, az Auger intenzitások pontos ismeretének híán, csak nehezen, kísérleti közelítések figyelembevételével valósítható meg [89, 90]. Speciális esetekben a mérni kívánt minta és a belle készült standard közti relatív intenzitások összehasonlítása néhány százalékos pontosság elérését teszi lehetvé. A rétegszerkezet kvalitatív analízisére ad lehetséget egy adott elem különböz energiáú Auger vonalainak egyide mérése. Az elektronnyaláb és a felület közötti szög változtatása mellett felvett spektrumok is érzékenyek a rétegszerkezetre valamint a felületi topográfiára [91]. Röntgengeresztés AES XAES (X-ray induced AES) Mivel röntgensugárral történ geresztés során belshé vakanciákat hozunk létre, ezek pedig adott valószínséggel Auger folyamat során is betöltdhetnek ( feezet), az XPS spektrum megfelel kinetikus energiatartományában az adott anyag Auger átmenetei is elentkeznek. Mivel csupán az Auger folyamat létreöttét biztosító kezdeti vakancia megléte fontos, így itt az XPS-nél említett geresztési módszereken kívül hagyományos, monokromátor nélküli röntgencsövekbl származó, az adott nívó geresztési küszöbét meghaladó energiáú fékezési sugárzás is használható. A módszer az XPS-hez és AES-hez hasonlóan szintén kombinálható ionmarással. Laterális felbontást illeten a gereszt források megegyezése miatt a XAES módszer az XPS-hez hasonló, kereskedelmi forgalomban kapható berendezések esetében 2-5 µm, szinkrotron sugárzás használatával akár a 20 nm felbontást is elérheti.

8 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 32 A röntgen fotonokkal történ geresztés elnye az elektrongeresztéshez képest, hogy így sokkal kisebb a nyaláb roncsoló hatása, valamint a fotoelektron és Auger vonalak egyide mérésével pontosan meghatározható az Auger-paraméter értéke ( feezet), melynek mérésével lehetség van a kémiai kötésekre vonatkozó információ kinyerésére [89, 92]. A vizsgált elem kémiai állapotára az általa kibocsátott Auger vonalak kémiai eltolódásából [93, 79, 81, 83, 94, 95], a lokális elektronállapot srségre vonatkozóan pedig a törzs-valencia Auger vonalak alakából kaphatunk információt [96-99]. Elektron Energiaveszteségi Spektroszkópia EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy) Az anyagba behatoló és ott rugalmatlanul szóródó elektronok információt hordoznak az anyag összetételére és a benne lév atomok kémiai állapotára nézve. Az elektron energiaveszteségi spektroszkópia ezen elektronok megfigyelésével foglalkozik. Kísérletileg alapveten két különböz geometriai elrendezést különböztetünk meg: a transzmissziós és a visszaszórási esetet. Az elbbinél a mintának vékony filmnek kell lennie, hogy azon az elektronok néhány ütközés után még nagy valószínséggel át tudanak hatolni. Ehhez tipikusan 30 kev, vagy annál nagyobb kinetikus energiáú elektronokat használnak. Az alkalmazások szempontából fontosak azonban azok az esetek is, amikor a mintából nem készíthet kellen vékony öntartó fólia, vagy a kísérleti berendezésünk nem teszi lehetvé a transzmissziós mód használatát. Ilyenkor alkalmazhatuk a visszaszórt elektronok veszteségi spektroszkópiáát, a REELS-t (Reflected EELS). Mivel a rugalmatlan szórás szögeloszlásában ersen preferált a beérkez elektron által megszabott irány, így plauzíbilis feltételezés, hogy egy ebben a geometriában leátszódó visszaszórás során nagy valószínséggel elen van legalább egy rugalmas szórási esemény is. A REELS esetén, a transzmissziós esethez képest kisebb elektron energiákat is alkalmazhatunk. A veszteségi spektrum-szakasz kialakulásában (ld feezet) szerepet átszó szórási események szerint megkülönböztethetünk az atomtörzs elektronainak geresztésével áró veszteségekkel (CEELS, Core-level EELS) és valencia-sáv veszteségekkel (VEELS, Valence-band EELS) foglalkozó spektroszkópiai módszert.

