A pásztázó mikroszkópok

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "A pásztázó mikroszkópok"

Átírás

1 A pásztázó mikroszkópok Az emberiség már az ősidők óta a világ megismerésére törekszik. Az univerzum megismerésére a nagyon távoli, nagyon nagy csillagok megismerésére óriási távcsöveket hozott létre. A nagyon kicsi tárgyakhoz, pedig mikroszkópot. Az egyszerű fény mikroszkóp a használt lencsék miatta fény hullámhosszának felénél kisseb tárgyakat a fényelhajlási effektus miatt elhomályosítja. Ezt először Ernst Abbe német fizikus és optikus ismerte fel. A jelenkori technikák, processzorok már a 0,08 mikronos technológiákkal készülnek, amik ezen elméleti határ közelében van. Így a kutatók új nagyobb felbontású eszközöket fejlesztettek ki. Ilyen például az elektron mikroszkóp. A mintadarabot nagy vákuum alatt lévő kamrába helyezzük, miközben a megfigyelést végezzük a letapogató elektron mikroszkóppal (SEM). A szervetlen anyagokat meg lehet így vizsgálni, de a biológiai szervezeteket nem tudjuk a működésük közben megfigyelni, mert elpusztulnak a kamrában uralkodó vákuum következtében. A mikroelektronikai alkatrészek, pedig az elektronsugárzástól tönkremehetnek. Egy új mikroszkópcsalád kifejlesztésével: a pásztázó mikroszkóppal pontos képet alkothatunk. És e műszercsalád segítségével az atomi és molekuláris alakzatok, elektromos mágneses és mechanikai tulajdonságokat, sőt még a hőmérsékletváltozásokat is mérni lehet, az eddiginél nagyobb felbontásban, anélkül, hogy roncsolnánk a vizsgálandó anyagot ban Gerd Binning és Henrich Rohrer megalkotta a pásztázó alagútmikroszkóp elvét. (1986-ban Nobel-díjat kapott) Ugyanebben a J. A. O Keefe egy olyan mikroszkópot javasolt, ahol a fény egy apró lyukon át egy átlátszatlan ernyőre jutna, és megvilágítaná a közvetlenül az ernyő előtt elhelyezett tárgyat. A probléma, amit O Keefe is elismert, hogy nem tud olyan módszert, amivel a lyukat megfelelő pontossággal tudja mozgatni ben Eric Ash 150 mikronméter felbontású képet alkotott O Keefe elvét felhasználva. Ugyanebben az évben megvalósult a kb 1 nanométeres pontosságú mozgatás (Russell Young) Ezt a pontosságot piezoelektromos kerámiákat használt. Ezek a kerámiák elektromos feszültség hatására igen csekély mértékben megváltoztatják a méretüket ben piezoelektromos vezérléssel megindította a fejlődést. Megalkották a legjobb közelre pásztázó mikroszkópot az alagút mikroszkópot. A pásztázó alagút mikroszkóp: Mindenek előtt az alagút hatásról néhány szót: A kvantummechanikai leírásmód sajátossága, hogy egy elemi részecske helyét nem határozhatjuk meg tetszés szerinti pontossággal. A részecskét leíró hullámfüggvény valószínűségeket határoz meg; azt az információt tartalmazza, hogy a részecske a térnek egy bizonyos tartományában mekkora valószínűséggel van jelen valamilyen kölcsönhatás során. Képzeljünk el egy klasszikus golyót, amely nekimegy egy vékony, de áttörhetetlen falnak. Átjutására semmi esély. A kvantummechanika azonban a falhoz érkező részecskének ad egy lehetőséget; a részecske, bár nagyon kis valószínűséggel, de átlóghat a falon túlra. Ez azt jelenti, hogy az esetek csekély számában a részecske megjelenhet a falon túl, mégpedig anélkül, hogy a falat akár 1

2 megmászta, akár áttörte volna. Ezt nevezik alagútjelenségnek. E bizarr és a klasszikus fizika szerint lehetetlen esemény számos esetben bekövetkezik az elemi részek világában. A részecske átjutási valószínűsége: 1/ 2 T 1 a ( e e 1+ E 16 1 V = β 2 β 2 a ) E V 2 8π m( V E) Ahol β = 2 a, pedig a gát szélessége, V potenciális energia, E teljes h energia, h a Plank állandó. Az alagútmikroszkóp az alagútjelenségen alapszik. A kvantummechanikában a különböző fizikai állapotokat valószínűségi változókkal írjuk le. Az elektronok bizonyos valószínűséggel kilógnak az anyag felületéből, és még akkor is át tudnak jutni egy másik anyagba, ha közöttük egy végtelen nagy potenciálgát helyezkedik el. Ha a felületek nagyon közel kerülnek egymáshoz, elektronok lépnek át az egyikből a másik anyagba, s bár az elektronok keltette áram nagyon kicsi, mégis mérhető. Ez az áram teszi lehetővé, hogy felületeket atomi szinten feltérképezhessünk és manipulálhassunk. Maga az eszköz mondhatni nagyon egyszerű. Egy négy részre hasított piezoelektromos henger végére tűt rögzítünk, s ebből folyik át az áram a minta felületére (lásd ábránkat). Az áram értékét mérve megállapítható, hogy a minta milyen távolságra van a tűtől. Megfelelő visszacsatolással elérhető, hogy a tű mozgatása közben az áram állandó legyen, s ezzel a tű és a minta távolsága stabilizálható. A tű atomi pontossággal letapogatja a felületet, így az egyes atomok megtalálhatók, a tű leeresztésével megfoghatók és kiemelhetők. A tű és a minta távolsága 0,01 angström (= méter) pontossággal állítható be. Az áram a távolság finom változtatásával szabályozható. Az alagút mikroszkóp egyik hátránya, hogy csak vezető felületeket képes letapogatni. Ezt a hibát egy másik mikroszkóppal védik ki, ezt atom erő mikroszkópnak hívjuk. (AFM) Az AFM felépítése, működési elve: Bár a technikai megvalósítás sokféleképpen történhet, a mikroszkóp főbb részei minden esetben a következők: - egy laprugón lévő hegyes tű - a rugó deformációját érzékelő rendszer (detektor) - visszacsatoló-vezérlő rendszer - mozgató-rendszer (általában piezoelektromos) - adatfeldolgozó rendszer 2 2

3 1.ábra Az AFM elvi felépítése Mérőrugók, mérőtűk A tű és a rugó mechanikai tulajdonságai nagyban befolyásolják a mikroszkóp felbontóképességét. A mérőrugóknak két feltételnek kell megfelelniük: 1. A nagy érzékenység eléréséhez a rugóállandónak kicsinek kell lennie. A mérési eljárásoktól függően N/m-től akár 35 N/m-ig változhat a kereskedelemben elérhető rugók rugóállandója. 2. A környezetből érkező zavaró, általában viszonylag kis frekvenciájú rezgések és a visszacsatolási elektronika miatt fontos, hogy nagy legyen a rugó rezonancia-frekvenciája (a kereskedelemben kapható rugók rezonancia-frekvenciája khz-ig terjed). Természetesen ezeket a követelményeket nem könnyű egyszerre teljesíteni. Ha figyelembe vesszük, hogy a rugó-tű rendszer f0 rezonancia-frekvenciájára és k rugóállandójára fennáll az összefüggés, akkor látható, hogy a két feltétel akkor teljesül egyszerre, ha az m0 effektív tömeg kicsi. A mérési metodikák tárgyalásánál még visszatérünk arra, hogy mikor milyen mérőrugót célszerű használni. Binnigék például egy kézzel készített rugót használtak, ami aranyfóliából készült, 1 mm hosszúságú volt, és a végére egy kis gyémánttűt ragasztottak. Később a szilícium, szilícium-oxid, szilícium-nitrid alapanyagú mérőrugók terjedtek el. Tipikus hosszúságuk 100 µm, vastagságuk 1 µm, felülnézetben téglalap vagy V-alakúak. A mérőrugók általában integrált tűvel készülnek, fotólitográfiás technikával. A tűk végleges alakjukat elektrokémiai maratással nyerik el. A "tövüknél" kb. 5 µm átmérőjűek, míg a csúcsuknál kevesebb, mint 500 Å a görbületi sugaruk. 3

