2.2. Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása
|
|
- Katalin Törökné
- 8 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük Az általam használt kísérleti berendezések és azok mködésének bemutatása Az ATOMKI ESA-31 jel spektrométere Méréseim egy részét az ATOMKI-ban, az Atomfizikai Fosztály Elektronspektroszkópiai és Anyagtudományi Osztályán végeztem, az ESA-31 típusú elektronspektrométerrel [104]. (9. ábra) A spektrométer több mérési módszer alkalmazását is lehetvé teszi. Gerjesztforrásként egy VG LEG-62 elektronágyút és két ikeranódos (egyenként két anódot tartalmazó) röntgenforrást tartalmaz. Az elektronágyú 100 ev ev primer energiájú elektronok elállítására képes. Esetenként a maximális energiát a mintára kapcsolt gyorsítófeszültség segítségével 10 kev-ig növeltük. A kiválasztott primer energiától és az ágyú egyéb beállításaitól függen a mintára jutó nyaláb áram 5 na-tl 3 µa-ig változhat. Az elektronnyaláb áramát az ágyú elé beforgatható Faraday-csészével, vagy a mintatartóra kapcsolt árammérvel ellenrizhetjük. A primer és az analizálandó elektronok iránya által bezárt szög 130 0, amely nem változtatható. A röntgenforrások házi fejlesztések [ ], Al/Ag és Cu/Mo anódokat tartalmaznak. Az Al/Ag anód esetében a kisenergiás (< 1.5 kev) fékezési sugárzás kiszrésére egy, az anód és a minta közé helyezett 0.9 µm vastagságú alumínium fóliát használunk. A másik, Cu/Mo anódokat tartalmazó röntgencs kijáratán nincs szrfólia, így az kedvezbben alkalmazható fékezési sugárzással való gerjesztésre. Az anódok túlmelegedését zárt rendszer keringtetéses ioncserélt vízhtés akadályozza meg. A mintába érkez fotonok és az analizálandó elektronok iránya által bezárt szög állandó,
2 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük ábra: Az ESA-31 spektrométer vázlata
3 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 37 A mérend minta egy három irányban mozgatható és két, egymásra merleges tengely körüli forgást biztosító mintatartóra kerül. A transzlációs mozgásokat biztosító mechanika 2 µm pontosságú, míg a minta döntését biztosító kb. 0.5 fok pontosságú beállítást tesz lehetvé. A transzlációs elmozdulások pontos beállításának nagy szerepe van a mérések reprodukálhatóságát illeten, valamint a besugárzási és gyjtési folt kiválasztásában és egybeesésük biztosításában. Az analizálandó elektronok kilépésének iránya körüli mintaelforgatás lehetvé teszi, hogy amorf (amorfizált) minta esetében a szórás kristályeffektusoktól való mentességét ellenrizhessük. Az analizálás tengelyére merleges irány körüli elforgatás lehetséget biztosít az AR-XPS módszer alkalmazására. A mintából kilép, analizálandó elektronok egy 12 elemes lencserendszerbe kerülnek. Ez az elektronoptikai eszköz a nyalábot az analizátor belép résére fókuszálja, valamint energiájukat a kívánt fékezési arányban lecsökkenti. Az elektronok fékezésére a jobb energiafeloldás érdekében van szükség. Az elektronok ezután egy os, 250 mm munkasugarú, félgömb-típusú analizátorba kerülnek. Az analizátor δ = E relatív feloldása egy, a be- és kilép rés, valamint az analizátor méretei által meghatározott állandó, jelen esetben 4.5 E P 3 10 ; ahol E az analizátor válaszfüggvényének félértékszélessége az E P analizálandó elektronok energia esetén. Méréseink során az ún. FRR (Fixed Retardation Ratio), azaz állandó fékezési arányú üzemmódot használtuk. Ekkor az analizátor abszolút energia-feloldására a E E = δ (32) k adódik, ahol E a mintából kilép elektron energiája, k pedig a beállított fékezési arány. A használandó fékezési arány értékét mindig az adott mérésnél alkalmazható legrosszabb energiafelbontás eléréséhez célszer igazítani, mert a fékezés
4 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 38 növekedtével az analizátorba jutó elektronok száma, tehát a mérhet intenzitás, drasztikusan csökken. Az energiaanalizálás után a kilép résen átjutó elektronok detektálását és számlálását egy csatorna elektronsokszorozó (channeltron) végzi. A mérésvezérl és adatgyjt rendszert egy Intel Pentium III, kétprocesszoros, Linux operációs rendszert használó számítógép irányítja. A lencserendszerre és az analizátorra adandó feszültséggel arányos értéket egy 16 bites, párhuzamos porton keresztüli jel formájában állítja el és adja tovább a mértápegység(ek) felé. A detektor jelét, a jelersít és jelformáló elektronikai egységeken keresztül egy 6 Mhz számolási sebesség mérkártyán keresztül fogadja és számlálja. A házi fejlesztés mérésvezérl program felhasználóbarát, grafikus környezettel rendelkezik [108]. A mérés alatt a spektrumot a gyjtéssel egyidben grafikonon megjeleníti, a felhasználó a mérés folyamatába interaktív módon avatkozhat be, de akár hosszabb mérések automatikus elvégzésére is utasítást adhat. A program egyúttal a korábban mért spektrumokkal történ, alapvet összehasonlítási mveletek elvégzését is lehetvé teszi. A program kimeneteként a mérési adatokat, paramétereket és kísér információkat szabványos, VAMAS szerkezet fájlban tárolja [109]. A vezérl számítógép által elállított digitális jelet a precíziós mértápegység(ek)be épített digitál-analóg-konverter (DAC) alakítja nagyfeszültséggé. A spektrométer energiamérési pontosságát alapveten ezeknek a tápegységeknek a stabilitása határozza meg. Méréseim során az ATOMKI-ben gyártott, 3 és 10 kv maximális feszültség elállítására alkalmas, nagy hmérséklet stabilitású (jobb, mint /K), precíziós, vezérelhet; és lebegtethet, 1 és 3 kv-os kézzel beállítható tápegységeket használtam. Minden mérberendezés alkalmazásának els lépése a mszer hitelesítése. A spektrométerek esetében ezen eljárás fontos része az energiakalibráció. Szükség van továbbá a mvelet idrl-idre történ megismétlésére is, hiszen pl. a mszert (pl. a tápegységeket) alkotó elektronikus elemek öregedése, a spektrométer elektródáinak