9 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 33 A CEELS esetében a bombázó elektronok tipikus kinetikus energiáa ev, amelyet mindig a vizsgálni kívánt törzsi geresztés energiaküszöbe határoz meg. Az elektron-elektron geresztések által létrehozott spektrális struktúra a veszteségi spektrumban, a kötési energiának megfelel helyen egy lépcs, kisebb energiáknál pedig egy széles, elkent váll. A veszteségek tipikus energiatartománya a néhányszor 10 ev-tól a pár kev-ig tered. A CEELS f felhasználási területét az ada, hogy a bombázás során lehetség van egy törzsi elektronnak a gyengén kötött, de még lokalizált végállapotba történ geresztésére, segítségével így lehetség nyílik a valenciasáv be nem töltött elektron-állapotsrségének feltérképezésére. Az elektronnyaláb mikrofókuszálásával és pásztázással lehetség van ó laterális felbontás elérésére. A veszteségi spektrum VEELS részének megfigyelésére a konvencionális veszteségi spektroszkópiában a kisebb, ev-os primer elektron energia tartományt használák. Nagyobb kinetikus energiáú foto- vagy Auger elektronok veszteségi spektrumának értelmezéséhez azonban ezt az energiatartományt a magasabb energiák felé, 8-10 kev-ig ki kell bvíteni. A VEELS-ben keletkez veszteségek tipikusan pár ev pár 10 ev-osak, amelyek alapveten két folyamatból származhatnak: a valenciasávon belüli átmenetek geresztésébl (néhány elektronvoltos veszteségek), vagy a szabad elektronok kollektív rezgésének, a plazmonoknak a keltésébl (néhány 10 ev). A relatíve széles plazmon csúcsok miatt ez a módszer nem kíván nagyon ó energiafelbontást; tipikusan evos felbontás elegend. A VEELS technikát általában más, elemanalízisre alkalmasabb technikák, pl. XPS, AES vagy XAES, kiegészít módszereként alkalmazzák. A nagy felületi érzékenysége miatt azonban a felületi oxidáció megfigyelésére sokkal alkalmasabb, mint az AES vagy XPS [100]. A felületi és térfogati plazmonok intenzitásarányának és a felületi plazmon energiáának változásából következtethetünk a felületi réteg oxidációára (ld feezet). A bombázó elektronok kinetikus energiáának és becsapódási szögének alkalmas megválasztásával elérhet, hogy csak a legfels atomi rétegekbl kapunk számottev spektrum árulékot. Ehhez a kinetikus energiát úgy kell megválasztani, hogy ott az IMFP minimális legyen [101]. Külön megemlítend a nagyon kis, mindössze néhány elektronvolt kinetikus energiáú bombázó elektronok veszteségi spektrumának analízisén alapuló, ún. nagy

10 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 34 energiafelbontású elektron energiaveszteségi spektroszkópia (HREELS, High Resolution EELS) [102, 103]. A módszer céla a felületen megkötött gázok vibrációs geresztéseinek megfigyelése. A tipikus geresztési energiák kb. 3 ev alatt vannak. A kis veszteségek miatt ez a módszer az elzektl lényegesen nagyobb energiafelbontást, a kis kinetikus energiák miatt pedig speciális kísérleti technikát (pl. nagyon ó mágneses árnyékolás, ó vákuum) kíván.

Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge

Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge doktori (PhD) értekezés tézisei abstracts of Ph.D. thesis Egri Sándor

Részletesebben

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása

Részletesebben

Modern fizika laboratórium

Modern fizika laboratórium Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid

Részletesebben

3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL

3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL 3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL A gamma-sugárzás elektromágneses sugárzás, amely vákuumban fénysebességgel terjed. Anyagba ütközve kölcsönhatásba lép az anyag alkotóelemeivel,

Részletesebben

Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel. Cserny István

Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel. Cserny István Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel Cserny István Debrecen, 2005 Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópja

A nanotechnológia mikroszkópja 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június

Részletesebben

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

Részletesebben

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT 6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP

Részletesebben

2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása

2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 35 2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása Az ATOMKI ESA-31 jel spektrométere Méréseim egy részét az ATOMKI-ban, az Atomfizikai

Részletesebben

Ricz Sándor. MTA Atommagkutató Intézete. SZFKI, Budapest 2013. 12. 10

Ricz Sándor. MTA Atommagkutató Intézete. SZFKI, Budapest 2013. 12. 10 Aszimmetrikus fotoelektron emisszió foton- atom és foton-h molekula kölcsönhatásban Ricz Sánor MTA Atommagkutató Intézete SZFKI, Buapest 013. 1. 10 Tartalom I. Fotoelektronok ifferenciális hatáskeresztmetszete

Részletesebben

Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze

Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Ritvayné Szomolányi Mária Frombach Gabriella VITUKI CONSULT Zrt. A távérzékelés segítségével: különböz6 magasságból, tetsz6leges id6ben és a kívánt hullámhossz tartományokban

Részletesebben

1. Katalizátorok elemzése XRF módszerrel Bevezetés A nehézfémek okozta környezetterhelés a XX. század közepe óta egyre fontosabb problémává válik. Egyes nehézfémek esetében az emberi tevékenységekből eredő

Részletesebben

3 He ionokat pedig elektron-sokszorozóval számlálja. A héliummérést ismert mennyiségű

3 He ionokat pedig elektron-sokszorozóval számlálja. A héliummérést ismert mennyiségű Nagytisztaságú 4 He-es izotóphígítás alkalmazása vízminták tríciumkoncentrációjának meghatározására a 3 He leányelem tömegspektrométeres mérésén alapuló módszerhez Az édesvízkészletek felmérésében, a rétegvizek

Részletesebben

Részecske azonosítás kísérleti módszerei

Részecske azonosítás kísérleti módszerei Részecske azonosítás kísérleti módszerei Galgóczi Gábor Előadás vázlata A részecske azonosítás létjogosultsága Részecske azonosítás: Módszerek Detektorok ALICE-ból példa A részecskeazonosítás létjogosultsága

Részletesebben

Modern fizika vegyes tesztek

Modern fizika vegyes tesztek Modern fizika vegyes tesztek 1. Egy fotonnak és egy elektronnak ugyanakkora a hullámhossza. Melyik a helyes állítás? a) A foton lendülete (impulzusa) kisebb, mint az elektroné. b) A fotonnak és az elektronnak

Részletesebben

Elektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47

Elektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 Elektronmikroszkópia Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 x Miért van szükség elektronmikroszkópra? intenzitásprofil képernyő apertúra Egy fénnyel

Részletesebben

Mézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19.

Mézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. és lézerek Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. Fény és anyag kölcsönhatása 2 / 19 Fény és anyag kölcsönhatása Fény és anyag kölcsönhatása E 2 (1) (2) (3) E 1 (1) gerjesztés (2) spontán

Részletesebben

Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel

Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Fürjes Andor Tamás BME Híradástechnikai Tanszék Kép- és Hangtechnikai Laborcsoport, Rezgésakusztika Laboratórium 1 Tartalom A geometriai akusztika

Részletesebben

Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia

Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés A pásztázó (scanning) elektronmikroszkópot (SEM), és röntgensugaras kémiai elemzésre

Részletesebben

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal 1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás

Részletesebben

Mérés és adatgyűjtés

Mérés és adatgyűjtés Mérés és adatgyűjtés 7. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2013. április 11. MA - 7. óra Verzió: 2.2 Utolsó frissítés: 2013. április 10. 1/37 Tartalom I 1 Szenzorok 2 Hőmérséklet mérése 3 Fény

Részletesebben

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István OPTIKA Fénykibocsátás mechanizmusa Dr. Seres István Bohr modell Niels Bohr (19) Rutherford felfedezte az atommagot, és igazolta, hogy negatív töltésű elektronok keringenek körülötte. Niels Bohr Bohr ezt

Részletesebben

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei GazdálkodásimodulGazdaságtudományismeretekI.Közgazdaságtan KÖRNYEZETGAZDÁLKODÁSIMÉRNÖKIMScTERMÉSZETVÉDELMIMÉRNÖKIMSc Tudományos kutatásmódszertani, elemzési és közlési ismeretek modul Adatgyőjtés, mérési

Részletesebben

Szilárdtestek el e ek e tr t o r n o s n zer e k r ez e et e e t

Szilárdtestek el e ek e tr t o r n o s n zer e k r ez e et e e t Szilárdtestek elektronszerkezete Kvantummechanikai leírás Ismétlés: Schrödinger egyenlet, hullámfüggvény, hidrogén-atom, spin, Pauli-elv, periódusos rendszer 2 Szilárdtestek egyelektron-modellje a magok

Részletesebben

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses

Részletesebben

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása Nyomaték (x 0 Nm) O k t a t á si Hivatal A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása./ A mágnes-gyűrűket a feladatban meghatározott sorrendbe és helyre rögzítve az alábbi táblázatban feltüntetett

Részletesebben

Fizikai kémia és radiokémia labor II, Laboratóriumi gyakorlat: Spektroszkópia mérés

Fizikai kémia és radiokémia labor II, Laboratóriumi gyakorlat: Spektroszkópia mérés Fizikai kémia és radiokémia labor II, Laboratóriumi gyakorlat: Spektroszkópia mérés A gyakorlatra vigyenek magukkal pendrive-ot, amire a mérési adatokat átvehetik. Ajánlott irodalom: P. W. Atkins: Fizikai

Részletesebben

Óriásrezonanciák vizsgálata és neutronbőr-vastagság mérések a FAIR gyorsítónál

Óriásrezonanciák vizsgálata és neutronbőr-vastagság mérések a FAIR gyorsítónál Óriásrezonanciák vizsgálata és neutronbőr-vastagság mérések a FAIR gyorsítónál (Repülési-idő neutron spektrométer fejlesztése az Atomki-ban az EXL és az R3B együttműködésekhez) A töltéscserélő reakciókat

Részletesebben

Thomson-modell (puding-modell)

Thomson-modell (puding-modell) Atommodellek Thomson-modell (puding-modell) A XX. század elejére világossá vált, hogy az atomban található elektronok ugyanazok, mint a katódsugárzás részecskéi. Magyarázatra várt azonban, hogy mi tartja

Részletesebben

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz A fotonok az elektromágneses sugárzás hordozó részecskéi. Spinkvantumszámuk S=, tehát kvantumstatisztikai szempontból bozonok. Fotonoknak habár a spinkvantumszámuk,

Részletesebben

Gamma-spektrometria HPGe detektorral

Gamma-spektrometria HPGe detektorral Gamma-spektrometria HPGe detektorral 1. Bevezetés A gamma-spektrometria az atommagból valamilyen magfolyamat következtében (radioaktív bomlás, mesterséges vagy természetes magreakció) kilépő gamma sugárzás

Részletesebben

1. Atomspektroszkópia

1. Atomspektroszkópia 1. Atomspektroszkópia 1.1. Bevezetés Az atomspektroszkópia az optikai spektroszkópiai módszerek csoportjába tartozó olyan analitikai eljárás, mellyel az anyagok elemi összetételét határozhatjuk meg. Az

Részletesebben

NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja

NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja László András Wigner Fizikai Kutatóintézet, Részecske- és Magfizikai Intézet 1 Kivonat Az erősen kölcsönható anyag és fázisai Megfigyelések a fázisszerkezettel

Részletesebben

Az atomi környezet hatása a rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetekre Az OTKA 67873 sz. kutatási pályázat zárójelentése

Az atomi környezet hatása a rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetekre Az OTKA 67873 sz. kutatási pályázat zárójelentése Az atomi környezet hatása a rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetekre Az OTKA 67873 sz. kutatási pályázat zárójelentése Rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetek 3d átmeneti fémekben és ötvözeteikben