4 A leggyakrabban használt mérőrugók V-alakú volt, 200 µm szárhosszúsággal és 18 µm vastagsággal. A rezonancia-frekvencia 5-15 khz, a rugóállandó N/m volt. A rugó és a tű anyaga Si3Ni4, a tű görbületi sugara kisebb 100 Å-nél (ún. "supertip"). Detektálási rendszer A detektálási rendszer feladata nem más, mint a mérőrugó elmozdulásának érzékelése. Ennek leggyakoribb módja a fény-reflexiós detektálási módszer (ezen az elven működik az általunk használt berendezés is). Ennek lényege az, hogy a mérőrugóra irányított és arról visszaverődő vékony fénynyaláb segítségével érzékelhető a rugó deformációja. A legmegfelelőbb fényforrás természetesen a lézer. Egy ilyen detektálási elrendezés vázlata látható a 2-es ábrán: 2. ábra A detektálási rendszer vázlata A lézernyaláb elmozdulását kettő- vagy négyszegmensű osztott-diódás detektor érzékeli. A mérés elkezdése előtt a lézer-dióda, a tükör és a detektor mozgatásával el kell érni, hogy a visszavert nyaláb éppen a detektor közepére essen. Ekkor a szegmensek áramainak összege maximális, a szemben lévő szegmensek áramainak különbsége pedig nulla. A jel-zaj viszony nagymértékben függ a reflektáló felület minőségétől. Arra is érdemes odafigyelni, hogy a lézer lehetőleg a laprugó legvégéről verődjön vissza, hiszen ott maximális a rugó kitérése. Működési elv, mérési metodikák Az eddigiekben szó esett az AFM felépítéséről, arról, hogy miképpen történik a mérőtűt hordozó laprugó deformációjának érzékelése, a tű és a minta egymáshoz képest történő precíz mozgatása. Mindezen ismeretek birtokában vizsgáljuk most meg, hogy mi történik a minta és a tű között, és hogy hogyan lehet mindebből képet készíteni a minta felszínéről. A minta és a mérőtű között ébredő erő sokféle tagból tevődhet össze: lehet van der Waals erő, lehet elektrosztatikus és mágneses kölcsönhatás, a Pauli-elvből és a kicserélődési kölcsönhatásból származó erők, és egyéb kölcsönhatások, attól is függően, hogy milyen a tű illetve a minta anyaga. 4

5 A felszín és a tű közötti potenciál A felszínhez közelítve a tűre először vonzó erő hat, ami taszítóvá válik - kellően közel kerülve a mintához. Ha ábrázoljuk az erő változását a távolság függvényében, akkor láthatjuk, hogy először a tű és a felület között fellépő erők azok vonzó erők, amelyek taszítóvá válnak. Ahol az erőgörbe a tengelyt metszi, ott éri el a tű a felületet. Az erő mérése kétféleképpen történhet: a) Nem modulált vagy DC eljárás Ez az eljárás az erőt a mérőrugó elhajlásának detektálásával méri. A mérőrugó függőleges kitérése a Hooke-törvény szerint arányos a rá ható erővel: F = k z. Ha a rugó a felszín felett haladva a változó erő hatására elhajlik, a visszacsatoló elektronika úgy módosítja a piezo z irányú deformációját, hogy a rugó az eredeti állapotába visszatérjen. (A visszacsatoló elektronika gyorsasága felső határt szab a pásztázási frekvenciának.) Ezáltal felvehető a z irányú piezo-feszültség Vz(x,y) függvénye, ami megfelel a felület topográfiájának, feltéve, hogy a tűre ható erő csak a tű és a felszín közötti távolságtól függ (az esetek nagy részében ez fennáll). b) Modulált vagy AC eljárás Egy piezoelektromos kristály segítségével a laprugót a rezonancia-frekvenciája környékén rezgésbe hozzuk, és a tűre ható erő változására fellépő rezonancia-frekvencia eltolódást detektáljuk. Ez a technika az erő gradiensére érzékeny, ami az effektív rugóállandót változtatja. Megmutatható, hogy a tű és a minta közötti vonzó erő csökkenti, a taszító erő növeli a rezonancia-frekvencia értékét. A mérési metodikák a tű és a minta egymáshoz viszonyított helyzete szerint is csoportosíthatók: 1. "Contact" mérési eljárás A tű és a minta állandó kontaktusban vannak. Ilyenkor a tű a taszító tartományban "dolgozik". A k rugóállandót az érzékenység növelése érdekében kicsire célszerű venni, azaz lágy mérőrugót kell használni. A felszínen levő szennyeződés, lecsapódott pára miatt fellépő meniszkusz erő az egyik legzavaróbb effektus, de csökkenthető hegyesebb tű használatával, vagy megszüntethető folyadék alatt történő méréssel (erről még lesz szó). - Állandó erővel történő mérés 5

6 A visszacsatoló rendszer a DC eljárásnál leírtak szerint működve az erőt állandó értéken tartja, a piezo kristály z irányú feszültsége úgy módosul, hogy az "követi" a felszín hullámzását. Az osztott diódás detektoron a fényfolt helyzete így állandó marad. Ez a legelterjedtebb mérési eljárás. - Változó erővel történő mérés Itt a piezo kristály z irányú feszültsége állandó, a mérőrugó változó erő miatt bekövetkező deformációját detektáljuk folyamatosan. A detektor nem képes olyan mértékben követni a kitéréseket, mint az előző eljárásnál a piezo, ezért ez kevésbé elterjedt technika. - Lokális erő spektroszkópia A felület egy kiválasztott pontján felvesszük az erő - elmozdulás függvényt, ahol az elmozdulás alatt a piezo z irányú deformációját kell érteni, az erőt pedig a rugó elhajlásából kapjuk meg. A 4.ábrán egy tipikus görbe látható, valamint az, hogy a mérések során milyen alakváltozásokat szenved a mérőrugó. a: Azon intervallum amikor a tűt a piezo közelíti a felülethez. Ha ebben a tartományban hosszú távú taszító/vonzó erőt érzékel a tű akkor a mérőrugó el fog hajlani. Ebben az adott esetben nem lépnek fel ezek az erők, így a rugólapka nem szenved alakváltozást. b: Mihelyt a tű elérte a felszínt, a lapka alakváltozása egyre nőni fog, miközben a rugólapka rögzített vége mind közelebb kerül a felülethez. Ha a rugólapka elég merev, a tű mélyen bele fog vágni a mintába. Ebben az esetben a görbe alakja, meredeksége információt szolgáltat a minta kémiai és mechanikai tulajdonságairól. c: Ez az a pillanat amikor kezdjük kihúzni a tűt. d: Az adhézió/kötés megszakadása az erőmérés legfontosabb pontja. Ilyenkor a tű szabaddá válik. Ezt tudjuk felhasználni arra, hogy meghatározzuk azt az erőt amely szükséges ahhoz, hogy egy adott kötést vagy adhéziót elszakítsunk. 4.ábra Egy tipikus erő-kalibráció görbe 6

