V. előadás március 4.

Hasonló dokumentumok
Bevezetés a lézeres anyagmegmunkálásba

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

Mikroszerkezeti vizsgálatok

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)

Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai 5. Általános anyagszerkezeti ismeretek Fémek, ötvözetek

Modern mikroszkópiai módszerek

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez

A nagytermi gyakorlat fő pontjai

A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.

Anyagtudomány. Ötvözetek egyensúlyi diagramjai (állapotábrák)

Makroszkópos tulajdonságok, jelenségek, közvetlenül mérhető mennyiségek leírásával foglalkozik (például: P, V, T, összetétel).

Vázlat a transzmissziós elektronmikroszkópiához (TEM) dr. Dódony István

A nanotechnológia mikroszkópja

Szerkezetvizsgálat szintjei

TÖBBKOMPONENS RENDSZEREK FÁZISEGYENSÚLYAI IV.

3. Az Sn-Pb ötvözetek termikus analízise, fázisdiagram megszerkesztése. Előkészítő előadás

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Fázisátalakulások, avagy az anyag ezer arca. Sasvári László ELTE Fizikai Intézet ELTE Bolyai Kollégium

VI. előadás március 11.

Művelettan 3 fejezete

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA II: NANOTECHNOLÓGIA

TERMODINAMIKAI EGYENSÚLYOK. heterogén és homogén. HETEROGÉN EGYENSÚLYOK: - fázisegyensúly. vezérlelv:

4.3 Transzmissziós elektronmikroszkóp és a nagyfeloldású elektronmikroszkópia (HREM)

Bevezetés a lézeres anyagmegmunkálásba

ANYAGTUDOMÁNY ÉS TECHNOLÓGIA TANSZÉK. Anyagismeret 2016/17. Szilárdságnövelés. Dr. Mészáros István Az előadás során megismerjük

Ón-ólom rendszer fázisdiagramjának megszerkesztése lehűlési görbék alapján

Orvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény

Finomszerkezetvizsgálat

Szerkezetvizsgálat szintjei

Kétalkotós ötvözetek. Vasalapú ötvözetek. Egyensúlyi átalakulások.

OPTIKA. Lencse rendszerek. Dr. Seres István

A metastabilis Fe-Fe 3 C ikerdiagram (Heyn - Charpy - diagram)

Röntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA

A szilárd testek alakja és térfogata észrevehetően csak nagy erő hatására változik meg. A testekben a részecskék egymáshoz közel vannak, kristályos

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

1 Műszaki hőtan Termodinamika. Ellenőrző kérdések-02 1

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Név... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez

Bevezetés s az anyagtudományba. nyba. Geretovszky Zsolt május 13. XIV. előadás. Adja meg a következő ionok elektronkonfigurációját! N e P.

Fémek és ötvözetek termikus viselkedése

Röntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)

Röntgen sugárzás. Wilhelm Röntgen. Röntgen feleségének keze

Diffúzió 2003 március 28

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév

100 o C víz forrása 212 o F 0 o C víz olvadása 32 o F T F = 9/5 T C Példák: 37 o C (láz) = 98,6 o F 40 o C = 40 o F 20 o C = 68 o F

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Röntgensugárzás. Röntgensugárzás

10. előadás Kőzettani bevezetés


Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László

Jegyzet. Kémia, BMEVEAAAMM1 Műszaki menedzser hallgatók számára Dr Csonka Gábor, egyetemi tanár Dr Madarász János, egyetemi docens.

Szilárd testek rugalmassága

Vas- karbon ötvözetrendszer

Szilárdság (folyáshatár) növelési eljárások

FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév

Általános Kémia, BMEVESAA101

Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal

Általános Kémia, BMEVESAA101 Dr Csonka Gábor, egyetemi tanár. Az anyag Készítette: Dr. Csonka Gábor egyetemi tanár,

5. Az adszorpciós folyamat mennyiségi leírása a Langmuir-izoterma segítségével

Légköri termodinamika

Biofizika szeminárium. Diffúzió, ozmózis

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)

OPTIKA. Gömbtükrök képalkotása, leképezési hibák. Dr. Seres István

Biofizika. Sugárzások. Csik Gabriella. Mi a biofizika tárgya? Mi a biofizika tárgya? Biológiai jelenségek fizikai leírása/értelmezése

Az atom- olvasni. 1. ábra Az atom felépítése 1. Az atomot felépítő elemi részecskék. Proton, Jele: (p+) Neutron, Jele: (n o )

Abszorpciós spektroszkópia

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.

