Anyagtudomány,BMEGEMTAV01, Sztentek, és,mikroszkópok,
|
|
- Antal Kozma
- 8 évvel ezelőtt
- Látták:
Átírás
1 Anyagtudomány,BMEGEMTAV01, Sztentek, és,mikroszkópok, Bognár,Eszter, Szoba:,MT,ép.,1.,em.,107, Tel.:,463G4149, 1"
2 A,gyakorlatokról, A"kötelező"gyakorlatok:" """"""""1."mikroszkópos"vizsgálatok"(G"épület)," """"""""2."vezetési"jelenségek"(G"épület)," """"""""3."mágneses"anyagok"(G"épület)," """"""""4."újrakristályosodás"(G"épület)," """"""""5."elektronmikroszkópos"(MT"épület)"mérés." Laborbeosztás"a"tanszéki"honlapon:" """" Múzeumlátogatás!!!" 2"
3 Előadásom,felépítése, A"mikroszkópok"története" Az"előadás"során"ismerteteM"mikroszkópok"és"működésük"" "Biológiai"mikroszkóp,"binokuláris"mikroszkóp,"sztereomikroszkóp" " "Fémmikroszkóp"" "Konfokális"pásztázó"mikroszkóp" "Pásztázó"elektronmikroszkóp,"transzmissziós"elektronmikroszkóp" "AtomierőZ"és"rokon"mikroszkópok"" "Röntgen"mikroszkóp" "Raman"mikroszkóp" " "Lézeres"felüle\"topográf" Gyakorla\"példák:"sztentek" Mintaelőkészítés" 3"
4 A,mikroszkópok,története, Nem" lehet" tudni" pontosan," hogy" ki" a" mikroszkóp"feltalálója."" A" holland" H a n s% Janssen(t" és" fiát" Zacharias% Janssen(t" tartják" az" összetem" m i k r o s z k ó p" feltalálóinak." 1590Zben" alkomák" korszakalkotó" f e l f e d e z é s ü k e t." A" JanssenZféle" mikroszkóp" mindössze" két" nagyítólencséből" áll." 4"
5 A,mikroszkópok,története, 1608Zban" a" szintén" holland" származású" szemüvegkészítő,"" Lippershey" szabadalmi" oltalmat" kért" a" holland" kormánytól" találmányára," a m e l y" e g y" t á v c s ő" v o l t." A" szabadalmat" azonban" nem" kapta" meg," mert" vele" egy" időben" többen" kérték"ugyanezt." Galileo% Galilei% 1609Zben" hallom" a" holland" távcsőkísérletekről." Galilei" nem" csak" távcsövet," hanem" mikroszkópot" is" készítem." Ez" a" szerkezet" konvex" és" konkáv" lencsékből" állt," valódi" összetem" mikroszkóp"volt."" 5"
6 A,mikroszkópok,története, 1665Zben" Robert% Hooke" kiadja" a" MicrographiaZt," amely" biológiai" témájú" mikrográfiák" gyűjteménye." Tőle" származik" a" "sejt" (cell)"" szó." Hooke" sejtnek," azaz" cellának" nevezte" a" parafa" tanulmányozása" közben" látom" apró"alkotórészeket." Anton% van% Leeuwenhoek(nak" köszönhető," hogy" az" orvosok," biológusok" megismerték" a" mikroszkópot." Sok" rajzot" készítem" a" vízcseppben" lakó" parányi" élőlényekről." Leeuwenhoek" mikroszkópja" egy" egyszerű," nagy" nagyítású" lencse" volt."" 6"
7 A,mikroszkópok,története, 1847Zben" Carl% Zeiss% bemutatja" első" mikroszkópját." Napjainkban" a" Carl" Zeiss" nevével" fémjelzem" op\kai" eszközök"világszínvonalat"képviselnek." 1931Zben" Ernst% Ruska" elkezdte" az" első" elektronmikroszkóp" tervezését." Ez" a" szerkezet" fény" helyem" elektronsugarakat," üveglencsék" helyem" pedig" mágneseket" alkalmazom" a" képalkotáshoz." Az" első," kísérle\" darab" még" csak" 400Zszoros" nagyításra" volt" képes." 7"
8 Hogyan"kapcsolódnak"a" mikroszkópokhoz"és"mik"is"ezek"a" sztentek?" 8"
9 A,probléma, 75"éves" 50"éves" 25éves" 5"éves" Alexander"Tsiaras":"Az"anatómia"művésze,"Digitális"Fotómagazin,"VII."évf.,"2007."12."18H31." 9"
10 Érfestés, 10"
11 Kezelési,módok, Bypass"műtét" Ballonos"tágítás" Sztent"beültetése" 11"
12 Ballonos,tágítás, 12"
13 A,sztentbeültetés, folyamata, 13"
14 Koszorúérsztentek, 14"
15 Előnyök, Helyi"érzéstelenítés" Mentes"a"sebészi"szövődményektől"is"(sebfertőződés," idegsérülés,"varratelégtelenség)" Kisebb"vérveszteséggel"jár" Kisebb"megterhelést"ró"a"betegre,"így"idős,"rossz" általános"állapotú"betegeknél"is"elvégezhető" A"gyógyulás"sokkal"gyorsabb" Sikertelenség"eseten"a"műtét"változatlanul" elvégezhető" Resztenózis"esetén"a"beavatkozás"ismételhető,"vagy" érsebésze\"rekonstrukció"végezhető" 15"
16 Kutatócsoportunk, Ginsztler"János" Nagy"Péter" Pelyhe"Liza" Ring"György" Puskás"Zsolt" Laczkó"Romola" Meszlényi"György" Dévényi"László" Balázs"Tibor" Dobránszky"János" Bán"Melinda" Szabadíts"Péter" Domján"Dániel" Katona"Bálint" Bognár"Eszter" Kertész"Anna" Lengyel"Ákos" Antal"Péter" 16"
17 Sztentes,kutatásaink, 2010Ztől" mostanáig" pedig"több," mint"mz,"új" sztentes"témájú" dolgozat" születem." 17"
18 Milyen"mikroszkópokat"használunk"a" sztentek"vizsgálatához?" 18"
19 A,mikroszkópok,típusai" "Op\kai"mikroszkópok:"a" mintán"áthaladó,"vagy"a" felületéről"visszaverődő" sugarakat"egy"opckai" rendszer"nagyítod"képpé" alakítja" "Letapogató"mikroszkópok:"a" felület"fölöd"végigvezeck"a" szondát"vagy"tűt"és"rögzíck" a"kölcsönhatás"erősségét." 19"
20 Az,optikai,mikroszkópok,fő,részei" "Mikroszkóptest:"feladata"a" mikroszkóp"egyes"elemeinek" megfelelő"helyzetben"tartása," valamint"a"tárgyasztal" mozgathatóságának" biztosítása" "Megvilágító"eszközök:" fényforrás,"megvilágító"cső," illuminátor" Op\kai"berendezés:" legfontosabbak"az"objekev" (tárgylencse)"és"az"okulár" (szemlencse)"" LátoM"kép"rögzítése:" fényképezőgép,"kamera" Fémmikroszkóp" 20"
21 Az,optikai,mikroszkópok,tulajdonságai, Op\kai"berendezés:"a"mikroszkóp"nagyítását"a"mikroszkópba"beépíted"objekev" (tárgylencse)"és"okulár"(szemlencse)"lencsék"nagyításainak"szorzata"adja." A" képalkotás" minőségét" főleg" az" objekmv" határozza" meg," ennek" tulajdonságai:" H H Numerikus" apertúra" (NA):" a" lencse" fénygyűjtő" képességének" számszerű" kifejezésére"szolgál."értékét"megadja"annak"a"szögnek"a"szinusza,"amelyet"az"opckai" tengely"és"a"lencse"által"még"irányítod"(hasznosítod)"fénysugár"zár"be."na=sinα" Mértéke" növelhető" az" objekev" és" a" csiszolat" közé" helyezed" n " törésmutatójú" folyadékkal"(pl."cédrusolaj)."na=nmsinα" Felbontóképesség" (d):" annak" a" két," legközelebbi" pontnak" a" tárgyon" mért" távolsága," amelyet" a" mikroszkóp" által" létrehozod" (nagyítod)" képen" még" éppen" meg" tudunk" különböztetni." 21"