7 2. "Noncontact" mérési eljárás Itt az erő mérése az AC eljárásnál leírtaknak megfelelően történik. A visszacsatolást vagy konstans amplitúdó vagy konstans frekvencia mellett végzik. Ezzel nem érhető el akkora felbontás, mint a contact eljárással, viszont a mintát kevésbé rongálja. - Nagy amplitúdójú rezonancia A merev laprugó (k nagy) a rezonancia-frekvenciáján rezeg ( khz), nagy amplitúdóval ( Å). A tű főleg a vonzó tartományban működik, de "behatolhat" a taszító tartományba is. Nagyon lágy minták esetében használjuk. - Kis amplitúdójú rezonancia Ez is nagy rugóállandóval, de kis amplitúdóval (2-10 Å) működő technika. Érzékeny a felületet borító szennyeződésre. - DC Noncontact Ez esetben nem rezegtetjük a rugót, de a taszító tartománynál jóval távolabb tartjuk a tűt. A szennyező réteg hatása itt jóval nagyobb, mint a többi vonzó erő. Ezt is lágy minták esetében használjuk. Hátránya, hogy a szennyező réteg többnyire nem összefüggő, és emiatt a rendszer könnyen kiesik a visszacsatolásból. 3. "Tapping" eljárás A nagy amplitúdójú rezonancia eljáráshoz hasonlóan itt is nm amplitúdójú rezgéseket végez a z-piezo, de a visszacsatolás úgy van beállítva, hogy a tű minden rezgésnél érintse a felületet. Célszerű nagy rugóállandóval rendelkező mérőrugót használni. Ez az eljárás azért előnyös, mert a felületen ható erők nem károsítják a felszínt (nincs vízszintes irányú komponensük), ugyanakkor a felbontás megközelíti a contact eljárással elérhető felbontást. A mérési eljárások csoportosíthatók aszerint is, hogy a mérés levegőn vagy folyadék közegben történik-e. A folyadékos eljárás speciális mérési elrendezést igényel (pl. folyadékcellát). A folyadék lehet desztillált víz, vagy biológiai minták esetében a megfelelő puffer. Ezen mérési eljárás előnye, hogy nincs zavaró meniszkusz erő, valamint a tű és a felszín között ható erő nagysága levihető 10-8 N alá, ami biológiai mintáknál (pl. fehérjék, DNS, lipid membránok) elengedhetetlen feltétel. Mágneses elven működő pásztázó szondás mikroszkóp: Az egyre növekvő sűrűségű mágneslemezen információ tárolásból következően az adatokat a lemezhez közelebb kerülő, kisebb fejjel kell olvasni és írni. Az ütközés elkerülése végett mind a lemezeknek, mind a fejeknek kell tisztának lenniük. A lézermikroszkóp egyik változata a mágneses mikroszkóp, amely lehetővé teszi az ilyen fejek tényleges működésének tanulmányozását az általuk létrehozott mágneses mező rajzolatának, egyenletességének és erősségének vizsgálatát. A mágneses mikroszkópnak a volfrám- vagy szilíciumtű helyett egy mágnesezett nikkel vagy vasszondája van. Amikor a rezgő szondát egy mágneses mintához közelítik, a hegyre olyan erő hat, amely megváltoztatja annak rezonancia frekvenciáját, és így rezgésének amplitudóját. A mágneses mikroszkóp 25 nanométernél jobbfelbontással tudja nyomonkövetni az adatíró fejektől származó mágneses mező rajzolatát. A műszerrel megvizsgálható a lemezek vagy más eszközök adattároló mágneses bitjeinek szerkezete is, ami betekintést nyújt mind a fej működésébe, mint pedig a tároló közeg minőségébe. 7

8 Elektrosztatikus mikroszkóp: A tű elektromosan töltött, és a tű, és a felület közti elektrosztatikus erő mérhető Ezzel a mikroszkóppal nagyon finom skálán képezhetjük le a mikroáramkörök elektromos tulajdonságait! Pl.: Si lapkán a szennyezettség mérhető, a szennyező atomok koncentrációja, vagy akár ezzel az eljárással szennyezhetem. Hőmikroszkóp: A pásztázó hőmikroszkóp szondája a világ talán legkisebb hőmérője. Mellyel egy felület hőviszonyait ( akár néhány tízezred foknyi hőmérséklet-változást, párszor tíz nanométeres részen) lehet megvizsgálni. Speciális, többrétegű tűre van szükség: Wolfram Szigetelő Nikkel Thermoelem: két különböző struktúrájú fém (wolfram, nikkel) csak a tű hegyén érintkezik, és a hővel arányos feszültség indukálódik. Ebből következik, hogy ha áramot folyatok rajta, akkor hő fejlődik. A vizsgált felületen lokálisan hőt fejlesztek egy pontjára, és máshol mérem a hőmérséklet különbséget. A hőelvezetésből következtetni lehet az anyagi minőségre. A rendszer érzékenysége a véletlenszerű hőmérsékletváltozásokra csökkenthető ha a hegyet 1 nanométernél kisebb amplitúdóval, körülbelül 1 kilohertz frekvenciával rezgetjük. Az a tény hogy 30 nanométeresnél sokkal finomabb termoelemcsúcs nem igen készíthető, határt szab a pásztázó hőmikroszkóppal készített felületkép felbontásának. Fototermikus összetétel vizsgálat: Fény 8

9 Egy fénysugárral (akár állítható hullámhosszú, hangolható lézerfénnyel) megvilágítom a felületet. A tűvel pedig vizsgáljuk, hogy adott helyen mennyire melegszik a felület, milyen mértékben nyeli el a fényt, és hogy hogyan helyezkednek el a különböző optikai tulajdonságokkal rendelkező anyagok. Súrlódási erő mikroszkóp: Ez contact mikroszkóp, a mechanikai kölcsönhatás erősségét mérjük, és abból következtetünk a felület milyenségére. Nem igazán jó módszer, mert akár át is rendezhetjük a felületen az atomokat, a mérés során károsodhat a vizsgált felület. A másik, amire az emberiség állandóan törekszik: az építkezés. Sok ideig az volt a fő cél, hogy minél nagyobbat építsünk, de a technika már lehetővé tette azt is, hogy nagyon picit építsünk., mondjuk atomi precizitással ben az IBM nikkel felületre xenon atomokból kirakta az IBM logót. Azért lehetséges a építkezés, mert az egyik atom inert típusú, ami annyit jelent, hogy nem lép kölcsönhatásba a felület anyagával (a xenon is nemesgáz). 0,1-0,2 nm-es távolságra tették egymáshoz az atomokat. Nem sokkal később egy japán cég is hasonlót alkotott: Próbáltak még ilyen eljárással molekulákat építeni, pl. vízmolekulát úgy, hogy elég közel, és jó szögben leraktak egy O atomot, és két H atomot. Nehéz, és körülményes eljárás, az építkezéshez: - ha nem jó az anyagválasztás, akkor kb Co-ra, és nagyon lassú mozgásra van szűkség, jobb anyagoknál már szobahőmérsékleten is működik. Sajnos az atomi szintű építkezésnek nincs technológiája, és így jelentősségét veszti. De jó pár érdekességre, és törvényszerűségre fényt derített, érzékelhetővé tette a kvantumvilágot: egy kör mentén vasatomokat helyeztek el, és ezzel a felületi elektronokat körülzárták, helyzetüket alagútmikroszkóppal vizsgálták, aminek eredménye azt mutatta, hogy állóhullámok jöttek létre: 9

10 Egyik érdekes tudományág, a Nanolitográfia: Írni is lehet atomi szinten. A felület, amire írunk apoláros, a másik, amit rá teszünk kettős tulajdonságú: poláros fej-, és apoláros farokrész. 50 nm a vonalvastagság. Fontos lenne ipari méretekben az atomi szinten mozogni atomokat olcsón, elég gyorsan, elég közel rakni egymáshoz, mert 1 bit pár nm-en, atommal felírható, ami annyit jelent, hogy az emberiség összes tudása ráfér egy A/5-ös nagyságú felületre. 10