Abszorpciós fotometria

SZERKEZETVIZSGÁLAT. ANYAGMÉRNÖK BSc KÉPZÉS (nappali munkarendben) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ

2. A hőátadás formái és törvényei 2. A hőátadás formái Tapasztalat: tűz, füst, meleg edény füle, napozás Hőáramlás (konvekció) olyan folyamat,

5 előadás. Anyagismeret

Abszorpciós fotometria

Mérés mérőmikroszkóppal 6.

Áttekintés 5/11/2015 MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA. Mikroszkópia, fénymikroszkópia

Modern Fizika Labor Fizika BSC

Munkagázok hatása a hegesztési technológiára és a hegesztési kötésre a CO 2 és a szilárdtest lézersugaras hegesztéseknél

Fény- és fluoreszcens mikroszkópia. A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia

OPTIKA. Optikai rendszerek. Dr. Seres István

Altalános Kémia BMEVESAA101 tavasz 2008

Sugárzások és anyag kölcsönhatása

SZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI

Diffúzió. Diffúzió. Diffúzió. Különféle anyagi részecskék anyagon belüli helyváltoztatása Az anyag lehet gáznemű, folyékony vagy szilárd

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.

Kérdések és feladatok a Bevezetés az anyagtudományba kurzus anyagához

Általános és szervetlen kémia Laborelıkészítı elıadás I.

ÖSSZEFOGLALÁS HŐTANI FOLYAMATOK

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Optikai mikroszkópia. Bereznai Miklós SZTE Optika és Kvantumelektronikai Tanszék

Reakciókinetika. Általános Kémia, kinetika Dia: 1 /53

Tiszta anyagok fázisátmenetei

Bevezetés s az anyagtudományba. nyba február 25. Interferencia. IV. előadás. Intenzitásmaximum (konstruktív interferencia): az útkülönbség nλ,

Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása

Röntgenanalitika. Röntgenradiológia, Komputertomográfia (CT) Röntgenfluoreszcencia (XRF) Röntgenkrisztallográfia Röntgendiffrakció (XRD)

Átírás:

Bevezetés s az anyagtudományba nyba V. előadás 2010. március 4. Az z optikai vagy fénymikroszkóp Olyan összetett nagyítórendszer, amely két gyűjtőlencse-rendszer segítségével kis méretű tárgyak jelentősen nagyított, fordított állású, látszólagos képét állítja elő. 1915: Bausch & Lomb 2006: Olympus Nagyítás: {a tárgylencse (objektív) nagyítása} x {a szemlencse (okulár) nagyítása}1000-2000x. Felbontóképesség: az a szög, amely alatt két különálló (tárgy)pontot még külön (kép)pontként érzékelünk. d 0,61 λ / n sinα, ahol n sinα a numerikus apertúra. d min ~ 200 nm V/2 http://www.microscopyu.com/articles/formulas/formulasresolution.html

Az objektívek a lencsehibákra (gömbi eltérés (szférikus aberráció), kómahiba, asztigmatizmus, színi eltérés (kromatikus aberráció)) korrigált lencserendszerek. Két szín (a zöld és a sárga) korrekciója esetén: akromát, három szín korrekciója esetén apokromát. Az objektíven fel szokás tüntetni a lineáris nagyítás és a numerikus apertúra értékét. Az objektív frontlencséje és a tárgy közötti távolság az ún. szabad tárgytávolság - a legnagyobb nagyítású tárgylencsék esetében a milliméter törtrésze, ezért a lencse és a minta védelmét úgy oldják meg, hogy az objektív egy rugó ellenében felfelé teleszkópszerűen elmozdulhasson. V/3 A képalkotk palkotás Kontraszt: a reflexióképességben (esetleg transzmisszióban) való különbségből származik textura (orientációfüggő maratás) szemcsehatár (gyorsabb maratás) V/4

