Laue-módszer (transzmissziós):egykristályok orientációjának meghatározása Laue-módszer (hársóreflexiós(
|
|
|
- Liliána Balázsné
- 9 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Röntgensugaras vizsgálatok Laue-módszer (transzmissziós):egykristályok orientációjának meghatározása Laue-módszer (hársóreflexiós( hársóreflexiós): egykristályok orientációjának Debye Scherrer Scherrer-módszer: rácsállandó, szemcseméret, kvalitatív kémiai analízis Guinier-módszer: rácsállandó, szemcseméret pontosabb mérése Diffraktométeres mérés Bragg Brentano Brentano-goniométerrel: általános fázianalízis Diffraktométeres mérés textúragoniométerrel: : hidegalakítási, lágyítási, újrakristályosodási textúra vizsgálata Kisszögű röntgenszórás: diszlokációszerkezet,, többfázisú anyagok inhomogenitásai Röntgensugaras mikroanalízis (elektronmikroszkpos vizsgálatoknál) Röntgensugaras topográfia és tomográfia Elektronsugaras vizsgálatok (TEM, SEM stb.) Neutronsugaras vizsgálatok Pásztázó sugaras mikroszkópiai vizsgálatok (STM, AFM stb.) Spektroszkópiai vizsgálatok
2
3 A Comparison of Surface Analysis Techniques Technique Depth Resolution Lateral Resolution XPS/ESCA 5to30nm > 250 um AES/SAM 2to30nm > 30 nm FTIR ZnSE-ATR: 2-4µ GE-ATR: 0.4-1µ Depth Profiling Ion-etching Angle-resolved Ion-etching Angle-resolved Analytic Probes Imaging & Mapping Quantitative Accuracy None 5% SEM elemental &chemical 20% Detection Limits 0.1 monolayer 0.1 at. % Z > monolayer 0.1 at. % Z > 2 Sample Consideration Ultra-high vacuum UHV e-beam damag Charging 10 µ see ATR No Low%(solution) ng - µg Yes Raman 5µ 1 µ Limited Yes No µg Yes EDS ~1 um ~1 um No SEM elemental line-scans Topographic Probes 5% 10 ppm Z > 5 High vacuum e-beam damag Technique Lateral Vertical Resolution Range Resolution Range Sample Considerations Additional Capabilities SEM 3nm N/A N/A N/A AFM/STM < 0.1 nm 100 um < 0.1 nm 7um High vacuum e-beam damage Air or Liquid < 25 mm diam. < 10 mm high Backscatter mode Lateral force nano-scale indentation
4 öntgensugaras vizsgálatok
5 Röntgen Bragg & Bragg Bragg Wulff Wulff-egyenlet
6
7 röntgensugaras gerjesztés
8 röntgensugaras gerjesztés Az anódba csapódó elektron lefékeződése A röntgensugárzás forrása
9 röntgencsövek főbb jellemzői
10 aue-módszer: fehér röntgenfénnyel
11 aue-módszer: ehér röntgenfénnyel Transzmissziós Hátsóreflexiós
12 aue-módszer: Cink-szulfid (1912.) fehér röntgenfénnyel NaCl ( ) Cu-egykristály
13 aue-módszer: fehér röntgenfénnyel Silicon Wafer Laue Pattern
14 aue-módszer: fehér röntgenfénnyel The cubic symmetry of atoms in the tantalum ore mineral microlite is drawn in yellow on this photograph of the diffraction pattern. Sample size 0.1 mm. When tantalum is hosted by calciotantite, the diffraction pattern shows hexagonal symmetry. Sample size 0.1 mm. Calciotantite is extremely rare: only a few grains are known to exist
15 ebye Scherrer Scherrer-módszer: arakterisztikus sugárzással Debye-gyűrűk, ill. D S-filmD A Debye Scherrer Scherrer-módszernél egy-egy adott Miller-indexű indexű kristálysíkseregről diffraktált nyaláb egy-egy 4Θ4 nyílásszögű kúpfelületet alkot. A D S-kamraD belső, hengeres falára helyezet filmen (ez a detektor) ott jön létre feketedés, ahol a kúpfelületek metszik a hengerpalástot.
16 Guinier-módszer: arakterisztikus sugárzással A Guinier-kamera vázlata Guinier-film
17 iffraktométeres-módszer: módszer: arakterisztikus ugárzással
18 iffraktométeres-módszer módszer AMORF RISTÁLYOS
19 iffraktométeres-módszer: módszer: arakterisztikus sugárzással
20 iffraktométeres-módszer: módszer: arakterisztikus sugárzással A vonalprofil jellemzői: a csúcs helye a csúcs intenzitása a csúcs szimmetriája a csúcs eltolódása a csúcs kiszélesedése
21 iffraktométeres-módszer módszer Textúravizsgálat Sztereografikus vetítés Orientációs mikroszkópia Goss-textúra, kockatextúra
22
23 Stress is determined by recording the angular shift of a given Bragg reflection as a function of sample tilt (psi). This actually provides a measure of strain in the sample from which the stress can then be calculated by plotting the change in d-spacing against sin 2 psi.