5 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 39 felületeire lerakódó szennyezdések megjelenése, a mérkamrában lév maradék mágneses tér változása a paraméterek folyamatos változásához vezethetnek. Kalibráció folyamatán a vezérl jel és az azzal vezérelt, a valóságban ténylegesen megjelen mennyiség közötti függvénykapcsolat empirikus megállapítását értjük. Jelen esetben a mérésvezérl számítógép által kiadott, a tápegység digitál-analóg konverterére kerül jele és a mintából kilép elektronok közül az elektrosztatikus analizátor által kiválasztott majd detektált elektronok energiája közötti kapcsolatot keressük. Erre a célra a szakirodalomból már ismert energiájú fotoelektron vonalakat, jelen esetben a Mg Kα, Al Kα, Cu Kα 1,2 és Lα, valamint Mo Lα és Lβ sugárzással keltett Ag 3d 5/2, Cu 2p 3/2 és Au 4f 7/2 fotoelektron vonalakat (1. táblázat) használtunk. átmenet hν / ev Mg Kα 1253,67 Al Kα 1486,67 Cu Kα ,78 Cu Kα ,78 Cu Lα 929,70 Mo Lα 2293,16 Mo Lβ 2394,81 nívó E K / ev Ag 3d 5/2 368,27 Cu 2p 3/2 932,66 Au 4f 7/2 83,99 1. táblázat: Az ESA-31 spektrométer kalibrálásához használt röntgen gerjesztések átmeneti energiái (hν) és az anyagok (fémek) kalibráló nívóinak kötési energiái (E K ) A kalibrációs pontokhoz tartozó kinetikus energiaértékek és a számítógép által kiadott feszültségvezérl jel közötti kapcsolat lineárisnak adódott: E = slope V + offset (33) ahol V a vezérl jel (DAC cím), E a spektrométer által kiválasztott energia, slope és offset pedig az illesztett meredekség és tengelymetszet paraméterek. Az energiakalibráció a hitelesít fém mintákból keltett kalibráló fotoelektron vonalak Fermi nívójához viszonyított energiáin alapszik. Az energiamérés pontosságát befolyásolhatja a minta feltöltdésébl adódó változás. A jelenség forrása az, hogy egyes esetekben a bejöv és elmen töltésmennyiségek közötti különbség miatt a minta elektronhiányos állapotba kerül, így ert gyakorol az
6 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 40 azt elhagyó elektronokra. Ehhez vezethet pl. vezet minták esetében, ha a minta és a mintatartó között nincs megfelel elektromos kontaktus. A zavaró hatás a kontaktus helyreállításával ill. a távolságok növelésével megszüntethet. Szigetel minták esetében a feltöltdés elleni védekezés bonyolultabb. Mintakészítésnél, ha lehet, ajánlatos fém alapot használni és csak a szükséges vastagságú szigetel réteget felvinni rá, vagy a már kész, vastagabb réteget valamilyen alkalmas technikával elvékonyítani. Szerencsésebb esetben a szigetel minta homogén módon töltdik fel, így ezzel csupán a kalibráció additív tagja módosul. Az ilyen típusú feltöltdés kiküszöbölésére szokás pl. az eltávozott elektronok külön elektronágyúval, ún. flood-gun-nal való pótlása. Elfordulhat azonban az ún. differenciális feltöltdés, amikor a minta egyes részei más-más potenciálra kerülnek. Ez a spektrumban kiszélesedett, a kisebb kinetikus energiák felé elkent vonalakat eredményez. A differenciális feltöltdés ellen nehezebb védekezni, az ilyen esetekre már a minta elkészítésekor gondolni kell, és pl. mikrométer körüli rácsállandójú vezet rácsmintát párologtatni a minta felületére, amit aztán a mintatartóval elektromos kontaktusba kell hozni. Az ESA-31 spektrométer általában szilárd anyagok vizsgálatára használatos. A vékony tipikusan pár mm vastagságú lapkákat egy alumínium mintatartóra rögzítjük. Speciálisan kialakított, öblös mintatartók esetében lehetség van porminták vizsgálatára is. A minták felülete tipikusan 10x10 mm, maximum 15x15 mm, minimálisan pedig a transzportlencse gyjtési foltjának megfelel méret. A mintapreparálás során az egyik lényeges szempont az elzekben leírt feltöltdés elkerülése. A felragasztáshoz ezért elektromosan vezet, ezüst tartalmú pasztát használunk. Egy másik általános kívánalom a felületi durvaság minimalizálása, mivel érdesebb felületrl sokkal kisebb elektron intenzitás figyelhet meg. Ezt leginkább a megfelel mintapreparálási eljárással, néha mechanikai polírozással érjük el. A jó vákuumszint biztosításának érdekében lényeges szempont még a minta és a mintatartó felületére az atmoszférában lerakódott szennyezdések csökkentése. A mintatartót ezért a preparálás eltt ultrahangos tisztításnak vetjük alá. A minták felületének tisztaságáról a preparáló kamrában in-situ alkalmazható eljárásokkal gondoskodunk.
