Őrlés. Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM)

Méret: px
Mutatás kezdődik a ... oldaltól:

Download "Őrlés. Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM)"

Átírás

1 Őrlés A mechanikai őrlés egy hatékony, gazdaságos és széleskörűen vizsgált módszer. A mechanikai őrlés egyik előnyös jellemzője, hogy egyszerű az átjárhatóság a laboratóriumi módszerek és a nagyságrendekkel nagyobb mennyiségekkel operáló ipari technológiák között. A különféle golyósmalmok különbözőek lehetnek működési elvükben, anyagukban, jellemző méretükben. A legelterjedtebb a hagyományos golyósmalom, a vibrációs malom, a bolygó malom és az attritor malom. 1.ábra. Az őrlésre használt attritor malom. A nanokompozit porkeverékeket nagy hatékonyságú, attritor malommal készítettük (1. ábra). Ennél egy álló tartályba kerül az őrlendő anyag (különböző adalékokkal) az őrlő golyókkal. Ebbe merül bele a tárcsákkal felszerelt forgó rúd, ami nagy sebességgel (néhány száztól akár több ezer fordulat/percig) megkeveri az anyagot. A mozgó golyók egymással, az őrlendő anyaggal és a tartály falával való kölcsönhatása hatékony keverést és őrlést biztosít. Az őrlés nagy energiájú attritor malomban történt (Union Process ami a 750 ml alumíniumoxid vagy rozsdamentes acéltartályba merülő cirkónium tárcsákkal és őrlőgolyókkal (vagy rozsdamentes acéltárcsákkal és őrlőgolyókkal) volt felszerelve. Az őrlés 600 és 4000 fordulat/perc fordulatszámokon különböző ideig (1, 3h) zajlott. Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) A másodlagos elektronok és a visszaszórt elektronok a pásztázó elektronmikroszkópiában (Scanning Electron Microscopy, SEM) használhatók képalkotásra. A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) (2. ábra) esetében egy igen vékony, mágneses lencsékkel fókuszált elektronnyalábbal pásztázzuk végig a vizsgálandó anyag felületét, és a visszaverődött jeleket detektorokkal gyűjtjük össze. A detektorba jutó elektronok számával arányos intenzitású képet pásztázással jelenítjük meg egy képernyőn. A SEM vákuumban működik, így egyrészt megakadályozható a minta szennyeződése, másrészt az elektronsugár sem ütközik akadályokba. A jó minőségű képhez lényeges a lencsehibák csökkentése, és a külső (elektromágneses, mechanikai) zavarok kiküszöbölése. Vizsgálatainkhoz LEO 1540 XB típusú berendezést használtunk.

2 2. ábra. SEM mikroszkóp. Röntgen diffraktométer (XRD) A röntgen diffrakciós (X-ray Diffraction, XRD) vizsgálat (3. ábra) alapja, hogy a röntgen sugarat azaz egy elektromágneses sugárzást szóratunk kristályos anyagon, és a szórt sugárzás detektálásával nyerhetünk információt a kristályszerkezetről. A röntgensugárzás elhajlásával (diffrakciójával) kapott intenzitásmaximumok térbeli helyzetéből és relatív erősségéből meghatározhatjuk ismeretlen anyagok kristályszerkezetét. Kinematikus közelítést alkalmazva (csak rugalmas, egyszeres szórás, direkt nem gyengül, síkhullámok) a Bragg-egyenlet írja le, hogy a besugárzási irányhoz (k 0 ) képest milyen 2θ szögben kapjuk a szórt sugárzás intenzitás maximumait (a kristály atomjairól visszaverődő hullám interferenciájának következtében, 4a. ábra): nλ = 2d sin(θ), ahol n egész szám (a gyakorlatban értéke 1), λ a röntgensugárzás hullámhossza (L K átmenetnek megfelelő CuKα-nak: λ = Å), d a rácssíktávolság, és θ a Bragg-szög. Amikor por mintánk van, ami nagyszámú, véletlenszerűen elhelyezkedő krisztallitból áll, akkor a minta körül megmérjük a szórt sugárzás intenzitás eloszlását a 2θ függvényében (pordiffrakció). Forgás közben a detektor begyűjti a különböző 2θ szögekben szórt röntgenfotonokat, miközben a mérés során a mintára eső és a szórt nyalábnak a minta felületével bezárt szöge mindvégig egyenlő marad (szimmetrikus sugármenet). Mivel a polikristályos minta esetén a kristályszemcsék véletlenszerű irányítása miatt minden lehetséges rácssík előfordul, ezért a kristályszerkezetnek megfelelő összes reflexió megjelenik a pordiffraktogramon. A kristályrácsot jellemző d hkl rácssík távolságoknak megfelelő 2θ szögeknél kapjuk az intenzitás-maximumokat. A polikristályos minták krisztallitjainak karakterisztikus mérete kiszámítható a Scherrer egyenlettel: L C = kλ / (βcos(θ)), ahol k a részecskealakra jellemző állandó ( k = 0,89), λ a röntgen hullámhossza (CuKα-nak λ = Å), β a csúcs félértékszélessége (FWHM) radiánban és θ a Bragg-szög.

