----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro



Hasonló dokumentumok
Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

Alapvető eljárások Roncsolásmentes anyagvizsgálat

41. A minıségügyi rendszerek kialakulása, ISO 9000 rendszer jellemzése

Arany mikrohuzalkötés. A folyamat. A folyamat. - A folyamat helyszíne: fokozott tisztaságú terület

Röntgen-gamma spektrometria

Mikroszerkezeti vizsgálatok

Atomerőművi anyagvizsgálatok 4. előadás: A roncsolásmentes anyagvizsgálatok

A röntgendiagnosztika alapjai

Ultrahangos anyagvizsgálati módszerek atomerőművekben

Havancsák Károly Nagyfelbontású kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTÉ-n: lehetőségek, eddigi eredmények

A sugárzás és az anyag kölcsönhatása. A béta-sugárzás és anyag kölcsönhatása

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 8:15-8:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Havancsák Károly Az ELTE TTK kétsugaras pásztázó elektronmikroszkópja. Archeometriai műhely ELTE TTK 2013.

Orvosi Biofizika I. 12. vizsgatétel. IsmétlésI. -Fény

Budapesti Műszaki- és Gazdaságtudományi Egyetem (BME) Nukleáris Technikai Intézet (NTI)

Röntgensugárzás. Röntgensugárzás

A röntgendiagnosztika alapjai

Röntgendiagnosztikai alapok

Quanta 3D SEM/FIB Kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp. Havancsák Károly

International GTE Conference MANUFACTURING November, 2012 Budapest, Hungary. Ákos György*, Bogár István**, Bánki Zsolt*, Báthor Miklós*,

Az előadásdiák gyors összevágása, hogy legyen valami segítség:

Elektronikai tervezés Dr. Burány, Nándor Dr. Zachár, András

Tartalomjegyzék LED hátterek 3 LED gyűrűvilágítók LED sötét látóterű (árnyék) megvilágítók 5 LED mátrix reflektor megvilágítók

Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú

Röntgen. W. C. Röntgen. Fizika-Biofizika

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Modern fizika laboratórium

Röntgendiagnosztika és CT

ATOMMODELLEK, SZÍNKÉP, KVANTUMSZÁMOK. Kalocsai Angéla, Kozma Enikő

Az automatikus optikai ellenőrzés növekvő szerepe az elektronikai technológiában

VIZSGÁLATI JEGYZŐKÖNYV

Soroljon fel néhány, a furatszerelt alkatrészek forrasztásánál alkalmazott vizsgálati szempontot!

Finomszerkezetvizsgálat

Szerkezetvizsgálat szintjei

Szerkezetvizsgálat szintjei

Száloptika, endoszkópok

Röntgendiagnosztika és CT

Nagyműszeres vegyész laboratórium programja. 9:15-9:25 Rövid vizuális ismerkedés a SEM laborral. (Havancsák Károly)

Röntgensugárzás az orvostudományban. Röntgen kép és Komputer tomográf (CT)

Sugárzások és anyag kölcsönhatása

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

SZAKÁLL SÁNDOR, ÁsVÁNY- És kőzettan ALAPJAI

Optikai méréstechnika alkalmazása járműipari mérésekben Kornis János

Berberin-klorid. Röntgenszínképek. (folytatás az előző számból)

A nanotechnológia mikroszkópja

Az atommag összetétele, radioaktivitás

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Gamma-röntgen spektrométer és eljárás kifejlesztése anyagok elemi összetétele és izotópszelektív radioaktivitása egyidejű elemzésére

OPTIKA. Fénykibocsátás mechanizmusa fényforrás típusok. Dr. Seres István

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Typotex Kiadó. Tartalomjegyzék

Dankházi Z., Kalácska Sz., Baris A., Varga G., Ratter K., Radi Zs.*, Havancsák K.

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.

Név... intenzitás abszorbancia moláris extinkciós. A Wien-féle eltolódási törvény szerint az abszolút fekete test maximális emisszióképességéhez

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása

Szinkrotronspektroszkópiák május 14.

