Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS)

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS)"

Átírás

1 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS) Ebben a feezetben a alfeezetben ismertetett alapelenségekre épül néhány alapvet elektronspektroszkópiai módszert szeretnék röviden áttekinteni. A felsoroltakon kívül még számos felületanalitikai technika létezik, itt most csak a munkám során használt, vagy az azokhoz szorosan kötd módszereket említem, az eddigi megfigyelések és az irodalom bsége miatt azonban ezeknél sem törekedhetem a telességre. Az elektronspektroszkópiai módszerek információt szolgáltatnak az anyag fizikai és elektronszerkezetérl, és széles körben alkalmazhatóak szilárd testek felületi kémiai elemzésére. Az elektronok analízisén alapuló, a szilárd minta elemösszetételét és az összetevk kémiai állapotát kutató módszercsaládot szaknyelven ESCA-nak (Elecrton Spectroscopy for Chemical Analysis, magyarul elektronspektroszkópia kémiai analízisre) nevezzük. (Szkebb értelemben az ESCA módszer a röntgen-fotoelektron spektroszkópiát elenti.) Röntgen Fotoelektron Spektroszkópia XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) Röntgensugarak által az anyagból kiváltott elektronok spektroszkópiáa. A módszer lényege, hogy a mintából ismert energiáú röntgensugárzással kiváltott fotoelektron csúcsok energiáinak és intenzitásainak mérésével azonosítuk a mintában elforduló elemeket, esetenként azok kémiai állapotait, valamint következtethetünk azok koncentrációira. A méréseket - ahogy a felsorolásra kerül többi technikában is ultra nagy vákuumban végzik. A konvencionális XPS-ben általában Al, Mg; esetleg más (pl. Cr, Ag, Mo, Cu) anódú röntgencsövek karakterisztikus vonalait használák geresztésként. A kilép elektronok tipikus kinetikus energiáa 50 ev-tól a néhány kev-ig tered. Jó energiafelbontás kívánalma esetén monokromatizált röntgennyalábot alkalmaznak. A konvencionális, röntgenágyús geresztés mellett, az utóbbi idben, a szinkrotron sugárzással történ geresztés is elteredt, amelynek legfbb elnyei, hogy a gereszt röntgennyaláb nagyintenzitású, energiában folytonosan hangolható és polarizált. A

2 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 26 nagy intenzitás lehetvé teszi igen kis energiaszélesség röntgennyaláb monokromátorok segítségével történ elállítását. Az XPS széles körben elteredt, mind ipari, mind alapkutatási célokra rutinszeren használatos analitikai technika. Tipikusan XPS-sel vizsgált problémák pl. a felületi tisztaság ellenrzése, felületi szennyezk meghatározása, vékonyrétegek növekedése, felületi réteg összetételének és vastagságának meghatározása, a felületi összetétel módosulásának monitorozása ötvözetekben, valamint diffúziós, felületi szegregációs, oxidációs, korróziós és katalitikus folyamatok megfigyelése. A fotoelektron vonalak energiáinak eltolódásából következtethetünk az adott elem kémiai állapotára [79-83]. Más technikákkal összehasonlítva, az XPS kiemelkedik a kvantitatív elemösszetétel és kémiai állapot meghatározásának pontosságában és gyorsaságában. A töltött részekkel való geresztéseken alapuló módszerekkel szembeni nagy elnye, hogy kevésbé roncsola a mintát. Hátrányai között meg kell említeni, hogy a módszer nem képes hidrogén detektálására, valamint, mivel a röntgennyaláb a töltött részecske nyalábokhoz képest nehezen formálható, így a ó laterális felbontás elérése az elbbiekhez képest nagyobb nehézségeket és költségeket elent. A kommerciálisan gyártott XPS berendezések között manapság elérhet legobb laterális felbontás 2-5 µm, míg szinkrotron sugárzást alkalmazva ez kb. 20 nm [84]. Szilárd anyagokban a röntgenfotonok rugalmatlan kölcsönhatási közepes szabad úthossza nagyságrendekkel nagyobb az elektronokénál, így megfelel geometriai körülmények esetén általában ó közelítéssel telesül, hogy a beöv röntgennyaláb egyenletesen sugározza be azt a mélységi tartományt, ahonnan a kiváltott fotoelektronok kiuthatnak a mintából. A fotoelektron spektrumban a karakterisztikus csúcsokon kívül megelenik a rugalmatlanul szóródott elektronok áruléka is ( feezet). Mivel a rugalmatlan szórás valószínsége az elektron által az anyagban megtett úthosszal, így a keletkezési mélységgel is, növekszik, ezért a fotoelektron ( rugalmas ) csúcsokban lév elektronok származási helye a felület közeli rétegben van. Ennek a rétegnek a vastagsága tovább csökkenthet, ha mintát megdöntve, a felülethez képest kis szögben kilép elektronokat detektáluk. A fotoelektron csúcsok helyzetébl kvalitatív információt nyerhetünk az elemösszetételre, esetleges eltolódásukból pedig az alkotó atomok kémiai állapotára vonatkozóan. Jó közelítéssel feltehetük, hogy a felület közelében keletkez fotoelektron további ütközések nélkül ut a detektorba. Így a

3 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 27 beérkez foton és a mintából kilép elektron iránya közötti szögtl függ, adott fotonenergiára és atomi alhéra vonatkozó differenciális fotoionizációs hatáskeresztmetszet ismeretében az egyes csúcsok intenzitásából kiindulva kvantitatív elemzés is végezhet. A homogén szilárd minta adott típusú atomainak, adott atomi alhéáról keltett fotoelektronok mért intenzitása közelítleg a I det ( dσ ) ( E, ) c = K λ i( E ) G( E ) ϑ (27) alakban írható. K az adott geometriától és besugárzási körülményektl függ állandó, c az atomi koncentráció, λ i pedig az adott kinetikus energiáú elektron rugalmatlan közepes szabad úthossza az anyagban. Mivel általában a detektált intenzitás relatív értékére van szükség, így K értékét nem kell meghatározni. Ilyenkor elegend λ i energiafüggését ismerni, amelyet a λ i ~E 3/4 arányossággal közelíthetünk. G a spektrométer transzmisszióától és a detektor hatásfokától függ tényez, amely a konstans fékezési arányt alkalmazó spektrométereknél (ld feezet), mint az általam is használt ESA-31 spektrométer, a G = E p η( E p ) ( E E p = k, ahol k a fékezési arány) alakban írható, ahol η a detektor hatásfoka a detektált elektron kinetikus energiáánál, az E p (az analizátoron áthaladó elektron kinetikus energiáa) szorzó pedig az energiaablak változását figyelembe vev korrekció. dσ A ( ) ( E, ϑ) differenciális fotoionizációs hatáskeresztmetszetet a ( dσ σ, tot β ) ϑ = + ( E, ) 1 P [ Cos ϑ ] 2 4π 2 (28) formula íra le, ahol [ x] = 1 ( 3x 2 1) P 2 a másodfokú Legendre-polinom; 2 β pedig a alhé dipól-anizotrópia faktorának (β ), a szilárdtestben bekövetkez rugalmas szórások 5 2 által, a = β ( Z Z ) β tapasztalati összefüggés szerint