A pásztp sztázó elektronmikroszkóp (SEM) Egy fókuszált elektronnyaláb végigpásztázza a vizsgálandó test felületét. A pásztázással szinkronban egy másik elektronnyaláb egy monitor képernyőjét pásztázza, a mintából kilépő elektronok számával arányos intenzitással. Így a monitoron megjelenik a próbatest felszínének képe. Rendkívül plasztikus, közel térhatású képek. Nagyítás: max. 200.000x V/5 Fontosabb SEM válaszjelekv 1. Szekunder elektronok: Az 50 ev-nál kisebb energiájú, túlnyomórészt a minta atomjainak legkülső héjáról származó, viszonylag lazán kötött elektronok. Kis energiájuk miatt csak a minta legfelső rétegeiből képesek kijutni. Emiatt rendkívül érzékenyek a felszín egyenetlenségeire nagy felbontású képek. (Szekunder elektronokat az anyag mélyebb rétegeiben keletkező visszaszórt elektronok is képesek létrehozni.) 2. Visszaszórt elektronok: A minta atomjainak Coulomb-terében rugalmasan szóródott (50 evnál nagyobb energiájú) elektronok. Kontraszt: a visszaszórt elektronok száma - egyebek mellett - a minta atomjainak rendszámától is függ (a magasabb rendszámú területek világosabbnak látszanak). A visszaszórt elektronok nagy felbontású képek készítésére kevésbé alkalmasak, mivel nagyobb energiájuk révén a minta nagyobb térfogatából képesek a felszínre jutni. 3. Karakterisztikus röntgensugárzás: A beeső elektronnyaláb ionizál. A felszabaduló energia (azaz a külső és a belső elektronpálya energiáinak különbsége) Röntgen-foton formájában kisugárzódik. A Röntgen-foton energiája (hullámhossza) az adott atomfajtára jellemző elemanalízisre alkalmas (EDS, WDS). V/6

A transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM) Ernst Ruska (1933). 1986: Nobel díj 1933, 12.000x tegnap ma http://www.lv-em.com Jóval nagyobb feloldás, mert a >50 kev energiájú elektron hullámok hullámhossza 10-3 nm nagyságrendű. Ma: 200 kev rutin. Nagyítás: 1.000.000x, feloldás: 0,1-0,2 nm. Technikailag: az elektronhullámok alkalmasan megválasztott inhomogén (mágneses ill. elektromos) térrel jól fókuszálhatók. Limit: a nagy energiájú elektronokkal csak nagyon vékony ( 0,1 µm) minták világíthatók át speciális mintaelőkészítés szükséges A transzmissziós elektronmikroszkópban az elektronoptikai kép az elektronoknak a szilárd test atommagjain való rugalmas szóródását, ill. elhajlását V/7 követően jön létre. A minta összetételétől és vastagságától függően egyes elektronok abszorbeálódnak, ezek okozzák az amplitúdó kontrasztot. Más elektronok a minta összetételétől függően viszonylag kis szögekben szóródnak és fáziskontrasztot idéznek elő. Kristályos anyagokban az elektronok meghatározott, a kristályos szerkezettől függő irányokba szóródnak. Ezt nevezzük diffrakciós, vagy elhajlási kontrasztnak. A megfelelő sugármenet megválasztásával transzmissziós vagy diffrakciós képet készíthetünk (ED). Az anyagon áthaladó, az anyag-elektron ütközések következtében energiát veszítő elektronok energiaveszteségi spektrumát detektálva (EELS) elemanalízis végezhető. Az átvilágítható mintákban kiváltott karakterisztikus röntgen-sugárzás hullámhosszának (WDS), ill. energiájának (EDS) mérése szintén alkalmat V/8 ad a minták elemanalízisére.