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

A RÖNTGENSUGÁRZÁS HATÁSA HÉTKÖZNAPJAINKRA

A RÖNTGENSUGÁRZÁS HATÁSA HÉTKÖZNAPJAINKRA A RÖNTGENSUGÁRZÁS HATÁSA HÉTKÖZNAPJAINKRA Faigel Gyula MTA Szilárdtestfizikai és Optikai Kutató Intézet 1. ábra. Példa atomok kristályrácsba történô rendezôdésére. Az atomok a kockák csúcsaiban helyezkednek

Részletesebben

A CSEPEL MŰVEK TALAJAINAK NEHÉZFÉM SZENNYEZETTSÉGE. Készítette: Szabó Tímea, Környezettudomány MSc Témavezető: Dr. Óvári Mihály, egyetemi adjunktus

A CSEPEL MŰVEK TALAJAINAK NEHÉZFÉM SZENNYEZETTSÉGE. Készítette: Szabó Tímea, Környezettudomány MSc Témavezető: Dr. Óvári Mihály, egyetemi adjunktus A CSEPEL MŰVEK TALAJAINAK NEHÉZFÉM SZENNYEZETTSÉGE Készítette: Szabó Tímea, Környezettudomány MSc Témavezető: Dr. Óvári Mihály, egyetemi adjunktus Bevezetés a talaj hazánk egyik legfontosabb erőforrása

Részletesebben

XXXVIII. KÉMIAI ELŐADÓI NAPOK

XXXVIII. KÉMIAI ELŐADÓI NAPOK Magyar Kémikusok Egyesülete Csongrád Megyei Csoportja és a Magyar Kémikusok Egyesülete rendezvénye XXXVIII. KÉMIAI ELŐADÓI NAPOK Program és előadás-összefoglalók Szegedi Akadémiai Bizottság Székháza Szeged,

Részletesebben

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. A sugárzáson alapuló hőmérsékletmérés (termográfia),azt a fizikai jelenséget használja fel, hogy az abszolút nulla K hőmérséklet (273,16

Részletesebben

Röntgensugárzás 9/21/2014. Röntgen sugárzás keltése: Röntgen katódsugárcső. Röntgensugárzás keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás

Röntgensugárzás 9/21/2014. Röntgen sugárzás keltése: Röntgen katódsugárcső. Röntgensugárzás keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás 9/1/014 Röntgen Röntgen keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken on December 1895 and presented

Részletesebben

MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson. Kató Zoltán, Pálfalvi József

MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson. Kató Zoltán, Pálfalvi József MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson Kató Zoltán, Pálfalvi József Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló 2010 A Matroshka kísérletek: Az Európai Űrügynökség (ESA) dozimetriai programjának

Részletesebben

Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása

Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása Egy molekula nemcsak haladó mozgást végez, de az atomjai (atomcsoportjai) egymáshoz képest is állandó mozgásban vannak. Tételezzünk fel egy olyan mechanikai

Részletesebben

Magfizika tesztek. 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem

Magfizika tesztek. 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem 2. Mit nevezünk az atom tömegszámának? a) a protonok számát b) a neutronok számát c) a protonok és neutronok

Részletesebben

NEUTRON-DETEKTOROK VIZSGÁLATA. Mérési útmutató BME NTI 1997

NEUTRON-DETEKTOROK VIZSGÁLATA. Mérési útmutató BME NTI 1997 NEUTRON-DETEKTOROK VIZSGÁLATA Mérési útmutató Gyurkócza Csaba, Balázs László BME NTI 1997 Tartalomjegyzék 1. Bevezetés 3. 2. Elméleti összefoglalás 3. 2.1. A neutrondetektoroknál alkalmazható legfontosabb

Részletesebben

Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással. Erdélyi Zoltán

Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással. Erdélyi Zoltán Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással Erdélyi Zoltán Debreceni Egyetem, Szilárdtest Fizika Tanszék Erdélyi Zoltán ESS minikonferencia 1

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Dankházi Zoltán 2013. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok

Részletesebben

3. RADIOAKTÍV MINTÁK AKTIVITÁSÁNAK MEGHATÁROZÁSA

3. RADIOAKTÍV MINTÁK AKTIVITÁSÁNAK MEGHATÁROZÁSA 3. RADIOAKTÍV MINTÁK AKTIVITÁSÁNAK MEGHATÁROZÁSA 1. Az aktivitásmérés jelentosége Modern világunk mindennapi élete számtalan helyen felhasználja azokat az ismereteket, amelyekhez a fizika az atommagok

Részletesebben

Lakos István WESSLING Hungary Kft. Zavaró hatások kezelése a fémanalitikában

Lakos István WESSLING Hungary Kft. Zavaró hatások kezelése a fémanalitikában Lakos István WESSLING Hungary Kft. Zavaró hatások kezelése a fémanalitikában AAS ICP-MS ICP-AES ICP-AES-sel mérhető elemek ICP-MS-sel mérhető elemek A zavarások felléphetnek: Mintabevitel közben Lángban/Plazmában