A pásztázó mikroszkóp. (Takács Gergő)

A pásztázó mikroszkóp. (Takács Gergő) A pásztázó mikroszkóp (Takács Gergő) Az emberiség már az ősidők óta a világ megismerésére törekszik. Az univerzum megismerésére a nagyon távoli, nagyon nagy csillagok megismerésére óriási távcsöveket hozott

Részletesebben

Pásztázó mikroszkópiás módszerek

Pásztázó mikroszkópiás módszerek Pásztázó mikroszkópiás módszerek - Pásztázó alagútmikroszkóp, Scanning tunneling microscope, STM - Pászázó elektrokémiai mikroszkóp, Scanning electrochemical microscopy, SECM - pásztázó közeli mező optikai

Részletesebben

Mérés: Millikan olajcsepp-kísérlete

Mérés: Millikan olajcsepp-kísérlete Mérés: Millikan olajcsepp-kísérlete Mérés célja: 1909-ben ezt a mérést Robert Millikan végezte el először. Mérése során meg tudta határozni az elemi részecskék töltését. Ezért a felfedezéséért Nobel-díjat

Részletesebben

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp

ELTE Fizikai Intézet. FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp ELTE Fizikai Intézet FEI Quanta 3D FEG kétsugaras pásztázó elektronmikroszkóp mintatartó mikroszkóp nyitott ajtóval Fő egységek 1. Elektron forrás 10-7 Pa 2. Mágneses lencsék 10-5 Pa 3. Pásztázó mágnesek

Részletesebben

Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata

Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. május 7. (hétfő délelőtti csoport) 1. Bevezetés Ebben a mérésben a szilárdtestek rugalmas tulajdonságait vizsgáljuk

Részletesebben

Jegyzőkönyv. hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálatáról (3)

Jegyzőkönyv. hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálatáról (3) Jegyzőkönyv a hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálatáról () Készítette: Tüzes Dániel Mérés ideje: 2008-11-19, szerda 14-18 óra Jegyzőkönyv elkészülte: 2008-11-26 A mérés célja A feladat két anyag

Részletesebben

Mikroszerkezeti vizsgálatok

Mikroszerkezeti vizsgálatok Mikroszerkezeti vizsgálatok Dr. Szabó Péter BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék 463-2954 szpj@eik.bme.hu www.att.bme.hu Tematika Optikai mikroszkópos vizsgálatok, klasszikus metallográfia. Kristálytan,

Részletesebben

Vezetők elektrosztatikus térben

Vezetők elektrosztatikus térben Vezetők elektrosztatikus térben Vezető: a töltések szabadon elmozdulhatnak Ha a vezető belsejében a térerősség nem lenne nulla akkor áram folyna. Ha a felületen a térerősségnek lenne tangenciális (párhuzamos)

Részletesebben

7. Laboratóriumi gyakorlat KIS ELMOZDULÁSOK MÉRÉSE KAPACITÍV ÉS INDUKTÍV MÓDSZERREL

7. Laboratóriumi gyakorlat KIS ELMOZDULÁSOK MÉRÉSE KAPACITÍV ÉS INDUKTÍV MÓDSZERREL 7. Laboratóriumi gyakorlat KIS ELMOZDULÁSOK MÉRÉSE KAPACITÍV ÉS INDUKTÍV MÓDSZERREL 1. A gyakorlat célja Kis elmozulások (.1mm 1cm) mérésének bemutatása egyszerű felépítésű érzékkőkkel. Kapacitív és inuktív

Részletesebben

Fókuszált ionsugaras megmunkálás

Fókuszált ionsugaras megmunkálás 1 FEI Quanta 3D SEM/FIB Fókuszált ionsugaras megmunkálás Ratter Kitti 2011. január 19-21. 2 FIB = Focused Ion Beam (Fókuszált ionnyaláb) Miből áll egy SEM/FIB berendezés? elektron oszlop ion oszlop gáz

Részletesebben

Atomi er mikroszkópia jegyz könyv

Atomi er mikroszkópia jegyz könyv Atomi er mikroszkópia jegyz könyv Zsigmond Anna Julia Fizika MSc III. Mérés vezet je: Szabó Bálint Mérés dátuma: 2010. október 7. Leadás dátuma: 2010. október 20. 1. Mérés leírása A laboratóriumi mérés

Részletesebben

Mit nevezünk nehézségi erőnek?

Mit nevezünk nehézségi erőnek? Mit nevezünk nehézségi erőnek? Azt az erőt, amelynek hatására a szabadon eső testek g (gravitációs) gyorsulással esnek a vonzó test centruma felé, nevezzük nehézségi erőnek. F neh = m g Mi a súly? Azt

Részletesebben

Mérés és adatgyűjtés

Mérés és adatgyűjtés Mérés és adatgyűjtés 7. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2013. április 11. MA - 7. óra Verzió: 2.2 Utolsó frissítés: 2013. április 10. 1/37 Tartalom I 1 Szenzorok 2 Hőmérséklet mérése 3 Fény

Részletesebben

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László

Az elektron hullámtermészete. Készítette Kiss László Az elektron hullámtermészete Készítette Kiss László Az elektron részecske jellemzői Az elektront Joseph John Thomson fedezte fel 1897-ben. 1906-ban Nobel díj! Az elektronoknak, az elektromos és mágneses

Részletesebben

Atomi, illetve molekuláris kölcsönhatások és alkalmazásaik

Atomi, illetve molekuláris kölcsönhatások és alkalmazásaik Atomi, illetve molekuláris kölcsönhatások és alkalmazásaik Bozó Tamás 2012. október 16. Atomi kölcsönhatások Nemesgázok: atomi előfordulás (He, Ne, Ar, Kr, Xe, Rn) Többi elem: molekulákat alkot (pl. H

Részletesebben

11.3. Az Achilles- ín egy olyan rugónak tekinthető, amelynek rugóállandója 3 10 5 N/m. Mekkora erő szükséges az ín 2 mm- rel történő megnyújtásához?

11.3. Az Achilles- ín egy olyan rugónak tekinthető, amelynek rugóállandója 3 10 5 N/m. Mekkora erő szükséges az ín 2 mm- rel történő megnyújtásához? Fényemisszió 2.45. Az elektromágneses spektrum látható tartománya a 400 és 800 nm- es hullámhosszak között található. Mely energiatartomány (ev- ban) felel meg ennek a hullámhossztartománynak? 2.56. A

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópja

A nanotechnológia mikroszkópja 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június

Részletesebben

1. Jegyzőkönyv AFM

1. Jegyzőkönyv AFM 1. Jegyzőkönyv AFM 1. 2017.02.22. Gratzer Márton Elméleti áttekintés: Atomic-force microscopy ( AFM ) egy típusa a scanning probe microscopy (SPM)-nak, nanométeres felbontásban, (az optikai diffrakciós

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

Modern Fizika Labor. 12. Infravörös spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 04. A mérés száma és címe: Értékelés:

Modern Fizika Labor. 12. Infravörös spektroszkópia. Fizika BSc. A mérés dátuma: okt. 04. A mérés száma és címe: Értékelés: Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 011. okt. 04. A mérés száma és címe: 1. Infravörös spektroszkópia Értékelés: A beadás dátuma: 011. dec. 1. A mérést végezte: Domokos Zoltán Szőke Kálmán Benjamin

Részletesebben

Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése

Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése Mikroszkóp vizsgálata Lencse görbületi sugarának mérése Folyadék törésmutatójának mérése (Mérési jegyzőkönyv) Hagymási Imre 2007. március 19. (hétfő délelőtti csoport) 1. Mikroszkóp vizsgálata 1.1. A mérés