Nagy felbontású TEM (HRTEM) Lépcsők és egy adatom HfO 2 nanokristály V 2 O 5 nanoszál V/9 Pásztázó tűszondás s mikrosm roszkópia (SPM) Domborzati képet alkot a minta felszínéről. Nagyítás: 10 9 x Leggyakoribb két altípusa a pásztázó alagút mikroszkópia, STM és az atomierő mikroszkópia, AFM. Az előbbi a minta felszínéről az alagútáram, míg az utóbbi a szonda hegye és a minta atomjai közötti erőhatások mérésével alkot képet. Atomi mintázatok STM-mel CO molekulák platina (111) felületen. Vas atomok réz (111) felületen. V/10

Rövidítések TEM ED EELS SEM WDS EDS SPM STM AFM transzmissziós elektronmikroszkópia, Transmission Electron Microscopy elektron diffrakció, Electron Diffraction elektron energia veszteségi spektroszkópia, Electron Energy Loss Spectroscopy pásztázó elektronmikroszkópia, Scanning Electron Microscopy hullámhosszdiszperzív spektroszkópia, Wavelength Dispersive Spectroscopy energiadiszperzív spektroszkópia, Energy Dispersive Spectroscopy pásztázó tűszondás mikroszkópia, Scanning Probe Microscopy pásztázó alagút mikroszkópia, Scanning Tunelling Microscopy atomierő mikroszkópia, Atomic Force Microscopy V/11 Összefoglalás Technikák Szerkezeti elemek V/12

Egy anyagi rendszer fázisviszonyaif mikrostruktúra tulajdonságok (elsősorban mechanikai, de más is) fázisdiagram + hőkezelés körülményei mikrostruktúra különösen fontos a metallurgiában (pl. acél és öntöttvas gyártás). V/13 Alapfogalmak fázis: egy rendszer azon része, mely homogén fizikai és kémiai tulajdonságokkal rendelkezik ( egy rendszer azon része, mely a kémiai összetétel mellett fizikai állapotát tekintve is egységes GIBBS ). Elegendő ha a fizikai és kémiai jellemzők egyike eltér. komponens: egy keverék egyik kémiai összetevője (elem vagy vegyület) intenzív sajátság: olyan tulajdonság, amely független a rendszer méretétől/mennyiségétől (pl. T, p, ρ) extenzív sajátság: olyan tulajdonság, amely függ a rendszer méretétől/mennyiségétől (pl. V, U) szilárd oldat oldhatóság(i határ): az oldott anyag azon maximális koncentrációja, melyet az adott hőmérsékletű oldószer új fázis megjelenése nélkül képes feloldani Atkins: Fizikai kémia 187-189 o. V/14

Fázisdiagram,, vagy állapotábra Olyan grafikon, mely egy anyagi rendszer fázisait mutatja, mint az állapotjelzők (hőmérséklet, összetétel és nyomás) függvényét. A fázisdiagram a rendszer egyensúlyi állapotára vonatkozik! Ugyanakkor támpontként szolgál a nemegyensúlyi struktúrák és azok tulajdonságainak megismerése során is. Szokásos csoportosítani a komponensek száma szerint; 1-komponensű; 2-komponensű (a független állapotjelzők általában a T és c (p1 atm)). Gibbs-féle fázisszabály: F + Sz K + 2 F fázisok száma; Sz szabadsági fokok száma; K komponensek száma Sz K F + 2 komponensek száma: a független anyagi minőségek azon minimális száma, mely a rendszerben jelenlevő VALAMENNYI fázis összetételének megadásához szükséges szabadsági fok: azon intenzív változók száma, mely függetlenül változhat anélkül, hogy megváltozna a rendszerben levő fázisok száma Atkins 190 V/15 Fázis egyensúly: dinamikus egyensúly Oldat folyékony, illetve szilárd oldatok (mindig 1 fázis!) Keverék mindig egynél több fázist jelent Hőmérséklet ( C) 100 80 60 40 20 Tiszta víz Cukor-víz rendszer Oldhatóság L (folyékony oldat) L (folyadék) + S (szilárd cukor) 0 20 40 6065 80 100 Összetétel (m/m% cukor) Tiszta cukor Mekkora a cukor oldhatósága 20 C-on? V/16