7 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 41 Az így kapott minta egy gyorsan leszívható zsilipkamrán keresztül jut a vákuumrendszerbe. A zsilipkamrából kb mbar nyomás elérése után a minta vákuumban a preparálókamrába továbbítható. Gyakran elfordul, hogy az atmoszféráról a vákuumba kerül minták csak lassan (percektl napokig terjed idk alatt) válnak stabillá, addig folyamatosan deszorbeálva a felületükön vagy a mélyebb rétegekben megkötött gázokat, esetleg leadva kristályvizüket. Ezért ez a kamraszakasz nagy szívóteljesítmény, gyors szivattyúkkal van felszerelve és egyidejleg több minta tárolására is alkalmas. A vákuumszint stabilizálódása után lehetség van a minták felületének Ar + ion bombázásos megtisztítására. Megfelel energiájú és intenzitású ionok alkalmazásával a felületi szennyezdés és oxidréteg eltávolítására, míg nagyobb dózisok, mérés közbeni szakaszos használatával a minta (destruktív) mélységi analízisére van lehetség. A megtisztított (porlasztással maratott) minta a preparálókamrából, vákuumban a mérkamrába mozgatható. A felületanalitikai módszerek általában jó minség, legalább néhányszor 10-9 mbar-os vákuumban alkalmazhatóak. Az ESA-31 mérkamrájában ezt egy Varian StarCell típusú, 500 l/s szívóteljesítmény ion-getter és egy, az ATOMKI-ban gyártott Ti szublimációs szivattyú biztosítják, melyek megfelel körülmények között a mérkamrában mbar nyomást tartanak fenn. A félgömb analizátor és a lencserendszer terében differenciális szívást alkalmazunk, egy Leybold IZ270 típusú, 270 l/s szívósebesség ion-getter szivattyúval. A preparálókamrában, amelyben minden típusú gázra egyformán nagy szívóteljesítményt szeretnénk elérni, egy házi fejlesztés 700 l/s-os, UVD-700 típusú olajdiffúziós szivattyú üzemel. Az esetleges olajgz párolgás minimalizálására itt vízhtéses sevron csapdát és egy, a vákuumszintet és a szivattyú htését folyamatosan figyel biztonsági elektronika által mködtetett pneumatikus gyorsszelepet használunk. A diffúziós szivattyú elvákuumát egy zeolit tartalmú szorpciós-, és egy szakaszosan mködtetett rotációs szivattyú adja. A diffúziós szivattyú mellett alkalmazunk egy, a mérkamráéval egyez Ti szublimációs szivattyút is. A zsilipkamra gyors leszívását egy Leybold, 70 l/s
8 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 42 szívóteljesítmény turbó-molekuláris szivattyú végzi, melynek elvákuumát szintén egy rotációs szivattyú biztosítja. Méréseim során az elérhet gerjesztforrások közül az Al és Cu anódú röntgencsövek Al és Cu Kα karakterisztikus sugárzását valamint fékezési sugárzását (Cu), ill. a 200 ev 10 kev elektron energiatartományban az elektronágyút használtam. A rendelkezésre álló mérési technikák közül az EPES, REELS, XPS, AR-XPS és XAES módszereket alkalmaztam. A DESY-HASYLAB-BW2-SES200 mérberendezése A mérések másik része Németországban, a hamburgi DESY (Deutschen Elektronen Synchrotron) HASYLAB (Hamburger Synchrotronstrahlungslabor) intézetében történt. A mérberendezés a DORIS tárológyr BW2-jel nyalábcsatornáján helyezkedik el [110]. Ez a multifunkciós nyalábcsatorna nagy intenzitású, a kev energiatartományban folytonosan hangolható, monokromatikus fotonnyalábot szolgáltat. [111]. Fotonforrásként a tárológyrben egy 56 pólusú hibrid röntgen wiggler szolgál, amely a 4.5 GeV-os elektron energia mellett a 10 kev körüli röntgen energiák szolgáltatására optimalizált. A nyaláb fbb optikai elemei az arany bevonatú, 6 mrad térszög eltükör, egy 20 µm-es szén-fólia ablak, egy ketts kristály monokromátor és egy, a függleges fókuszt biztosító arany bevonatú tükör. Az eltükör és ablak egyúttal sávszrként is szolgál, csökkentve ezzel a monokromátorokra es hterhelést. A monokromátor két párhuzamos Si(111) kristályból áll. Az els kristály htött és a htágulásából adódó rácsállandó változása mechanikai feszültség alkalmazásával, a kristály hajlításával kompenzálható. A céltárgyra irányított monokromatizált nyaláb további, távirányítással állítható résekkel formálható. A nyaláb tipikus energiaszórása 3000 ev foton energiánál 0.5 ev félértékszélesség. A mintán a röntgennyaláb mérete vertikálisan 0.3 mm, horizontálisan pedig kb. 2 mm. A nyaláb tipikus intenzitása, 3 kev-es foton energiánál,