3 a) b) 3. ábra. Röntgen diffraktométer. a) működési elve, b) Bruker AXS D8 típusú berendezés. Spark Plasma Sintering (SPS); Szikrakisüléses szinterelés A szikrakisüléses szinterelés egy viszonylag új, az utóbbi egy-két évtizedben kifejlesztett pormetallurgiai eljárás, amely tömbi testek előállítását teszi lehetővé a szervetlen anyagok kis szemcseméretű porából kiindulva. Az eljárás fő előnye a rövid mindössze néhány perces szinterelési idő, az alacsonyabb szinterelési hőmérséklet, valamint a szintelerés során a mikroszerkezetben bekövetkező minimális mértékű szemcsenövekedés. A zsugorítási eljárás során a formára tömörített poron keresztül szaggatott nagy egyenáramot (1-2 ka) engedünk át, miközben egyidejűleg tengelyirányú mechanikai nyomást is kifejtünk. A szinterelés vákuumozott vagy atmoszférikus nyomású áramló Ar ill. N 2 gázzal telített zárt térben zajlik. Míg a hagyományos szinterelési technikák során a mintát kívülről hevítjük, addig az SPS-nél a hő a porkeverékben képződik. A képződő Joule hő nagysebességű akár több 100 C min -1 hevítést eredményez, amely segít elkerülni az alacsony hőmérsékletű régióban domináló és szemcsenövekedést okozó felületi diffúziót. A szinterelődésért így főként a magasabb hőmérsékleten végbemenő tömbi diffúzió a felelős. A szaggatott elektromos áram a szemcsék felületének aktiválásán keresztül hozzájárul a porok gyors szinterelhetőségéhez. A szemcsék közt kialakuló kisülések pedig a szemcsehatárokon előforduló szennyeződést gátolják. Az eljárás során a műszer kiépítése lehetővé teszi a minta felületi hőmérsékletének közvetlen mérését, valamint a hőmérséklet és préserő reprodukálható programvezetését az idő függvényében mind a felfűtés, mind a hűtés során. 6.1.ábra: Az SPS elvi összeállítása Az SPS működési elvének lényegét a 6.1. ábra mutatja. A szinterelendő port egy hengeres grafitszerszámba helyezzük, amibe alulról egy ugyancsak hengeres grafitdugattyút helyezünk, majd a por behelyezése után felülről egy másik grafitdugattyúval zárunk le. A grafitszerszámot a szinterelőkamrában két elektróda közé helyezzük, majd a