24 2D-s s röntgentor ntgentopográfia X-Ray Refraction Computer Tomography (CT) of Carbon/Carbon ceramic matrix composite (CC-CMC); left: sample arrangement, middle: conventional (X-ray absorption) CT, right: cracks by refraction computer topography
25 3D-s s röntgentor ntgentomográfia Percolation d'une fissure entre les sphères de renfort d'un composite à matrice d'aluminium observé pendant un essai de traction in situ en tomographie aux rayons X sur la ligne ID19
26 3D-s s röntgentor ntgentomográfia
27 3D-s s röntgentomogrr ntgentomográfia
28 3D-s s röntgentomogrr ntgentomográfia
29 D-s s röntgentor ntgentomográfia a déformation superplastique 'alliages monophasés (Al, Mg) induit n endommagement par cavitation, ui conduit à une ruine prématurée u matériau. Cet endommagement st généralement caractérisé par des esures de variation de densité ou ar métallurgie quantitative effectuée ur des sections. Une nouvelle echnique de caractérisation a été tilisée dans le cadre d'expériences enées à l'esrf de Grenoble : la icro-tomographie X. Celle-ci permet e visualiser en 3D les cavités formées t ainsi d'obtenir des renseignements els que le nombre de cavités, leurs olumes ou leurs formes. On peut insi suivre la variation de tels aramètres avec la déformation, ainsi ue l'illustre la figure 1.
30 D-s s röntgentor ntgentomográfia CHERCHEZ LA FAILLE... Ces deux photos montrent le męme objet, une fibre de carbure de silicium de 140 microns de large dans une matrice d'aluminium. Mais la premičre obtenue par tomographie X ŕ haute résolution (ŕ gauche) a été prise ŕ l'intérieur męme du matériau, alors que la deuxičme réalisée par miscrocopie électronique, n'a pu ętre observé qu'en coupant le matériau.
31
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs
Szerkezetvizsgálat szintjei
Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)
ú ó ü ó ü ü ő ő ő í ó í í ü ű ü ő ó ő í ó í ó ó ú ó ü í ó ő í ú ü ü ű ü ű ő í ó í ű ő ő ű ú ó ú í ű ő í ó ó ó í ú Í ü ó í ü í í ő ó ő í ó ú ó í ó í í ü í ü ü ú ü ú ü ü ű ü ü í ú í ő úí ő í ő í í ó ü ó
Á Ó Ö Á É Ó Ü Ó Ö ü ő ö Ö ö ó ö ő ó ó ö ű ö ó ú ó ő ó ö ú ó ő ő ő ö ó ó ú ü ö ú ó ő ó ó ő ő ő ó ő ó ú ü ü ö ó ü ü ő ő ö ü ö ö Ö ó ó ö ő ö ó ó ö ó ö ó ö ő ö ö ö ő ó ó ő ő ő ű ó ó ő ü ö ó ü ő ő ú ú ö Ö ó
Mikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
Mikroszerkezet Krisztallitonként Tömbi Polikristályos Mintában
Mikroszerkezet Krisztallitonként Tömbi Polikristályos Mintában Ribárik Gábor, Zilahi Gyula és Ungár Tamás Anyagfizikai Tanszék TAMOP Szeminárium, Visegrád 2012, január 18-20. Diffrakciós vonalak kiszélesedése
Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
Fémüvegek alacsonyhőmérsékleti képlékeny deformációja: belső feszültségek mérése
Fémüvegek alacsonyhőmérsékleti képlékeny deformációja: belső feszültségek mérése Kovács Zsolt Fémüvegek Intensity (a.u.) Rendezetlen szerkezet röntgen diffrakció 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120-1
Diffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek
Diffrakciós szerkezetvizsgálati módszerek Röntgendiffrakció Angler Gábor ELTE TTK Fizika BSc hallgató 2009. december 3. Kondenzált anyagok fizikája szeminárium Az előadás vázlata Bevezetés, motiváció,
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
Correlation & Linear Regression in SPSS
Petra Petrovics Correlation & Linear Regression in SPSS 4 th seminar Types of dependence association between two nominal data mixed between a nominal and a ratio data correlation among ratio data Correlation