22 Az,optikai,mikroszkópok,felépítése, 1" "fényforrás:"pontszerű"legyen"és"monokroma\kus"fényt"sugározzon"ki" 2,"5,"7" "különböző"rendeltetésű"lencsék"" 3" "színszűrő"" 4" "apertúra"fényrekesz:"az"op\kai"tengelytől"távolabb"haladó"sugarakat"kiszűri,"így"a" kép"élességét"biztosítja" 6" "látótér"fényrekesz:"a"mintának"csak"a"vizsgálni"kívánt"része"kapjon"megvilágítást" 8" "ver\kális"illuminátor:"a"megvilágító"rendszerből"érkező"fényt"a"z"objekmven"(9)" keresztül"a"tárgytartó"asztalon"(10)"elhelyezem"tárgy"(11)"felületére"irányítja" 12"Z"okulár" 22"
23 A,vertikális,illuminátor,fajtái, Prizmás"illuminátor" Plánparalel"illuminátor" Z"nem"igényel"nagy"teljesítményű" fényforrást" H "felbontóképessége"fele"akkora," mint"a"plánparalel"megoldásnál" H "d=λ/na" Z"nagy"a"fényvesztesége" H "felbontóképessége"kétszer" akkora,"mint"a"prizmás" megoldásnál" H "d="λ/2na" 23"
24 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, Biológiai,mikroszkóp,,binokulárisG,és,sztereomikroszkóp, A" sztereomikroszkópok" jellemző" nagyítása" 10Z80Zszoros" közör," makroszkópikus" méretű" objektumok" vizsgálatára" alkalmasak." IM" nem" kell" preparátumokat" készítenünk," mint" a" biológiai" mikroszkópoknál" vagy" csiszolatot," mint" " fémmikroszkópok" esetében," a" vizsgálandó" tárgyat" egyszerűen" a" tárgyasztalra" helyezzük." Ezek" képe" valódi" sztereó," tehát" nem" csak" egy" belépő" fénynyaláb" van" kemé" osztva," mint" a" binokuláris" mikroszkópoknál." A"megvilágítás"ilyen"esetben"lehet"külső" lámpa"vagy"a"mikroszkóp"lencséje"körüli" beépítem"megvilágítás." 24"
25 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, Fémmikroszkóp,, Fémmikroszkóppal" át" nem" látszó" testeket" vizsgálunk," felépítése" a" közönséges" (biológiai)" mikroszkóphoz" hasonló,"azonban"im"a"vizsgálat" a" t á r g y" f e l ü l e t é r ő l" visszaverődöm" fénysugarak" segítségével" történik." A" használatos" fémmikroszkópok" többsége" Le% Chatelier% rendszerű," vagy" fordítom" mikroszkóp." Lencserendszerük" segítségével" nagyjából" maximálisan" 2000x" nagyítást"tesznek"lehetővé." 25"
26 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, Konfokális,pásztázó,mikroszkóp, " " A" konfokális" képalkotás" lényege," hogy" a" rendszer" csak" a" fókuszsíkból" jövő"fényt"detektálja."a"konfokális"mikroszkópnál"egyszerre"csak"a"minta" egy"pontját"világítják"meg.""a"lézer"fényforrás"fényét"az"objekmv"lencse"a" minta" egy" pontjára" fókuszálja," majd" a" mintából" eredő" fluoreszcens" ill." visszavert" fényt" ugyancsak" az" objekmv" gyűj\" össze." " A" minta" egy" adom" síkjából" jövő" fény" az" op\kai" rendszeren" való" áthaladás" után" egy" adom" fókuszpontban" összpontosul," majd" a" detektorba" jut." Ha" egy" kicsiny" átmérőjű"rést"úgy"helyezünk"el,"hogy"nyílása"éppen"erre"a"fókuszpontra" essen,"ez"nem"befolyásolja"lényegesen"a"fókuszsíkból"jövő"fényt,"viszont" a"fókuszsíkon"kívülről"jövő"fényt"szinte"teljesen"kirekesz\." Mivel" egyszerre" csak" a" minta" egyetlen" pontját" világítja" meg," a" konfokális" elrendezés"önmagában"nem"ad"képet." "Ahhoz,"hogy"képet"kapjunk,"sorra"végig" kell"pásztázzuk"a"vizsgálandó"terület"minden"egyes"pontját." "A"detektor"minden" egyes" pontban" megméri" a" fény" intenzitását," ezekből" a" számítógép" összerakja" a" képet." 26"
27 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, Konfokális,pásztázó,mikroszkóp, 27"
28 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, pásztázó,és,transzmissziós,elektronmikroszkóp" P á s z t á z ó" elektronmikroszkóp" (SEM):" a" képet" különféle" detektorok" segítségével" állítjuk" elő" a" minta" felületéről," az" anyag" és" az" elektronok" kölcsönhatása" során" kapod"jelekből." " Transzmissziós" elektronmikroszkóp" (TEM):" a" leképezés" a" geometh riai" opcka" törvényein" alapul:" az" elektronok" h u l l á m t e r m é s z e t é t" használjuk"ki"(de"broglie," 1924.:"λ=h/mv)." 28"
29 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, pásztázó,elektronmikroszkóp" A"SEM"képalkotásának"alapja"az"elektron" és"anyag"kölcsönhatásai" Szekunder"elektronok" A"szekunder"elektronok"az"50"eVHnál"kisebb" energiájú"elektronok." Eredetük:"az"alapanyag"atomjainak"külső"héjairól" származó"elektronok,"kis"energiájú"visszaszórt" elektronok,"általuk"készülnek"a"legjobb"felbontású" képek." Visszaszórt"elektronok" A"minta"felületét"elhagyó"50"eVHnál"nagyobb" energiájú"elektronok.""felülec"(topográfiai)"és" kémiai"összetételi"információt"hordoznak." Röntgensugárzás" Karakteriszckus:"a"beeső"elektronok"a"belső"(K,"L," M)"héjakat"ionizálják,"amelyekre"egy"külső"héjról" ugranak"be"elektronok." Mintaáram" Eredetük:"a"minta"anyagában"elnyelt"(abszorbeált)" elektronok." Fényemisszó" Eredete:"katódlumineszcencia." " 29"
30 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, pásztázó,elektronmikroszkóp" Alapja:" azon" jelenség," hogy" a" keletkezem" karakterisz\kus" röntgensugárzás" energiája" (vagy" a" hullámhossza)" arra" a" kémiai" elemre" jellemző," amely" azt" kibocsátoma;" és" a" röntgensugárzás" intenzitása" pedig" a" kérdéses" elem" mennyiségével"arányos." " Elektronsugaras"mikroanalízis" hullámhosszdiszperzív"röntgenspektrométer"(wds)"z"braggztörvény" energiadiszperzív"röntgenspektrométer"(eds)"z"félvezetőtechnika" A%WDS%előnyei% Az%EDS%előnyei% Nagyobb"felbontóképesség." A"kis"és"jobban"mérhető"hádér" jobb"detektálási"határokat"tesz" lehetővé." A"kis"rendszámú"elemek" analízisében"használhatóbb." Szimultán"elemanalízis,"ezért" sokkal"gyorsabb,"mint"a"wds." Jobb"laterális"felbontást"ad,"kis" áramokkal"dolgozik,"kíméli"a" mintát." Könnyebb"működtethetőség." 30"
31 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:,,atomierőGmikroszkóp,(Atomic,Force,Microscope,AFM)" Pásztázó"tűszondás"mikroszkópok" AFM" STM" Közös" jellemzőjük," hogy" egy" nagyon" hegyes" tűt" húznak" végig" a" vizsgálandó" mintán" vagy" annak"közvetlen"közelében"és"a"tűre"ható"erőt"(afm)"vagy"a"tűn"ásolyó"áramot"(stm)"egy" elektronikus" visszacsatoló" kör" segítségével" állandó" értéken" tartják" a" tű" vagy" a" minta" mozgatásával." A"tű"és"a"minta"közör"van"der"Waals"erők""deformálják" a"kanclevert." A"felbontóképessége"a"tű"végének"lekerekítési"sugarától" (nm"nagyságrendje)"függ." " 31"