Részletesebben

Jegyzőkönyv. mágneses szuszceptibilitás méréséről (7)

Jegyzőkönyv. mágneses szuszceptibilitás méréséről (7) Jegyzőkönyv a mágneses szuszceptibilitás méréséről (7) Készítette: Tüzes Dániel Mérés ideje: 8-1-1, szerda 14-18 óra Jegyzőkönyv elkészülte: 8-1-8 A mérés célja A feladat egy mágneses térerősségmérő eszköz

Részletesebben

Kutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése

Kutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése Kutatási beszámoló 2015. február Gyüre Balázs BME Fizika tanszék Dr. Simon Ferenc csoportja Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése A TKI-Ferrit Fejlsztő és Gyártó Kft.-nek munkája

Részletesebben

Elektrosztatika. 1.2. Mekkora két egyenlő nagyságú töltés taszítja egymást 10 m távolságból 100 N nagyságú erővel? megoldás

Elektrosztatika. 1.2. Mekkora két egyenlő nagyságú töltés taszítja egymást 10 m távolságból 100 N nagyságú erővel? megoldás Elektrosztatika 1.1. Mekkora távolságra van egymástól az a két pontszerű test, amelynek töltése 2. 10-6 C és 3. 10-8 C, és 60 N nagyságú erővel taszítják egymást? 1.2. Mekkora két egyenlő nagyságú töltés

Részletesebben

25. Képalkotás. f = 20 cm. 30 cm x =? Képalkotás

25. Képalkotás. f = 20 cm. 30 cm x =? Képalkotás 25. Képalkotás 1. Ha egy gyujtolencse fókusztávolsága f és a tárgy távolsága a lencsétol t, akkor t és f viszonyától függ, hogy milyen kép keletkezik. Jellemezd a keletkezo képet a) t > 2 f, b) f < t

Részletesebben

Mikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése

Mikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése KLASSZIKUS FIZIKA LABORATÓRIUM 8. MÉRÉS Mikroszkóp vizsgálata Folyadék törésmutatójának mérése Mérést végezte: Enyingi Vera Atala ENVSAAT.ELTE Mérés időpontja: 2011. október 12. Szerda délelőtti csoport

Részletesebben

Félvezetk vizsgálata

Félvezetk vizsgálata Félvezetk vizsgálata jegyzkönyv Zsigmond Anna Fizika BSc III. Mérés vezetje: Böhönyei András Mérés dátuma: 010. március 4. Leadás dátuma: 010. március 17. Mérés célja A mérés célja a szilícium tulajdonságainak

Részletesebben

PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA

PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA PÁSZTÁZÓSZONDÁS MIKROSZKÓPIA Molnár László Milán Mikro- és nanotechnológia 2008.10.14. MIKROSZKÓPOS MÓDSZEREK I. OPTIKAI ÉS ELEKTRON Név Mőkıdés elve Elınyök Hátrányok Optikai Egyszerő Diffrakciólimitált

Részletesebben

EGYENÁRAMÚ TÁPEGYSÉGEK

EGYENÁRAMÚ TÁPEGYSÉGEK dátum:... a mérést végezte:... EGYENÁRAMÚ TÁPEGYSÉGEK m é r é s i j e g y z k ö n y v 1/A. Mérje meg az adott hálózati szabályozható (toroid) transzformátor szekunder tekercsének minimálisan és maximálisan

Részletesebben

1. ábra Tükrös visszaverődés 2. ábra Szórt visszaverődés 3. ábra Gombostű kísérlet

1. ábra Tükrös visszaverődés 2. ábra Szórt visszaverődés 3. ábra Gombostű kísérlet A kísérlet célkitűzései: A fény visszaverődésének kísérleti vizsgálata, a fényvisszaverődés törvényének megismerése, síktükrök képalkotásának vizsgálata. Eszközszükséglet: szivacslap A/4 írólap vonalzó,

Részletesebben

Modern fizika laboratórium

Modern fizika laboratórium Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid

Részletesebben

19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata

19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata 19. A fényelektromos jelenségek vizsgálata PÁPICS PÉTER ISTVÁN csillagász, 3. évfolyam Mérőpár: Balázs Miklós 2006.04.19. Beadva: 2006.05.15. Értékelés: A MÉRÉS LEÍRÁSA Fontos megállapítás, hogy a fénysugárzásban

Részletesebben

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. A sugárzáson alapuló hőmérsékletmérés (termográfia),azt a fizikai jelenséget használja fel, hogy az abszolút nulla K hőmérséklet (273,16

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás

Pásztázó elektronmikroszkóp. Alapelv. Szinkron pásztázás Pásztázó elektronmikroszkóp Scanning Electron Microscope (SEM) Rasterelektronenmikroskope (REM) Alapelv Egy elektronágyúval vékony elektronnyalábot állítunk elő. Ezzel pásztázzuk (eltérítő tekercsek segítségével)

Részletesebben

Kvantumszimulátorok. Szirmai Gergely MTA SZFKI. Graphics: Harald Ritsch / Rainer Blatt, IQOQI

Kvantumszimulátorok. Szirmai Gergely MTA SZFKI. Graphics: Harald Ritsch / Rainer Blatt, IQOQI Kvantumszimulátorok Szirmai Gergely MTA SZFKI Graphics: Harald Ritsch / Rainer Blatt, IQOQI A kvantummechanika körülvesz tranzisztor számítógép, mobiltelefon A kvantummechanika körülvesz tranzisztor számítógép,

Részletesebben

Transzformátor rezgés mérés. A BME Villamos Energetika Tanszéken

Transzformátor rezgés mérés. A BME Villamos Energetika Tanszéken Transzformátor rezgés mérés A BME Villamos Energetika Tanszéken A valóság egyszerűsítése, modellezés. A mérés tervszerűen végrehajtott tevékenység, ezért a bonyolult valóságos rendszert először egyszerűsítik.

Részletesebben

Rezgőmozgás. A mechanikai rezgések vizsgálata, jellemzői és dinamikai feltétele

Rezgőmozgás. A mechanikai rezgések vizsgálata, jellemzői és dinamikai feltétele Rezgőmozgás A mechanikai rezgések vizsgálata, jellemzői és dinamikai feltétele A rezgés fogalma Minden olyan változás, amely az időben valamilyen ismétlődést mutat rezgésnek nevezünk. A rezgések fajtái:

Részletesebben

Abszorpciós spektroszkópia

Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék Abszorpciós spektroszkópia (Nyitrai Miklós; 2011 február 1.) Dolgozat: május 3. 18:00-20:00. Egész éves anyag. Korábbi dolgozatok nem számítanak bele. Felmentés 80% felett. A fény; Elektromágneses

Részletesebben

Hidegsajtoló hegesztés

Hidegsajtoló hegesztés Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem SAJTOLÓ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK 1. Hőbevitel nélküli eljárások Dr. Palotás Béla Mechanikai Technológia és Anyagszerkezettani Tanszék Hidegsajtoló hegesztés A

Részletesebben

ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA

ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA ATOMEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA Elvi jellemzők, amelyek meghatározzák a készülék felépítését magas hőmérsékletű fényforrás (elsősorban plazma, szikra, stb.) kis méretű sugárforrás (az önabszorpció csökkentése

Részletesebben

9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK

9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK 9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK 1.A gyakorlat célja Az MPX12DP piezorezisztiv differenciális nyomásérzékelő tanulmányozása. A nyomás feszültség p=f(u) karakterisztika megrajzolása. 2. Elméleti

Részletesebben

A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske

A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske A fény mint elektromágneses hullám és mint fényrészecske Segítség az 5. tétel (Hogyan alkalmazható a hullám-részecske kettősség gondolata a fénysugárzás esetében?) megértéséhez és megtanulásához, továbbá

Részletesebben

Thomson-modell (puding-modell)

Thomson-modell (puding-modell) Atommodellek Thomson-modell (puding-modell) A XX. század elejére világossá vált, hogy az atomban található elektronok ugyanazok, mint a katódsugárzás részecskéi. Magyarázatra várt azonban, hogy mi tartja

Részletesebben

Munka, energia Munkatétel, a mechanikai energia megmaradása

Munka, energia Munkatétel, a mechanikai energia megmaradása Munka, energia Munkatétel, a mechanikai energia megmaradása Munkavégzés történik ha: felemelek egy könyvet kihúzom az expandert A munka Fizikai értelemben munkavégzésről akkor beszélünk, ha egy test erő

Részletesebben

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18.