4 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 28 módosított értéke [85]. σ, tot a alhé teles fotoionizációs hatáskeresztmetszete, ϑ pedig a röntgen foton és a fotoelektron irányai közötti szög. A fentiek alapán a minta felületi rétegében az adott szolgáltató atomok c koncentrációára a I det fotoelektron intenzitást c E 1.75 η I det dσ ( E) ( ) (29) közelít arányosság adódik. A fotoelektronok energiáának megváltozását kihasználva, a vizsgált elem különböz kémiai állapotaihoz tartozó atomi koncentrációi is meghatározhatóak. A módszer ionmaratással kombinálva mélységi analízist is lehetvé tesz. A fotoelektron spektrum rugalmatlan szórási tartományában lév elektronok a minta felületétl mért nagyobb mélységekbl (néhány IMFP) is származhatnak, ezért itt, az elektronszórás kapcsán leírtakhoz ( feezet) hasonló veszteségi struktúrák figyelhetek meg. Szögfeloldású Röntgen Fotoelektron Spektroszkópia AR-XPS (Angular Resolved XPS) A fent bemutatott XPS technika kiegészíthet a mintából kilép elektronok szögeloszlásának mérésével. A fotoelektron csúcsok intenzitásának szögfüggését tanulmányozva következtethetünk az adott elem koncentrációának mélységi eloszlására. Elfordulhat az is, hogy ugyanaz az elem a mélység függvényében másmás atomokhoz kötdik; a kémiai eltolódást kihasználva ezek között is különbséget tehetünk. A rugalmatlan szórás valószínségének ers mélységfüggése miatt ez technika a néhány λ i mélységi tartományra korlátozódik. Elnye viszont, hogy nem roncsola a mintát. A következkben röviden áttekintem az AR-XPS módszer alapelvét.

5 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 29 Általában a kísérleti körülmények olyanok, hogy a minta, a mérés szempontából laterálisan végtelen kiteredésnek, mélységben pedig félvégtelennek tekinthet. A besugárzás a gytési tartományban homogén. A mintából elektronokat emittáló rész tipikus méreteit mélységben a néhány λ i, (azaz max nm), átmérben pedig a gytési folt (100µm-2mm) felületre es vetülete szabák meg. (8. ábra) Ez azt elenti, hogy a minta emittáló részének a térfogata a θ szög változtatásával 1/Cosθ szerint n, amit a detektorba utó intenzitás modellezésénél figyelembe kell venni. Els közelítésben feltesszük, hogy a mintában keletkezett fotoelektron, amennyiben nem szenved rugalmatlan szórást, (a spektrumban ezzel a rugalmas fotoelektron csúcson kívülre kerülve,) további eltérülés nélkül, egyenes pályán távozik az anyagból. (A rugalmas szórás hatásának figyelembevételére Monte-Carlo módszeren alapuló elárások léteznek, ezeket itt most nem részletezem. Egy ilyen található a [86] referenciában.) Szintén feltesszük, hogy a gytési foltról a detektorba utható elektronok szögszórása elhanyagolhatóan kicsi. A minta z mélységében egy adott dv térfogatelemében keltett elektronok által a detektorba kerül di intenzitás: di( ( d ) z σ ( E, θ ) G( E ) Exp λ Cosθ dv z, θ ) = K c( z ), (30) A 0 8. ábra: AR-XPS mérés sematikus raza θ ahol c(z) az elem koncentrációa a z mélységben, λ az emittált elektron rugalmatlan közepes szabad úthossza az anyagban, ( d ) σ és G az elem adott átmenetére vonatkozó differenciális fotoionizációs hatáskeresztmetszete, ill. a spektrométer transzmisszióától és a detektor hatásfokától függ tényez, az elz pontban leírtak szerint. Mivel explicite feltételezzük, hogy a koncentráció csak a mélységtl függ, (legalábbis a gytési tartományban), azaz réteges szerkezet mintát vizsgálunk, A0 dv = dz írható. Cosθ

6 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 30 A mérhet intenzitás ezután a (30) egyenlet mélység szerinti integrálásával adódik: ( dσ ) K A0 G I( ) = λ Cos θ c( z ) e θ dz, (31) Cosθ 0 z azaz az I(θ) függvény c(z) Laplace-transzformálta. A gyakorlatban c(z)-re, az egyenlet inverzére van szükségünk. Auger Elektron Spektroszkópia AES (Auger Electron Spectroscopy) Az AES, az XPS-hez hasonlóan, kvalitatív és kvantitatív felületanalízisre használatos technika, amely a mintából kilép Auger elektronok analízisén alapszik. Gereszt forrásként általában elektronnyalábot, ritkábban más töltött- vagy semleges részecske nyalábot használnak. Az összetételre vonatkozó információk itt is kiegészülhetnek az adott atom kémiai környezetére vonatkozókkal. A konvencionális AES módszer 3-5 kev primer energiáú elektronok általi Auger átmenetek geresztésén alapszik. Az elektronnyaláb tipikus árama a na, foltmérete a mikrométer tartományban mozog. Az elvet a pásztázó Auger-mikroszkópiában (SAM, Scanning Auger Microscopy) is alkalmazzák, ott a obb (kb nm) laterális feloldás érdekében általában a nagyobb, kb kev-es kinetikus energia tartományban. Az AES alkalmazásával leggyakrabban vizsgált problémák a felülettisztaság monitorozása, gázok ad- és deszorpcióa, vékonyrétegek növekedése, oxidációs- és korróziós folyamatok megfigyelése, a katalitikus aktiválás, a felületi és szemcsehatár szegregáció, a felületi- és térfogati diffúzió nyomon követése. Nagy gyakorlati elentsége van az ionmarással kombinált, destruktív mélységi profilírozásra használatos AES technikának [87, 88]. A más technikákkal való összehasonlítás kapcsán az AES módszer legfbb elnyei a gyorsasága és a ó laterális felbontás (~ 10 nm) elérhetsége. Könnyen és ól kombinálható ionmarással és pásztázó üzemmóddal. Hátrányai között a viszonylag magas kimutathatósági határ (0.1 atom %), az XPS-nél nehezebb kvantitatív