Részletesebben

RADIOAKTÍV HULLADÉKOK MINŐSÍTÉSE A PAKSI ATOMERŐMŰBEN

RADIOAKTÍV HULLADÉKOK MINŐSÍTÉSE A PAKSI ATOMERŐMŰBEN RADIOAKTÍV HULLADÉKOK MINŐSÍTÉSE A PAKSI ATOMERŐMŰBEN Bujtás T., Ranga T., Vass P., Végh G. Hajdúszoboszló, 2012. április 24-26 Tartalom Bevezetés Radioaktív hulladékok csoportosítása, minősítése A minősítő

Részletesebben

A derivált arány és a polár minsít rendszer kiértékelése adatelemzési szempontból gyógyszeripari tabletták transzmittancia adatainak felhasználásával

A derivált arány és a polár minsít rendszer kiértékelése adatelemzési szempontból gyógyszeripari tabletták transzmittancia adatainak felhasználásával A derivált arány és a polár minsít rendszer kiértékelése adatelemzési szempontból gyógyszeripari tabletták transzmittancia adatainak felhasználásával Norris K.H. a Seregély Zs. b és Kaffka K.J. c a konzultáns,

Részletesebben

I. DOZIMETRIAI MENNYISÉGEK ÉS MÉRTÉKEGYSÉGEK

I. DOZIMETRIAI MENNYISÉGEK ÉS MÉRTÉKEGYSÉGEK 1 I. DOZIMETRIAI MENNYISÉGEK ÉS MÉRTÉKEGYSÉGEK 1) Iondózis/Besugárzási dózis (ro: Doza de ioni): A leveg egy adott V térfogatában létrejött ionok Q össztöltésének és az adott térfogatban található anyag

Részletesebben

Biofizika tesztkérdések

Biofizika tesztkérdések Biofizika tesztkérdések Egyszerű választás E kérdéstípusban A, B,...-vel jelölt lehetőségek szerepelnek, melyek közül az egyetlen megfelelőt kell kiválasztani. A választ írja a kérdés előtt lévő kockába!

Részletesebben

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 12. mérés: Infravörös spektroszkópia. 2008. május 6.

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 12. mérés: Infravörös spektroszkópia. 2008. május 6. Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 12. mérés: Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 28. május 13. A mérést végezte: 1/5 A mérés célja A mérés célja az

Részletesebben

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika

Részletesebben

GÁZIONIZÁCIÓS DETEKTOROK VIZSGÁLATA. Mérési útmutató. Gyurkócza Csaba

GÁZIONIZÁCIÓS DETEKTOROK VIZSGÁLATA. Mérési útmutató. Gyurkócza Csaba GÁZIONIZÁCIÓS DETEKTOROK VIZSGÁLATA Mérési útmutató Gyurkócza Csaba BME NTI 1997 2 Tartalom 1. BEVEZETÉS... 3 2. ELMÉLETI ÖSSZEFOGLALÁS... 3 2.1. Töltéshordozók keletkezése (ionizáció) töltött részecskéknél...

Részletesebben

41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése

41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése készült az UElektronikai gyártás és minıségbiztosításu c. tárgy elıadásainak diáiból 41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése 1.Mik a teljeskörő minıségszabályozás (=TQM)

Részletesebben

Képrekonstrukció 3. előadás

Képrekonstrukció 3. előadás Képrekonstrukció 3. előadás Balázs Péter Képfeldolgozás és Számítógépes Grafika Tanszék Szegedi Tudományegyetem Computed Tomography (CT) Elv: Röntgen-sugarak áthatolása 3D objektum 3D térfogati kép Mérések

Részletesebben

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18.

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18. Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 28. március 18. A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 28. március 26. A mérést végezte: 1/7 A mérés leírása:

Részletesebben

Al-Mg-Si háromalkotós egyensúlyi fázisdiagram közelítő számítása

Al-Mg-Si háromalkotós egyensúlyi fázisdiagram közelítő számítása l--si háromalkotós egyensúlyi fázisdiagram közelítő számítása evezetés Farkas János 1, Dr. Roósz ndrás 1 doktorandusz, tanszékvezető egyetemi tanár Miskolci Egyetem nyag- és Kohómérnöki Kar Fémtani Tanszék

Részletesebben

Deme Sándor MTA EK. 40. Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló, 2015. április 21-23.

Deme Sándor MTA EK. 40. Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló, 2015. április 21-23. A neutronok személyi dozimetriája Deme Sándor MTA EK 40. Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló, 2015. április 21-23. Előzmény, 2011 Jogszabályi háttér A személyi dozimetria jogszabálya (16/2000

Részletesebben

EGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS. Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára

EGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS. Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára EGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára Zagyvai Péter - Osváth Szabolcs Bódizs Dénes BME NTI, 2008 1. Bevezetés Az izotópok stabilak vagy radioaktívak

Részletesebben

ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén

ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén ESR-spektrumok különbözı kísérleti körülmények között A számítógépes értékelés alapjai anizotróp kölcsönhatási tenzorok esetén A paraméterek anizotrópiája egykristályok rögzített tengely körüli forgatásakor

Részletesebben

Szójabab és búza csírázási folyamatainak összehasonlítása NIR spektrumok segítségével

Szójabab és búza csírázási folyamatainak összehasonlítása NIR spektrumok segítségével Szójabab és búza csírázási folyamatainak összehasonlítása NIR spektrumok segítségével Bartalné Berceli Mónika BME VBK ABÉT NIR Klub, Budapesti Corvinus Egyetem, 2015. október 6. 2. Búza összetétele (sz.a.)