32 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:,,atomierőGmikroszkóp,(Atomic,Force,Microscope,AFM)" 1:" mikroszkóp," 2:" vezérlő" elektronika," 3:" PC," 4:" rezgésmentesítésre" szolgáló" passzív" légpárnás" asztal" Kontakt"mód:"a"tű"és"a"minta"felülete"közöd" állandó" erő" hat," vagyis" a" kanclever" deformációja" nem" változik." Ezt" úgy" érik" el," hogy"a"tű"verckális"irányban"állandóan"kövec" a"minta"felületének"jellegzetességeit." Tapping" mód:" a" tű" állandó" magasságban" mozog" a" minta" felülete" feled" és" a" minta" felületéről" származó" jeleket" a" kanclever" deformációjából" kapjuk." Általában" puhább" felületű," akár" biológiai" eredetű" minták" és" kisebb" tartományok" (akár" atomi" felbontás" is" elérhető)"szkennelésekor"használatos." 1:" mágneses" mintatartó," alada" a" szkenner," 2:" videómikroszkóp," 3:" kanclever" tartókerete," 4:" detektorszegmensek"visszajelzője" 32"
33 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:,,atomierőGmikroszkóp,rokoneljárásai" Fric\on" Force" Microscopy" (FFM," súrlódási" erő" mikroszkópia)" vagy" Lateral" Force" Microscopy"(LFM):"az"eljárás"során"a"tű"és"a"minta"felülete"közör"súrlódást"mérjük,"ennek" leginkább"a"tribológiában"van"jelentősége." Chemical" Force" Microscopy" (CFM," kémiai" erő" mikroszkópia):" hasonló" elven" működik," mint" az" FFM," id" azonban" a" tű" anyagát" kémiailag" úgy" módosítodák," hogy" az" érzékeny" legyen"a"minta"felületének"különféle"összetételű"részeire." YoungZmodulus"Microscopy"(YMM,"YoungZmodulus"mikroszkópia):"a"felület"rugalmassági" jellemzőjét" lehet" meghatározni," illetve" a" különbségeket" a" felület" rugalmassági" modulusában." Electric" Force" Microscopy" (EFM," elektromos" erő" mikroszkópia):" a" vezető" tű" és" a" minta" felülete"közör"elektrosztackus"erők"segítségével"térképezzük"fel"a"felületet."ezzel"a"felület" töltéseloszlásáról," topográfiájáról," dielektromos" viszonyairól" és" villamos" potenciáljáról" kaphatunk"képet." Magne\c"Force"Microscopy"(MFM,"mágneses"erő"mikroszkópia):"magnetostackus"erőket" mérünk" a" mágnesezed" tű" és" a" minta" felületén" levő" mágneses" domének" közör" kölcsönhatásból."az"eljárás"előnye"leginkább"a"mágneses"elven"működő"számítástechnikai" adathordozók" vizsgálatában" nyilvánul" meg:" kb." 50" nm" felbontású" képeket" készíthetünk" ezzel"az"eljárással"egy"adod"terület"mágneses"mintázatáról." 33"
34 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, Elektromágneses" hullámokat" használ." Nincs" szükség" vákuumra." röntgenmikroszkóp" 34"
35 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, Raman,mikroszkóp" A" Raman" spektrometria" nagy" lehetőséget" nyújt" az" anyagok" felüle\" rétegeinek" vizsgálatában," alkalmazzák" például" a" gyógyszertechnológiában," geológiai" minták" elemzésében,"valamint"műemlékek"vizsgálatában"is."kiválóan"alkalmas"a"minta"kiválasztom" pontjában" történő" spektrumfelvételre," egy" meghatározom" területen" az" anyageloszlás" feltérképezésére," illetve" mélységi" felvétel" készítésére" is." Nagy" előnye," hogy" a" spektrum" felvételéhez"gyakorla\lag"semmiféle"mintaelőkészítést"nem"igényel." Nagy" intenzitású," ultraibolyaz," látható" fény," vagy" közeli" infravörösztartományba" eső" monokroma\kus"sugárzást"bocsátunk"a"mintára" és"megvizsgáljuk"az"arról"oldalirányban"szóródó" gyenge" fény" spektrumát," akkor" abban" a" változatlan"frekvenciájú"sugárzás"mellem"sokkal" kisebb" intenzitású" új" komponenseket" is" meg" lehet" figyelni" (RamanZszórás)." A" frekvenciaz eltolódások" mértéke" megegyezik" a" vizsgált" anyag" molekuláira" jellemző" rezgési" frekvenciákkal," ebből" pedig" megállapítható," hogy"milyen"anyagról"van"szó." 35"
36 Mikroszkópok,típusai,és,működésük:, lézeres,felületi,topográf" Érintkezés"nélküli,"op\kai"úton" működő"felüle\"topográfia"és" egyes"felüle\"jellemzők"(átlagos" felüle\"érdesség,"felüle\" egyenetlenségmagasság)" meghatározására"szolgáló"mérő" eszköz." A"hagyományos"tűs" berendezésekkel"szemben"a" felületet"nem"gyémánt"vagy" zazr"tű"segítségével,"hanem"egy" a"látható"fény"hullámhossz" tartományába"eső"fókuszált" lézersugárral"tapogatják"le."" 36"
37 Különböző,képalkotási,módszerek, felbontóképességének,összehasonlítása, 37"
38 Sztentes,kutatásaink,felosztása, Sztent" K+F" Vizsgálatok" Ballonos" tágítású" sztentek" Perifériás" sztentek" Komplex" metodikák" 38"
39 A,vizsgálatok,fajtái, Vezetődrót" Ballon" SztentZrendszer" Bevonat" Sztent" 39"
40 A,sztentek,csoportosítása, Ballonos"tágítású" (koszorúér)" Öntáguló" (perifériás)" Bevonat"nélküli" Bevonatos" 40"
41 A,bevonatok,indikációja, BioZ"és" hemokompa\bilitás" javítása" TrombocitaZak\váció" csökkentése" Metallózis"mértékének" csökkentése" Farmakológiai"hatások" 41"
42 A,bevonatok,típusai, Passzív"bevonatok" Nemesfémek" Oxidos,"nitrides"és" karbidos"bevonatok," gyémántszerű"szénh filmek" Szilikongyanták,"H gélek"és"más" polimerek" Humán"polimerek" Akmv"bevonatok" Gyógyszerek" Polimerbe"ágyazva" Direkt"felvitellel" Porózus"bevonadal" Radioakev"bevonatok" 42"
43 Sztentbevonatok,szerkezeti,felépítése, Közvetlenül%a%sztentre% felvig%hatóanyag" Polimer%mátrix%hatóanyaggal,% szabályozó%membrán%nélkül" Porózus%bevonatú%sztent" Rezervoárt%tartalmazó%sztent" Speciális%hatóanyaghordozó%barázda% polimer%és%hatóanyag%keverékével%kitöltve" Gyógyszerrel%kombinált%lebomló%bevonat" Polimer%mátrix%hatóanyaggal,% szabályozó%membránnal" 43"
44 A,sztentek,anyagai, Ausztenites"korrózióálló"acélok" (316L,"316LVM)" KobaltZkróm"ötvözetek"(L605,"MP35N)" Pla\naZkróm"ötvözet" Ni\nol" MagnéziumZötvözetek" Polimerek" Tantál" 44"