4 kamrában vákuumot hozunk létre. A hőkezelés során a grafitdugattyúk előre meghatározott nyomással préselik össze az apró szemcséket. A hőmérséklet növelését a grafitdugattyúkkal érintkező elektródákon átfolyó szaggatott egyenáram biztosítja. A hőmérsékletet a grafitelektródában elhelyezett termoelemmel mértük. Az anyag zsugorodását szinterelés során folyamatos figyelemmel követhetjük az elektródák elmozdulásából ábra: Az SPS berendezés fényképe zárt, illetve nyitott kamrával. Transzmissziós elektronmikroszkópia (TEM) A transzmissziós elektronmikroszkóp vékony (néhányszor 10 nm) minták átvilágításával vizsgálja az anyag szerkezetét (és hozzá kapcsolódó analitikai feltétek, pl. EELS, EDS, segítségével az atomi összetételt is). Működése hasonló az optikai mikroszkópokéhoz, csak sokkal kisebb hullámhosszú (λ=0,00251 nm) elektron-hullámot használ fény helyett a leképezéshez. A készülék teljesítőképességét meghatározó alkatrész az objektív lencse, amelynek képsíkjában nagyított kép, fókuszsíkjában pedig az atomok térbeli elrendeződéséről információt adó diffrakciós ábra jelenik meg. Ezeket további vetítő lencsékkel választjuk ki, illetve nagyítjuk tovább. A mérésekhez két TEM-et használtunk: Philips CM-20, 200 kv-on üzemelő mikroszkóp, röntgen analizátorral (EDS) felszerelve, illetve JEOL 3010, 300 kv-on üzemeltetett TEM, GATAN GIF energiaszűrővel felszerelve. Ez utóbbinak kétféle üzemmódja van: elektron energiaveszteségi spektrométerként (EELS) illetve energia szűrőként is használhatjuk. Az energia szűrt TEM (EFTEM) a kémiai elemek térbeli eloszlásának térképezésére (is) alkalmas, 2 nm térbeli felbontással. Képi üzemmódban a JEOL 3010 térbeli felbontása 0,17 nm. A hagyományos világos látóterű (BF) és sötét látóterű (DF) TEM képek a határolt területű elektron diffrakcióból (SAED) nyert információval kiegészítve alkalmasak az egyes kristályos fázisok azonosítására, illetve térbeli elhelyezkedésük lefényképezésére. A köztük elhelyezkedő amorf fázisok is azonosíthatók a felvételeken.

5 6.3 ábra: a/ CM-20 TEM; b/ JEOL 3010 TEM Tömbi mintákból ionsugaras vékonyítással készítünk a TEM vizsgálatra alkalmas vékony mintát (lamellát). Ennek során a tömbből kivágott kb. 1mm*0,5mm darabot 50µm vastag plánparalell lemezzé csiszoljuk mechanikus csiszoló és polírozó berendezésben. Az így polírozott felszínű mintadarabot súrlódó szög alatt beeső Ar + -ionokkal bombázzuk minkét oldalról (a minta forgatása mellett). Így az előre kijelölt helyen kilyukadó mintában a lyuk pereme mentén körkörösen olyan lapos ék alakban lassan vastagodó tartomány áll elő, ami alkalmas a TEM vizsgálatra. A porózus mintáknál szükség volt a vékonyítás előtt a mintát polimerizálódó műgyantával átitatni, hogy a pórusok kitöltésével megakadályozzuk az elvékonyítás során a minta szétesését. 6.4 ábra: Nyitott ionsugaras vékonyító fényképe (IV-4 típus, gyártó: Technoorg Linda). A forgatható tartó két oldalán a két ionágyú látható. Sűrűségmérés A sűrűségmérésre az Archimedes-i módszert használtuk. Annak függvényében, hogy a próbatest porozitása milyen mértékű, kétféle eljárást alkalmazunk. 1. kis porozitású (nyílt pórusokat nem tartalmazó) minták esetében a méréskor a mintát egy vékony nikkel drótra helyezzük és felületaktív anyagot tartalmazó desztillált vízbe merítve mérjük a sűrűséget. Ezt követően a mérést megismételjük. Ha a mérendő mintadarab valóban nem tartalmaz nyílt pórusokat, a két érték megegyezik. 2. porózus minták esetében a mérés menete három lépésből tevődik össze. Először szárazon megmérjük a minta tömegét. Második lépésben a mintákat órás áztatásnak vetjük alá, a fentebb említett folyadékban, annak érdekében, hogy pórusaik kellőképp telítődjenek folyadékkal. Ekkor ismét folyadékba mártva, megmérjük a sűrűségüket. A harmadik lépésben a próbatestek mérése előtt felületükről felitatásra kerül a folyadék. Az így kapott sűrűségérték értelemszerűen kisebb lesz, mint az előzőleg mért értékek, így érdemes elkülöníteni a valódi és látszólagos sűrűség értékeket.