Részletesebben

Femtoszekundumos felületi plazmonok által keltett elektronnyalábok vizsgálata

Femtoszekundumos felületi plazmonok által keltett elektronnyalábok vizsgálata Femtoszekundumos felületi plazmonok által keltett elektronnyalábok vizsgálata Ph. D. házi védés Rácz Péter Témavezető: Dombi Péter Felületi plazmonok Propagáló felületi plazmon Lokalizált felületi plazmon

Részletesebben

Az atommag összetétele, radioaktivitás

Az atommag összetétele, radioaktivitás Az atommag összetétele, radioaktivitás Az atommag alkotórészei proton: pozitív töltésű részecske, töltése egyenlő az elektron töltésével, csak nem negatív, hanem pozitív: 1,6 10-19 C tömege az elektron

Részletesebben

Dicsı Ágnes: Lézer a restaurálás szolgálatában Álom és valóság

Dicsı Ágnes: Lézer a restaurálás szolgálatában Álom és valóság Dicsı Ágnes: Lézer a restaurálás szolgálatában Álom és valóság Áttekintés A lézerfény hatása Miért használjunk lézert a restaurálásban? Déri-program ismertetése Film Saját tapasztalataink Összegzés A lézersugár

Részletesebben

Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése

Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem, Építészmérnöki Kar, Épületenergetikai és Épületgépészeti Tanszék, 1111 Budapest, Műegyetem rkp. 3. K.II.31. Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése

Részletesebben

SPEKTROFOTOMETRIAI MÉRÉSEK

SPEKTROFOTOMETRIAI MÉRÉSEK SPEKTROFOTOMETRIAI MÉRÉSEK Elméleti bevezetés Ha egy anyagot a kezünkbe veszünk (valamilyen technológiai céllal alkalmazni szeretnénk), elsı kérdésünk valószínőleg az lesz, hogy mi ez az anyag, milyen

Részletesebben

2.2.24. ABSZORPCIÓS SPEKTROFOTOMETRIA AZ INFRAVÖRÖS SZÍNKÉPTARTOMÁNYBAN

2.2.24. ABSZORPCIÓS SPEKTROFOTOMETRIA AZ INFRAVÖRÖS SZÍNKÉPTARTOMÁNYBAN 1 2.2.24. ABSZORPCIÓS SPEKTROFOTOMETRIA AZ INFRAVÖRÖS SZÍNKÉPTARTOMÁNYBAN 01/2005:20224 Az infravörös spektrofotométereket a 4000 650 cm -1 (2,5 15,4 µm) közti, illetve néhány esetben egészen a 200 cm

Részletesebben

Előadás menete. Magfúzióból nyerhető energia és az energiatermelés feltétele. Fúziós kutatási ágazatok

Előadás menete. Magfúzióból nyerhető energia és az energiatermelés feltétele. Fúziós kutatási ágazatok Előadás menete Magfúzióból nyerhető energia és az energiatermelés feltétele Fúziós kutatási ágazatok Hőmérséklet és sűrűségmérés egyik módszere plazmafizikában a Thomson szórás Fúziós kutatás célja A nap

Részletesebben

Periódusosság. 9-1 Az elemek csoportosítása: a periódusostáblázat

Periódusosság. 9-1 Az elemek csoportosítása: a periódusostáblázat Periódusosság 9-1 Az elemek csoportosítása: aperiódusos táblázat 9-2 Fémek, nemfémek és ionjaik 9-3 Az atomok és ionok mérete 9-4 Ionizációs energia 9-5 Elektron affinitás 9-6 Mágneses 9-7 Az elemek periódikus

Részletesebben

Ph.D értekezés. Dr. Velich Norbert. Témavezető: Dr. Szabó György egyetemi tanár

Ph.D értekezés. Dr. Velich Norbert. Témavezető: Dr. Szabó György egyetemi tanár Az osteosynthesishez alkalmazható titán lemezek felületének módosítása anódos és termikus oxidációval és ennek jelentősége az implantátum-szervezet kölcsönhatásában. Ph.D értekezés Dr. Velich Norbert Témavezető:

Részletesebben

KVANTUMMECHANIKA. a11.b-nek

KVANTUMMECHANIKA. a11.b-nek KVANTUMMECHANIKA a11.b-nek HŐMÉRSÉKLETI SUGÁRZÁS 1 Hősugárzás: elektromágneses hullám A sugárzás által szállított energia: intenzitás I, T és λkapcsolata? Példa: Nap (6000 K): sárga (látható) Föld (300

Részletesebben

Kutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése

Kutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése Kutatási beszámoló 2015. február Gyüre Balázs BME Fizika tanszék Dr. Simon Ferenc csoportja Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése A TKI-Ferrit Fejlsztő és Gyártó Kft.-nek munkája

Részletesebben

A gáz halmazállapot. A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011

A gáz halmazállapot. A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011 A gáz halmazállapot A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 0 Halmazállapotok, állapotjelzők Az anyagi rendszerek a részecskék közötti kölcsönhatásoktól és az állapotjelzőktől függően

Részletesebben

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés VISSZASZÓRTELEKTRON-DIFFRAKCIÓS VIZSGÁLATOK AZ EÖTVÖS LORÁND TUDOMÁNYEGYETEMEN 2. RÉSZ Havancsák Károly, Kalácska Szilvia, Baris Adrienn, Dankházi Zoltán, Varga Gábor Eötvös Loránd Tudományegyetem, Természettudományi