45 Létezik,ilyen?, finom" felületű" szilárd" flexibilis" korrózióz álló" tágítható" RTGZ sugárz" elnyelő" hemokom pa\bilis" Az"ideális" alapanyag" összez nyomható" gyártható" MRIZ kompa\z bilis" polimerz adhézió" tartós" 45"
46 Gyártástechnológia, Lézeres"litográfia"+"maratás" Hegesztés" Lézersugaras"vágás" 46"
47 Lézersugaras,vágás,utáni,teendők, Maratás" Elektropolírozás" Bevonatolás" 47"
48 Maratás, Célja:" a" vágás" során" keletkezem" sorja" és" az" oxidréteg" eltávolítása." Az" ultrahangzgenerátor" által" előállítom" rezgéseket" a" rezgéskeltők" mechanikus" rezgésekké" alakítják" át," amelyek" a" folyadékban" lökéshullámok" formájában" terjednek."" 48"
49 Elektropolírozás, Az" elektropolírozás" olyan" elektrokémiai" maratás," ahol" a" feszültség,"az"áram,"a"hőmérséklet"és"az"állandó"keverés" hatására" a" felületből" kiemelkedő" struktúrák" gyorsabban" maródnak"le,"mint"a"felület"többi"része,"célja"a"vágási"élek" lekerekítése"és"a"fém"felületének"simává"tétele."" 49"
50 A,felületGelőkészítés,eredményei, Kezeletlen" MaratoM" ElektropolírozoM" 50"
51 A,felületGelőkészítés,eredményei, A"bordaprofil"változása"a"felületkezelés"hatására" Kezeletlen" MaratoM" ElektropolírozoM" 51"
52 Vizsgálatok, Sztent"hosszúságának"meghatározása "" Profilátmérő"(crossing"profile)"meghatározása" Tágulási"jellemzők"(recoil,"foreshortening)" Fémmel"fedeM"felület"(metallic"surface"area,"metal"to"artery"ra\o)" CellaösszeköMetési"pontok"meghatározása" Cellaterületek"és"oldalág"tágítása"(sidebranch"access)" Röntgensugaras"láthatóság"(radiopacity)" Radiális"erő"(radial"force"to"collapse)" Radiális"szilárdság"(radial"strength)" Sztentretenció" Bordavastagság"(strut"thickness)"meghatározása" Bordakeresztmetszet"meghatározása"mikroszkópi"csiszolaton" Fárasztóvizsgálatok" Flexibilitás"(flexibility)" MRZkompa\bilitás" A"bevonat"vizsgálatai" 52"
53 Koszorúérsztentek, 53"
54 Koszorúérsztentek,mintázata, 54"
55 Koszorúérsztentek,mintázata, 55"
56 Tágulási,jellemzők, 56"
57 Tágulási,jellemzők, D feltágítom" D végső" Recoil Radiális"visszarugózás" (recoil)" = D feltágított D D feltágított végső [ ] 100 % Tágulási"rövidülés" (PSE,"foreshortening)" Foreshortening = L kiindulási L L kiindulási végső [ ] 100 % L végső" L kiindulási" 57"
58 Pro_ilátmérő, Minden"gyűrű"átmérőjének"mérése"több"helyen,"legnagyobb" értékek"kiválasztása """"""""profilátmérő"" 58"
59 Fémmel,fedett,felület, MSA" " Fémmel" fedem"felület" 59"
60 Fémmel,fedett,felület, MSA"="13,3"%" MSA"="11,4"%" MSA"="10"%" MSA"="20,51"%" 60"
61 Cellaterületek, Legkisebb"cella" Legnagyobb"cella" 61"
62 Oldalágelérés, A"tágítoM"cella"területének"megadása" Oldalág"tágítása"érmodellben" TágítoM"oldalági"cella"területének" számszerű"meghatározása" TágítoM"cella" Legnagyobb"kör"berajzolása" 62"
63 Röntgensugaras,láthatóság, A" sztentek" elhelyezése" sertésszívben," a" valós" körülmények" jobb"szimulálása"végem." A" szívben" lévő" sztentek" láthatósága." 63"
64 Röntgensugaras,láthatóság, Röntgenmikroszkópos"vizsgálatok"+"számítógépes"képfeldolgozás" 64"
65 Bordakeresztmetszet"meghatározása"csiszolaton" Bordakeresztmetszet," bordavastagság," bordaszélesség" megadása" 65"
66 Ívkövető,képesség, A"gyűrűk"elhajlása"egymáshoz" képest,"a"szög"mérése" 66"
67 Ballonos,tágítású,sztentek,fejlesztése, Sztentgyártás" Felüle\"előkészítés" Bevonatok" 67"
68 Sztentmintázat,és,bevonatok, 68"
69 Ha,nem,sikerült,jól,a,bevonat, 69"
70 Felületi,érdesség,és,a,bevonat,tapadása, Különböző"elektropolírozási"paraméterek"alkalmazása" MaratoM" felület" PolírozoM" felület" 70"
71 Felületi,érdesség, Felület"szerkezete" " 71"
72 Pórusos,polimer,bevonat,létrehozása, bemártással,! Gyorsszárítás, harmadik bemártás: pórusok.! Az oldathőmérséklet emelése nem kedvez a pórusok keletkezésének.! Egy bemártást követően az alkalmazott technológiai ablakban nem alakul ki pórusos bevonat.! 2 tömegszázalékos, 3 rétegben felvitt bevonat.! Nagy szárítási sebesség és szobahőmérsékletű oldat.! A rétegszám növelése segíti a pórusképződést. Carbothane bevonat" 20.0 µm " 72"
73 Szórással,felvitt,bevonat, A"teljes"szórórendszer" Permetezőszelep" 73"
74 Szórás,eredménye, 30%mm(ről%1%s(ig%(a),%20%mm(ről%0,3%s(ig%(b),%15%mm(ről%0,2%s(ig%(c)%készült%permet" 74"
75 Szórás,eredménye, 75"
76 Hatóanyageloszlás, 76"
77 Hatóanyageloszlás, mm 50 A"heparin"(kék)"és"a"polimer"(piros)"eloszlása"a"mintán" Referencia" Hatóanyagot"is"tartalmazó"poliuretán"sztentbevonat"vizsgálata:" mm "
78 Felületi,jellemzők, 78"
79 Felületi,jellemzők, 79"
80 A,bevonat,porozitása, 80"
81 Bevonatok, 81"
82 A,bevonat,vastagságának,mérése, 82"
83 Felületi,érdesség,mérése, A"bordafej"és"a" benne"lévő"két" rezervoár" 83"
84 Perifériás,sztentek,fejlesztése, Perifériás"erekben" alkalmazható"sztentek"" Együdműködés:" heidelbergi"orvosh" kutatócsopordal"" Állatkísérletek" A"sztent"fémmel"feded" felületének"hatása"az"ér" visszaszűkülésére" (resztenózisra)" 84"
85 Nitinol,csövek,vágása,Nd:YAG,lézerrel! belső"ø1,04"mm;"0,1"mm"falvastagságú"nicnol"cső" Opcmális"vágási"paraméterek"meghatározása" Kísérletsorozatok" 85"
86 Nitinol,sztentek,maratása! Cél:"finomabb" felület" Ultrahangos" \szmtóz berendezés"és" maratópác" alkalmazása." Megfelelő" maratási"idő" meghatározása." Minta" sorszá ma" Maratási" idő"[sec]" Minta" sorszá ma" Maratási" idő"[sec]" Minta" sorszá ma" Maratási" idő"[sec]" 1." 60" 7." 240" 13." 420" 2." 90" 8." 270" 14." 450" 3." 120" 9." 300" 15." 480" 4." 150" 10." 330" 16." 510" 5." 180" 11." 360" 17." 540" 6." 210" 12." 390" 18." 570" 86"
87 Maratás"előd" 90"sec"maratás"után" 240"sec"maratás"után" 420"sec"maratás"után" 87"
88 A,sztent,bejuttatása,az,érbe, Branülön keresztül Sztent képlékeny alakítása Nehézségek a kis méret és az átalakulási hőmérséklet miatt 88"