6 Keménység mérés Az egyik legelterjedtebb anyagvizsgálati módszer, melynek segítségével a számszerűsíthető anyagtulajdonság szoros kapcsolatban áll számos, a felhasználás szempontjából fontos anyagjellemzővel. A mérés kis térfogatú anyagon is elvégezhető, egyszerű és gyors, ugyanakkor minimális előkészítési munkálatot igényel. a) b) 4. ábra. Keménységmérés. a) Vickers keménységmérő, b) a próbatest és a létrejött repedés geometriája a mért geometriai jellemzők. Az alumínium alapú kompozitok esetében mikro-vickers eljárást alkalmaztuk az anyag keménységének a meghatározására. A módszer elve ugyanaz, mint a Vickers keménységmérés, eltérés csak az alkalmazott terhelőerők nagyságában van, mely esetünkben jellemzően 1-5 N közé esik. A mérés első lépéseként Vickers lenyomatot készítünk a minta két, egymással párhuzamos felületének egyikén. A terhelés hatására a gúla alakú lenyomat sarkaiból repedések indulnak ki, melyek hosszaival együtt lemérjük a lenyomat geometriai jellemzőit: d 1 és d 2 lenyomatátlók, 2 c1 és 2 c2 teljes repedéshosszak. Terheléskor a Vickers lenyomat sarkaiban egy ún. egyensúlyi repedéshossz alakul ki, mely az adott anyagra jellemző érték és amelynek nagyságát az anyag mikroszerkezete mellett befolyásolhatja a lenyomat készítés előtti feszültségállapot; illetve a minta felületi megmunkáltsága is. A repedéshossz mérés pontossága a mérés során alkalmazott berendezéstől és a mérési eljárástól függ, ami legtöbbször optikai vagy pásztázó elektronmikroszkóp alkalmazásával történik. Három pontos törés teszt A hajlítószilárdság, a törést okozó maximális hajlítófeszültség. A fémekkel ellentétben, kerámiák esetében a szilárdság jellemzésére a hajlítószilárdság különböző értékeit használják, aminek oka, hogy a kerámiák esetében elsősorban a nagy nyomószilárdságot, illetve keménységet szokták kihasználni. A vizsgálatot megelőzően a próbatestek felületét gyémánt köszörűkorongon simára csiszoljuk. A megmunkálás a felületi hibák megszüntetését célozza, amelyek döntő módon befolyásolnák a mért hajlítószilárdság értékét. A felületi hibák kiküszöbölése lehetővé teszi, hogy az anyagokra jellemző tulajdonságokat mérjük, ezáltal összehasonlíthatóvá válnak a különböző próbatesteken mért hajlítószilárdsági értékek. Ennek a gyakorlati megvalósításához a csiszolással kisebb, mint 5 μm-es felületi érdességet kell elérni. A hárompontos hajlítószilárdság vizsgálatakor a 3. ábrán látható módon a próbatesteket két ponton alátámasztjuk, míg felülről egy pontban alkalmazzuk a terhelést. A 7a. ábrán feltüntetett geometriai jellemzők az ENV 843-6:200x hajlítószilárdságra vonatkozó szabvány szerint előírt méretek. A három illetve négypontos hajlítószilárdság mérések esetében a mért értékek közötti különbséget a mechanikai feszültségnek a próbatest mentén történő eloszlása adja, amely a 3b. ábra szerint alakul. A hajlítószilárdság fenti módszerekkel történő meghatározása egyszerű és költséghatékony módszer, ugyanakkor figyelembe kell venni a mérethatás okozta különbségeket. Ennek következtében egy nagyobb próbatest esetében a

7 hajlítószilárdság kisebb lehet a fenti módszerekkel mért jellemző értéknél, abból az egyszerű tényből kifolyólag, hogy a nagyobb mintákban nagyobb valószínűséggel vannak jelen véletlenszerű hibák (repedések) az anyagban, amik lényegesen csökkentik a hajlítószilárdság értékét. a) b) 3. ábra. Hárompontos hajlítószilárdság mérés. a) elrendezés vázlatos ábrázolása, b) mechanikai feszültségnek a próbatest mentén történő eloszlása. A hajlítószilárdság kiszámítása, a már korábban említett ENV 843-6: 200x szabványban feltűntetett képlet alapján történik ahol: F max : a mért maximális erő, L S a támaszköz, W a próbatest szélessége, B a próbatest vastagsága. Tribológiai mérés: ball-on-disk (kopás, súrlódási együttható) A mesterséges koptatás méréséhez ball-on disk elrendezésű tribométert használtunk. Méréseinket egy korszerű CSM Instruments gyártmányú tribométeren végeztük, amely automatizáltan képes végrehajtani nagyon hosszú koptatási feladatokat is. A vizsgálandó mintadarabot egy forgatható tárcsára erősítjük és meghatározott nagyságú merőleges erővel kerámia golyót nyomunk a felületére. Így ismerve a geometriai paramétereket és a merőlegesen ható erő nagyságát kiszámíthatjuk az ún. kopási rátát, azaz az egységnyi erő hatására elkoptatott anyagmennyiséget egy adott koptatási ciklus után. CSM típusú tribométer