Induction: Circuit équivalent
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
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
ü ü ö Í ü ö ó ó ó ó ó ú ü ó ú ó ü ö ó ó ö ö ö Í Í ű ö ó ö ó ö ö Í ö ö ó ö ó ó ö ú ü ö ó Ü Ú ú ú ú Í ö ó ü ö ó ö ó ö ó ú óú ó ö ü ú ó ó ú ó ó ö ö ö ö ö ó Í ö ö ö ó ö ü ö ú Í ú ú ó ó Í Ú ú É Ü É Í Í ú ö
Finomszerkezetvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
Szerkezetvizsgálat szintjei
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
Á Á É Ö É Á Ó Á Ö Á Á É Ü ő Á É ú ü ű ö ö í ö É ö Ö ő ü ű ö Ö ö ö í ő ü ő ü í ő ú í ü ő ő ü ő í ö ü ö ő ű ö ő ő ő í ö ö ő í őí ő ő í ö ö ő ö í ö ö Ö ö ö ö ő ü ü ü ö ö ő ű Í ö ő ü í ö ő ö ő ü ü ö ő ü ö
Ó É ö ú Ó ö ú ü É É ő Í ü ú ö ú Í ú ö ú ú Í ú ü ö ü Í ü ú ü ő Í ü ö ú ő ő É ö ú ő öú Í ö ő ü ü ö Í Í ő Ü ö ú ú ö ú ő ő ú ú ő ú ü ú ü ú úü Í ü úű É ö Í ú ú ú ö ü Ö É Í ú É ö ú Í ú ü Ó Í É É ő ő Ó ö Í ö
ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
On The Number Of Slim Semimodular Lattices
On The Number Of Slim Semimodular Lattices Gábor Czédli, Tamás Dékány, László Ozsvárt, Nóra Szakács, Balázs Udvari Bolyai Institute, University of Szeged Conference on Universal Algebra and Lattice Theory
Probl me J1 - Le trident
Probl me J1 - Le trident Directives pour l'évaluation : Il y a cinq cas d essai, qui valent 3 points chacun. entrée 1 Entrez la hauteur des pointes: 2 Entrez l espacement entre les pointes: 3 Entrez la
Construction of a cube given with its centre and a sideline
Transformation of a plane of projection Construction of a cube given with its centre and a sideline Exercise. Given the center O and a sideline e of a cube, where e is a vertical line. Construct the projections
Í ú ű ú ü űí í í í Ú É í í í ú ú ü Í í Í Íí í í í í ú ú íí í ú ú Í Í í Í Ű ü ű Ü Ú ú ü Ú ű ű Í ü ű Í ű É í í Ú Ű Á Ű Ü ű Á ü ü ü Ú í ÜÉ ü í Ú ű Í Ü Ü ü ú ü ű ú í ü ü Ú É í ü ü í ü Í ű ü ü Á ü ü ü Ü ü í
FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA
FIATAL MŰSZAKIAK TUDOMÁNYOS ÜLÉSSZAKA Kolozsvár, 2003. március 21-22. RÉSZECSKE ELRENDEZŐDÉS JELLEMZÉSE AL/SIC KOMPOZITBAN Kovács Jenő - Gácsi Zoltán Abstract The mechanical properties of the ceramic particle-reinforced
Röntgendiffrakció. Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet november
Röntgendiffrakció Orbán József PTE, ÁOK, Biofizikai Intézet 2013. november Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia, diffrakció (elektromágneses hullámok) Kristályok szerkezete Röntgendiffrakció
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)
Nagyműszeres vegyész laboratórium programja 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly) 9:30-11:00 A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) alapjai és visszaszórtelektron diffrakció
JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS!
JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS! Szakács Tibor, Szepesi Ildikó ABL&E-JASCO Magyarország Kft. 1116 Budapest, Fehérvári út 132-144. ablehun@ablelab.com www.ablelab.com JASCO SPEKTROSZKÓPIA
Termékismertető. Wilo-Sevio AIR,
Termékismertető Wilo-Sevio AIR, le Innovatív choix de levegőztető l optimisation. rendszerek 02 Hatékony szennyvíztisztítás Traitement Hatékony szennyvíztisztítás efficace des eaux usées Wilo levegőztető
Méthodes Électriques: Résistivité Électrique
GLQ3205 Géophysique appliquée 2 Méthodes Électriques: Résistivité Électrique Gabriel Fabien-Ouellet gabriel.fabien-ouellet@polymtl.ca Été 2018 Plan du cours 1. Résumé du dernier cours 2. Principes généraux
Alloy 718 UNS: N 07718