89 Mintaelőkészítés:,csiszolatkészítés, A" vizsgálandó" mintából" próbatestet" (csiszolatot)" készítünk."fontos,"hogy"a"csiszolat"felülete"sík"legyen." A"minta"előzetes"előkészítése." Csiszolás"egyre"finomabb"csiszolópapírral,"az"áMérés"előM" lemosás," majd" a" következő" finomabb" papíron" 90 Zkal" elfordítom" irányban" csiszolunk" (amíg" az" előző" merőleges" karcok" el" nem" tűnnek)." Történhet" kézzel," géppel," szárazon" vagy"nedvesen."ezalam,"illetve"ezt"követően"lemossuk." " A" minta" polírozása" (posztó," gyémántpaszta)." EzalaM," illetve"ezt"követően"lemossuk." Végül"a"tükörsima"felületet"maratjuk"(a"szövetszerkezetet" felépítő"fázisok"kémiai"ellenállása"más,"így"azokat"a"marószer" különböző"mértékben"támadja"meg)."öblítés,"majd"szárítás." 89"
90 A,szövetszerkezet,láthatóvá,tétele:,maratás, "A"szemcsehatárok"a"leg\sztább"fémekben"is"könnyebben"maródnak," mint" a" kristályok" (szemcsék)" belseje." Ez" a" szemcsehatáron" lévő" nagymértékű" rendezetlenséggel" (felületszerű" rácshibák)," és" a" szennyező"atomok"jelenlétével"magyarázható." "A"heterogén"(többfázisú)"szövetszerkezetek"esetében"a"marószerrel" szemben"ellenálló"fázis"fehérnek"látszik,"mivel"a"ráeső"fény"jelentős" részét"visszaveri."a"marószer"által"legjobban"megtámadomról"verődik" vissza"a"legkevesebb"fény,"így"az"a"legsötétebb."" " A" homogén" (egyfázisú)" szövetszerkezetek" kristályszerkezetének" láthatóvá"tétele"azon"alapul,"hogy"a"kristályok"kémiai"ellenállása"függ" az"iránytól,"így"az"egyes"szemcsék"eltérő"orientációjuk"következtében" különféle" mértékben" maródnak," amely" a" fényvisszaverésük" változásában"jelentkezik." 90"
91 Mintaelőkészítés:,SEMGhez, A" minták" nagy" része" előkészítés" nélkül" vizsgálható," a" másik" részük" pedig" kis" időz" és" energiaráfordítással"vizsgálatra"alkalmassá"tehető." Fő"követelmény,"hogy"a"minta"elektromosan"vezető"legyen." Vezetőréteg" (pl." C," Au," Pt," Al," Ag," Cu)" felvitele" történhet:" vákuumpárologtatással," katódporlasztással." Biológiai" minták" előkészítésekor" a" mintát" fixálni" kell," hogy" megakadályozzuk" a" mintában" bomlási" folyamatok" megindulását." EmelleM" a" biológiai" mintát" vízteleníteni" is" kell."" 91"
92 Mintaelőkészítés:,TEMGhez, A"mintát"úgy"kell"előkészíteni,"hogy"az"alkalmas"legyen" a" kívánt" vizsgálatok" elvégzéséhez" (olyan" vékonyra" kell" munkálni," hogy" az" elektronok" áthatolhassanak" rajta," pl." " kevzos" elektronok" esetén" a" minta" vastagsága" " nm" közöm" kell" legyen)," továbbá" megőrizze" a" megfigyelni"kívánt"sajátosságokat." A" minták" készülhetnek" vékonyrétegztechnikával," valamint" vastag" minták" vékonyításával." Ha" vastag" mintát" vékonyítunk," akkor" az" anyagot" először" mechanikai" úton" (például" csiszolással)" elővékonyítjuk," majd" kémiai," elektrokémiai" vagy" ionsugaras" eljárásokkal" vékonyítjuk" véglegesre." 92"
93 Felhasznált,irodalom" Berecz"T:"Az"elektronmikroszkópok"előadásanyag"( BernolákZSzabóZSzilas:"A*mikroszkóp*(zsebkönyv)."Műszaki"Könyvkiadó,"Budapest"1979." Bertó\"I,"Marosi"Gy,"Tóth"A:"Műszaki*felüle6udomány*és*orvosbiológiai*alkalmazásai."B+V" LapH"és"Könyvkiadó"K.,"Budapest"2003." Domján"D:"Poliuretán*koszorúérsztent*bevonatok*vizsgálata.*TDKHdolgozat"BME"TTK,"2008." Kovács"R:"Röntgensugaras"ellenőrzés"előadásanyag"( Lovas"B:"MikroszkópCmikrokozmosz."Gondolat"Kiadó,"Budapest"1995." Robák"B:"Koszorúérsztentek*polimer*bevonatainak*elemzése"Diplomamunka"BME"PT,"2009." Takács"J:"Korszerű*technológiák*a*felüleF*tulajdonságok*alakításában.""Műegyetemi"Kiadó," Budapest"2004." Takács"T:"A*resztenózist*befolyásoló*tényezők*rendszerezése*koszorúérsztenteknél." Diplomamunka"BME"ATT,"2008." Vajna"B:"RamanCmikrospektrometria*alkalmazása*gyógyszertechnológiai*fejlesztésekben." Diplomamunka"BMEHSZKT,"2008." West"P."E.":"Introduccon"to"Atomic"Force"Microscopy,"hdp:// hdp:// " 93"
94 KÖSZÖNÖM"MEGTISZTELŐ" FIGYELMÜKET!" 94"
Sztentrendszerek*vizsgálata*
Budapest,*2012.*október*29* Sztentrendszerek*vizsgálata* Pelyhe*Liza* * Gépészmérnöki,Kar, Anyagtudomány,és,Technológia,Tanszék, Előadásom*felépítése* Érelmeszesedés* Értágítás* (angioplaszika)* Értágítás*eszközei,
RészletesebbenMikroszerkezeti vizsgálatok
Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,
RészletesebbenKardiovaszkuláris intervenciók, intervenciós eszközök
Kardiovaszkuláris intervenciók, intervenciós eszközök Dr. Ring György Orvostechnikai anyagok II. 2015. 03. 23. Atherogenesis és atherothrombosis: Egy progresszív folyamat Normális Zsíros csík Rostos plakk
RészletesebbenELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp
ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek
RészletesebbenRövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése
Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél
RészletesebbenTANULÓI KÍSÉRLET (45 perc)
Összeállította: Törökné Török Ildikó TANULÓI KÍSÉRLET (45 perc) A kísérlet, mérés megnevezése, célkitűzései: Az egysejtű élőlények sejtjei és a többsejtű élőlények sejtjei is csak mikroszkóppal láthatóak.
RészletesebbenHavancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények
Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények Nanoanyagok és nanotechnológiák Albizottság ELTE TTK 2013. Havancsák Károly Nagyfelbontású
RészletesebbenFény- és fluoreszcens mikroszkópia. A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia
Fény- és fluoreszcens mikroszkópia A mikroszkóp felépítése Brightfield mikroszkópia Történeti áttekintés 1595. Jensen (Hollandia): első összetett mikroszkóp (2 lencse, állítható távolság) 1625. Giovanni
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)
Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az
RészletesebbenSugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.
Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. A sugárzáson alapuló hőmérsékletmérés (termográfia),azt a fizikai jelenséget használja fel, hogy az abszolút nulla K hőmérséklet (273,16
RészletesebbenHavancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.
Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja Archeometriai műhely ELTE TTK 2013. Elektronmikroszkópok TEM SEM Transzmissziós elektronmikroszkóp Átvilágítós vékony minta < 100
RészletesebbenAz elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László
Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses
RészletesebbenModern mikroszkópiai módszerek 1 2011 2012
MIKROSZKÓPIA AZ ORVOS GYÓGYSZERÉSZ GYAKORLATBAN - DIAGOSZTIKA -TERÁPIA például: szemészet nőgyógyászat szövettan bakteriológia patológia gyógyszerek fejlesztése, tesztelése Modern mikroszkópiai módszerek
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópja
1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június
RészletesebbenBudainé Kántor Éva Reimerné Csábi Zsuzsa Lückl Varga Szidónia
Budainé Kántor Éva Reimerné Csábi Zsuzsa Lückl Varga Szidónia Egyszerű optikai eszközök Lencsék: Domború lencsék: melyeknek közepe vastagabb Homorú lencsék: melyeknek a közepe vékonyabb, mint a széle Tükrök:
RészletesebbenN I. 02 B Ötvözetek mikroszkópos vizsgálata
N I. 0 B Ötvözetek mikroszkópos vizsgálata Mérés helyszíne: G épület 119-es számú terem A méréshez használt eszközök: Optikai fémmikroszkóp Etalon : előre megkarcolt aranyminta Előkészített alumínium-magnézium-szilícium
RészletesebbenMilyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez
1 Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez Havancsák Károly Dankházi Zoltán Ratter Kitti Varga Gábor Visegrád 2012. január Elektron diffrakció 2 Diffrakció - kinematikus elmélet
RészletesebbenPásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás
Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz
RészletesebbenFinomszerkezetvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Finomszerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp,
RészletesebbenSugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek
Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a
RészletesebbenFókuszált ionsugaras megmunkálás
FEI Quanta 3D SEM/FIB Dankházi Zoltán 2016. március 1 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz injektorok detektor CDEM (SE, SI) 2 Dual-Beam
RészletesebbenPásztázó mikroszkópiás módszerek
Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai
RészletesebbenKonfokális mikroszkópia elméleti bevezetõ
Konfokális mikroszkópia elméleti bevezetõ A konfokális mikroszkóp fluoreszcensen jelölt minták vizsgálatára alkalmas. Jobb felbontású képeket ad, mint a hagyományos fluoreszcens mikroszkópok, és képes
RészletesebbenAnyagvizsgálatok. Fémtani vizsgálatok
Anyagvizsgálatok Fémtani vizsgálatok Cél: Az anyagok szövetszerkezetének, szemcsenagyságának, a zárványosság (nemfémes alkotók) stb. meghatározása A vizsgálatok a nagyítás szerint csoportosíthatók: makroszkópos
RészletesebbenAnyagvizsgálati módszerek
Anyagvizsgáló és Állapotellenőrző Laboratórium Atomerőművi anyagvizsgálatok Az akusztikus emisszió vizsgálata a műszaki diagnosztikában Anyagvizsgálati módszerek Roncsolásos metallográfia, kémia, szakító,
RészletesebbenKorrózióálló acélok felületkezelési eljárásai. Pető Róbert
Korrózióálló acélok felületkezelési eljárásai Pető Róbert 1. Miért? 2. Mikor? 3. Hogyan? 4. Egyéb felhasználási lehetőségek 1. Miért? 2. Mikor? 3. Hogyan? 4. Egyéb felhasználási lehetőségek Miért? A jó
RészletesebbenRöntgen-gamma spektrometria
Röntgen-gamma spektrométer fejlesztése radioaktív anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű meghatározására Szalóki Imre, Gerényi Anita, Radócz Gábor Nukleáris Technikai Intézet
RészletesebbenAz elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal
Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal Radiometriai alapfogalmak Kisugárzott felületi teljesítmény Besugárzott felületi teljesítmény A fény kölcsönhatása az anyaggal 1. M ΔP W ΔA m 2 E be
Részletesebben10. előadás Kőzettani bevezetés
10. előadás Kőzettani bevezetés Mi a kőzet? Döntően nagy földtani folyamatok során képződik. Elsősorban ásványok keveréke. Kőzetalkotó ásványok építik fel. A kőzetalkotó komponensek azonban nemcsak ásványok,
Részletesebben11. Egy Y alakú gumikötél egyik ága 20 cm, másik ága 50 cm. A két ág végeit azonos, f = 4 Hz
Hullámok tesztek 1. Melyik állítás nem igaz a mechanikai hullámok körében? a) Transzverzális hullám esetén a részecskék rezgésének iránya merőleges a hullámterjedés irányára. b) Csak a transzverzális hullám
RészletesebbenTextíliák felületmódosítása és funkcionalizálása nem-egyensúlyi plazmákkal
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Textíliák felületmódosítása és funkcionalizálása nem-egyensúlyi plazmákkal Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán
Részletesebben2008 Small World contest -18th Prize - Dr. Tamily Weissman (Harvard University - Cambridge, Massachusetts, United States) Specimen: Brainbow
2008 Small World contest -18th Prize - Dr. Tamily Weissman (Harvard University - Cambridge, Massachusetts, United States) Specimen: Brainbow transgenic mouse hippocampus (40x) Technique: Confocal Mikroszkóp
RészletesebbenJASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS!
JASCO FTIR KIEGÉSZÍTŐK - NE CSAK MÉRJ, LÁSS IS! Szakács Tibor, Szepesi Ildikó ABL&E-JASCO Magyarország Kft. 1116 Budapest, Fehérvári út 132-144. ablehun@ablelab.com www.ablelab.com JASCO SPEKTROSZKÓPIA
Részletesebben3. METALLOGRÁFIAI VIZSGÁLATOK
3. METALLOGRÁFIAI VIZSGÁLATOK MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY BEVEZETÉS metallography
RészletesebbenA fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske
A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske Segítség az 5. tétel (Hogyan alkalmazható a hullám-részecske kettősség gondolata a fénysugárzás esetében?) megértéséhez és megtanulásához, továbbá
RészletesebbenFÉMEK MIKROSZKÓPOS VIZSGÁLATA
FÉMEK MIKROSZKÓPOS VIZSGÁLATA Fémek, és más nem átlátszó minták felületének vizsgálata visszavert fényben történik. A mikroszkópok felépítése A mikroszkóp két lencserendszerből áll: a tárgyhoz közelebb
RészletesebbenFém, kerámia és biokompozit bioanyagok lézersugaras felületmódosítása
Fém, kerámia és biokompozit bioanyagok lézersugaras felületmódosítása Bitay Enikő 1, Olasz Sándor 2, Dobránszky János 3 1 Sapientia Erdélyi Magyar Tudományegyetem, Marosvásárhely-Koronka, ebitay@ms.sapientia.ro
RészletesebbenOrvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény
Orvosi iofizika I. Fénysugárzásanyaggalvalókölcsönhatásai. Fényszóródás, fényabszorpció. Az abszorpciós spektrometria alapelvei. (Segítséga 12. tételmegértéséhezésmegtanulásához, továbbá a Fényabszorpció
RészletesebbenTypotex Kiadó. Tartalomjegyzék
Tartalomjegyzék Előszó 1 1. Az alapok 3 1.1. A pásztázó elektronmikroszkópia helye a korszerű tudományban 3 Irodalom 6 1.2. Elektron anyag kölcsönhatás 7 1.2.1. Rugalmas szórás 12 1.2.2. Rugalmatlan szórás
RészletesebbenOPTIKA. Ma sok mindenre fény derül! /Geometriai optika alapjai/ Dr. Seres István
Ma sok mindenre fény derül! / alapjai/ Dr. Seres István Legkisebb idő Fermat elve A fény a legrövidebb idejű pályán mozog. I. következmény: A fény a homogén közegben egyenes vonalban terjed t s c minimális,
RészletesebbenAz elektromágneses tér energiája
Az elektromágneses tér energiája Az elektromos tér energiasűrűsége korábbról: Hasonlóképpen, a mágneses tér energiája: A tér egy adott pontjában az elektromos és mágneses terek együttes energiasűrűsége
RészletesebbenMATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson. Kató Zoltán, Pálfalvi József
MATROSHKA kísérletek a Nemzetközi Űrállomáson Kató Zoltán, Pálfalvi József Sugárvédelmi Továbbképző Tanfolyam Hajdúszoboszló 2010 A Matroshka kísérletek: Az Európai Űrügynökség (ESA) dozimetriai programjának
RészletesebbenA TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI
A TÖMEGSPEKTROMETRIA ALAPJAI web.inc.bme.hu/csonka/csg/oktat/tomegsp.doc alapján tömeg-töltés arány szerinti szétválasztás a legérzékenyebb módszerek közé tartozik (Nagyon kis anyagmennyiség kimutatására
RészletesebbenTörténeti áttekintés
A fény Történeti áttekintés Arkhimédész tükrök segítségével gyújtotta fel a római hajókat. A fény hullámtermészetét Cristian Huygens holland fizikus alapozta meg a 17. században. A fénysebességet először
Részletesebben7.3. Plazmasugaras megmunkálások
7.3. Plazmasugaras megmunkálások (Plasma Beam Machining, PBM) Plazma: - nagy energiaállapotú gáz - az anyag negyedik halmazállapota - ionok és elektronok halmaza - egyenáramú ív segítségével állítják elő
RészletesebbenTartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban 4/11/2016. A fény; Abszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2016 március 1.) Az abszorpció mérése;
RészletesebbenBiomolekuláris rendszerek. vizsgálata. Semmelweis Egyetem. Osváth Szabolcs
Hans Jansen és Zacharias Jansen 1590-ben összetett mikroszkópot épít Semmelweis Egyetem szabolcs.osvath@eok.sote.hu Osváth Szabolcs Biomolekuláris rendszerek vizsgálata Antoni van Leeuwenhoek (Thonis Philipszoon)
RészletesebbenFOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév
FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2012/13-es tanév I. félév A kollokviumon egy-egy tételt kell húzni az 1-10. és a 11-20. kérdések közül. 1. Atomi kölcsönhatások, kötéstípusok.
