Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et. Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék

Hasonló dokumentumok
A nanotechnológia mikroszkópja

FEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly december

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

A nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, január

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények

Képalkotás a pásztázó elektronmikroszkóppal

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.

FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n

József Attila Gimnázium és Eü. Szakközépiskola spec. mat.

Grafén nanoszerkezetek

Nagynyomású csavarással tömörített réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és termikus stabilitása

Mikroszerkezet Krisztallitonként Tömbi Polikristályos Mintában

Diszlokációrendszerek és a szubmikronos plaszticitás statisztikus tulajdonságai

Réz - szén nanocső kompozit mikroszerkezete és mechanikai viselkedése

EBSD-alkalmazások. Minta-elôkészítés, felületkezelés

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez

Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD) opakásványok és fluidzárványaik infravörös mikroszkópos vizsgálatához

PLATTÍROZOTT ALUMÍNIUM LEMEZEK KÖTÉSI VISZONYAINAK TECHNOLÓGIAI VIZSGÁLATA TECHNOLOGICAL INVESTIGATION OF PLATED ALUMINIUM SHEETS BONDING PROPERTIES

MELEGZÖMÍTŐ VIZSGÁLATOK ALUMÍNIUMÖTVÖZETEKEN HOT COMPRESSION TESTS IN ALUMINIUM ALLOYS MIKÓ TAMÁS 1

Alkalmazott kutatások kozmikus részecskék detektálásával

Reinforced Concrete Structures I. / Vasbetonszerkezetek I. II.

Lézeres eljárások Teflon vékonyréteg leválasztására valamint Teflon adhéziójának módosítására

Heterogén hegesztett kötés integritásának értékelése

LED UTCAI LÁMPATESTEK STREET LIGHTING

Nanokeménység mérések

Intelligens és összetett szenzorok

DECLARATION OF PERFORMANCE. No. CPR-20-IC-204

Lapcentrált köbös fémek és ötvözetek képlékeny alakváltozási folyamatainak leírása és elemzése

A kerámiaipar struktúrája napjainkban Magyarországon

Construction of a cube given with its centre and a sideline

Szundikáló macska Sleeping kitty

Titán alapú biokompatibilis vékonyrétegek: előállítása és vizsgálata

Spin Hall effect. Egy kis spintronika Spin-pálya kölcsönhatás. Miért szeretjük mégis? A spin-injektálás buktatói

A katalógusban szereplő adatok változásának jogát fenntartjuk es kiadás

Lehet-e tökéletes nanotechnológiai eszközöket készíteni tökéletlen grafénból?

Supplementary Table 1. Cystometric parameters in sham-operated wild type and Trpv4 -/- rats during saline infusion and

Egyrétegű tömörfalapok ragasztási szilárdságának vizsgálata kisméretű próbatesteken

Analitikai szenzorok második rész

Hibák kristályos anyagokban: hogyan keletkeznek és mire használjuk ket?

Mikropillárok plasztikus deformációja 3.

CMS Pixel Detektor működése


Pásztázó mikroszkópiás módszerek

Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben

TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR (minden téma külön lapra) június május 31

Amorf/nanoszerkezetű felületi réteg létrehozása lézersugaras felületkezeléssel

Az IAAF által atlétikai versenyekre elõírt hitelesítési szabályok (súly, diszkosz, kalapács, gerely) BUDAPEST, 2014

SOLiD Technology. library preparation & Sequencing Chemistry (sequencing by ligation!) Imaging and analysis. Application specific sample preparation

Pacemaker készülékek szoftverének verifikációja. Hesz Gábor

Szerkezeti fa szilárdsági osztályozása Göcsök szerepe. Strength grading of stuctural lumber Effect of knots

Tamás Ferenc: CSS táblázatok 2.

Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére

SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK

KÉPALKOTÁSRA ALAPOZOTT RUHAIPARI

Havancsák Károly, ELTE TTK Fizikai Intézet. A nanovilág. tudománya és technológiája

4-42 ELECTRONICS WX210 - WX240

Mikroelektromechanikai szerkezetek szilárdsági és megbízhatósági vizsgálata

A festéktelenítési folyamatban nyert pép illetve szűrlet optikai jellemzőinek mérése

A évi fizikai Nobel díj a grafénért

FÉMKOMPOZITOK KOPÁSÁLLÓSÁGÁNAK VIZSGÁLATA INVESTIGATION OF THE WEAR RESISTANCE PROPERTIES OF METAL MATRIX COMPOSITES

Moore & more than Moore

Alloy 718 UNS: N 07718

Fémüvegek alacsonyhőmérsékleti képlékeny deformációja: belső feszültségek mérése

TEL.: / WEB: 1

Vitorláshal Angelfish

Az elállítási körülmények hatása nanoporokból szinterelt fémek mikroszerkezetére és mechanikai tulajdonságaira

Nanotudományok vívmányai a mindennapokban Lagzi István László Eötvös Loránd Tudományegyetem Meteorológiai Tanszék

Fuzzy Rendszerek. 3. előadás Alkalmazások. Ballagi Áron egyetemi adjunktus. Széchenyi István Egyetem, Automatizálási Tsz.

Flowering time. Col C24 Cvi C24xCol C24xCvi ColxCvi

Feszítőbetét erőátadódási hossza acélszál erősítésű betonban

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.

i1400 Image Processing Guide A-61623_zh-tw

Az opakásványok infravörös-mikroszkópos sajátosságai és ezek jelentősége a fluidzárvány vizsgálatokban

MIKRO- ÉS NANOTECHNIKA I

Integrált áramkörök termikus szimulációja

A minta-előkészítés hatása a visszaszórt elektron-diffrakció képminőségére AISI 304-es acéltípus esetében

Heterogén anyagok károsodása és törése

Energia-diszperzív röntgen elemanalízis és Fókuszált ionsugaras megmunkálás FEI Quanta 3D SEM/FIB

TÉMA ÉRTÉKELÉS TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KMR (minden téma külön lapra) június május 31

SZENZOROK ÉS MIKROÁRAMKÖRÖK

GÉPÉSZETI ALKALMAZOTT SZÁMÍTÁSTECHNIKA f iskolai mérnökhallgatók számára. A 4. gyakorlat anyaga. Adott: Geometriai méretek:

A felület vizsgálata mikrokeménységméréssel

DIGIT. ÁRAMLÁSÉRZÉKELŐ

Végeselem módszer 3. gyakorlat

NANORENDSZEREK ÁLTALÁNOS TULAJDONSÁGAI ÉS ORVOSI ALKALMAZÁSAI

János Radó MTA EK MFA MEMS labratory. Third semester

Őrlés hatására porokban végbemenő kristályos-amorf szerkezetváltozás tanulmányozása

Rod Eye Digital User Manual

VÍZKEZELÉS, ADAGOLÁS, MÉRÉS, SZABÁLYOZÁS, AUTOMATIZÁLÁS

Mikro és nanorobot koncepciók. Horváth Gergő Márton Gergely

Fűrészáru érintésmentes sűrűségmérése. Non-contact density determination of lumber

Expression analysis of PIN genes in root tips and nodules of Lotus japonicus

Magyar japán műszaki kutatási együttműködés az iparban: sikerek és remények

Effect of the different parameters to the surface roughness in freeform surface milling

Átírás:

Mikro- és nanomechanika avagy mire IS lehet használni SEM/FIB-et Lendvai János ELTE Anyagfizikai Tanszék

1947-ben kezdődött a bipoláris germánium tranzisztor létrehozásával (Bell Laboratory). mikrotechnológia 1956-ban fizikai Nobel-díj. Feynman 1959 Mihal C. Roco

Az első tömegtermelt microelectromechanical system (MEMS): légzsák kioldó szenzor

A fotolitográfia méretcsökkenése Moore-törvény, évtizedeken át érvényes tendencia. 10000 Gordon Moore ~2000-ben vonal vastagság [nm] 1000 100 10 1980 1990 2000 2010 2020 2030 2040 2050

A fotolitográfia méretcsökkenése Moore-törvény, évtizedeken át érvényes tendencia. Manapság a vonalvastagság elérte a 60-100 nm-t, Ha a tendencia folytatódik, akkor 2020. és 2025. között a 10 nm-es határt is elérjük. Ez a nanotechnológián belül újabb kihívásokat rejt magában. Gordon Moore 2009-ben 10000 vonal vastagság [nm] 1000 100 ITRS (International Technology Roadmap of Semiconductors) 10 1980 1990 2000 2010 2020 2030 2040 2050

ZnO nanoőv, -spirál, -rugó

Cu Brenner SS. 1956. Tensile strength of whiskers. J. Appl. Phys. 27:1484-91.