Alloy 718 1 Alloy 718 UNS: N 07718 Autres appellations France : NC 19 Fe Nb Germany : 2.4668 / Ni Cr 19 Nb Mo Euronorm : Ni Cr 19 Nb Mo Aerospace (high-temperature working components, fasteners...). Naval
ú ü Ü Á É ü ű ú ő Á Á ú ú ő ű Á Á Á ü Á ú É Ü Ó Á ü ú ő ű ü ú Á ő ő ú ü ű ű ú ű ű ű ú ü ő ü ú É ú Á ú Á ü ü ÉÉ ú É Ü Ó Á Á ü Ú Á Á ü ü ü ü ú Á Á ú Ú ü ű ú Á ő Á Ú Á Á ú É ő ő ő ő ú ő ő ő ő ő ő Ü ő ő ő
fajtái anyagmegmunkálás anyagmegmunk
A lézeres l anyagmegmunk megmunkálás 2009. december 2. A lézeres l anyagmegmunkálás fajtái Szerkezeti változás (structural change) Felületkeményítés (hardening) Deformáció és törés (deformation and fracture)
Elektrokémiai fémleválasztás. Kristálytani alapok A kristályos állapot szerepe a fémleválásban
Elektrokémiai fémleválasztás Kristálytani alapok A kristályos állapot szerepe a fémleválásban Péter László Elektrokémiai fémleválasztás Kristálytani alapok - 1 Kristályok Kristály: olyan szilárd test,
Röntgen sugárzás. Wilhelm Röntgen. Röntgen feleségének keze
Röntgendiffrakció Kardos Roland 2010.03.08. Előadás vázlata Röntgen sugárzás Interferencia Huygens teória Diffrakció Diffrakciós eljárások Alkalmazás Röntgen sugárzás 1895 röntgen sugárzás felfedezés (1901
FÖLDRAJZ FRANCIA NYELVEN
Földrajz francia nyelven középszint 0821 ÉRETTSÉGI VIZSGA 2009. május 14. FÖLDRAJZ FRANCIA NYELVEN KÖZÉPSZINTŰ ÍRÁSBELI ÉRETTSÉGI VIZSGA JAVÍTÁSI-ÉRTÉKELÉSI ÚTMUTATÓ OKTATÁSI ÉS KULTURÁLIS MINISZTÉRIUM
Correlation & Linear Regression in SPSS
Correlation & Linear Regression in SPSS Types of dependence association between two nominal data mixed between a nominal and a ratio data correlation among ratio data Exercise 1 - Correlation File / Open
Í í É Á ö ü Ó Ü ö ü Ü í őú Ü í Í ő í Ó ú í ú í ö í ő ö ö Í í í ú ú ö ő ö ő ö ö ö í í ö ö ö ő ö í ö ő ö í ő ö í ÍÍ ö ő ü í ő ö Ü Ü ö í ő ü ü Ü í Ü Ü ö Ü Ü Ü í ö ő ű ő Ú ő ő ö ő í ö ü ő ö í ű Í Ú ö Ú ü ö
Í Ö í Í ú í Í ö ü í í í í ü í í ü ü í Ö í ü ü ü í í ü í í ő ü í í í ü ö í í í í ő í í í í í ű Ö í í Í í ö ő Í ő ü ü ő ő í í ü í Ö í Í ő Ü ö ö í ö í ö ü ü Ó ö ü ü ü ü ü í ü ü ü ö ü ö ü í Ü ü í í ú Ú ü ű
í í ö ő í í í Ö ö í ő í í í í í í Í Ó í ö ő ú ö ú í í ő ő í ö ő í ő í í í ö í í ő ü í ü ő ö í ü ö ö í ö ü ö ő ö ö í í í í ö ő ő ú ö í ő ö ö í ő ö í ő í ü ő í ü ö í í ö í í í ö í ő ö í ő ő ü ö í ő í ö ő
ő ú ő ü Í Í ü ú ö ú ö ű ö ö Á ő ő Á ú ő ú Á ö ú ö ú ő Ö ö ú ü ő ü ü ő öú ö ö ö ö ü ő ő ő ö ű ő ő ö ő ö ő ű ő ö ö ü ő ő ő Ú ü Á ö ú ő ő ő ő ő ü ő ú ő ő ö ö ő ú ö ő ü ö ö ú ü ö ő ő ü ű ö ű ű ö ö ü ö ö ő
í ő í ő ö ő í ö ö í ö ú í ú öű ő ű í ő ö í ü ő ő ő í ő ü ő ü ő ű ü ő ü ü ú ü ő ü ü ő ő ö ö ö ú ü ö í ö ö í ü ü ö ö ö í ü ü ő ő ö ő ő ő ö í ü ö ü ő ő ő ö í ö ő ö ő í É ö ü ö ö í í ő ö ú ü ö í í ő í í í
É ü ü É ü É É Ú Ó ü ü ű Ü Ú ű ü Ü Ó ü Ü Ú Ü ü ü Ó Ú ü Ü ű Ü ü Ó Ú Ú ü ü ü Ú ü Ü Ü Ú ü Ó ü ü Ü Ö Ü Ó Ü ü Ü Ü Ú Ó ü Ü ü ü ü ű Ü ű Ó Ü Ü Ü ü Ü ű Ö Ö Ő Ó É Ö ü É Ó ü ű Ú ű Ó É Ú Ú É ü Ő Ó Ő ű É Ö ű ü ü
ő ö ú ű ö ö Ö ö ő ö ö Ö ö ő ő ő ú Ó ö ő ő ú ő ő ö ő ő ö ö ö ő ő ő ö ö ő ö ü ű ő ű ő ö Á ö ő ö ő ő ű ö ő ú ö ö ű ö ő ő ő ő ő ö ö ú ű ő ü ő Ú ő ü Ű ü ö ö Ó ű ő ű ő ő ö ő ö ű ű ő ű ö ű ő ő ű ü ö ö ü ő Á ö
ó Á ü Á Á ü ó ó Í ö ú ó ö ö ö ú ö ö ö ü ö ö ó ö ö ü ú óú óú ú Í ú ó ú ú ú ú ú óú ú Á Í ó ö ú óú ó óú ú ú ó ö ü ö ö ü ú ú ü ö ó ü ö ö ü ü ö ü ó ó ó ü ó ó ó ö Á É ü ö Í ü Í ó ó ó ó ú ö ó ü ú ó ű ú ó ö ú
ó ó ú ú ő ó ő ú ú ó ű ű ú ő ű ó ó ő ő ó ó ó ú ó ó ó ő ú ó ő ő ő ó ő Ó Ó ő Ü ó ú ó Ö Ü ó ú ő ú ő ő ó ó ő ú ő ó ő ú ő ő ú ő ű Ö ú ú ó ó ő ő ó ó ó ő ú ő ó ő ő ő ó ó ú ó ő ő ó ó ő ő ő Ó ő ő ő ú ú ó ú ő ó ű