9 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 43 3x10 12 foton/másodperc. A monokromatikus nyaláb folyamatos intenzitásellenrzése egy, az útjába helyezett, nagy áteresztképesség réz hálóval történik. A mintából, a bejöv nyaláb irányához képest ban, vízszintes síkban kilép elektronokat egy SCIENTA SES-200 típusú, félgömb analizátorú spektrométerrel figyeljük meg. (10. ábra) Annak biztosítására, hogy a besugárzási folt és a gyjtési folt egybeessenek, az adott helyzet fontonnyalábhoz képest az egész spektrométert mozgatni kell. Ennek érdekében a spektrométer egy léptetmotorok által mozgatható asztalra van építve, amelynek helyzete 10 µm-es 10. ábra: A SES-200 spektrométer vázlata pontossággal állítható be. A mintából megfelel irányban kilép elektronok elször egy többelemes transzportlencserendszerbe kerülnek, amely nyalábformáló és fékez funkciót lát el. A transzportlencse az elektronokat az energia-analizátor bemen résére fókuszálja, miközben az éppen mérend kinetikus energiától független, konstans energiára fékezi ket. Az analizátor ezen a konstans, 150 ev állandó átmen energián, ún. FAT (Fixed Analyzer Transmission) módban mködik, ahol az energiafeloldása kb. 300 mev. Az analizátor kalibrálása az ESA-31-éhez hasonlóan, az ott bemutatott módon, ismert energiájú foto- és Auger vonalak felhasználásával történik. A detektálást, a kilép résnél elhelyezett, energiadiszperzív irányban helyzetérzékeny detektor, ún. channelplate végzi. Ezzel a detektálási hatásfok növekedése érhet el, mivel így a fékezlencse és analizátor egy beállításánál egy, a detektor méretei által megadott energiaablakban jelentkez elektronok egyidej, energiaszelektív észlelése lehetséges. Mérés közben a
10 2.2. Kísérleti berendezések és mködésük 44 minta egy három irányba eltolható és forgatható, távvezérelhet mintatartón helyezkedik el. A mérésvezérlés teljesen automatizált, minden mozgatást számítógép vezérelt léptetmotorok végeznek, mert mérés közben, sugárvédelmi okokból, a mérhely nem közelíthet meg. A mérkamrához egy elkészít kamra csatlakozik, ahol a minták felülettisztítására, valamint vékonyrétegek vákuumbeli párologtatására van lehetség. A párologtatott réteg növekedése rezg-kvarckristályos módszerrel (QCD, Quartz Crystal Microbalance) követhet nyomon. A bevitt vagy a preparálókamrában párologtatott minta kristályszerkezetének megfigyelésére egy kis energiájú elektronok diffrakcióján (LEED, Low Energy Electron Diffraction) alapuló eszköz ad lehetséget. A kamrarészekben a vákuum a néhányszor 10-9 mbar érték, amelynek fenntartásához turbómolekuláris és ion-getter szivattyúkat alkalmaznak.
IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56
3.1.2. IMFP meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban 56 3.1.2. Elektronok rugalmatlan szórási közepes szabad úthosszának meghatározása Co, Cu, Ge, Si és Au mintákban, a 2-10 kev elektron energia tartományban
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. május 4. A mérés száma és címe: 9. Röntgen-fluoreszencia analízis Értékelés: A beadás dátuma: 2009. május 13. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-23/16-M Dr. Szalóki Imre, fizikus, egyetemi docens Radócz Gábor,
RészletesebbenRöntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)
Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken
RészletesebbenRadioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.
Különböző sugárzások tulajdonságai Típus töltés Energia hordozó E spektrum Radioaktí sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktí sugárzások detektálása. α-sugárzás pozití
RészletesebbenModern fizika laboratórium
Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
Részletesebben11. Oxid rétegek vizsgálata XPS-sel,
11. Oxid rétegek vizsgálata XPS-sel, A Fotoelektron spektroszkópia elve: Fotoelektron spektroszkópiának monokromatikus fotonokkal kiváltott fotoelektronok energia szerinti eloszlásának mérését nevezzük.
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
Részletesebben3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL
3. GAMMA-SUGÁRZÁS ENERGIÁJÁNAK MÉRÉSE GAMMA-SPEKTROMETRIAI MÓDSZERREL A gamma-sugárzás elektromágneses sugárzás, amely vákuumban fénysebességgel terjed. Anyagba ütközve kölcsönhatásba lép az anyag alkotóelemeivel,
RészletesebbenMagspektroszkópiai gyakorlatok
Magspektroszkópiai gyakorlatok jegyzıkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetıje: Deák Ferenc Mérés dátuma: 010. április 8. Leadás dátuma: 010. április 13. I. γ-spekroszkópiai mérések A γ-spekroszkópiai
RészletesebbenSugárzások kölcsönhatása az anyaggal
Radioaktivitás Biofizika előadások 2013 december Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal PTE ÁOK Biofizikai Intézet, Orbán József Összefoglaló radioaktivitás alapok Nukleononkénti kötési energia (MeV) Egy
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
Részletesebben2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS)
2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei 25 2.1.2. Az elektronspektroszkópia kísérleti módszerei (XPS, AR-XPS, AES, XAES, REELS) Ebben a feezetben a 2.1.1. alfeezetben ismertetett alapelenségekre
RészletesebbenCompton-effektus. Zsigmond Anna. jegyzıkönyv. Fizika BSc III.