Al Tabata T, Fujita H, Yamamoto S, Cyoji T. 1976. The effect of specimen diameter on tensile behaviors of aluminum thin wires. J. Phys. Soc. Japan 40:792-97.

Cu drótok - csavarási deformáció [Fleck et al. Acta Mat. 1994]

Nanoindenterek MTS_Nano-Indenter XP CSIRO_UMIS (Ultra-Micro-Indentation System) Hysitron_Triboscope CSM_NHT (Nano-Hardness Tester)

Commercial machine implementation MTS_Nano-Indenter CSIRO_UMIS Inductive force generation system Displacement measured by capacitance gage Hysitron_TriboScope Load via leaf springs by expansion of load actuato Deflection measured using a force LVDT CSM_NHT Two perpendicular transducer systems Force applied by an electromagnetic actuator

Deformáció szemcseméret-csökkenést eredményezhet:

L. Zhang et al.: Evaluation of matrix strength in ultra-fine grained pure Al by nanoindentation, J. Mater. Res., Vol. 24, No. 9, Sep 2009

Fig. 1. Mechanical behavior at room temperature for pure Ni microsamples having a 134 orientation. M D Uchic et al. Science 2004;305:986-989

[P. Shade, 2008]

Fig. 1. A typical stress-strain curve obtained from simulation of the three-dimensional dislocation dynamics model in a load-controlled test in multiple-slip conditions. F F Csikor, C. Motz, D. Weygand, M. Zaiser, S. Zapieri Science 2007;318:251-254

Fig. 2. Progress of a large dislocation avalanche in [010] symmetrical multiple slip for a specimen of size L = 0.5 µm. F F Csikor et al. Science 2007;318:251-254

Fig. 3. Scaling collapse of avalanche size distributions. F F Csikor et al. Science 2007;318:251-254

Fig. 4. Shapes of rods (aspect ratio 1:50) after simulated bending; rod thickness t from top left to bottom right: t = 100 µm, t = 10 µm, t = 1 µm, t = 0.1 µm; b = 2.8 10 10 m, Θ = E/1000; the color code indicates the local bending angle over a segment of length t. F F Csikor et al. Science 2007;318:251-254

A fotolitográfia méretcsökkenése 10000 vonal vastagság [nm] 1000 100 10 1980 1990 2000 2010 2020 2030 2040 2050

P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, 085503 (2010)

P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, 085503 (2010)

P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, 085503 (2010) 3D

P. D. Ispánovity, I. Groma, G.Györgyi, F. F. Csikor, and D. Weygand PRL 105, 085503 (2010) 2D

FEI Quanta 3D SEM/FIB

FEI Quanta 3D SEM/FIB ion oszlop elektron oszlop omniprobe nanomanipulátor DX detektor gáz injektorok nt. dynode electr. ultiplier = CDEM tektor (SE, SI) mintakamra ajtó mintatartó mechanikus mozgatógombokkal EBSD detektor GSED erősítő

FEI Quanta 3D SEM/FIB low kv vcd (visszahúzható pásztázó transz missziós detekt (STEM) nt. dynode electr. ultiplier = CDEM detektor E, SI) ion oszlop vége elektron oszlop vége áz injektor Everhard-Thorn SED/BSED EBSD detektor infravörös CCD kamera alacsony nyomás szekunder elektro detektot (LVSED)

FEI Quanta 3D SEM/FIB mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval

Bulatov et al.

Blue Gene a LLNL-ban

Köszönöm szépen a figyelmet! Kellemes Ünnepeket!