ÁGAZATI SZAKMAI ÉRETTSÉGI VIZSGA AUTÓ-ÉS REPÜLŐGÉP-SZERELÉSI ISMERETEK EMELT SZINTŰ SZÓBELI VIZSGA MINTAFELADATOK ÉS ÉRTÉKELÉSÜK

Magfizika tesztek. 1. Melyik részecske nem tartozik a nukleonok közé? a) elektron b) proton c) neutron d) egyik sem

3. METALLOGRÁFIAI VIZSGÁLATOK

Színes kültéri. Reklámtábla installáció

7-01 MINŐSÉGBIZTOSÍTÁS ÉS MEGBÍZHATÓSÁG

Az elektromágneses sugárzás kölcsönhatása az anyaggal

Elektronikai gyártás során alkalmazott röntgenes ellenőrző berendezések trendjei

A gamma-sugárzás kölcsönhatásai

A szubmikronos anyagtudomány néhány eszköze. Havancsák Károly ELTE TTK Központi Kutató és Műszer Centrum július.

ELEKTRONIKAI SZERELÉSTECHNOLÓGIÁK

Szerkezetvizsgálat ANYAGMÉRNÖK ALAPKÉPZÉS (BSc)

Radioaktív sugárzások tulajdonságai és kölcsönhatásuk az elnyelő közeggel. A radioaktív sugárzások detektálása.

Digitális tananyag a fizika tanításához

A testek részecskéinek szerkezete

FEI Quanta 3D. Nanoszerkezetek vizsgálatára alkalmas kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp az ELTE TTK-n

A kvantummechanika kísérleti előzményei A részecske hullám kettősségről

Sugárzások kölcsönhatása az anyaggal

Megmérjük a láthatatlant

Elektromosság, áram, feszültség

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

FELADATMEGOLDÁS. Tesztfeladat: Válaszd ki a helyes megoldást!

A számítógépek felépítése. A számítógép felépítése

Előszó. International Young Physicists' Tournament (IYPT) Karcolt hologram #5 IYPT felirat karcolása D'Intino Eugenio

Részecske azonosítás kísérleti módszerei

Elektronika laboratóriumi mérőpanel elab panel NEM VÉGLEGES VÁLTOZAT! Óbudai Egyetem

Tantárgy neve. Környezetfizika. Meghirdetés féléve 6 Kreditpont 2 Összóraszám (elm+gyak) 2+0

Hegeszthetőség és hegesztett kötések vizsgálata

Modern Fizika Labor Fizika BSC

áramlásirányító szelep beépített helyzetszabályozóval DN15 amíg DN150 sorozat 8021

Milyen simaságú legyen a minta felülete jó minőségű EBSD mérésekhez

A digitális képfeldolgozás alapjai

A/D és D/A konverterek vezérlése számítógéppel

Adatgyőjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb mőszerei

Dr. JUVANCZ ZOLTÁN Óbudai Egyetem Dr. FENYVESI ÉVA CycloLab Kft

minipet labor Klinikai PET-CT

Az ionizáló sugárzások fajtái, forrásai

Fénytechnika. A szem, a látás és a színes látás. Dr. Wenzel Klára. egyetemi magántanár Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem

MINŐSÉGBIZTOSÍTÁS ÉS MEGBÍZHATÓSÁG

Orvosi tomográkus képalkotás/ct technika alapja

Műszeres analitika II. (TKBE0532)

Bővített fokozatú SUGÁRVÉDELMI TANFOLYAM

Átírás:

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------4.beugró

detektálhatóság: 1=detektálható...10= nem detektálható köztük lévő számok árnyalati különbségeket jelölik -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------5.beugró

a hibadetektálás a hibakeresése :D (mikroszkópok miatt a tfm silabuszból származó táblázat) 3.kérdés: Optikai fej egység: kamerák és megvilágító rendszer. Feladat: megfelelő megvilágítás és képkészítés Panelmozgató mechanizmus és pneumatikus rendszer. Feladat: panelmozgatás, rögzítés. Rendszervezérlő számítógép. Feladat: az AOI berendezés vezérlése. Alkalmazott megvilágító eszközök: Xenon villanólámpák LED sor LED kupola A digitális képek matematikai reprezentációja mátrixokkal történik, amelynek értékei a megfelelő pixelek fényességértékei. Ezek az alkalmazott ADC (analog-digital converter) felbontási mélysége által meghatározott számú érték közül (8 bites ADC esetén 0-255 között) a megvilágítással arányos egyik értéket vehetik fel. Bináris kép esetén ez 1 és 0 lehet. Színes kép esetén a leírás, pedig a 3 alapszín (zöld, kék, piros) intenzitásértékeit tartalmazó 3 mátrix-szal történik.