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18. Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 28. március 18. A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 28. március 26. A mérést végezte: 1/7 A mérés leírása:

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

Járműelemek. Rugók. 1 / 27 Fólia

Járműelemek. Rugók. 1 / 27 Fólia Rugók 1 / 27 Fólia 1. Rugók funkciója A rugók a gépeknek és szerkezeteknek olyan különleges elemei, amelyek nagy (ill. korlátozott) alakváltozás létrehozására alkalmasak. Az alakváltozás, szemben más szerkezeti

Részletesebben

Méréstechnika. Rezgésmérés. Készítette: Ángyán Béla. Iszak Gábor. Seidl Áron. Veszprém. [Ide írhatja a szöveget] oldal 1

Méréstechnika. Rezgésmérés. Készítette: Ángyán Béla. Iszak Gábor. Seidl Áron. Veszprém. [Ide írhatja a szöveget] oldal 1 Méréstechnika Rezgésmérés Készítette: Ángyán Béla Iszak Gábor Seidl Áron Veszprém 2014 [Ide írhatja a szöveget] oldal 1 A rezgésekkel kapcsolatos alapfogalmak A rezgés a Magyar Értelmező Szótár megfogalmazása

Részletesebben

Zaj- és rezgés. Törvényszerűségek

Zaj- és rezgés. Törvényszerűségek Zaj- és rezgés Törvényszerűségek A hang valamilyen közegben létrejövő rezgés. A vivőközeg szerint megkülönböztetünk: léghangot (a vivőközeg gáz, leggyakrabban levegő); folyadékhangot (a vivőközeg folyadék,

Részletesebben

Abszorpciós fotometria

Abszorpciós fotometria abszorpció Abszorpciós fotometria Spektroszkópia - Színképvizsgálat Spektro-: görög; jelente kép/szín -szkópia: görög; néz/látás/vizsgálat Ujfalusi Zoltán PTE ÁOK Biofizikai Intézet 2012. február Vizsgálatok

Részletesebben

Rezgés tesztek. 8. Egy rugó által létrehozott harmonikus rezgés esetén melyik állítás nem igaz?

Rezgés tesztek. 8. Egy rugó által létrehozott harmonikus rezgés esetén melyik állítás nem igaz? Rezgés tesztek 1. Egy rezgés kitérés-idő függvénye a következő: y = 0,42m. sin(15,7/s. t + 4,71) Mekkora a rezgés frekvenciája? a) 2,5 Hz b) 5 Hz c) 1,5 Hz d) 15,7 Hz 2. Egy rezgés sebesség-idő függvénye

Részletesebben

Anyagvizsgálati módszerek

Anyagvizsgálati módszerek Anyagvizsgáló és Állapotellenőrző Laboratórium Atomerőművi anyagvizsgálatok Az akusztikus emisszió vizsgálata a műszaki diagnosztikában Anyagvizsgálati módszerek Roncsolásos metallográfia, kémia, szakító,

Részletesebben

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék

3. (b) Kereszthatások. Utolsó módosítás: április 1. Dr. Márkus Ferenc BME Fizika Tanszék 3. (b) Kereszthatások Utolsó módosítás: 2013. április 1. Vezetési együtthatók fémekben (1) 1 Az elektrongáz hővezetési együtthatója A levezetésben alkalmazott feltételek: 1. Minden elektron ugyanazzal

Részletesebben

A fény visszaverődése

A fény visszaverődése I. Bevezető - A fény tulajdonságai kölcsönhatásokra képes egyenes vonalban terjed terjedési sebessége függ a közeg anyagától (vákuumban 300.000 km/s; gyémántban 150.000 km/s) hullám tulajdonságai vannak

Részletesebben

Méréselmélet és mérőrendszerek

Méréselmélet és mérőrendszerek Méréselmélet és mérőrendszerek 6. ELŐADÁS KÉSZÍTETTE: DR. FÜVESI VIKTOR 2016. 10. Mai témáink o A hiba fogalma o Méréshatár és mérési tartomány M é r é s i h i b a o A hiba megadása o A hiba eredete o

Részletesebben

Informatikai eszközök fizikai alapjai Lovász Béla

Informatikai eszközök fizikai alapjai Lovász Béla Informatikai eszközök fizikai alapjai Lovász Béla Kódolás Moduláció Morzekód Mágneses tárolás merevlemezeken Modulációs eljárások típusai Kódolás A kód megállapodás szerinti jelek vagy szimbólumok rendszere,

Részletesebben

ADATHORDOZÓ LEMEZ. Különböző ADATHORDOZÓK. MO lemez. hajlékonylemez CDROM, DVDROM. lemez. merevlemez CDRAM, DVDRAM. lemez

ADATHORDOZÓ LEMEZ. Különböző ADATHORDOZÓK. MO lemez. hajlékonylemez CDROM, DVDROM. lemez. merevlemez CDRAM, DVDRAM. lemez ADATHORDOZÓ Különböző ADATHORDOZÓK LEMEZ hajlékonylemez MO lemez merevlemez CDROM, DVDROM lemez CDRAM, DVDRAM lemez ADATHORDOZÓ SZALAG Különböző ADATHORDOZÓK DAT, DATA DATA CARTRIDGE TAPE 1/2 SZALAG A

Részletesebben

Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban

Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Koherens lézerspektroszkópia adalékolt optikai egykristályokban Kis Zsolt MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont H-1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33 2015. június 8. Hogyan nyerjünk információt egyes

Részletesebben

Újabb eredmények a grafén kutatásában

Újabb eredmények a grafén kutatásában Újabb eredmények a grafén kutatásában Magda Gábor Zsolt Atomoktól a csillagokig 2014. március 13. Új anyag, új kor A kőkortól kezdve egy új anyag felfedezésekor új lehetőségek nyíltak meg, amik akár teljesen

Részletesebben

Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása

Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása Az anyagi rendszer fogalma, csoportosítása A bemutatót összeállította: Fogarasi József, Petrik Lajos SZKI, 2011 1 1 A rendszer fogalma A körülöttünk levő anyagi világot atomok, ionok, molekulák építik

Részletesebben

Elektrooptikai effektus

Elektrooptikai effektus Elektrooptikai effektus Alapelv: A Pockels effektus az a jelenség, amikor egy eredendően kettőstörő anyag kettőstörő tulajdonsága megváltozik az alkalmazott elektromos tér hatására, és a változás lineáris

Részletesebben

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél

Részletesebben

Tervezte és készítette Géczy LászlL. szló 1999-2008

Tervezte és készítette Géczy LászlL. szló 1999-2008 Tervezte és készítette Géczy LászlL szló 1999-2008 ADATHORDOZÓ Különböző ADATHORDOZÓK LEMEZ hajlékonylemez MO lemez merevlemez CDROM, DVDROM lemez CDRAM, DVDRAM lemez ADATHORDOZÓ SZALAG Különböző ADATHORDOZÓK

Részletesebben

Kutatóegyetemi Kiválósági Központ 1. Szuperlézer alprogram: lézerek fejlesztése, alkalmazásai felkészülés az ELI-re Dr. Varjú Katalin egyetemi docens