A hőmérsh rséklet és s az összetételtel A hőmérséklettel változtatható a fázisok száma: pl. A B Az összetétellel is változtatható a fázisok száma: pl. B D A víz-cukor rendszer Hőmérséklet ( C) 100 80 60 40 20 0 0 L (folyadék oldat) B (100 C,70) 1 fázis L (folyadék) + S (szilárd cukor) A (20 C,70) 2 fázis D (100 C,90) 2 fázis 20 40 60 70 80 100 Összetétel (m/m% cukor) V/17 1-komponensű rendszer fázisdiagramjaf fázisok hármaspont fázishatár A fázishatárok meredekségei (Clapeyron egyenlet): Szilárd-folyadék fázishatár (b) Folyadék-gőz fázishatár (c) Szilárd-gőz fázishatár (a) dp H dt T V olvadás olvadás dlnp H dt RT dlnp H dt RT párolgás 2 szublimáció 2 dp dt S V Clausius-Clapeyron egyenlet Atkins 132-144 H T V V/18

A legegyszerűbb 2-komponens2 komponensű rendszer Az oldat-rendszer -ek (pl. Ni-Cu rendszer) Kristály rács elektronegativitás r (nm) Ni Cu FCC FCC 1.9 1.8 0.1246 0.1278 Az azonos kritályrács, valamint a közel azonos elektronegativitás és atomsugár kölcsönös oldékonyságot sejtet ( Hume Rothery szabály). S valóban, a Ni és a Cu egymásban korlátlanul oldódik. V/19 1) A fázisok f száma és s típusat Példák: A(1100 C, 60): 1 fázis: α B(1250 C, 35): 2 fázis: L + α T( C) 1600 1500 1400 1300 1200 L (folyadék) B (1250 C,35) L + α liquidus α solidus (FCC szilárd oldat) Cu-Ni fázisdiagram 1100 1000 0 A(1100 C,60) 20 40 60 80 100 m/m% Ni 100% Cu 100% Ni V/20

Példák: Co 35 m/m% Ni TA 1320 C: 2) A fázisok f összetételetele Csak folyadék (L) CL Co ( 35 m/m% Ni) TD 1190 C: Csak szilárd ( α) Cα Co ( 35 m/m% Ni) TB 1250 C: T( C) TA 1300 1200 Együtt van jelent az α és az L fázis CL Cliquidus ( 32 m/m% Ni) Cα Csolidus ( 43 m/m% Ni) TB TD 20 L (folyadék) L + α Cu-Ni rendszer A B 3235 C L C o liquidus L + α solidus D α (szilárd) 4 3 C α 30 40 50 m/m% Ni V/21 Példák: Co 35 wt% Ni 3) A fázisok f mennyisége TA: Csak folyadék (L) WL 100 m/m%, Wα 0 TD: Csak szilárd (α) WL 0, Wα 100 m/m% TB: Mind α, mind L W L W α S R +S R R +S 43 35 73 m/m% 43 32 27 m/m% T( C) TA 1300 TB 1200 TD 20 L (folyadék) L + α Cu-Ni rendszer A B R S 3235 C L C o Emelőszabály! liquidus L + α solidus D α (szilárd) 4 3 C α 30 40 50 m/m% Ni Ellenőrizendő a fázisok összetételének ismeretében. Atkins 174-175 V/22