7 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 31 kiértékelhetség és a primer elektronnyaláb által indukált roncsolási hatások említendek. Történeti szempontból fontos megemlíteni a differenciális spektrum rögzítési technikát, ami a mérsékelt energiafelbontású Auger spektrumokban elents árulékot adó szórt elektronok által okozott, az energiával nem, vagy csak nagyon lassan változó hozamú háttér kiküszöbölése miatt volt szükséges. A differenciális elektron spektrumok felvételekor nem a detektált elektronok számát, hanem annak változását (dn/de) ábrázolták, mint az elektron energia függvényét. Az összetétel kvalitatív analízise a mintában elfordulható elemek beazonosítható, ismert kinetikus energiáú Auger csúcsának mérését teszi szükségessé. Kvantitatív elemanalízis, az Auger intenzitások pontos ismeretének híán, csak nehezen, kísérleti közelítések figyelembevételével valósítható meg [89, 90]. Speciális esetekben a mérni kívánt minta és a belle készült standard közti relatív intenzitások összehasonlítása néhány százalékos pontosság elérését teszi lehetvé. A rétegszerkezet kvalitatív analízisére ad lehetséget egy adott elem különböz energiáú Auger vonalainak egyide mérése. Az elektronnyaláb és a felület közötti szög változtatása mellett felvett spektrumok is érzékenyek a rétegszerkezetre valamint a felületi topográfiára [91]. Röntgengeresztés AES XAES (X-ray induced AES) Mivel röntgensugárral történ geresztés során belshé vakanciákat hozunk létre, ezek pedig adott valószínséggel Auger folyamat során is betöltdhetnek ( feezet), az XPS spektrum megfelel kinetikus energiatartományában az adott anyag Auger átmenetei is elentkeznek. Mivel csupán az Auger folyamat létreöttét biztosító kezdeti vakancia megléte fontos, így itt az XPS-nél említett geresztési módszereken kívül hagyományos, monokromátor nélküli röntgencsövekbl származó, az adott nívó geresztési küszöbét meghaladó energiáú fékezési sugárzás is használható. A módszer az XPS-hez és AES-hez hasonlóan szintén kombinálható ionmarással. Laterális felbontást illeten a gereszt források megegyezése miatt a XAES módszer az XPS-hez hasonló, kereskedelmi forgalomban kapható berendezések esetében 2-5 µm, szinkrotron sugárzás használatával akár a 20 nm felbontást is elérheti.

8 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 32 A röntgen fotonokkal történ geresztés elnye az elektrongeresztéshez képest, hogy így sokkal kisebb a nyaláb roncsoló hatása, valamint a fotoelektron és Auger vonalak egyide mérésével pontosan meghatározható az Auger-paraméter értéke ( feezet), melynek mérésével lehetség van a kémiai kötésekre vonatkozó információ kinyerésére [89, 92]. A vizsgált elem kémiai állapotára az általa kibocsátott Auger vonalak kémiai eltolódásából [93, 79, 81, 83, 94, 95], a lokális elektronállapot srségre vonatkozóan pedig a törzs-valencia Auger vonalak alakából kaphatunk információt [96-99]. Elektron Energiaveszteségi Spektroszkópia EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy) Az anyagba behatoló és ott rugalmatlanul szóródó elektronok információt hordoznak az anyag összetételére és a benne lév atomok kémiai állapotára nézve. Az elektron energiaveszteségi spektroszkópia ezen elektronok megfigyelésével foglalkozik. Kísérletileg alapveten két különböz geometriai elrendezést különböztetünk meg: a transzmissziós és a visszaszórási esetet. Az elbbinél a mintának vékony filmnek kell lennie, hogy azon az elektronok néhány ütközés után még nagy valószínséggel át tudanak hatolni. Ehhez tipikusan 30 kev, vagy annál nagyobb kinetikus energiáú elektronokat használnak. Az alkalmazások szempontából fontosak azonban azok az esetek is, amikor a mintából nem készíthet kellen vékony öntartó fólia, vagy a kísérleti berendezésünk nem teszi lehetvé a transzmissziós mód használatát. Ilyenkor alkalmazhatuk a visszaszórt elektronok veszteségi spektroszkópiáát, a REELS-t (Reflected EELS). Mivel a rugalmatlan szórás szögeloszlásában ersen preferált a beérkez elektron által megszabott irány, így plauzíbilis feltételezés, hogy egy ebben a geometriában leátszódó visszaszórás során nagy valószínséggel elen van legalább egy rugalmas szórási esemény is. A REELS esetén, a transzmissziós esethez képest kisebb elektron energiákat is alkalmazhatunk. A veszteségi spektrum-szakasz kialakulásában (ld feezet) szerepet átszó szórási események szerint megkülönböztethetünk az atomtörzs elektronainak geresztésével áró veszteségekkel (CEELS, Core-level EELS) és valencia-sáv veszteségekkel (VEELS, Valence-band EELS) foglalkozó spektroszkópiai módszert.