RészletesebbenÁttekintés 5/11/2015 MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA. Mikroszkópia, fénymikroszkópia
forrás: ldutolsó dia PÉCSI TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNYI KAR www.aok.pte.hu MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK 1 FÉNYMIKROSZKÓPIA FLUORESZCENCIA MIKROSZKÓPIA humán tüdőszövet (hisztológia) sejtmozgás (fázis
RészletesebbenReális kristályok, rácshibák. Anyagtudomány gyakorlat 2006/2007 I.félév Gépész BSC
Reális kristályok, rácshibák Anyagtudomány gyakorlat 2006/2007 I.félév Gépész BSC Valódi, reális kristályok Reális rács rendezetlenségeket, rácshibákat tartalmaz Az anyagok tulajdonságainak bizonyos csoportja
RészletesebbenMűanyagok galvanizálása
BAJOR ANDRÁS Dr. FARKAS SÁNDOR ORION Műanyagok galvanizálása ETO 678.029.665 A műanyagok az ipari termelés legkülönbözőbb területein speciális tulajdonságaik révén kiszorították az egyéb anyagokat. A hőre
RészletesebbenTartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény; Abszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2015 január 27.) Az abszorpció mérése;
RészletesebbenRöntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)
Röntgensugárzás az orvostudományban Röntgen kép és Komputer tomográf (CT) Orbán József, Biofizikai Intézet, 2008 Hand mit Ringen: print of Wilhelm Röntgen's first "medical" x-ray, of his wife's hand, taken
RészletesebbenOpakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben
Opakásványok kristályorientáció vizsgálata a lahócai Cu-Au ércesedésben Takács Ágnes & Molnár Ferenc Ásványtani Tanszék Visegrád, 2012. január 18-20. Kutatási téma Infravörös fluidzárvány vizsgálathoz
RészletesebbenAz Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény
Az Ampère-Maxwell-féle gerjesztési törvény Maxwell elméleti meggondolások alapján feltételezte, hogy a változó elektromos tér örvényes mágneses teret kelt (hasonlóan ahhoz ahogy a változó mágneses tér
RészletesebbenOptika és Relativitáselmélet II. BsC fizikus hallgatóknak
Optika és Relativitáselmélet II. BsC fizikus hallgatóknak 2. Fényhullámok tulajdonságai Cserti József, jegyzet, ELTE, 2007. Az elektromágneses spektrum Látható spektrum (erre állt be a szemünk) UV: ultraibolya
RészletesebbenZáróvizsga szakdolgozat. Mérési bizonytalanság meghatározásának módszertana metallográfiai vizsgálatoknál. Kivonat
Záróvizsga szakdolgozat Mérési bizonytalanság meghatározásának módszertana metallográfiai vizsgálatoknál Kivonat Csali-Kovács Krisztina Minőségirányítási szakirány 2006 1 1. Bevezetés 1.1. A dolgozat célja
Részletesebbend z. nsin
Egy leképező rendszer feloldási/ felbontási határa: az a legkisebb d távolság, amely távolságra elhelyezkedő tárgypontok még különálló képpontokként képeződnek le. A feloldóképesség vagy felbontóképesség
RészletesebbenFOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév
FOK Fogorvosi anyagtan fizikai alapjai tárgy kolokviumi kérdései 2017/18-es tanév A kollokviumon egy-egy tételt kell húzni az 1-10. és a 11-20. kérdések közül, valamint egy számolási feladatot az év közben
RészletesebbenOptika gyakorlat 6. Interferencia. I = u 2 = u 1 + u I 2 cos( Φ)
Optika gyakorlat 6. Interferencia Interferencia Az interferencia az a jelenség, amikor kett vagy több hullám fázishelyes szuperpozíciója révén a térben állóhullám kép alakul ki. Ez elektromágneses hullámok
RészletesebbenMikrohullámú abszorbensek vizsgálata
Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont
RészletesebbenAbszorpciós spektroszkópia
Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses
RészletesebbenTávérzékelés, a jöv ígéretes eszköze
Távérzékelés, a jöv ígéretes eszköze Ritvayné Szomolányi Mária Frombach Gabriella VITUKI CONSULT Zrt. A távérzékelés segítségével: különböz6 magasságból, tetsz6leges id6ben és a kívánt hullámhossz tartományokban
Részletesebben100 kérdés Optikából (a vizsgára való felkészülés segítésére)
1 100 kérdés Optikából (a vizsgára való felkészülés segítésére) _ 1. Ismertesse a Rayleigh kritériumot? 2. Ismertesse egy objektív felbontóképességének definícióját? 3. Hogyan kell egy CCD detektort és
RészletesebbenAlapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat
Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat 2015/16 Roncsolásmentes anyagvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Alapvető eljárások Szemrevételezés (vizuális vizsgálat, VT) Folyadékbehatolásos vizsgálat
RészletesebbenMűszeres analitika II. (TKBE0532)
Műszeres analitika II. (TKBE0532) 7. előadás NMR spektroszkópia Dr. Andrási Melinda Debreceni Egyetem Természettudományi és Technológiai Kar Szervetlen és Analitikai Kémiai Tanszék NMR, Nuclear Magnetic
RészletesebbenAbszorpció, emlékeztetõ
Hogyan készültek ezek a képek? PÉCI TUDMÁNYEGYETEM ÁLTALÁN RVTUDMÁNYI KAR Fluoreszcencia spektroszkópia (Nyitrai Miklós; február.) Lumineszcencia - elemi lépések Abszorpció, emlékeztetõ Energia elnyelése
RészletesebbenDiffúzió 2003 március 28
Diffúzió 3 március 8 Diffúzió: különféle anyagi részecskék (szilárd, folyékony, gáznemű) anyagon belüli helyváltozása. Szilárd anyagban való mozgás Öndiffúzió: a rácsot felépítő saját atomok energiaszint-különbség
RészletesebbenMűszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása
Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása
RészletesebbenMikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése
KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 8. MÉRÉS Mikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 12. Szerda délelőtti csoport
RészletesebbenAnyagszerkezettan és anyagvizsgálat (BMEGEMTAGK1)
Segédlet az Anyagszerkezettan és anyagvizsgálat (BMEGEMTAGK1) tárgy hallgatói számára Készítette a BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék Munkaközössége Összeállította: dr. Orbulov Imre Norbert 1 Laborgyakorlatok
RészletesebbenMikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése
Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése Mérési jegyzőkönyv Szőke Kálmán Benjamin 2010. november 16. Mérés célja: Feladat meghatározni a mikroszkópon lévő
Részletesebben25. Képalkotás. f = 20 cm. 30 cm x =? Képalkotás
25. Képalkotás 1. Ha egy gyujtolencse fókusztávolsága f és a tárgy távolsága a lencsétol t, akkor t és f viszonyától függ, hogy milyen kép keletkezik. Jellemezd a keletkezo képet a) t > 2 f, b) f < t
RészletesebbenAnyagos rész: Lásd: állapotábrás pdf. Ha többet akarsz tudni a metallográfiai vizsgálatok csodáiról, akkor: http://testorg.eu/editor_up/up/egyeb/2012_01/16/132671554730168934/metallografia.pdf
RészletesebbenAtomfizika. Fizika kurzus Dr. Seres István
Atomfizika Fizika kurzus Dr. Seres István Történeti áttekintés 440 BC Democritus, Leucippus, Epicurus 1660 Pierre Gassendi 1803 1897 1904 1911 19 193 John Dalton Joseph John (J.J.) Thomson J.J. Thomson
Részletesebben(11) Lajstromszám: E 005 409 (13) T2 EURÓPAI SZABADALOM SZÖVEGÉNEK FORDÍTÁSA
!HU000009T2! (19) HU (11) Lajstromszám: E 00 9 (13) T2 MAGYAR KÖZTÁRSASÁG Magyar Szabadalmi Hivatal EURÓPAI SZABADALOM SZÖVEGÉNEK FORDÍTÁSA (21) Magyar ügyszám: E 03 791698 (22) A bejelentés napja: 03.