a milyen területeken lehet használni elég tág úgy hogy sztem a gyártósoron és azt lehet vele vizsgálni: A BEÜLTETETT ALKATRÉSZEK POZÍCIÓját ELFORDULÁSát is lehet vele vizsgálni paszta elkenődés rövidzár stb. 4.kérdés Példák vizsgálati lehetőségekre: golyós (BGA, CSP) forrasztott kötések (geometria, zárvány, forraszhíd) felületszerelt alkatrészek forrasztott kötései (geometria, zárvány) mikrohuzalkötések (alumínium nem látható) nyomtatott huzalozású lemezek vezetőpályái (belső rétegek) átvezetések (viák) elektromechanikai alkatrészek (érintkezők, rugók, motorok) A röntgensugárzás detektálása az anyagok sugárzás elnyelési tulajdonságainak eltérésén alapszik. A sugárzás elnyelése az alkotóelemek atommagjainak méretével arányos. A nagyobb rendszámú elemek jobban, míg a kisebb rendszámúak kevésbé nyelik el a sugárzást, s így ezen az árnyékhatáson alapuló elnyelődési mintázat alapján egy test belső felépítése felderíthető. Mivel a röntgenfelvételen egy képpont nem csak a felületről közöl információt, hanem a vizsgált minta teljes keresztmetszetéről (szummációs képalkotás), ezért háromdimenziós leképezés illúzióját kelti. Anyagvizsgálati célokra a röntgensugárzást azon tulajdonsága miatt lehet felhasználni, hogy valamely tárgyon való áthaladásakor a sugárzás intenzitása csökken, mivel a tárgy a sugárzás egy részét elnyeli.(tfm silabusz 3.b mérés)

5.kérdés Röntgennel láthatatlan repedések, törések, zárványok, felválások roncsolásmentes kimutatása 4 fajta hang kibocsátó fej van 15,50,75,110Mhz fejek (minél kisebb a freki annál mélyebbre hatol de annál rosszabb a mélység élesség) a mérendő cucc ion cserélt vízben van mert a hanghullámok ott jobban terjednek. elv: a közeg határon reflekció jön létre ez visszajut a fejbe és ez adja a képet. (Ehhez az akusztikus impedanciáknak különbözőknek kell lennie mert nem tud különbséget tenni különben a szerkezet) hátráltató tényező: csak sík felületet tudd meg vizsgálni, gömbölyű felületekről szóródik a hanghullám sőt a minta széléről is. kompromisszumot kell kötni a fejek és kép minőség között a fent leírtak miatt.

delaminációs hibák kimutatására alkalmas A-scan: egy pont felett detektált hullámforma B-scan:vonalmenti metszeti kép -az egyes pontokban mért hullámformákból C-scan: horizontális sík metszet a hullámformák egy adott időablakban lévő intenzitásából az összes pontban alkotott kép Fizikailag nincsenek egy síkban!(pl. huzalkötés) 6 kérdésre nem biztos A röntgen nem alkalmas delamináció kimutatásra mert a rétegek egymáson látszanak. Alacsony elnyeléső anyagok és összetett struktúrák vizsgálata korlátozzák a röntgensugaras vizsgálatok alkalmazhatóságát Röntgennel nem látható repedések, törések, zárványok, felválások roncsolásmentes kimutatása kivitelezhető Sam alkalmatlan nem sík felületek vizsgálatára. -------------------------------------------------------------------------------------------------------------6. beugró alapelv

szekunder elektronok:topológia információ,a szekunder elektronok rugalmatlan szóródás eredményei. A primer nyaláb egy elektronja kiüti a helyéről a minta egy atomjának valamely külső elektronját. E jük kisebb 50eV nél A primer elektronok rugalmasan visszapattannak a mintaatomjairól. Maximum 20% energiaveszteség adódik visszaszórt elektronok topográfiai és kémiai információ, INFORMÁCIÓS TÉRFOGAT Primer nyaláb átmérője (nyalábáram) Primer nyaláb energiája (gyorsítófeszültség) A minta atomjainak tömegszáma Esetleges bevonat a minta felületén

A primer nyaláb elektronja ionizálja a minta valamely atomját. Rekombináció révén a kilépett elektron helyét egy magasabb energiaállapotban lévő elektron foglalja el. Az energiacsökkenés egy röntgenfoton formájában távozik. + fenti kép kémiai összetételről adhat bővebb információt, Nagy energiájának köszönhetően a karakterisztikus röntgensugárzás egészen mély rétegekből is detektálható. 6 kérdés...