Compton-effektus jegyzıkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetıje: Csanád Máté Mérés dátuma: 010. április. Leadás dátuma: 010. május 5. Mérés célja A kvantumelmélet egyik bizonyítékának a Compton-effektusnak
RészletesebbenMikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
RészletesebbenFolyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv
Folyadékszcintillációs spektroszkópia jegyz könyv Zsigmond Anna Julia Fizika MSc I. Mérés vezet je: Horváth Ákos Mérés dátuma: 2010. október 21. Leadás dátuma: 2010. november 8. 1 1. Bevezetés A mérés
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenHavancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
RészletesebbenAbszolút és relatív aktivitás mérése
Korszerű vizsgálati módszerek labor 8. mérés Abszolút és relatív aktivitás mérése Mérést végezte: Ugi Dávid B4VBAA Szak: Fizika Mérésvezető: Lökös Sándor Mérőtársak: Musza Alexandra Török Mátyás Mérés
RészletesebbenDankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenRicz Sándor. MTA Atommagkutató Intézete. SZFKI, Budapest 2013. 12. 10
Aszimmetrikus fotoelektron emisszió foton- atom és foton-h molekula kölcsönhatásban Ricz Sánor MTA Atommagkutató Intézete SZFKI, Buapest 013. 1. 10 Tartalom I. Fotoelektronok ifferenciális hatáskeresztmetszete
RészletesebbenNanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással. Erdélyi Zoltán
Nanoskálájú határfelületi elmozdulások és alakváltozások vizsgálata szinkrotron- és neutronsugárzással Erdélyi Zoltán Debreceni Egyetem, Szilárdtest Fizika Tanszék Erdélyi Zoltán ESS minikonferencia 1
RészletesebbenElektronika 2. TFBE1302
Elektronika 2. TFBE1302 Mérőműszerek Analóg elektronika Feszültség és áram mérése Feszültségmérő: V U R 1 I 1 igen nagy belső ellenállású mérőműszer párhuzamosan kapcsolandó a mérendő alkatrésszel R 3
RészletesebbenModern fizika laboratórium
Modern fizika laboratórium 11. Az I 2 molekula disszociációs energiája Készítette: Hagymási Imre A mérés dátuma: 2007. október 3. A beadás dátuma: 2007. október xx. 1. Bevezetés Ebben a mérésben egy kétatomos
RészletesebbenEnergia-diszperzív röntgen elemanalízis
Fókuszált ionsugaras megmunkálás Energia-diszperzív röntgen elemanalízis FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 EDS = Energy Dispersive Spectroscopy Hol található a SEM/FIB berendezésen?
RészletesebbenElektronspektrométerek fejlesztése az ATOMKI-ben (1970-2013)
Elektronspektrométerek fejlesztése az ATOMKI-ben (1970-2013) Kövér Ákos Atommagkutató Intézet, Magyar Tudományos Akadémia Debrecen Magspektroszkópiától az atomi ütközések fizikájáig 1970-től új kutatási
RészletesebbenTartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban 4/11/2016. A fény; Abszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2016 március 1.) Az abszorpció mérése;
RészletesebbenTartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény; Abszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2015 január 27.) Az abszorpció mérése;
RészletesebbenModern Fizika Labor. 12. Infravörös spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 04. A mérés száma és címe: Értékelés:
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 011. okt. 04. A mérés száma és címe: 1. Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 011. dec. 1. A mérést végezte: Domokos Zoltán Szőke Kálmán Benjamin
RészletesebbenAbszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses
RészletesebbenEDX EBSD. Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása
EDX Elméleti háttér Spektrumok alakja Gyakorlati alkalmazása EBSD Elméleti háttér Felület előkészítése Orientálás Hough-transzformáció IPF, IQ Felület minősége 2 Elektron besugárzás Röntgen foton kisugárzás
RészletesebbenA gamma-sugárzás kölcsönhatásai
Ref. [3] A gamma-sugárzás kölcsönhatásai Az anyaggal való kölcsönhatás kis valószínűségű hatótávolság nagy A sugárzás gyengülését 3 féle kölcsönhatás okozza. fotoeffektus Compton-szórás párkeltés A gamma-fotonok
Részletesebben19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata
19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata PÁPICS PÉTER ISTVÁN csillagász, 3. évfolyam Mérőpár: Balázs Miklós 2006.04.19. Beadva: 2006.05.15. Értékelés: A MÉRÉS LEÍRÁSA Fontos megállapítás, hogy a fénysugárzásban
RészletesebbenSzilárd Leó Fizikaverseny Számítógépes feladat
Szilárd Leó Fizikaverseny 2006. Számítógépes feladat A feladat során 10 B atommagok gerjesztett állapotának (rövid) élettartamát fogjuk megmérni. Egy gyorsító-berendezéssel 10 B ionokat (atommagokat) gyorsítunk,
Részletesebben3 He ionokat pedig elektron-sokszorozóval számlálja. A héliummérést ismert mennyiségű
Nagytisztaságú 4 He-es izotóphígítás alkalmazása vízminták tríciumkoncentrációjának meghatározására a 3 He leányelem tömegspektrométeres mérésén alapuló módszerhez Az édesvízkészletek felmérésében, a rétegvizek
RészletesebbenMérési jegyzőkönyv. 3. mérés: Röntgen-cső, emissziós spektrumok, abszorpció
Mérési jegyzőkönyv 3. mérés: Röntgen-cső, emissziós spektrumok, abszorpció A mérés helyszíne: Semmelweis Egyetem, Elméleti Orvostudományi Központ Biofizika laboratórium A mérés időpontja: 2013.02.27. A
RészletesebbenTechnoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary. Innováció és Kommunikáció február 20.