Kutatóegyetemi Kiválósági Központ 1. Szuperlézer alprogram: lézerek fejlesztése, alkalmazásai felkészülés az ELI-re Dr. Varjú Katalin egyetemi docens Kutatóegyetemi 1. Szuperlézer alprogram: lézerek fejlesztése, alkalmazásai felkészülés az ELI-re Dr. Varjú Katalin egyetemi docens Lézer = speciális fény koherens (fázisban) kicsi a divergenciája (irányított)

Részletesebben

NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK

NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem NAGY ENERGIA SŰRŰSÉGŰ HEGESZTÉSI ELJÁRÁSOK Dr. Palotás Béla Mechanikai Technológia és Anyagszerkezettani Tanszék Elektronsugaras hegesztés A katódból kilépő

Részletesebben

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses

Részletesebben

1. Elektromos alapjelenségek

1. Elektromos alapjelenségek 1. Elektromos alapjelenségek 1. Bizonyos testek dörzsölés hatására különleges állapotba kerülhetnek: más testekre vonzerőt fejthetnek ki, apróbb tárgyakat magukhoz vonzhatnak. Ezt az állapotot elektromos

Részletesebben

Modern Fizika Labor. A mérés száma és címe: A mérés dátuma: Értékelés: Folyadékkristályok vizsgálata.

Modern Fizika Labor. A mérés száma és címe: A mérés dátuma: Értékelés: Folyadékkristályok vizsgálata. Modern Fizika Labor A mérés dátuma: 2005.11.16. A mérés száma és címe: 17. Folyadékkristályok vizsgálata Értékelés: A beadás dátuma: 2005.11.30. A mérést végezte: Orosz Katalin Tóth Bence 1 A mérés során

Részletesebben

Mágneses mező tesztek. d) Egy mágnesrúd északi pólusához egy másik mágnesrúd déli pólusát közelítjük.

Mágneses mező tesztek. d) Egy mágnesrúd északi pólusához egy másik mágnesrúd déli pólusát közelítjük. Mágneses mező tesztek 1. Melyik esetben nem tapasztalunk vonzóerőt? a) A mágnesrúd északi pólusához vasdarabot közelítünk. b) A mágnesrúd közepéhez vasdarabot közelítünk. c) A mágnesrúd déli pólusához

Részletesebben

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény; Abszorpciós spektroszkópia

Tartalomjegyzék. Emlékeztetõ. Emlékeztetõ. Spektroszkópia. Fényelnyelés híg oldatokban A fény;  Abszorpciós spektroszkópia Tartalomjegyzék PÉCS TUDOMÁNYEGYETEM ÁLTALÁNOS ORVOSTUDOMÁNY KAR A fény; Abszorpciós spektroszkópia Elektromágneses hullám kölcsönhatása anyaggal; (Nyitrai Miklós; 2015 január 27.) Az abszorpció mérése;

Részletesebben

Spektrográf elvi felépítése. B: maszk. A: távcső. Ø maszk. Rés Itt lencse, de általában komplex tükörrendszer

Spektrográf elvi felépítése. B: maszk. A: távcső. Ø maszk. Rés Itt lencse, de általában komplex tükörrendszer Spektrográf elvi felépítése A: távcső Itt lencse, de általában komplex tükörrendszer Kis kromatikus aberráció fontos Leképezés a fókuszsíkban: sugarak itt metszik egymást B: maszk Fókuszsíkba kerül (kamera

Részletesebben

A kísérlet célkitűzései: A fénytani lencsék megismerése, tulajdonságainak kísérleti vizsgálata és felhasználási lehetőségeinek áttekintése.

A kísérlet célkitűzései: A fénytani lencsék megismerése, tulajdonságainak kísérleti vizsgálata és felhasználási lehetőségeinek áttekintése. A kísérlet célkitűzései: A fénytani lencsék megismerése, tulajdonságainak kísérleti vizsgálata és felhasználási lehetőségeinek áttekintése. Eszközszükséglet: Optika I. tanulói készlet főzőpohár, üvegkád,

Részletesebben

Mőködési elv alapján. Alkalmazás szerint. Folyadéktöltéső nyomásmérık Rugalmas alakváltozáson alapuló nyomásmérık. Manométerek Barométerek Vákuummérık

Mőködési elv alapján. Alkalmazás szerint. Folyadéktöltéső nyomásmérık Rugalmas alakváltozáson alapuló nyomásmérık. Manométerek Barométerek Vákuummérık Nyomásm smérés Nyomásm smérés Mőködési elv alapján Folyadéktöltéső nyomásmérık Rugalmas alakváltozáson alapuló nyomásmérık Alkalmazás szerint Manométerek Barométerek Vákuummérık Nyomásm smérés Mérési módszer

Részletesebben

Dr. Berta Miklós. Széchenyi István Egyetem. Dr. Berta Miklós: Gravitációs hullámok / 12

Dr. Berta Miklós. Széchenyi István Egyetem. Dr. Berta Miklós: Gravitációs hullámok / 12 Gravitációs hullámok Dr. Berta Miklós Széchenyi István Egyetem Fizika és Kémia Tanszék Dr. Berta Miklós: Gravitációs hullámok 2016. 4. 16 1 / 12 Mik is azok a gravitációs hullámok? Dr. Berta Miklós: Gravitációs

Részletesebben

Mézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19.

Mézerek és lézerek. Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. és lézerek Berta Miklós SZE, Fizika és Kémia Tsz. 2006. november 19. Fény és anyag kölcsönhatása 2 / 19 Fény és anyag kölcsönhatása Fény és anyag kölcsönhatása E 2 (1) (2) (3) E 1 (1) gerjesztés (2) spontán

Részletesebben

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása Nyomaték (x 0 Nm) O k t a t á si Hivatal A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása./ A mágnes-gyűrűket a feladatban meghatározott sorrendbe és helyre rögzítve az alábbi táblázatban feltüntetett

Részletesebben

Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel

Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel Urbán Péter Kun Éva Sós Dániel Ferenczi Tibor Szabó Máté Török Tamás Tartalom A Plasmatreater AS400 működési

Részletesebben

Tervezte és készítette Géczy László 1999-2002

Tervezte és készítette Géczy László 1999-2002 Tervezte és készítette Géczy László 1999-2002 ADATHORDOZÓ Különböző ADATHORDOZÓK LEMEZ hajlékonylemez MO lemez merevlemez CDROM, DVDROM lemez CDRAM, DVDRAM lemez ADATHORDOZÓ SZALAG Különböző ADATHORDOZÓK

Részletesebben

Audiofrekvenciás jel továbbítása optikai úton

Audiofrekvenciás jel továbbítása optikai úton Audiofrekvenciás jel továbbítása optikai úton Mechanikai rezgések. Hanghullámok. Elektromágneses rezgések. Rezgésnek nevezünk minden olyan állapotváltozást, amely időben valamilyen ismétlődést mutat. A

Részletesebben

Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév

Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév Óbudai Egyetem Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola Mikrohullámú abszorbensek vizsgálata 4. félév Balla Andrea Témavezetők: Dr. Klébert Szilvia, Dr. Károly Zoltán MTA Természettudományi Kutatóközpont

Részletesebben

N I. 02 B. Mágneses anyagvizsgálat G ép. 118 2011.11.30. A mérés dátuma: A mérés eszközei: A mérés menetének leírása:

N I. 02 B. Mágneses anyagvizsgálat G ép. 118 2011.11.30. A mérés dátuma: A mérés eszközei: A mérés menetének leírása: N I. 02 B A mérés eszközei: Számítógép Gerjesztésszabályzó toroid transzformátor Minták Mágneses anyagvizsgálat G ép. 118 A mérés menetének leírása: Beindítottuk a számtógépet, Behelyeztük a mintát a ferrotestbe.