9 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 33 A CEELS esetében a bombázó elektronok tipikus kinetikus energiáa ev, amelyet mindig a vizsgálni kívánt törzsi geresztés energiaküszöbe határoz meg. Az elektron-elektron geresztések által létrehozott spektrális struktúra a veszteségi spektrumban, a kötési energiának megfelel helyen egy lépcs, kisebb energiáknál pedig egy széles, elkent váll. A veszteségek tipikus energiatartománya a néhányszor 10 ev-tól a pár kev-ig tered. A CEELS f felhasználási területét az ada, hogy a bombázás során lehetség van egy törzsi elektronnak a gyengén kötött, de még lokalizált végállapotba történ geresztésére, segítségével így lehetség nyílik a valenciasáv be nem töltött elektron-állapotsrségének feltérképezésére. Az elektronnyaláb mikrofókuszálásával és pásztázással lehetség van ó laterális felbontás elérésére. A veszteségi spektrum VEELS részének megfigyelésére a konvencionális veszteségi spektroszkópiában a kisebb, ev-os primer elektron energia tartományt használák. Nagyobb kinetikus energiáú foto- vagy Auger elektronok veszteségi spektrumának értelmezéséhez azonban ezt az energiatartományt a magasabb energiák felé, 8-10 kev-ig ki kell bvíteni. A VEELS-ben keletkez veszteségek tipikusan pár ev pár 10 ev-osak, amelyek alapveten két folyamatból származhatnak: a valenciasávon belüli átmenetek geresztésébl (néhány elektronvoltos veszteségek), vagy a szabad elektronok kollektív rezgésének, a plazmonoknak a keltésébl (néhány 10 ev). A relatíve széles plazmon csúcsok miatt ez a módszer nem kíván nagyon ó energiafelbontást; tipikusan evos felbontás elegend. A VEELS technikát általában más, elemanalízisre alkalmasabb technikák, pl. XPS, AES vagy XAES, kiegészít módszereként alkalmazzák. A nagy felületi érzékenysége miatt azonban a felületi oxidáció megfigyelésére sokkal alkalmasabb, mint az AES vagy XPS [100]. A felületi és térfogati plazmonok intenzitásarányának és a felületi plazmon energiáának változásából következtethetünk a felületi réteg oxidációára (ld feezet). A bombázó elektronok kinetikus energiáának és becsapódási szögének alkalmas megválasztásával elérhet, hogy csak a legfels atomi rétegekbl kapunk számottev spektrum árulékot. Ehhez a kinetikus energiát úgy kell megválasztani, hogy ott az IMFP minimális legyen [101]. Külön megemlítend a nagyon kis, mindössze néhány elektronvolt kinetikus energiáú bombázó elektronok veszteségi spektrumának analízisén alapuló, ún. nagy

10 Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 34 energiafelbontású elektron energiaveszteségi spektroszkópia (HREELS, High Resolution EELS) [102, 103]. A módszer céla a felületen megkötött gázok vibrációs geresztéseinek megfigyelése. A tipikus geresztési energiák kb. 3 ev alatt vannak. A kis veszteségek miatt ez a módszer az elzektl lényegesen nagyobb energiafelbontást, a kis kinetikus energiák miatt pedig speciális kísérleti technikát (pl. nagyon ó mágneses árnyékolás, ó vákuum) kíván.

Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge

Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge doktori (PhD) értekezés tézisei abstracts of Ph.D. thesis Egri Sándor

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)

Részletesebben

IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56

IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56 3.1.2. IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56 3.1.2. Elektronok rugalmatlan szórási közepes szabad úthosszának meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban, a 2-10 kev elektron energia tartományban

Részletesebben

Mikroszerkezeti vizsgálatok

Mikroszerkezeti vizsgálatok Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,

Részletesebben

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása

Részletesebben

Modern Fizika Labor Fizika BSC

Modern Fizika Labor Fizika BSC Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond

Részletesebben

Modern fizika laboratórium

Modern fizika laboratórium Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid

Részletesebben

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek

Részletesebben

3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL

3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL 3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL A gamma-sugárzás elektromágneses sugárzás, amely vákuumban fénysebességgel terjed. Anyagba ütközve kölcsönhatásba lép az anyag alkotóelemeivel,

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópja

A nanotechnológia mikroszkópja 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA

ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA Elvi jellemzők, amelyek meghatározzák a készülék felépítését magas hőmérsékletű fényforrás (elsősorban plazma, szikra, stb.) kis méretű sugárforrás (az önabszorpció csökkentése

Részletesebben

Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel. Cserny István

Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel. Cserny István Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya módszerrel Cserny István Debrecen, 2005 Röntgenkeltésű foto- és Auger-elektron spektrumok modellezése klaszter molekulapálya

Részletesebben

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek

Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Felületvizsgáló és képalkotó módszerek Galbács Gábor Bevezetés A felületvizsgáló módszere köre az elmúlt évtizedekben az egyik leggyorsabban fejlődő területe volt az analitikai kémiának (és az anyagtudománynak).

Részletesebben

Folyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv

Folyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv Folyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv Zsigmond Anna Julia Fizika MSc I. Mérés vezet je: Horváth Ákos Mérés dátuma: 2010. október 21. Leadás dátuma: 2010. november 8. 1 1. Bevezetés A mérés

Részletesebben

Theory hungarian (Hungary)

Theory hungarian (Hungary) Q3-1 A Nagy Hadronütköztető (10 pont) Mielőtt elkezded a feladat megoldását, olvasd el a külön borítékban lévő általános utasításokat! Ez a feladat a CERN-ben működő részecskegyorsító, a Nagy Hadronütköztető

Részletesebben

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz

Részletesebben

Abszorpciós spektroszkópia

Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses

Részletesebben

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény; Abszorpciós spektroszkópia

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény;  Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2015 január 27.) Az abszorpció mérése;

Részletesebben

1. Katalizátorok elemzése XRF módszerrel Bevezetés A nehézfémek okozta környezetterhelés a XX. század közepe óta egyre fontosabb problémává válik. Egyes nehézfémek esetében az emberi tevékenységekből eredő

Részletesebben

A hőmérsékleti sugárzás

A hőmérsékleti sugárzás A hőmérsékleti sugárzás Alapfogalmak 1. A hőmérsékleti sugárzás Értelmezés (hőmérsékleti sugárzás): A testek hőmérsékletével kapcsolatos, a teljes elektromágneses spektrumra kiterjedő sugárzást hőmérsékleti

Részletesebben

Ricz Sándor. MTA Atommagkutató Intézete. SZFKI, Budapest 2013. 12. 10

Ricz Sándor. MTA Atommagkutató Intézete. SZFKI, Budapest 2013. 12. 10 Aszimmetrikus fotoelektron emisszió foton- atom és foton-h molekula kölcsönhatásban Ricz Sánor MTA Atommagkutató Intézete SZFKI, Buapest 013. 1. 10 Tartalom I. Fotoelektronok ifferenciális hatáskeresztmetszete

Részletesebben

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT 6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP

Részletesebben

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Különböző sugárzások tulajdonságai Típus töltés Energia hordozó E spektrum Radioaktí sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktí sugárzások detektálása. α-sugárzás pozití

Részletesebben

2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása

2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 35 2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása Az ATOMKI ESA-31 jel spektrométere Méréseim egy részét az ATOMKI-ban, az Atomfizikai

Részletesebben

Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze

Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Ritvayné Szomolányi Mária Frombach Gabriella VITUKI CONSULT Zrt. A távérzékelés segítségével: különböz6 magasságból, tetsz6leges id6ben és a kívánt hullámhossz tartományokban

Részletesebben

Röntgenanalitikai módszerek I. Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán

Röntgenanalitikai módszerek I. Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán Röntgenanalitikai módszerek I Összeállította Dr. Madarász János Frissítve 2016 tavaszán (Röntgen)analitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha

Részletesebben

Orvosi biofizika II. Orvosi Biofizika II. Az X-sugár. Röntgen- sugárzás Előállítás, tulajdonságok

Orvosi biofizika II. Orvosi Biofizika II. Az X-sugár. Röntgen- sugárzás Előállítás, tulajdonságok Orvosi biofizika II Orvosi Biofizika II Röntgensugárzás előállítása és tulajdonságai Röntgendiagnosztikai alapok Az elektromosság orvosi alkalmazásai Termodinamika - egyensúly, változás, főtételek Diffúzió,

Részletesebben

Alapjelenségek II.; Elektronok rugalmas és rugalmatlan szóródása

Alapjelenségek II.; Elektronok rugalmas és rugalmatlan szóródása 2.1.1.2. Alajelenségek II. 16 2.1.1.2. Alajelenségek II.; lektronok rugalmas és rugalmatlan szóródása Az elektronok atomokon való szóródását az átadott energia és imulzus szemontjából alaveten kétféle

Részletesebben

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs

Részletesebben

3 He ionokat pedig elektron-sokszorozóval számlálja. A héliummérést ismert mennyiségű

3 He ionokat pedig elektron-sokszorozóval számlálja. A héliummérést ismert mennyiségű Nagytisztaságú 4 He-es izotóphígítás alkalmazása vízminták tríciumkoncentrációjának meghatározására a 3 He leányelem tömegspektrométeres mérésén alapuló módszerhez Az édesvízkészletek felmérésében, a rétegvizek

Részletesebben

Az elektromágneses hullámok

Az elektromágneses hullámok 203. október Az elektromágneses hullámok PTE ÁOK Biofizikai Intézet Kutatók fizikusok, kémikusok, asztronómusok Sir Isaac Newton Sir William Herschel Johann Wilhelm Ritter Joseph von Fraunhofer Robert

Részletesebben

Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél

Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél Fémgőz és plazma Buza Gábor, Bauer Attila Messer Innovation Forum 2016. december

Részletesebben

Orvosi tomográkus képalkotás/ct technika alapja

Orvosi tomográkus képalkotás/ct technika alapja Orvosi tomográkus képalkotás/ct technika alapja Kis Sándor Attila DEOEC, Nukléáris Medicina Intézet Outline 1 Bevezetés 2 A planáris transzmissziós leképzési technikák esetén a vizsgált objektumról összegképet

Részletesebben

Elektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47

Elektronmikroszkópia. Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 Elektronmikroszkópia Nagy Péter (peter.v.nagy@gmail.com) Debreceni Egyetem, Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet 1/47 x Miért van szükség elektronmikroszkópra? intenzitásprofil képernyő apertúra Egy fénnyel

Részletesebben

Mézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19.

Mézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. és lézerek Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. Fény és anyag kölcsönhatása 2 / 19 Fény és anyag kölcsönhatása Fény és anyag kölcsönhatása E 2 (1) (2) (3) E 1 (1) gerjesztés (2) spontán

Részletesebben

Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel

Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Fürjes Andor Tamás BME Híradástechnikai Tanszék Kép- és Hangtechnikai Laborcsoport, Rezgésakusztika Laboratórium 1 Tartalom A geometriai akusztika

Részletesebben

Az XPS és a SIMS módszer

Az XPS és a SIMS módszer Az XPS és a SIMS módszer Felületanalitikai mérési módszerek felület kémiai összetétele (is) meghatározható XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) vagy ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)

Részletesebben

Modern fizika vegyes tesztek

Modern fizika vegyes tesztek Modern fizika vegyes tesztek 1. Egy fotonnak és egy elektronnak ugyanakkora a hullámhossza. Melyik a helyes állítás? a) A foton lendülete (impulzusa) kisebb, mint az elektroné. b) A fotonnak és az elektronnak

Részletesebben

Modern Fizika Labor. 12. Infravörös spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 04. A mérés száma és címe: Értékelés:

Modern Fizika Labor. 12. Infravörös spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 04. A mérés száma és címe: Értékelés: Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 011. okt. 04. A mérés száma és címe: 1. Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 011. dec. 1. A mérést végezte: Domokos Zoltán Szőke Kálmán Benjamin

Részletesebben

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei GazdálkodásimodulGazdaságtudományismeretekI.Közgazdaságtan KÖRNYEZETGAZDÁLKODÁSIMÉRNÖKIMScTERMÉSZETVÉDELMIMÉRNÖKIMSc Tudományos kutatásmódszertani, elemzési és közlési ismeretek modul Adatgyőjtés, mérési

Részletesebben

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék 3. (b) Kereszthatások Utolsó módosítás: 2013. április 1. Vezetési együtthatók fémekben (1) 1 Az elektrongáz hővezetési együtthatója A levezetésben alkalmazott feltételek: 1. Minden elektron ugyanazzal

Részletesebben

Részecske azonosítás kísérleti módszerei

Részecske azonosítás kísérleti módszerei Részecske azonosítás kísérleti módszerei Galgóczi Gábor Előadás vázlata A részecske azonosítás létjogosultsága Részecske azonosítás: Módszerek Detektorok ALICE-ból példa A részecskeazonosítás létjogosultsága

Részletesebben

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István OPTIKA Fénykibocsátás mechanizmusa Dr. Seres István Bohr modell Niels Bohr (19) Rutherford felfedezte az atommagot, és igazolta, hogy negatív töltésű elektronok keringenek körülötte. Niels Bohr Bohr ezt

Részletesebben

Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János. Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves,

Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János. Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves, Török Zsófia, Huszánk Róbert, Csedreki László, Kertész Zsófia és Dani János Fizikus Doktoranduszok Konferenciája Balatonfenyves, 2013.06.21-23 PIXE Particle Induced X-ray Emission Részecske indukált röntgenemissziós

Részletesebben

Bevezetés a modern fizika fejezeteibe. 4. (a) Kvantummechanika. Utolsó módosítás: november 15. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék

Bevezetés a modern fizika fejezeteibe. 4. (a) Kvantummechanika. Utolsó módosítás: november 15. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék Bevezetés a modern fizika fejezeteibe 4. (a) Kvantummechanika Utolsó módosítás: 2015. november 15. 1 Előzmények Az atomok színképe (1) A fehér fény komponensekre bontható: http://en.wikipedia.org/wiki/spectrum

Részletesebben

Detektorok. Siklér Ferenc MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest

Detektorok. Siklér Ferenc MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest Detektorok Siklér Ferenc sikler@rmki.kfki.hu MTA KFKI Részecske- és Magfizikai Kutatóintézet Budapest Hungarian Teachers Programme 2008 Genf, 2008. augusztus 19. Detektorok 1970 16 GeV π nyaláb, folyékony

Részletesebben

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal 1 Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) Havancsák Károly, 2011. január FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 A TÁMOP pályázat eddigi történései 3 Időrend A helyiség kialakítás

Részletesebben

Vaszkuláris rendszerek modellezése

Vaszkuláris rendszerek modellezése Vaszkuláris rendszerek modellezése Ph.D. értekezés tézisei Kákonyi Róbert Témavezetők: Dr. Erdélyi Miklós egyetemi adjunktus Dr. Szabó Gábor egyetemi tanár Fizika Doktori Iskola Optikai és Kvantumelektronikai

Részletesebben

Mérés és adatgyűjtés

Mérés és adatgyűjtés Mérés és adatgyűjtés 7. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2013. április 11. MA - 7. óra Verzió: 2.2 Utolsó frissítés: 2013. április 10. 1/37 Tartalom I 1 Szenzorok 2 Hőmérséklet mérése 3 Fény

Részletesebben

Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia

Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Elektronsugaras mikroanalízis restaurátoroknak. I. rész: pásztázó elektronmikroszkópia Tóth Attila Lajos 1. Bevezetés A pásztázó (scanning) elektronmikroszkópot (SEM), és röntgensugaras kémiai elemzésre

Részletesebben

Sugárterápia. Ionizáló sugárzások elnyelődésének következményei. Konzultáció: minden hétfőn 15 órakor. 1. Fizikai történések

Sugárterápia. Ionizáló sugárzások elnyelődésének következményei. Konzultáció: minden hétfőn 15 órakor. 1. Fizikai történések Sugárterápia 40% 35% 30% 25% 20% 15% % 5% 0% 2014/2015. tanév FOK biofizika kollokvium jegyspektruma 5 4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 Konzultáció: minden hétfőn 15 órakor Ionizáló sugárzások elnyelődésének következményei

Részletesebben

Megmérjük a láthatatlant

Megmérjük a láthatatlant Megmérjük a láthatatlant (részecskefizikai detektorok) Hamar Gergő MTA Wigner FK 1 Tartalom Mik azok a részecskék? mennyi van belőlük? miben különböznek? Részecskegyorsítók, CERN mire jó a gyorsító? hogy

Részletesebben

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI

A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására

Részletesebben

Szilárdtestek el e ek e tr t o r n o s n zer e k r ez e et e e t

Szilárdtestek el e ek e tr t o r n o s n zer e k r ez e et e e t Szilárdtestek elektronszerkezete Kvantummechanikai leírás Ismétlés: Schrödinger egyenlet, hullámfüggvény, hidrogén-atom, spin, Pauli-elv, periódusos rendszer 2 Szilárdtestek egyelektron-modellje a magok

Részletesebben

A Mössbauer-effektus vizsgálata

A Mössbauer-effektus vizsgálata A Mössbauer-effektus vizsgálata Tóth ence fizikus,. évfolyam 006.0.0. csütörtök beadva: 005.04.0. . A mérés célja három minta: lágyvas, nátrium-nitroprusszid és rozsdamentes acél Mössbauereffektusának

Részletesebben

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses

Részletesebben

Thomson-modell (puding-modell)

Thomson-modell (puding-modell) Atommodellek Thomson-modell (puding-modell) A XX. század elejére világossá vált, hogy az atomban található elektronok ugyanazok, mint a katódsugárzás részecskéi. Magyarázatra várt azonban, hogy mi tartja

Részletesebben

AZ XPS ÉS A SIMS MÓDSZER

AZ XPS ÉS A SIMS MÓDSZER AZ XPS ÉS A SIMS MÓDSZER Felületanalitikai mérési módszerek felület kémiai összetétele (is) meghatározható XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) vagy ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)

Részletesebben

PROMPT- ÉS KÉSŐ-GAMMA NEUTRONAKTIVÁCIÓS ANALÍZIS A GEOKÉMIÁBAN I. rész

PROMPT- ÉS KÉSŐ-GAMMA NEUTRONAKTIVÁCIÓS ANALÍZIS A GEOKÉMIÁBAN I. rész PROMPT- ÉS KÉSŐ-GAMMA NEUTRONAKTIVÁCIÓS ANALÍZIS A GEOKÉMIÁBAN I. rész MTA Izotópkutató Intézet Gméling Katalin, 2009. november 16. gmeling@iki.kfki.hu Isle of Skye, UK 1 MAGSPEKTROSZKÓPIAI MÓDSZEREK Gerjesztés:

Részletesebben

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása Nyomaték (x 0 Nm) O k t a t á si Hivatal A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása./ A mágnes-gyűrűket a feladatban meghatározott sorrendbe és helyre rögzítve az alábbi táblázatban feltüntetett

Részletesebben

MTA Atommagkutató Intézet, 4026 Debrecen, Bem tér 18/c.

MTA Atommagkutató Intézet, 4026 Debrecen, Bem tér 18/c. Negatív hidrogénionok keletkezése 7 kev-es OH + + Ar és OH + + aceton ütközésekben: Egy általános mechanizmus hidrogént tartalmazó molekuláris rendszerekre JUHASZ Zoltán a), BENE Erika a), RANGAMA Jimmy

Részletesebben

1. Atomspektroszkópia

1. Atomspektroszkópia 1. Atomspektroszkópia 1.1. Bevezetés Az atomspektroszkópia az optikai spektroszkópiai módszerek csoportjába tartozó olyan analitikai eljárás, mellyel az anyagok elemi összetételét határozhatjuk meg. Az

Részletesebben

Fizikai kémia és radiokémia labor II, Laboratóriumi gyakorlat: Spektroszkópia mérés

Fizikai kémia és radiokémia labor II, Laboratóriumi gyakorlat: Spektroszkópia mérés Fizikai kémia és radiokémia labor II, Laboratóriumi gyakorlat: Spektroszkópia mérés A gyakorlatra vigyenek magukkal pendrive-ot, amire a mérési adatokat átvehetik. Ajánlott irodalom: P. W. Atkins: Fizikai