Egy high tech cég g 17 éve Út t a kutatói ötletektıl l a világsz gszínvonalú termékekig egy tudományos mőszerfejlesztm szerfejlesztı vállalkozás s példp ldáján Technoorg Linda Ltd. Co. Budapest, Hungary
RészletesebbenFélvezetk vizsgálata
Félvezetk vizsgálata jegyzkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetje: Böhönyei András Mérés dátuma: 010. március 4. Leadás dátuma: 010. március 17. Mérés célja A mérés célja a szilícium tulajdonságainak
RészletesebbenAz Amptek XRF. Exp-1. Experimeter s Kit. Biztonsági útmutatója
Az Amptek XRF Exp-1 Experimeter s Kit Biztonsági útmutatója Tartalom 1. Detektor... 2 2. Mérési indítása, leállítása; törlés... 3 3. Mérési idő beállítása... 5 4. Röntgengenerátor kezelése... 6 5. Interlock
RészletesebbenNAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK Dr. Palotás Béla Mechanikai Technológia és Anyagszerkezettani Tanszék Elektronsugaras hegesztés A katódból kilépő
Részletesebben----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró
RészletesebbenModern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18.
Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 28. március 18. A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 28. március 26. A mérést végezte: 1/7 A mérés leírása:
Részletesebben-A homogén detektorok közül a gyakorlatban a Si és a Ge egykristályból készültek a legelterjedtebbek.
Félvezető detektorok - A legfiatalabb detektor család; a 1960-as évek közepétől kezdték alkalmazni őket. - Működésük bizonyos értelemben hasonló a gáztöltésű detektorokéhoz, ezért szokták őket szilárd
RészletesebbenDeme Sándor MTA EK. 40. Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló, 2015. április 21-23.
A neutronok személyi dozimetriája Deme Sándor MTA EK 40. Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló, 2015. április 21-23. Előzmény, 2011 Jogszabályi háttér A személyi dozimetria jogszabálya (16/2000
RészletesebbenMűszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása
Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása
RészletesebbenNi és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge
Ni és Ge felületi rétegekb l keltett K-Auger spektrumok elemzése Analysis of K-Auger spectra excited from surface layers of Ni and Ge doktori (PhD) értekezés tézisei abstracts of Ph.D. thesis Egri Sándor
RészletesebbenElektronika 2. TFBE5302
Elektronika 2. TFBE5302 Mérőműszerek Analóg elektronika Feszültség és áram mérése Feszültségmérő: V U R 1 I 1 igen nagy belső ellenállású mérőműszer párhuzamosan kapcsolandó a mérendő alkatrésszel R 3
RészletesebbenKft. Audiotechnika Kft.
Karotázs Kft. Audiotechnika Kft. Projektzáró előadás Műszerfejlesztés kutak fúrások tesztelésére Projekt azonosító száma: GOP-1.3.1-08/1-2008-0006 Projekt lezárása: 2011. december 16. Brenner Csaba, Henézi
RészletesebbenA kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről
A kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről Utolsó módosítás: 2016. május 4. 1 Előzmények Franck-Hertz-kísérlet (1) A Franck-Hertz-kísérlet vázlatos elrendezése: http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/frhz.html
RészletesebbenBenapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem, Építészmérnöki Kar, Épületenergetikai és Épületgépészeti Tanszék, 1111 Budapest, Műegyetem rkp. 3. K.II.31. Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése
RészletesebbenMézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19.
és lézerek Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. Fény és anyag kölcsönhatása 2 / 19 Fény és anyag kölcsönhatása Fény és anyag kölcsönhatása E 2 (1) (2) (3) E 1 (1) gerjesztés (2) spontán
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok
RészletesebbenTextíliák felületmódosítása és funkcionalizálása nem-egyensúlyi plazmákkal
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Textíliák felületmódosítása és funkcionalizálása nem-egyensúlyi plazmákkal Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán
RészletesebbenKutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése
Kutatási beszámoló 2015. február Gyüre Balázs BME Fizika tanszék Dr. Simon Ferenc csoportja Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése A TKI-Ferrit Fejlsztő és Gyártó Kft.-nek munkája
RészletesebbenAz ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika
RészletesebbenRöntgensugárzás. Röntgensugárzás
Röntgensugárzás 2012.11.21. Röntgensugárzás Elektromágneses sugárzás (f=10 16 10 19 Hz, E=120eV 120keV (1.9*10-17 10-14 J), λ
RészletesebbenModern fizika vegyes tesztek
Modern fizika vegyes tesztek 1. Egy fotonnak és egy elektronnak ugyanakkora a hullámhossza. Melyik a helyes állítás? a) A foton lendülete (impulzusa) kisebb, mint az elektroné. b) A fotonnak és az elektronnak
RészletesebbenGamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére
Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére OAH-ABA-16/14-M Dr. Szalóki Imre, egyetemi docens Radócz Gábor, PhD
RészletesebbenVezetők elektrosztatikus térben
Vezetők elektrosztatikus térben Vezető: a töltések szabadon elmozdulhatnak Ha a vezető belsejében a térerősség nem lenne nulla akkor áram folyna. Ha a felületen a térerősségnek lenne tangenciális (párhuzamos)
RészletesebbenAbszorpció, emlékeztetõ