ü ö ö ú ö ü ű ö ü ö ü ö É Á Á ö Á Á Ú Á Á Á ö ú Á ö ö ü É ö Á ü ö Á ö ö ö Á ú öú ü ö ü ú Á ü ű ú ú ü Á ú ú ű ű ú ü ü Á ü ö ö ú ö ö ö ö ú ú ü ö ö ü ü ű ö ú Á ű ü ö ú ö ö ö ö ö ö ö ö ü ö ö ö Á ö ű ö ö ö
ő ű ő ő ő ő ő ő ő ő ő ő ű ő ű ű ű ő ő É ő ű ő ű ő ő Ú ű Ú ő Ú ű Ú ű ő ű ő ő ő Á Á Ú Á ő ő Ú ű ő ő Ó ő ű Ó ű ő Ü ő ő É ű ő ű ő Ú É ő ű Ú É ő Á É Á Ú ő ő É ő É Ü É É ű Ü ő Ú Ú Á É ő ő É ő ő Ó Ó ő ő É É Á
Í Ü Ő Ó Á Ó Á Ó Ú Á Á ó Í ű Á Ö Á Á Í Í Ü Á Á Í Ő Ú Á ú ú Í ó ö ö ö ű ö ö Á Á Á Á ó ö ó ó Á ö ö ú Á Í ű Ü ó Í ö ú ö ö Á ó ó ó Í ó ó ó ü ó ó ö ó Á ű ó ö Í Á ó ó ü ö ö ö Í ó ó ö Í ö ö ö ö ü ú ö ü Í ú ó ö
Ö É É ü ú ú ú ö ü ű ű ö ű Ó Ö É É Ó É ú ü É Ö ü ű ű ö ö ü ö ű ö ö ű ű ú ü ű ö ű ű ú ű ö ű ú ú ü ű ö ú ü ö ú ö ű ű ö ö ű ü ö ö ö ú ú ö ö ű ö ű ö ű ű ö ű ű ö ú ö ű ö ű ű ö ö ű ö ö ö ö ö Ü öü ö ü Ö É ö ü
Ú ő Ő É ó ó ő ó ú ö ó ó ó ó ö É ó ó ó ó ú ő ö ú ő ö Á ó ő ő ó ú ő ő ü ő ő ő ö ő ó ö ő ő ó ö ő ü ő ó ú ü ö ó ó ő ő ó ő ő ő ó ű ö ő ő ö ü ő ő ő ó ö ó ő ü ú ö ő ö ó ó ő ő ő ü ő ü ő ó ő ó ü ő ó ó ő ő ó ő ó
Ü É É É ű ű ű Ú Ü Ö Ü Ü ű Ó ű ű ű É ű ű Ő ű ű ű Ü ű É ű ű ű ű ű Ú É É Í É É É É É É É ű É É Ó Ö Ö Ö É Ö É É Ó Ö É Ó Ó ű É ű ű É É ű Ú É É ű ű Í ű É Ú ű ű ű É Ó Ö Ö É Í Ő Ö É ű É ű Ú É É ű É É ÓÚ É Ő
ö ő ü Ó Ö ü ö ő ü ó ő ü ü í ü ő ó ő ó ő ó ő ö ő ó ö ö ő ü ö ö ü í ő ü ü ü ő ö ó ő ó ő ü ő ö ő ü ú ő ö ő ó ő ö ö Ö ő ó ó ő ó ő ó ü ü ó ó ó ó í ő ó ő ü ö Ö ő ü ó ü ö ő ö Ö ő ü ú ü í ö Ö ő ó ó ő ü ö í É ö
ő ű ő ő ö ü ö ő ü ő ű ú Á ö ű ü ő ő ú ú ő ű ö ö ú ú ő ú ú ü ú ú ő ő ő ő ő ö ö ö ü ö ö ö ü ő ő ü ő ú Á ő öü Á ö ö ő ö ö ü ö ü ö ö ő ű ö ú ö ő ö ü ö ö ö ő ú ü ö ő ű ö ö ö ő ő ő ő ü ü ő ö ü ő ő ö ü ü ő ö
ő Í ü ő ö Ö ű ő ő ő ő ü ö ü É ö ü Í ö ö ő ö ű ö ő ő ő ő ü ö ö ő ü ö ő ü ö Ü Ó ü É Ü Ö ü ü ö ő Ú Ó ő ü ő ő ő Í É ö Éő ő Ő ő Ü ű ő ő ö ü ü ü ö ÜÉ Ó ő ű ö ő ő ö ü ö ő ü ő ő ő ű ö ü ö ö ő ő ő Ó Ó ő ŐÚ ő ö
MEDINPROT Gépidő Pályázat támogatásával elért eredmények
A kisszögű röntgenszórási módszer fejlesztése fehérjék oldatfázisú mérésére Bóta Attila, Wacha András, Varga Zoltán MTA TTK Biológiai Nanokémia Kutatócsoport 1117 Bp. Magyar Tudósok krt. 2. MEDINPROT Gépidő
Fókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban Raman spectroscopy in metallurgical research Dénes Éva, Koós Gáborné, Kőszegi Szilvia
MŰSZERES ANALITIKA ANALYSIS WITH INSTRUMENT A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban Raman spectroscopy in metallurgical research Dénes Éva, Koós Gáborné, Kőszegi Szilvia Kulcsszavak: Raman
ó ö ö ú ű óó ó ő ó Ó Ö Ő É ü É Á ó Á É É ő ő ó ő ö ö É Ö Ö ó ö ö ő ö ö Á ö ő Ö Ö É Ő Á Á ö Á É É Á Á É É Ő É ö Ú Á Ú ő Á Á Ö ő ő ö É Ű É Ő É É Ö Ú Á Ó Á úé Á ö ú ö ú ú ű ö ú ö ú ó ő ó ö ú ü ű ü ű ű ó ő
Orvosi tomográkus képalkotás/ct technika alapja
Orvosi tomográkus képalkotás/ct technika alapja Kis Sándor Attila DEOEC, Nukléáris Medicina Intézet Outline 1 Bevezetés 2 A planáris transzmissziós leképzési technikák esetén a vizsgált objektumról összegképet
ő ö ö Ú ő ü ö ö ö ö ű í ó ü ö ö ö ö ó í ő í ü íö ő ü ó í ő ő ó Ú ó ó ö í Á ö ö ó ó í ö ő ö ó ü ó ő ü ö ű ő í ő Í Ö ó ü ö ó ő í Í ó ú ú ö ő ö ö ö ó í ő ő ü ö ú í ő ő ő ő ö ö ö ő ö ö ű ü ö ö ö ő ü ő ö ö
SAR AUTOFÓKUSZ ALGORITMUSOK VIZSGÁLATA ÉS GYAKORLATI ALKALMAZÁSA 2
Szüllő Ádám 1 SAR AUTOFÓKUSZ ALGORITMUSOK VIZSGÁLATA ÉS GYAKORLATI ALKALMAZÁSA A szintetikus apertúrájú radar (SAR) elven alapuló mikrohullámú képalkotási módszer matematikailag egy holografikus jelfeldolgozási
Miskolci Egyetem Gazdaságtudományi Kar Üzleti Információgazdálkodási és Módszertani Intézet. Correlation & Linear. Petra Petrovics.