Részletesebben

VILODENT-98. Mérnöki Szolgáltató Kft. feltöltődés

VILODENT-98. Mérnöki Szolgáltató Kft. feltöltődés Mérnöki Szolgáltató Kft. ELEKTROSZTATIKUS feltöltődés robbanás veszélyes térben ESC- ESD Dr. Fodor István EOS E M ESC C ESD ESC AKTÍV PASSZÍV Anyag Tűz- és Reprográfia Mechanikai szeparálás robbanásveszély

Részletesebben

Ábragyűjtemény levelező hallgatók számára

Ábragyűjtemény levelező hallgatók számára Ábragyűjtemény levelező hallgatók számára Ez a bemutató a tanszéki Fizika jegyzet kiegészítése Mechanika I. félév 1 Stabilitás Az úszás stabilitása indifferens a stabil, b labilis S súlypont Sf a kiszorított

Részletesebben

KUTATÁSI JELENTÉS. Multilaterációs radarrendszer kutatása. Szüllő Ádám

KUTATÁSI JELENTÉS. Multilaterációs radarrendszer kutatása. Szüllő Ádám KUTATÁSI JELENTÉS Multilaterációs radarrendszer kutatása Szüllő Ádám 212 Bevezetés A Mikrohullámú Távérzékelés Laboratórium jelenlegi K+F tevékenységei közül ezen jelentés a multilaterációs radarrendszerek

Részletesebben

7. Mágneses szuszceptibilitás mérése

7. Mágneses szuszceptibilitás mérése 7. Mágneses szuszceptibilitás mérése Klasszikus fizika laboratórium Mérési jegyzőkönyv Mérést végezte: Vitkóczi Fanni Mérés időpontja: 2012. 10. 25. I. A mérés célja: Egy mágneses térerősségmérő műszer

Részletesebben

HASZNÁLATI ÚTMUTATÓ Tolatóradarhoz

HASZNÁLATI ÚTMUTATÓ Tolatóradarhoz HASZNÁLATI ÚTMUTATÓ Tolatóradarhoz Tartalomjegyzék Beépítés és bekötési rajz Vázlatos bekötési ábrák Szenzorok beépítése A kijelző elhelyezése Központi egység telepítése Funkciók Riasztás A rendszer működése

Részletesebben

MÁGNESES TÉR, INDUKCIÓ

MÁGNESES TÉR, INDUKCIÓ Egy vezetéket 2 cm átmérőjű szigetelő testre 500 menettel tekercselünk fel, 25 cm hosszúságban. Mekkora térerősség lép fel a tekercs belsejében, ha a vezetékben 5 amperes áram folyik? Mekkora a mágneses

Részletesebben

A 2014/2015. tanévi Országos Középiskolai Tanulmányi Verseny döntő forduló FIZIKA II. KATEGÓRIA MEGOLDÁSI ÚTMUTATÓ

A 2014/2015. tanévi Országos Középiskolai Tanulmányi Verseny döntő forduló FIZIKA II. KATEGÓRIA MEGOLDÁSI ÚTMUTATÓ Oktatási Hivatal A 2014/2015. tanévi Országos Középiskolai Tanulmányi Verseny döntő forduló FIZIKA II. KATEGÓRIA MEGOLDÁSI ÚTMUTATÓ 1./ Bevezetés Ha egy rezgésre képes rugalmas testet például ütéssel rezgésbe

Részletesebben

Osztályozó vizsga anyagok. Fizika

Osztályozó vizsga anyagok. Fizika Osztályozó vizsga anyagok Fizika 9. osztály Kinematika Mozgás és kölcsönhatás Az egyenes vonalú egyenletes mozgás leírása A sebesség fogalma, egységei A sebesség iránya Vektormennyiség fogalma Az egyenes

Részletesebben

Mechanikai rezgések Ismétlő kérdések és feladatok Kérdések

Mechanikai rezgések Ismétlő kérdések és feladatok Kérdések Mechanikai rezgések Ismétlő kérdések és feladatok Kérdések 1. Melyek a rezgőmozgást jellemző fizikai mennyiségek?. Egy rezgés során mely helyzetekben maximális a sebesség, és mikor a gyorsulás? 3. Milyen

Részletesebben

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz A fotonok az elektromágneses sugárzás hordozó részecskéi. Spinkvantumszámuk S=, tehát kvantumstatisztikai szempontból bozonok. Fotonoknak habár a spinkvantumszámuk,

Részletesebben

GEOMETRIAI OPTIKA I.

GEOMETRIAI OPTIKA I. Elméleti háttér GEOMETRIAI OPTIKA I. Törésmutató meghatározása a törési törvény alapján Snellius-Descartes törvény Az új közeg határához érkező fény egy része behatol az új közegbe, és eközben általában

Részletesebben

ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA

ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA 1 ATOMI ERŐMIKROSZKÓPIA Szabó Bálint ELTE TTK, Biológiai Fizika Tanszék A MÉRÉS TEMATIKÁJA Az atomi erőmikroszkóp (AFM) a nanotechnológia egyik legfontosabb vizsgálati és manipulációs

Részletesebben

Folyadékok és gázok mechanikája

Folyadékok és gázok mechanikája Folyadékok és gázok mechanikája Hidrosztatikai nyomás A folyadékok és gázok közös tulajdonsága, hogy alakjukat szabadon változtatják. Hidrosztatika: nyugvó folyadékok mechanikája Nyomás: Egy pontban a

Részletesebben

Elektromos áram. Vezetési jelenségek

Elektromos áram. Vezetési jelenségek Elektromos áram. Vezetési jelenségek Emlékeztető Elektromos áram: töltéshordozók egyirányú áramlása Áramkör részei: áramforrás, vezető, fogyasztó Áramköri jelek Emlékeztető Elektromos áram hatásai: Kémiai

Részletesebben

Atomok és molekulák elektronszerkezete

Atomok és molekulák elektronszerkezete Atomok és molekulák elektronszerkezete Szabad atomok és molekulák Schrödinger egyenlete Tekintsünk egy kvantummechanikai rendszert amely N n magból és N e elektronból áll. Koordinátáikat jelölje rendre

Részletesebben

72-74. Képernyő. monitor

72-74. Képernyő. monitor 72-74 Képernyő monitor Monitorok. A monitorok szöveg és grafika megjelenítésére alkalmas kimeneti (output) eszközök. A képet képpontok (pixel) alkotják. Általános jellemzők (LCD) Képátló Képarány Felbontás

Részletesebben

Piri Dávid. Mérőállomás célkövető üzemmódjának pontossági vizsgálata

Piri Dávid. Mérőállomás célkövető üzemmódjának pontossági vizsgálata Piri Dávid Mérőállomás célkövető üzemmódjának pontossági vizsgálata Feladat ismertetése Mozgásvizsgálat robot mérőállomásokkal Automatikus irányzás Célkövetés Pozíció folyamatos rögzítése Célkövető üzemmód

Részletesebben

Szupravezető alapjelenségek

Szupravezető alapjelenségek Szupravezető alapjelenségek A méréseket összeállította és az útmutatót írta: Balázs Zoltán 1. Meissner effektus bemutatása: Mérési összeállítás: 1. A csipesszel helyezze a polisztirol hab csészébe a szupravezető

Részletesebben

Felhasználói kézikönyv

Felhasználói kézikönyv Felhasználói kézikönyv 63B Digitális Rezgésmérő TARTALOMJEGYZÉK 1. Bevezetés... 2 2. Használat előtti ellenőrzés... 2 3. Funkciók... 2 4. Előlap és kezelőszervek... 3 5. LCD Képernyő... 3 6. Műszaki jellemzők...

Részletesebben