Hogyan készültek ezek a képek? PÉCI TUDMÁNYEGYETEM ÁLTALÁN RVTUDMÁNYI KAR Fluoreszcencia spektroszkópia (Nyitrai Miklós; február.) Lumineszcencia - elemi lépések Abszorpció, emlékeztetõ Energia elnyelése
RészletesebbenMunkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél
Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél Fémgőz és plazma Buza Gábor, Bauer Attila Messer Innovation Forum 2016. december
RészletesebbenA regionális gazdasági fejlődés műszaki - innovációs hátterének fejlesztése
A regionális gazdasági fejlődés műszaki - innovációs hátterének fejlesztése TÁMOP- 4.2.1/B-09/1/KONV-2010-0006 Energetika, környezetvédelem alprojekt Fókuszáló napkollektor fejlesztése Divós Ferenc, Németh
RészletesebbenTxBlock-USB Érzékelőfejbe építhető hőmérséklet távadó
TxBlock-USB Érzékelőfejbe építhető hőmérséklet távadó Bevezetés A TxBlock-USB érzékelőfejbe építhető, kétvezetékes hőmérséklet távadó, 4-20mA kimenettel. Konfigurálása egyszerűen végezhető el, speciális
Részletesebben7. Laboratóriumi gyakorlat KIS ELMOZDULÁSOK MÉRÉSE KAPACITÍV ÉS INDUKTÍV MÓDSZERREL
7. Laboratóriumi gyakorlat KIS ELMOZDULÁSOK MÉRÉSE KAPACITÍV ÉS INDUKTÍV MÓDSZERREL 1. A gyakorlat célja Kis elmozulások (.1mm 1cm) mérésének bemutatása egyszerű felépítésű érzékkőkkel. Kapacitív és inuktív
RészletesebbenRöntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD)
Röntgenanalitika Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD) A röntgensugárzás Felfedezése (1895, W. K. Röntgen, katódsugárcső,
RészletesebbenATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA
ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA Elvi jellemzők, amelyek meghatározzák a készülék felépítését magas hőmérsékletű fényforrás (elsősorban plazma, szikra, stb.) kis méretű sugárforrás (az önabszorpció csökkentése
RészletesebbenRadioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.
Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása. Magsugárzások (α, β, γ) kölcsönhatása atomi rendszerekkel (170-174, 540-545 o.) Direkt és
RészletesebbenPlazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel
Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel Urbán Péter Kun Éva Sós Dániel Ferenczi Tibor Szabó Máté Török Tamás Tartalom A Plasmatreater AS400 működési
RészletesebbenEGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS. Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára
EGÉSZTESTSZÁMLÁLÁS Mérésleírás Nukleáris környezetvédelem gyakorlat környezetmérnök hallgatók számára Zagyvai Péter - Osváth Szabolcs Bódizs Dénes BME NTI, 2008 1. Bevezetés Az izotópok stabilak vagy radioaktívak
RészletesebbenNév... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez
A Név... Válassza ki a helyes mértékegységeket! állandó intenzitás abszorbancia moláris extinkciós A) J s -1 - l mol -1 cm B) W g/cm 3 - C) J s -1 m -2 - l mol -1 cm -1 D) J m -2 cm - A Wien-féle eltolódási
RészletesebbenA Mössbauer-effektus vizsgálata
A Mössbauer-effektus vizsgálata Tóth ence fizikus,. évfolyam 006.0.0. csütörtök beadva: 005.04.0. . A mérés célja három minta: lágyvas, nátrium-nitroprusszid és rozsdamentes acél Mössbauereffektusának
RészletesebbenAuger elektron spektroszkópia (AES)
Auger elektron spektroszkópia (AES) Az AES módszer elve Pierre Auger francia fizikus röntgensugárzással gerjesztett argon atomok gerjesztési folyamatainak Wilson-féle ködkamrában történő tanulmányozása
RészletesebbenModern Fizika Labor Fizika BSC
Modern Fizika Labor Fizika BSC A mérés dátuma: 2009. március 2. A mérés száma és címe: 5. Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 2009. március 5. A mérést végezte: Márton Krisztina Zsigmond
RészletesebbenHangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 3. MÉRÉS Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. november 23. Szerda délelőtti csoport 1. A
RészletesebbenFényhullámhossz és diszperzió mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 9. MÉRÉS Fényhullámhossz és diszperzió mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 19. Szerda délelőtti csoport 1. A mérés célja
Részletesebben9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK
9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK 1.A gyakorlat célja Az MPX12DP piezorezisztiv differenciális nyomásérzékelő tanulmányozása. A nyomás feszültség p=f(u) karakterisztika megrajzolása. 2. Elméleti
RészletesebbenELEKTRONIKAI ALKATRÉSZEK
ELEKTRONIKAI ALKATRÉSZEK VEZETÉS VÁKUUMBAN (EMISSZIÓ) 2. ELŐADÁS Fémek kilépési munkája Termikus emisszió vákuumban Hideg (autoelektromos) emisszió vákuumban Fotoelektromos emisszió vákuumban KILÉPÉSI
RészletesebbenA TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI
A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására
RészletesebbenTávvezetéki szigetelők, szerelvények és sodronyok diagnosztikai módszerei és fejlesztések a KMOP-1.1.4-09-2010-0067 számú pályázat keretében Fogarasi
Távvezetéki szigetelők, szerelvények és sodronyok diagnosztikai módszerei és fejlesztések a KMOP-1.1.4-09-2010-0067 számú pályázat keretében Fogarasi Tiborné - Dr. Varga László VILLENKI VEIKI VEIKI-VNL
RészletesebbenAbszorpciós spektrometria összefoglaló
Abszorpciós spektrometria összefoglaló smétlés: fény (elektromágneses sugárzás) tulajdonságai, kettős természet fény anyag kölcsönhatás típusok (reflexió, transzmisszió, abszorpció, szórás) Abszorpció
RészletesebbenSzinkrotronspektroszkópiák május 14.