Részletesebben

A projekt rövidítve: NANOSTER A projekt időtartama: 2009. október 2012. december

A projekt rövidítve: NANOSTER A projekt időtartama: 2009. október 2012. december A projekt címe: Egészségre ártalmatlan sterilizáló rendszer kifejlesztése A projekt rövidítve: NANOSTER A projekt időtartama: 2009. október 2012. december A konzorcium vezetője: A konzorcium tagjai: A

Részletesebben

Kamarás Katalin. Minden optikai spektroszkópiai mérés lényege fényintenzitás meghatározása a frekvencia

Kamarás Katalin. Minden optikai spektroszkópiai mérés lényege fényintenzitás meghatározása a frekvencia Bevezetés Fourier-transzformációs infravörös spektroszkópia Kamarás Katalin MTA Szilárdtestfizikai Kutató Intézet Minden optikai spektroszkópiai mérés lényege fényintenzitás meghatározása a frekvencia

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az

Részletesebben

Pelletek térfogatának meghatározása Bayes-i analízissel

Pelletek térfogatának meghatározása Bayes-i analízissel Pelletek térfogatának meghatározása Bayes-i analízissel Szepesi Tamás KFKI-RMKI, Budapest, Hungary P. Cierpka, Kálvin S., Kocsis G., P.T. Lang, C. Wittmann 2007. február 27. Tartalom 1. Motiváció ELM-keltés

Részletesebben

Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban

Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Kis Zsolt MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont H-1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33 2015. június 8. Hogyan nyerjünk információt egyes

Részletesebben

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél

Részletesebben

A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban Raman spectroscopy in metallurgical research Dénes Éva, Koós Gáborné, Kőszegi Szilvia

A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban Raman spectroscopy in metallurgical research Dénes Éva, Koós Gáborné, Kőszegi Szilvia MŰSZERES ANALITIKA ANALYSIS WITH INSTRUMENT A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban Raman spectroscopy in metallurgical research Dénes Éva, Koós Gáborné, Kőszegi Szilvia Kulcsszavak: Raman

Részletesebben

SUGÁRZÁS DETEKTÁLÁS - MÉRÉS SUGÁRZÁS DETEKTÁLÁS - MÉRÉS. A sugárzás mérés eszközei Méréstechnikai módszerek, eljárások

SUGÁRZÁS DETEKTÁLÁS - MÉRÉS SUGÁRZÁS DETEKTÁLÁS - MÉRÉS. A sugárzás mérés eszközei Méréstechnikai módszerek, eljárások SUGÁRZÁS DETEKTÁLÁS - MÉRÉS A sugárzás mérés eszközei Méréstechnikai módszerek, eljárások Dr. Kári Béla Semmelweis Egyetem ÁOK Radiológiai és Onkoterápiás Klinka / Nukleáris Medicina Tanszék SUGÁRZÁS DETEKTÁLÁS

Részletesebben

Atomi er mikroszkópia jegyz könyv

Atomi er mikroszkópia jegyz könyv Atomi er mikroszkópia jegyz könyv Zsigmond Anna Julia Fizika MSc III. Mérés vezet je: Szabó Bálint Mérés dátuma: 2010. október 7. Leadás dátuma: 2010. október 20. 1. Mérés leírása A laboratóriumi mérés

Részletesebben

L'Hospital-szabály. 2015. március 15. ln(x 2) x 2. ln(x 2) = ln(3 2) = ln 1 = 0. A nevez határértéke: lim. (x 2 9) = 3 2 9 = 0.

L'Hospital-szabály. 2015. március 15. ln(x 2) x 2. ln(x 2) = ln(3 2) = ln 1 = 0. A nevez határértéke: lim. (x 2 9) = 3 2 9 = 0. L'Hospital-szabály 25. március 5.. Alapfeladatok ln 2. Feladat: Határozzuk meg a határértéket! 3 2 9 Megoldás: Amint a korábbi határértékes feladatokban, els ként most is a határérték típusát kell megvizsgálnunk.

Részletesebben

A vizsgált anyag ellenállása az adott geometriájú szúrószerszám behatolásával szemben, Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika

A vizsgált anyag ellenállása az adott geometriájú szúrószerszám behatolásával szemben, Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika Dunaújvárosi Főiskola Anyagtudományi és Gépészeti Intézet Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika Mechanikai anyagvizsgálat 2. Dr. Palotás Béla palotasb@mail.duf.hu Készült: Dr. Krállics György (BME,

Részletesebben

3D - geometriai modellezés, alakzatrekonstrukció, nyomtatás

3D - geometriai modellezés, alakzatrekonstrukció, nyomtatás 3D - geometriai modellezés, alakzatrekonstrukció, nyomtatás 15. Digitális Alakzatrekonstrukció Méréstechnológia, Ponthalmazok regisztrációja http://cg.iit.bme.hu/portal/node/312 https://www.vik.bme.hu/kepzes/targyak/viiiav54