Correlation & Linear Regression in SPSS Petra Petrovics PhD Student Types of dependence association between two nominal data mixed between a nominal and a ratio data correlation among ratio data Exercise
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
Ú Ó Ú É Ú ő ő ő ő ő ő É ő ő É ő Ú É É Ü É ő É ő Ó ő É ő ő É É É ő ő ő ő É ű ű ő ő ő Ó ű ő É ő É ő ő ő ő ő É ő Ú ű ő ő ő ő ő ű ő É Ú ő ű ű ő É ő ő É ő ő ű ő ő ő ő ő ő É Ú É É ő ő ő ű ő ő ő ő ő ő ő ő ő Ü
É Á ó ö ó ö ö ő ü ö ő ö ó ö ó ü ö Í ő ö ő ő ő ő ú ö ö ú ö ó ő ő ö Ó ú ű ú Í ő ö ö ű ó ö Í ö Í Í Í Í ó ő ó ő É Ú Ű Í É Á ó É É ő ő ö ö Í ó ö ő ó ő Ő Ó Ő Á Á É Ö Á É É É É Ó Ó Á úé Á Á ö ó Ú Á Ú Ó Á Ú ő
É Ú Ú Ü ű Ü Ú ű ű Ú Ü ű ű ű Ú ű Ú Ü ű Ú ű Ú Ü Ü Ü Ő ű ű Ú É Ú ű Ü Ü É ÜÉ É Ü É ű Ü É É ű Ú Ü ű Ú Ő ű Ö Ó Ü Ü Ó ű ű É Á ű ű Ú Ü Á ű Ü ű Ü Ú ű Ü ű ű ű Ü ű Ü Ü Ú Ü Ú Ú ű ű Ü ű Ú ű Ó Ó Ü Ü ű Ü Ü ű Ö Ü ű Ü
Í Ú É É Í Ö É Í É É Í É Í Ú É Í Ú ű Ú ÍÍ Ú Ú Ú ű Í Ú Ú Ú Í Ú Ú ű Ú É Ú Ú Í ű Í Ú ű Í Á Á ű Í Í Ú É Ú Ú Á Á ű Í Ú Ú Í ű Ú Ú Ú É Í ű ű ű Í ű ű Ú Ú ű Í Ú ű ű Ú Á ű ű ű Í É Í Ú Ú Í Í ű Í Ú É ű Ü Í ű Ú Ú ű
Á Ö Á Ö Ö Ó ű ű Ö Ó ú Ú Ö Ú Ó ú ú ű ú ú Ö É É ú Ö ú ú ű ű Á É Á ű Ö ú Ö Ö ú ú ú Á ű Ó ű Ú ú Ö ú ú ű ú É Á Á ú ű Ú ú ú ű ú ű ú ű ú ű ű ú ú ú ű ú ű É ű Ö ú Ó ú ű ú Á ű ú É ű ú ú É ű Á ú ú ú Ó É ú ű Ú ú ú
Íö Í ü ö ö Í Á Í ö ö ű ú ö ö Ü ü Í Í ú ü ú Ö ö ű ö ü ö ű ö ú ü Ú Í ü ö ö Ú ö Á Ü Í ö ü ö Í Í ö ű ö ú ö ö ú ö ö Í Í Í ö ö Í ű ö ű ö ö ű ö Ö Í ö ö Í Í ö ú ö Ö Ú ö ű ö Ű ú Ú ú ö Ú ö ú ö ű Ú Í ű Ü ü ű ű ö
Á ö ö Á ü ö í ü ö í ö í ö ú í ö í ö Ö ö í ü ű ö ö ú ú ö í í ú ö ü ű ö ü ű ö ö ú ö ö ö í ú í ö ú ö ü ü ö ü ú ö ü í í ö í ö ü ö ö ö í í ü í ü Ú ü ü ú ú ö Ö ü ü í ú ö í ö í í ú ö í ö ö Ö ö í ü ú ö ü ú ö ö
Festival de la Francophonie 2014. Concours «dis-moi dix mots à la folie!»