Szinkrotronspektroszkópiák 2009. május 14. információ www.szinkrotron.hu www.esrf.eu www.aps.anl.gov www.spring8.or.jp http://en.wikipedia.org/wiki/synchrotron http://www.lightsources.org/ Szinkrotrongyorsítók
RészletesebbenThomson-modell (puding-modell)
Atommodellek Thomson-modell (puding-modell) A XX. század elejére világossá vált, hogy az atomban található elektronok ugyanazok, mint a katódsugárzás részecskéi. Magyarázatra várt azonban, hogy mi tartja
RészletesebbenA 18142 típusú tápegység felhasználható minden olyan esetben, ahol 0-30V egyenfeszültségre van szükség maximálisan 2,5 A terhelıáram mellett.
Analóg DC tápegységek: 18141 típ. DC tápegység, 30V/1,2A Kijelzı: 1 db mőszer A 18141 típusú tápegység elektronikus készülékek tápfeszültség ellátására alkalmas, de felhasználható minden olyan esetben,
Részletesebben4. Fényelektromos jelenség
4. Fényelektromos jelenség Kovács György 2013. április Tartalomjegyzék 1. Bevezetés 2 2. Fotocella 3 3. Gyakorló kérdések 5 4. Mérési feladatok 5 1 1. Bevezetés Fémeket fénnyel megvilágítva, bizonyos körülmények
RészletesebbenA/D és D/A konverterek vezérlése számítógéppel
11. Laboratóriumi gyakorlat A/D és D/A konverterek vezérlése számítógéppel 1. A gyakorlat célja: Az ADC0804 és a DAC08 konverterek ismertetése, bekötése, néhány felhasználási lehetőség tanulmányozása,
RészletesebbenRöntgendiagnosztikai alapok
Röntgendiagnosztikai alapok Dr. Voszka István A röntgensugárzás keltésének alternatív lehetőségei (röntgensugárzás keletkezik nagy sebességű, töltéssel rendelkező részecskék lefékeződésekor) Röntgencső:
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai ntézet 2011. szeptember 15. E B x x Transzverzális hullám A fény elektromos térerősségvektor hullámhossz Az elektromos a mágneses térerősség
RészletesebbenSugárterápia. Ionizáló sugárzások elnyelődésének következményei. Konzultáció: minden hétfőn 15 órakor. 1. Fizikai történések
Sugárterápia 40% 35% 30% 25% 20% 15% % 5% 0% 2014/2015. tanév FOK biofizika kollokvium jegyspektruma 5 4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 Konzultáció: minden hétfőn 15 órakor Ionizáló sugárzások elnyelődésének következményei
RészletesebbenSZERKEZETVIZSGÁLAT LABORATÓRIUM. Röntgen fotoelektron-spektroszkópia (ESCA)
SZERKEZETVIZSGÁLAT LABORATÓRIUM Röntgen fotoelektron-spektroszkópia (ESCA) Elméleti alapok A röntgen fotoelektron-spektroszkópia (X-Ray Photoelectron Spectroscopy XPS) eredete Hertz XIX. század végi munkásságáig
RészletesebbenJASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS!
JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS! Szakács Tibor, Szepesi Ildikó ABL&E-JASCO Magyarország Kft. 1116 Budapest, Fehérvári út 132-144. ablehun@ablelab.com www.ablelab.com JASCO SPEKTROSZKÓPIA
RészletesebbenFúziós kutatások a BME Nukleáris Technikai Intézetében
Fúziós kutatások a BME Nukleáris Technikai Intézetében Pokol Gergő BME NTI Nukleáris Újságíró Akadémia 2014. március 6. Fúziós kutatások a BME Nukleáris Technikai Intézetében Fúziós energiatermelés bevezető
RészletesebbenLézerek. A lézerműködés feltételei. Lézerek osztályozása. Folytonos lézerek (He-Ne) Impulzus üzemű lézerek (Nd-YAG, Ti:Sa) Ultrarövid impulzusok
Lézerek Lézerek A lézerműködés feltételei Lézerek osztályozása Folytonos lézerek (He-Ne) Impulzus üzemű lézerek (Nd-YAG, Ti:Sa) Ultrarövid impulzusok Extrém energiák Alkalmazások A lézerműködés feltételei
Részletesebben- abszolút törésmutató - relatív törésmutató (más közegre vonatkoztatott törésmutató)
OPTIKAI MÉRÉSEK A TÖRÉSMUTATÓ Törésmutató fenomenologikus definíció geometriai optika eszköztára (pl. fénysugár) sini c0 n 1 = = = ( n1,0 ) c sin r c 0, c 1 = fény terjedési sebessége vákuumban, illetve
RészletesebbenAz infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása
Az infravörös spektroszkópia analitikai alkalmazása Egy molekula nemcsak haladó mozgást végez, de az atomjai (atomcsoportjai) egymáshoz képest is állandó mozgásban vannak. Tételezzünk fel egy olyan mechanikai
RészletesebbenAIRPOL PRM frekvenciaváltós csavarkompresszorok. Airpol PRM frekvenciaváltós csavarkompresszorok
Airpol PRM frekvenciaváltós csavarkompresszorok Az Airpol PRM frekvenciaváltós csavarkompresszorok változtatható sebességű meghajtással rendelkeznek 50-100%-ig. Ha a sűrített levegő fogyasztás kevesebb,
Részletesebben