A Cu-Ni bináris rendszer egyensúlyi hűtése A rendszer: --két komponensű Cu és Ni --izomorf azaz a komponensek egymásban korlátlanul oldódnak; avagy az α fázis 0-tól 100 m/m% Ni-ig terjed. Tekintsük most a C o 35 m/m%ni esetet! T( C) 1300 L: 35 m/m% Ni α: 46 m/m% Ni 1200 1100 20 L (folyadék) 35 32 L + α L + α α (szilárd) A B C D 24 36 E 35 Co L: 35m/m%Ni 43 46 30 40 50 m/m% Ni Cu-Ni rendszer L: 32 m/m% Ni α: 43 m/m% Ni L: 24 m/m% Ni α: 36 m/m% Ni α: 35m/m%Ni V/23 Egyensúlyi kontra nemegyensúlyi hűtésh termodinamika vs. kinetika egyensúly a fázisegyensúlyt minden időpillanatban fenntartjuk; ehhez diffúzió szükséges (folyadékban még OK, de szilárd fázisban - különösen alacsonyabb hőmérsékleteken - igen lassú!) igen lassú hűtést feltételez egyensúlyi állapot stabil; nemegyensúlyi állapot metastabil A metastabil fázisokat tartalmazó rendszerek sokszor sokkal fontosabbak és érdekesebbek, mint a stabil, egyensúlyi rendszerek. Az eltérés mértéke a hűtési sebességtől és a szilárd fázisra jellemző diffúziós sebességtől függ. V/24

Szegregáci ció C α változik a megszilárdulás közben. A szemcsékben az elemek eloszlása nem homogén; a mag a magasabb op.-ú fémben gazdagabb. Egyensúlyi Nemegyensúlyi V/25 Hatás s a mechanim echanikai tulajdonságokra --Szakítószilárdság --Képlékeny alakváltozás (%EL,%AR) Szakítószilárdság (MPa) 400 300 200 0 20 40 60 80 100 (Cu) (Ni) Összetétel [m/m% Ni] Megnyúlás (%EL) 60 50 40 30 20 0 20 40 60 80 100 (Cu) (Ni) Összetétel [m/m% Ni] V/26

Két t komponensű eutektikus rendszerek Eutektikum (eutektos(g)könnyen olvadó) az a két komponensű keverék, mely jól meghatározott minimális olvadásponttal rendelkezik. Példa: 3 db 1-fázisú régió (L, α, β) 3 db 2-fázisú régió (L+α, L+β, α+β) T E : legalacsonyabb T, ahol folyadék lehet Korlátolt oldhatóság (T<T E ): α: kevés Ag a Cu-ben β: kevés Cu az Ag-ben Eutektikus átalakulás: hűtés T( C) 1200 1000 600 400 200 0 α L(C E ) α(c αe ) + β(c βe ) fűtés L + α Cu-Ag rendszer L (folyadék) α + β L+β β T 800 779 C E 8.0 eutektikus izoterma 71.9 91.2 solvus solidus liquidus eutektikus pont 20 40 60 80 100 C E C o, m/m% Ag Atkins 197 V/27 Az Pb-Sn eutektikus rendszer I. 150 C-on a 40 m/m% Sn-t tartalmazó ötvözetünk -- mely fázisokból áll? α + β -- mi a fázisok összetétele? T( C) Pb-Sn rendszer C O 40 m/m% Sn C α 11 m/m% Sn C β 99 m/m% Sn -- mi a fázisok relatív mennyisége? S C Wα β - C O R+S C β - C α W β 99-40 99-11 59 88 R R+S 40-11 99-11 C O - C α C β - C α 29 88 300 200 150 100 67 m/m% 33 m/m% 0 L+α L (folyadék) α 183 C L+β 18.3 61.9 97.8 R α + β S 11 20 40 60 80 99100 Cα C o C β C, m/m% Sn β V/28

Az Pb-Sn eutektikus rendszer II. 220 C-on a 40 m/m% Sn-t tartalmazó ötvözetünk -- mely fázisokból áll?α + L -- mi a fázisok összetétele? T( C) Pb-Sn rendszer C O 40 m/m% Sn C 300 α 17 m/m% Sn C L 46 m/m% Sn L+α -- mi a fázisok relatív 220 α 200 R S mennyisége? 183 C W α C L - C O 46-40 C 100 L - C α 46-17 6 29 21 m/m% W L C O - C α 23 C L - C α 29 79 m/m% 0 L (folyadék) α + β L+β 1720 40 46 60 80 100 Cα C o C L C, m/m% Sn β V/29