RészletesebbenFIZIKA ZÁRÓVIZSGA 2015
FIZIKA ZÁRÓVIZSGA 2015 TESZT A következő feladatokban a három vagy négy megadott válasz közül pontosan egy helyes. Írd be az általad helyesnek vélt válasz betűjelét a táblázat megfelelő cellájába! Indokolni
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok
RészletesebbenNYOMTATOTT HUZALOZÁSÚ LAPOK GYÁRTÁSTECHNOLÓGIÁJA
NYOMTATOTT HUZALOZÁSÚ LAPOK GYÁRTÁSTECHNOLÓGIÁJA Az elektronikai tervező általában nem gyárt nyomtatott lapokat, mégis kell, hogy legyen némi rálátása a gyártástechnológiára, hogy terve kivitelezhető legyen.
RészletesebbenA mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Newton-gyűrűkkel Folyadék törésmutatójának mérése Abbe-féle refraktométerrel
A mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Newton-gyűrűkkel Folyadék törésmutatójának mérése Abbe-féle refraktométerrel Mérő neve: Márkus Bence Gábor Mérőpár neve: Székely Anna Krisztina
RészletesebbenOPTIKA. Lencse rendszerek. Dr. Seres István
OPTIKA Lencse rendszerek Dr. Seres István Nagyító képalkotása Látszólagos, egyenes állású nagyított kép Nagyítás: k = - 25 cm (tisztánlátás) 1 f N 1 t k t 1 0,25 0,25 t 1 t 1 f 0,25 0,25 f 0,25 f 1 0,25
RészletesebbenE (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic
Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses
RészletesebbenA vizsgált anyag ellenállása az adott geometriájú szúrószerszám behatolásával szemben, Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika
Dunaújvárosi Főiskola Anyagtudományi és Gépészeti Intézet Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika Mechanikai anyagvizsgálat 2. Dr. Palotás Béla palotasb@mail.duf.hu Készült: Dr. Krállics György (BME,
RészletesebbenOptikai eszközök modellezése. 1. feladat Egyszerű nagyító (lupe)
A kísérlet célkitűzései: Az optikai tanulói készlet segítségével tanulmányozható az egyszerű optikai eszközök felépítése, képalkotása. Eszközszükséglet: Optika I. tanulói készlet Balesetvédelmi figyelmeztetés
RészletesebbenAbszorpciós fotometria
A fény Abszorpciós fotometria Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai ntézet 2011. szeptember 15. E B x x Transzverzális hullám A fény elektromos térerősségvektor hullámhossz Az elektromos a mágneses térerősség
RészletesebbenMűvelettan 3 fejezete
Művelettan 3 fejezete Impulzusátadás Hőátszármaztatás mechanikai műveletek áramlástani műveletek termikus műveletek aprítás, osztályozás ülepítés, szűrés hűtés, sterilizálás, hőcsere Komponensátadás anyagátadási
RészletesebbenDiffúzió. Diffúzió sebessége: gáz > folyadék > szilárd (kötőerő)
Diffúzió Diffúzió - traszportfolyamat (fonon, elektron, atom, ion, hőmennyiség...) Elektromos vezetés (Ohm) töltés áram elektr. potenciál grad. Hővezetés (Fourier) energia áram hőmérséklet különbség Kémiai
Részletesebben2.2.24. ABSZORPCIÓS SPEKTROFOTOMETRIA AZ INFRAVÖRÖS SZÍNKÉPTARTOMÁNYBAN
1 2.2.24. ABSZORPCIÓS SPEKTROFOTOMETRIA AZ INFRAVÖRÖS SZÍNKÉPTARTOMÁNYBAN 01/2005:20224 Az infravörös spektrofotométereket a 4000 650 cm -1 (2,5 15,4 µm) közti, illetve néhány esetben egészen a 200 cm
Részletesebben11.3. Az Achilles- ín egy olyan rugónak tekinthető, amelynek rugóállandója 3 10 5 N/m. Mekkora erő szükséges az ín 2 mm- rel történő megnyújtásához?
Fényemisszió 2.45. Az elektromágneses spektrum látható tartománya a 400 és 800 nm- es hullámhosszak között található. Mely energiatartomány (ev- ban) felel meg ennek a hullámhossztartománynak? 2.56. A
RészletesebbenIpari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban
Gyártás 08 konferenciára 2008. november 6-7. Ipari jelölő lézergépek alkalmazása a gyógyszer- és elektronikai iparban Szerző: Varga Bernadett, okl. gépészmérnök, III. PhD hallgató a BME VIK ET Tanszékén
RészletesebbenMozgékony molekulák vizsgálata modern mikroszkópiával
Dr. Vámosi György Mozgékony molekulák vizsgálata modern mikroszkópiával Debreceni Egyetem ÁOK Biofizikai és Sejtbiológiai Intézet Debrecen, 2015. nov. 25. www.meetthescientist.hu 1 26 Fulbright ösztöndíj
Részletesebbenvmax A részecskék mozgása Nyomás amplitúdó értelmezése (P) ULTRAHANG ULTRAHANG Dr. Bacsó Zsolt c = f λ Δt = x/c ω (=2π/T) x t d 2 kitérés sebesség
ULTRAHANG Dr. Basó solt kitérés A részeskék mozgása x y Asinω t Δt x/ ω (π/t) sebesség gyorsulás d y x v Aω osω t d t d v x a Aω sinω t d t ULTRAHANG Hang mehanikai rezgés longitudinális hullám inrahang
Részletesebbentervezési szempontok (igénybevétel, feszültségeloszlás,
Elhasználódási és korróziós folyamatok Bagi István BME MTAT Biofunkcionalitás Az élő emberi szervezettel való kölcsönhatás biokompatibilitás (gyulladás, csontfelszívódás, metallózis) aktív biológiai környezet
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat szintjei
Anyagtudomány 2013/14 Szerkezetvizsgálat Dr. Szabó Péter János szpj@eik.bme.hu Szerkezetvizsgálat szintjei Atomi elrendeződés vizsgálata (röntgendiffrakció, transzmissziós elektronmikroszkóp, atomerő-mikroszkóp)
RészletesebbenAtomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia.
Atomi és molekuláris kölcsönhatások. Pásztázó tűszondás mikroszkópia. Kiss Balázs Nanobiotechnológia és Egyedi Molekula Kutatócsoport, Biofizikai és Sugárbiológiai Intézet 2013. november 28. 2 Atomi kölcsönhatások
RészletesebbenDankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.
Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K. ELTE, TTK KKMC, 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A. * Technoorg Linda Kft., 1044 Budapest, Ipari Park utca 10. Műszer:
RészletesebbenSzerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)
Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc) TANTÁRGYI KOMMUNIKÁCIÓS DOSSZIÉ MISKOLCI EGYETEM MŰSZAKI ANYAGTUDOMÁNYI KAR ANYAGTUDOMÁNYI INTÉZET Miskolc, 2008. 1. Tantárgyleírás Szerkezetvizsgálat kommunikációs
RészletesebbenA nanotechnológia mikroszkópjai. Havancsák Károly, 2011. január
1 A nanotechnológia mikroszkópjai Havancsák Károly, 2011. január Az előadás tematikája 2 - Transzmissziós elektronmikroszkóp (SEM), - Pásztázó elektronmikroszkóp (TEM), - Pásztázó alagútmikroszkóp (STM),
Részletesebben