Részletesebben

Adatelemzési eljárások az idegrendszer kutatásban Somogyvári Zoltán

Adatelemzési eljárások az idegrendszer kutatásban Somogyvári Zoltán Adatelemzési eljárások az idegrendszer kutatásban Somogyvári Zoltán MTA KFKI Részecske és Magfizikai Intézet, Biofizikai osztály Az egy adatsorra (idősorra) is alkalmazható módszerek Példa: Az epileptikus

Részletesebben

Szerves kémiai analízis TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ

Szerves kémiai analízis TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ BSC ANYAGMÉRNÖK SZAK VEGYIPARI TECHNOLÓGIAI SZÁMÁRA KÖTELEZŐ TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR KÉMIAI INTÉZET Miskolc, 2016 1 Tartalomjegyzék 1. Tantárgyleírás,

Részletesebben

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2015. március 1 Energia-diszperzív Fókuszált ionsugaras röntgen megmunkálás elemanalízis

Részletesebben

3.1.1. Rugalmas elektronszórás; Recoil- és Doppler-effektus megfigyelése

3.1.1. Rugalmas elektronszórás; Recoil- és Doppler-effektus megfigyelése 3.1.1. Rugalmas elektroszórás 45 3.1.1. Rugalmas elektroszórás; Recoil- és Doppler-effektus megfigyelése Aray, ikkel, szilícium és grafit mitákról rugalmasa visszaszórt elektrook eergiaeloszlását mértem

Részletesebben

Félvezetk vizsgálata

Félvezetk vizsgálata Félvezetk vizsgálata jegyzkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetje: Böhönyei András Mérés dátuma: 010. március 4. Leadás dátuma: 010. március 17. Mérés célja A mérés célja a szilícium tulajdonságainak

Részletesebben

ANALITIKAI MŰSZEREK LABORATÓRIUMI BERENDEZÉSEK, ESZKÖZÖK, KOMPLETT LABORATÓRIUMOK TERVEZÉS, SZERVIZ, TANÁCSADÁS

ANALITIKAI MŰSZEREK LABORATÓRIUMI BERENDEZÉSEK, ESZKÖZÖK, KOMPLETT LABORATÓRIUMOK TERVEZÉS, SZERVIZ, TANÁCSADÁS ANALITIKAI MŰSZEREK LABORATÓRIUMI BERENDEZÉSEK, ESZKÖZÖK, KOMPLETT LABORATÓRIUMOK TERVEZÉS, SZERVIZ, TANÁCSADÁS RÖVID TERMÉK- ISMERTETŐ LABOREXPORT Kft. 1993 óta az Ön laborpartnere 1113 Budapest, Ibrahim

Részletesebben

Új típusú anyagok (az autóiparban) és ezek vizsgálati lehetőségei (az MFA-ban)

Új típusú anyagok (az autóiparban) és ezek vizsgálati lehetőségei (az MFA-ban) Új típusú anyagok (az autóiparban) és ezek vizsgálati lehetőségei (az MFA-ban) Menyhárd Miklós Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutató Intézet Támogatás NTPCRASH: # TECH_08-A2/2-2008-0104 Győr, 2010 október

Részletesebben

Az időtől független Schrödinger-egyenlet (energia sajátértékegyenlet), A Laplace operátor derékszögű koordinátarendszerben

Az időtől független Schrödinger-egyenlet (energia sajátértékegyenlet), A Laplace operátor derékszögű koordinátarendszerben Atomfizika ψ ψ ψ ψ ψ E z y x U z y x m = + + + ),, ( h ) ( ) ( ) ( ) ( r r r r ψ ψ ψ E U m = + Δ h z y x + + = Δ ),, ( ) ( z y x ψ =ψ r Az időtől független Schrödinger-egyenlet (energia sajátértékegyenlet),

Részletesebben

MÉRÉSI EREDMÉNYEK PONTOSSÁGA, A HIBASZÁMÍTÁS ELEMEI

MÉRÉSI EREDMÉNYEK PONTOSSÁGA, A HIBASZÁMÍTÁS ELEMEI MÉRÉSI EREDMÉYEK POTOSSÁGA, A HIBASZÁMÍTÁS ELEMEI. A mérési eredmény megadása A mérés során kapott értékek eltérnek a mérendő fizikai mennyiség valódi értékétől. Alapvetően kétféle mérési hibát különböztetünk

Részletesebben

. -. - Baris A. - Varga G. - Ratter K. - Radi Zs. K.

. -. - Baris A. - Varga G. - Ratter K. - Radi Zs. K. 2. TEREM KEDD Orbulov Imre 09:00 Bereczki P. -. - Varga R. - Veres A. 09:20 Mucsi A. 09:40 Karacs G. 10:00 Cseh D. Benke M. Mertinger V. 10:20 -. 10:40 14 1. TEREM KEDD Hargitai Hajnalka 11:00 I. 11:20

Részletesebben

SZABADALMI LEÍRÁS (11, 183 621 SZOLGALATI TALÁLMÁNY (19 )HU MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG. Nemzetközi osztályjelzet: (51) NSZ0 3

SZABADALMI LEÍRÁS (11, 183 621 SZOLGALATI TALÁLMÁNY (19 )HU MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG. Nemzetközi osztályjelzet: (51) NSZ0 3 (19 )HU MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG # A SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGALATI TALÁLMÁNY bejelentés napja: (22) 81. 10. 13. (21)2947/81 (11, 183 621 Nemzetközi osztályjelzet: (51) NSZ0 3 G 01 N 23/223 ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI

Részletesebben