Részletesebben

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei GazdálkodásimodulGazdaságtudományismeretekI.Közgazdaságtan KÖRNYEZETGAZDÁLKODÁSIMÉRNÖKIMScTERMÉSZETVÉDELMIMÉRNÖKIMSc Tudományos kutatásmódszertani, elemzési és közlési ismeretek modul Adatgyőjtés, mérési

Részletesebben

Anyagismeret 2016/17. Diffúzió. Dr. Mészáros István Diffúzió

Anyagismeret 2016/17. Diffúzió. Dr. Mészáros István Diffúzió Anyagismeret 6/7 Diffúzió Dr. Mészáros István meszaros@eik.bme.hu Diffúzió Különféle anyagi részecskék anyagon belüli helyváltoztatása Az anyag lehet gáznemű, folyékony vagy szilárd Diffúzió Diffúzió -

Részletesebben

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz A fotonok az elektromágneses sugárzás hordozó részecskéi. Spinkvantumszámuk S=, tehát kvantumstatisztikai szempontból bozonok. Fotonoknak habár a spinkvantumszámuk,

Részletesebben

NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja

NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja NA61/SHINE: Az erősen kölcsönható anyag fázisdiagramja László András Wigner Fizikai Kutatóintézet, Részecske- és Magfizikai Intézet 1 Kivonat Az erősen kölcsönható anyag és fázisai Megfigyelések a fázisszerkezettel

Részletesebben

Atomfizika előadás 2. Elektromosság elemi egysége szeptember 17.

Atomfizika előadás 2. Elektromosság elemi egysége szeptember 17. Atomfizika előadás. Elektromosság elemi egysége 014. szeptember 17. Az elektrolízis Faraday-törvényei mkit Nm/A(k/A)It k/a 1--szer egy adott érték (egység létezése) minden egy vegyértékű elem 1 moljának

Részletesebben

Atommodellek de Broglie hullámhossz Davisson-Germer-kísérlet

Atommodellek de Broglie hullámhossz Davisson-Germer-kísérlet Atommodellek de Broglie hullámhossz Davisson-Germer-kísérlet Utolsó módosítás: 2016. május 4. 1 Előzmények Az atomok színképe (1) A fehér fény komponensekre bontható: http://en.wikipedia.org/wiki/spectrum

Részletesebben

Neutrinódetektorok és részecske-asztrofizikai alkalmazásaik

Neutrinódetektorok és részecske-asztrofizikai alkalmazásaik Neutrinódetektorok és részecske-asztrofizikai alkalmazásaik ELTE Budapest 2013 december 11 Péter Pósfay 2/31 1. A neutrínó Tartalom 2. A neutrínó detektorok működése Detektálási segítő kölcsönhatások Detektorok-fajtái

Részletesebben

Röntgensugárzás 9/21/2014. Röntgen sugárzás keltése: Röntgen katódsugárcső. Röntgensugárzás keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás

Röntgensugárzás 9/21/2014. Röntgen sugárzás keltése: Röntgen katódsugárcső. Röntgensugárzás keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás 9/1/014 Röntgen Röntgen keletkezése Tulajdonságok Anyaggal való kölcsönhatás Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken on December 1895 and presented

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

Óriásrezonanciák vizsgálata és neutronbőr-vastagság mérések a FAIR gyorsítónál

Óriásrezonanciák vizsgálata és neutronbőr-vastagság mérések a FAIR gyorsítónál Óriásrezonanciák vizsgálata és neutronbőr-vastagság mérések a FAIR gyorsítónál (Repülési-idő neutron spektrométer fejlesztése az Atomki-ban az EXL és az R3B együttműködésekhez) A töltéscserélő reakciókat

Részletesebben

Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása

Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása Egy molekula nemcsak haladó mozgást végez, de az atomjai (atomcsoportjai) egymáshoz képest is állandó mozgásban vannak. Tételezzünk fel egy olyan mechanikai

Részletesebben

SZERKEZETVIZSGÁLAT LABORATÓRIUM. Röntgen fotoelektron-spektroszkópia (ESCA)

SZERKEZETVIZSGÁLAT LABORATÓRIUM. Röntgen fotoelektron-spektroszkópia (ESCA) SZERKEZETVIZSGÁLAT LABORATÓRIUM Röntgen fotoelektron-spektroszkópia (ESCA) Elméleti alapok A röntgen fotoelektron-spektroszkópia (X-Ray Photoelectron Spectroscopy XPS) eredete Hertz XIX. század végi munkásságáig

Részletesebben

Az atomi környezet hatása a rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetekre Az OTKA 67873 sz. kutatási pályázat zárójelentése

Az atomi környezet hatása a rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetekre Az OTKA 67873 sz. kutatási pályázat zárójelentése Az atomi környezet hatása a rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetekre Az OTKA 67873 sz. kutatási pályázat zárójelentése Rezonáns és nem rezonáns belsőhéj átmenetek 3d átmeneti fémekben és ötvözeteikben

Részletesebben

SZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI

SZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI SZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI 30 Műszeres ÁSVÁNYHATÁROZÁS XXX. Műszeres ÁsVÁNYHATÁROZÁs 1. BEVEZETÉs Az ásványok természetes úton, a kémiai elemek kombinálódásával keletkezett (és ma is keletkező),

Részletesebben

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses

Részletesebben

Röntgendiagnosztikai alapok

Röntgendiagnosztikai alapok Röntgendiagnosztikai alapok Dr. Voszka István A röntgensugárzás keltésének alternatív lehetőségei (röntgensugárzás keletkezik nagy sebességű, töltéssel rendelkező részecskék lefékeződésekor) Röntgencső:

Részletesebben

Gamma-spektrometria HPGe detektorral

Gamma-spektrometria HPGe detektorral Gamma-spektrometria HPGe detektorral 1. Bevezetés A gamma-spektrometria az atommagból valamilyen magfolyamat következtében (radioaktív bomlás, mesterséges vagy természetes magreakció) kilépő gamma sugárzás

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2013. január Elektromágneses hullám Transzverzális hullám elektromos térerősségvektor hullámhossz E B x mágneses térerősségvektor

Részletesebben

Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással. Erdélyi Zoltán

Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással. Erdélyi Zoltán Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással Erdélyi Zoltán Debreceni Egyetem, Szilárdtest Fizika Tanszék Erdélyi Zoltán ESS minikonferencia 1

Részletesebben

A CSEPEL MŰVEK TALAJAINAK NEHÉZFÉM SZENNYEZETTSÉGE. Készítette: Szabó Tímea, Környezettudomány MSc Témavezető: Dr. Óvári Mihály, egyetemi adjunktus

