A röntgendiagnosztikában alkalmazott szórtsugárrácsok és a sugárvédelem Porubszky Tamás Országos Frédéric Joliot-Curie Sugárbiológiai és Sugáregészségügyi Kutató Intézet Munkahelyi Sugáregészségügyi Osztály E-mail: porubszky@osski.hu 1
A szórt sugárzás hatása a képminőségre és a csökkentés lehetőségei Röntgencsőbura Sugárrekesz Szórtsugárrács Képreceptor 1. Röntgencső + Szűrés Asztallap Kazetta Erősítőfólia Páciens Röntgenfilm Képreceptor 2. (Röntgenképerősítő) Kimenőernyő Fotokatód Bemenőernyő 2
Szórtsugárrácsok jellemzése paraméterekkel IEC 60627 teljesítőképességi szabvány, 2. kiadás, 2001 3
Fogalmak 1. Szórtsugárrács Lineáris rács Párhuzamos rács Fókuszált rács Egyenetlen rács Keresztrács (merőleges, ferde) Álló rács Mozgó rács Mammográfiás rács 4
Fogalmak 2. Rácsviszony, r Fókusztávolság, f 0 Alkalmazhatósági határok, f 1, f 2 Valódi középvonal Középvonal jelölés Lamellasűrűség, N 5
Fogalmak 3. Primer sugárzás áteresztése, T p Szórt sugárzás áteresztése, T s Teljes sugáráteresztés, T t Rács szelektivitása, Σ Kontrasztjavítási tényező, K Rács expozíciós tényező (Bucky-faktor), B Fókuszált rács decentrálása Fókuszált rács defókuszálása 6
A szórtsugárrács szerkezete N ( d 1 D) r h D h r 0 0 D r 1 h D 1 1 r 2 h D 2 2 7
Sugárzásdetektor a paraméterek méréséhez A fluoreszkáló ernyő anyaga: kálcium-volframát 8
T p meghatározása általános célú (nem mammográfiás) szórtsugárrácsoknál (keskeny nyaláb) 9
T s meghatározása általános célú (nem mammográfiás) szórtsugárrácsoknál (széles nyaláb) 10
Irodalom: W. Hondius Boldingh: Grids to reduce scattered X-rays in medical radiography (doktori értekezés, Amsterdam, 1964, Philips, 90 oldal) 11
12
A szabvány felülvizsgálata, 3. kiadás előkészítése Fő ok: CaWO 4 ernyő már nem kapható átállás Gd 2 O 2 S:Tb ra (GOS) Ennek alkalmazhatóságát kísérletileg és elméletileg megvizsgálták Annex. További szempontok: Porubszky Tamás: A szórtsugárrácsok és a sugárvédelem Képjavítási tényező (Image improvement factor) bevezetése: Q = T p 2 / T t. (A kép jel/zaj viszonyának négyzete a Q tényezővel növekszik.) Az alkalmazhatósági határok számításánál figyelembe lehet venni a lamellák sugárelnyelését. Hozzáigazítás az új alapszabvány formai követelményeihez. Egyéb, kisebb pontosítások, javítások, megjegyzések. Az MDD-hez való harmonizálás kérdése is felmerült. 13
IEC SC62B MT50 Convenor: Jos van Vroonhoven (Philips, Hollandia) 2010. november 8-9.: Első ülés: Eindhoven (Hollandia) (Résztvevők 2 fő Hollandiából és 2 fő Németországból.) 2010.december 16.: Telekonferencia 2011. május 23-24.: Második ülés: Frankfurt (Németország) 2011. június 17.: Telekonferencia 2012. április 4.: Telekonferencia (internetes) A harmadik kiadás megjelenésének várható időpontja 2013. január 14
Köszönöm a figyelmet 15