Festival de la Francophonie 2014 Concours «dis-moi dix mots à la folie!» Réalisez des productions littéraires avec vos classes autour de la poésie, du conte, du théâtre! Premier prix : un séjour pédagogique
ö Ö ü ú ö ü ó ó ü ü ú í í ő í ó í Á ő ó í ö í ó ő ó í ú ü ö ö Í í ó ő ő í ú Á ö ü ő í ó ö í ü Ú í ö í ö ü í í í ó ó í ó í í ü í í í ó ü ü ö ó ö ű ö Ö ü í Í ö ö ó ú ő ü ö í ú ő ó ó ü Ö ú ú ö ú ő ü ú í ö
í ú ü ú ő ü ő ö íü ú ú Á ú í ő í ő ő ő í í ő ő ö ü ű ö í ö í í ő ü ü ő ü ő ö ő ü ő ú ő ő ő ő í úí ő ü í ő ú í ü í ő ü ő ő ő í ő ö ü ü ő ú ú ö í ő í í ö í ű í í ő ö ő í ü í í ő ő í ú ü ő ö í ö í ű ö ú ő
í ő Á Á Ő É ö ő í Í ú ó ő ő ó Íő ó ő ó ö ö í ö ő Á Á ő ö ő í É í ü Ü ü É í ü í í ü ö ö ü Ü ű ü í ö ú ó ó ó ó í ó ü ő í ó ő ó ő í í É í ó Ó ű ó ú ö ö ó ú É í ó ő í í ű ó őí ö í ő í ó ü í ó í ó ó ó í í őí
Í Ő ő Ő Ö Ö Ü Ó Í Í Í Í Ü Í Í Í Ü Í Ü Í Ö Ó Í í ő Í í í ő ő í ü őí Í ő ü ü Ó őí ő Í ü ő ő ü ő í ő ü ő ő ü Í ő í ő í ő ü í ú ü ő íí Í Í ő ú íí Í Í ü ő í Í ü í í ü í Í ő Í ő ő őí ő ü í ő í ő ő ü Í ő ü í
Pro sensors Measurement sensors to IP Thermo Professional network
Pro sensors Measurement sensors to IP Thermo Professional network T-05 Temperature sensor TH-05 Temperature, humidity sensor THP- 05 Temperature, humidity, air pressure, air velocity, wet sensors indoor
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly
Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp Havancsák Károly http://sem.elte.hu 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Anton van Leeuwenhoek (1632-1723, Delft) FEI (Philips) Eindhoven 2 A Képképzés fajtái
Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék
Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás
É ö ő Ö ő Í ó ó ő ő É É í ő ő ő Í Ü ő ő ó ó ö ö í ő ő ő ő ó ó ö ű ö ö Í ő ö í ó ó íí ú í ó ő ö ú ö ö ő ö ö ö ó ő ő ó ő ő í í í ö ű ó í ó ó ó ö ő ö ö ó ű ó í ü ö ü ö í ó ö í ő ő ó ó ő í ü í ó ü ö ő ő ó
Ö í Ö Ü Ü í í ü ü í í í Ó Í í í í Ó í í íí Ó íí ü ü í í Á íí í ü Ü Ó Ü í í í ü í ü í í í í ü ü í ü í í ü ü ü í í í í ü í í í í í Ö í í ü í í ü ü ü Ó Ó ü í í í í ü ü ü Ö ü ü Ö í í í í í Ö ü í í í ü í í
ú Ó ű Ó Ó ű ű ű ű ű ű ú ú Í ú Ö ú Á Ö ú ú ú Í ű ű ű ű ú ű ú Í ű Ú Ö ű ú Í Í ú ű ú ű ú ú ú ú ű Í ú Í ű ú ű Í ű ú ú Ú ű Á Ü ű ú ú ű ű ú Í ú ú É Í Í ú ú ú Í ú Ó ú ű ű Í Í ű ű Á Í ú ú Í Ö ű Ú ű Ó ú ú ú Ö ú
Á Á Í Á Ú Á ő í í ö í í í ö ö ő ü ö í ö ü ö üí ő üí í ő ő ú ö í ö ú í í ő í í ö ú ű ö ú í í ú Í ö ú í í ő í Í ő í ö ú ű í Á Á Í Á ö ö í í í í í Ő É Ú Ú Í É Á ü ő ö ő í ö ö Á ö Í É ö ö É Ö É í ő Ö Ö Í Á
ö Ö ü ö ü ö Ö ü ú ü ö ö ö ü ü ü ó ó ó í ö í ö ü ö ö ö í ö ü ö ö ö ü í ó ö ó ö ö í í í ü í ó ü ö í ó ö ö ü ü ú ó ö ö ó ö í ü ű ö ó ú í ö ű ö ű í ö ú ó ó í ó í ö Ó í ú Í ö ü Ö ű ű Ö í ú ó ö í ú ű Ö ö ö ö
íí ú Í í Ó í í ó ó í ó Ü í ü í Í í í í ü í í í í í í í í í í ó í ó í ű í ó ü ó ó ü ű Ü Ú Í Ö ó ó ű í í í í ó Ő ó í í ó í ó í í í ü ü ó í ü ü ó í ü Ó í ó ó ó ú ó ü í ó ó í í í í í í í ó ü ü üí Ü Ü í Í ü