A CSEPEL MŰVEK TALAJAINAK NEHÉZFÉM SZENNYEZETTSÉGE. Készítette: Szabó Tímea, Környezettudomány MSc Témavezető: Dr. Óvári Mihály, egyetemi adjunktus A CSEPEL MŰVEK TALAJAINAK NEHÉZFÉM SZENNYEZETTSÉGE Készítette: Szabó Tímea, Környezettudomány MSc Témavezető: Dr. Óvári Mihály, egyetemi adjunktus Bevezetés a talaj hazánk egyik legfontosabb erőforrása

Részletesebben

I. DOZIMETRIAI MENNYISÉGEK ÉS MÉRTÉKEGYSÉGEK

I. DOZIMETRIAI MENNYISÉGEK ÉS MÉRTÉKEGYSÉGEK 1 I. DOZIMETRIAI MENNYISÉGEK ÉS MÉRTÉKEGYSÉGEK 1) Iondózis/Besugárzási dózis (ro: Doza de ioni): A leveg egy adott V térfogatában létrejött ionok Q össztöltésének és az adott térfogatban található anyag

Részletesebben

XXXVIII. KÉMIAI ELŐADÓI NAPOK

XXXVIII. KÉMIAI ELŐADÓI NAPOK Magyar Kémikusok Egyesülete Csongrád Megyei Csoportja és a Magyar Kémikusok Egyesülete rendezvénye XXXVIII. KÉMIAI ELŐADÓI NAPOK Program és előadás-összefoglalók Szegedi Akadémiai Bizottság Székháza Szeged,

Részletesebben

A mérések általános és alapvető metrológiai fogalmai és definíciói. Mérések, mérési eredmények, mérési bizonytalanság. mérés. mérési elv

A mérések általános és alapvető metrológiai fogalmai és definíciói. Mérések, mérési eredmények, mérési bizonytalanság. mérés. mérési elv Mérések, mérési eredmények, mérési bizonytalanság A mérések általános és alapvető metrológiai fogalmai és definíciói mérés Műveletek összessége, amelyek célja egy mennyiség értékének meghatározása. mérési

Részletesebben

Magfizika tesztek. 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem

Magfizika tesztek. 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem 2. Mit nevezünk az atom tömegszámának? a) a protonok számát b) a neutronok számát c) a protonok és neutronok

Részletesebben

2.ea Fényforrások. Nagynyomású kisülő lámpák OMKTI

2.ea Fényforrások. Nagynyomású kisülő lámpák OMKTI 2.ea Fényforrások Nagynyomású kisülő lámpák 1 Különbség a kisnyomású és nagynyomású kisülések között Kis nyomáson (1-100 Pa nagyságrend): a a kevesebb ütközés, így nagy közepes úthossz miatt az elektronok

Részletesebben

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás

Részletesebben

MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson. Kató Zoltán, Pálfalvi József

MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson. Kató Zoltán, Pálfalvi József MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson Kató Zoltán, Pálfalvi József Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló 2010 A Matroshka kísérletek: Az Európai Űrügynökség (ESA) dozimetriai programjának

Részletesebben

Biofizika tesztkérdések

Biofizika tesztkérdések Biofizika tesztkérdések Egyszerű választás E kérdéstípusban A, B,...-vel jelölt lehetőségek szerepelnek, melyek közül az egyetlen megfelelőt kell kiválasztani. A választ írja a kérdés előtt lévő kockába!

Részletesebben

Röntgendiagnosztika és CT

Röntgendiagnosztika és CT Röntgendiagnosztika és CT 2013.04.09. Röntgensugárzás Elektromágneses sugárzás (f=10 16 10 19 Hz, E=120eV 120keV (1.9*10-17 10-14 J), λ

Részletesebben

Atomok. szilárd. elsődleges kölcsönhatás. kovalens ionos fémes. gázok, folyadékok, szilárd anyagok. ionos fémek vegyületek ötvözetek

Atomok. szilárd. elsődleges kölcsönhatás. kovalens ionos fémes. gázok, folyadékok, szilárd anyagok. ionos fémek vegyületek ötvözetek Atomok elsődleges kölcsönhatás kovalens ionos fémes véges számú atom térhálós szerkezet 3D ionos fémek vegyületek ötvözetek molekulák atomrácsos vegyületek szilárd gázok, folyadékok, szilárd anyagok Gázok

Részletesebben

Fermi Dirac statisztika elemei

Fermi Dirac statisztika elemei Fermi Dirac statisztika elemei A Fermi Dirac statisztika alapjai Nagy részecskeszámú rendszerek fizikai jellemzéséhez statisztikai leírást kell alkalmazni. (Pl. gázokra érvényes klasszikus statisztika

Részletesebben

NEUTRON-DETEKTOROK VIZSGÁLATA. Mérési útmutató BME NTI 1997

NEUTRON-DETEKTOROK VIZSGÁLATA. Mérési útmutató BME NTI 1997 NEUTRON-DETEKTOROK VIZSGÁLATA Mérési útmutató Gyurkócza Csaba, Balázs László BME NTI 1997 Tartalomjegyzék 1. Bevezetés 3. 2. Elméleti összefoglalás 3. 2.1. A neutrondetektoroknál alkalmazható legfontosabb

Részletesebben

RÖNTGEN- ÉS ELEKTRONGERJESZTÉSES ELEKTRON- SPEKTROMETRIAI MÓDSZEREK ÉS ALKALMAZÁSAIK

RÖNTGEN- ÉS ELEKTRONGERJESZTÉSES ELEKTRON- SPEKTROMETRIAI MÓDSZEREK ÉS ALKALMAZÁSAIK RÖNTGEN ÉS ELEKTRONGERJESZTÉSES ELEKTRON SPEKTROMETRIAI MÓDSZEREK ÉS ALKALMAZÁSAIK Tóth József MTA ATOMKI, Debrecen Az elektronspektrometria a különbözô atomfizikai, szilárdtestfizikai, felületfizikai

Részletesebben

Modern Fizika Labor. A mérés száma és címe: A mérés dátuma: Értékelés: Infravörös spektroszkópia. A beadás dátuma: A mérést végezte:

Modern Fizika Labor. A mérés száma és címe: A mérés dátuma: Értékelés: Infravörös spektroszkópia. A beadás dátuma: A mérést végezte: Modern Fizika Labor A mérés dátuma: 2005.10.26. A mérés száma és címe: 12. Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 2005.11.09. A mérést végezte: Orosz Katalin Tóth Bence 1 A mérés során egy

Részletesebben