Á Ő É É ó ó ó ó ó ú ó ű ó ú Í Í ó Ö Á ó ó ó ó Í ó ó ó ó Í ű ó ű ű ó É ó ű ó ó ű ó ű ó ó ú ü ü ó ó ó ó ü ú ó ú ó ú ú ó ú ó ó Ú ó ó ú ú ű ó ú Á ü ú Í Ú ű Ú Ö Í Á Á É Á Á Á É Ó ó ó ó ú ó ó ű ó ü ó ó ó ó ó
Á Ö Ú Á É É Ő ú ü ú ú ű Ü Ö ü ÚÍ ü ü ú Ü Ü ú ú ú Ó ú ú ú ű ú ú ű É ú ü ü ü ü Ü ü ü Ü ű ű ű ű ú Á Á Á Á Á ú ű ü ű Ü ű ú ű ü ű ü ű Ö ú Ü ű ú Ü É ű ü Ü ü ú Ü ú ú ú ü Ü Ü ü ü ú Í ü ü ú ü Á ü Ü ű ű ű ü ű É
Ü ü ü ű ü ű Í ű ü ü ü ű ü ü ü ü ü ü ü ü ü ü ű Í ü ü ü ü ü Í É Á Á Í É Á Á Á Á Á Á Á Á Ó ű Á ű É É Á Á Á Á Á ű ü Á Á Ó Ó ü ü ű ü ű ü ü ü Í ű Í ü Í Í ü ü Í ü ü ü ü ü ű ü ü ü ü Í Ó É Ü Í Á ü ű Í ü Í Á Á
ö Ö ö ó í ó ó í ö Ö í ö í ü ó ö Ö ö ö Á ö ö ö ö Ö ö ö ö ö ó ó ó ö ö ö ü ü ö ö ü í í í í ú ö ö ö ö í ö ö ó í ö ó ö ú ö ü ü ü ö ö í üí ö ö ü ó ö úí ö ó ö ó í ö ó í ö í í í ü ö ó ó ó ó ó ö ö í í ü ó ö ö í
Ö É Á Ú É É É É Í Ü Ü Ő É ö É ö á ö í ü ü á á á á í á í á ö á á á á á á á í á á ö á á ö á á á á Á ö á á á ö í á ö á ü ö á ö í ü ü á Ő í á ö í í Ü á ü ö ö ü á á á Í á í á á ü ö íí á á í á á á á á í ü ö
ö ü ö Ö ö ö Ö Á ö ö ö ö Ö ü í ö í í ú ú í ö ü ű ü ú í ü ű ö ö í í ü í ü í ü ü ű Á Á í Ú í ú ú í ö ü ö ö ö ö ü ö í ü í ö ü í í í í í í É ú ú É ü ü ű ú ú ö ü ö ü í í ü ö ü ú ú í ü ö ü ö ö ö ö ö ö ö Á ö Ö
Í Í Í Á É É Í Ó Ó Í Á Á É Á Á Ö É Á Ö Á Á Á Í É É ű Í ű É É Ű Á Á Ó Á Á ű ű É Í Á Á Í Í É É É Á Ó Á Á Ó ű Í Á Á ű ű ű ű Á ű Í ű ű É Í Í Í ű ű ű ű Í ű ű ű ű ű ű Í É ű ű ű ű ű ű ű ű ű ű ű ű É Í ű Í Í Í Ü
ű ű Í ű Í Á ű ű Á É Á Á Á Á É Á Á É Ó ű Á Ő Ó É É É Á Í Á É Á Á Á Í Á É Á Ó Í Í ű ű ű Í Í ű Í ű Í Í ű Í Í ű ű ű Í ű ű ű ű ű Í ű ű Í Í ű Á Á ű ű ű ű Í ű Í ű ű ű ű ű Í Í ű Í ű ű Í Í Í É ű Í ű ű ű Í ű Í ű
ú Ó Ö Ó ű Í Ó ú Í Ü Í Í Í Í ú Í Í Ú É Í Í Ü É Ü Ö Ü ú Í Í Í Í Í É Í Í Í Ó Í Í ú Í ú Í Í ú Ü Í Ü Í Í Í Í Ü Í Í ú Í Í Í ű Ú Í Í Í ú Í ú ú ú ú ú É Í Í Í Í ú Í Í Í Í Í Ü Í Ü ÜÍ ú ú Ú ú ú Í ű Í ú Í Ú Í ű Í
ü ű ü ű Í ű ü ü ü ü ü ü ü ű ü ű ű ű ü ű ü ű ü ű ü ü ü ü ű ü Í ü Ü Á É Í Á Á Á É Á Á Á Á Á Á Á Ö Á Í ű Á É Á É É É Ú ű É É Ú Á Í Á Ő Á É Ú Á Á Á Á Á Ú Á Á ű É Ó Á É É Ú Ő Á ü ű ű ü ű ű ű ű ű ű ü ü Ú ű Í
Ö ü Ö ü ü ü í í ü í ü ü ü Á í ü ü í ü í ü ü ű í Ö ü í í í ü ü ű í ú í ü ü í í Á Á ű ü í í í í í ű í í í í ú í ü í í í ü ű í ű ú í ü ü í ű í Á ü í ü ü í Á Ö ü ü ű ü í ü ú ü Á ú ű ü ü ü ű Á Ö ü ű Ö í í ü
Á Á Á Ó É ö ó ő ó ő ő ő ó ó ó ú ő ö ü ő ó ó ó ó ó ő ó ü ö ö ó ü ő ó ű ó ö ó ó ó ö ő ö ó ó ü ő ö ő ő ü ő ő ő ő ő ó ű ú ó ő ő ö ő ő ü ő ő ő ú ö ö ü Ü ú ö Í ó Ú ó ö ó ő ó ő ű ó ú ú ő ü ő ő ú ö ő ö ú ó ö ó
A nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
Dr. JUVANCZ ZOLTÁN Óbudai Egyetem Dr. FENYVESI ÉVA CycloLab Kft
Dr. JUVANCZ ZOLTÁN Óbudai Egyetem Dr. FENYVESI ÉVA CycloLab Kft Atom- és molekula-spektroszkópiás módszerek Módszer Elv Vizsgált anyag típusa Atom abszorpciós spektrofotometria (AAS) A szervetlen Lángfotometria