8 Többféle vizsgálati paraméter különböző terhelőerő, és csúszási sebesség alkalmazásával az alábbi tribológiai jellemzőket határoztam meg: - súrlódási együttható; - kikopott térfogat a mintadarabon és az ellentesten, ebből kopási tényező; - a keletkezett kopásnyomok morfológiája; - a károsodási folyamatot kontrolláló kopási mechanizmus. A ball-on-disc kopásvizsgálat sematikus ábrája A golyó és a tárcsa érintkezési felülete A vizsgálat során egy golyót (ellentestet) egy definiált FN nagyságú normálerővel a forgó mintadarab (alaptest) sík felületéhez szorítunk úgy, hogy a vizsgálat elején pontszerű érintkezési kapcsolat jöjjön létre. A pontszer érintkezési felület a kopás mértékének növekedésével egyre növekvő felületté tágul. A vizsgálat során a rögzített tengelyű golyó a korongon csúszik és így idéz elő kopást, míg a korongot egy motor segítségével különböző sebességgel forgatjuk. A próbatestek vizsgálatához egy olyan zárt rendszert (fülke) kell biztosítani, amelyben a környezet paraméterei különös tekintettel a relatív páratartalomra szabályozhatók. A golyót úgy kell rögzíteni, hogy kizárható legyen bármilyen másfajta forgó mozgás, pl. gördülés, tehát tiszta súrlódás valósuljon meg a golyó és a sík felület között. A vizsgálat során választható paraméterek: - az alkalmazott terhelőerő, - az ellentest, azaz a golyó anyagminősége, átmérője; - csúszási úthossz; - a vizsgálati hőmérséklet ( C). A koptatást követően mérhető/elemezhető paraméterek és azok eszközei: - a súrlódási együttható értékének alakulása a vizsgálat során - a mintadarabból kikopott anyag tömege - az ellentestként szolgáló golyó kopása - a kopásnyom és a kikopott térfogat meghatározása Minden kopásvizsgálat során figyelembe kell venni a környezeti paramétereket, így a hőmérsékletet, illetve a jelenlévő levegő páratartalmát, amelyek rögzítése rendkívül fontos, ugyanis változásuk jelentős mértékben módosíthatja a mért kopási jellemzőket.

DOKTORI ÉRTEKEZÉS NANOSZERKEZETŰ KERÁMIA KOMPOZITOK ALKALMAZÁS KÖZPONTÚ ELŐÁLLÍTÁSA ÉS VIZSGÁLATA BALÁZSI CSABA. MTA Természettudományi Kutatóközpont

DOKTORI ÉRTEKEZÉS NANOSZERKEZETŰ KERÁMIA KOMPOZITOK ALKALMAZÁS KÖZPONTÚ ELŐÁLLÍTÁSA ÉS VIZSGÁLATA BALÁZSI CSABA. MTA Természettudományi Kutatóközpont DOKTORI ÉRTEKEZÉS NANOSZERKEZETŰ KERÁMIA KOMPOZITOK ALKALMAZÁS KÖZPONTÚ ELŐÁLLÍTÁSA ÉS VIZSGÁLATA BALÁZSI CSABA MTA Természettudományi Kutatóközpont Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet BUDAPEST 2013

Részletesebben

A vizsgált anyag ellenállása az adott geometriájú szúrószerszám behatolásával szemben, Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika

A vizsgált anyag ellenállása az adott geometriájú szúrószerszám behatolásával szemben, Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika Dunaújvárosi Főiskola Anyagtudományi és Gépészeti Intézet Mérnöki alapismeretek és biztonságtechnika Mechanikai anyagvizsgálat 2. Dr. Palotás Béla palotasb@mail.duf.hu Készült: Dr. Krállics György (BME,

Részletesebben

A technológiai paraméterek hatása az Al 2 O 3 kerámiák mikrostruktúrájára és hajlítószilárdságára

A technológiai paraméterek hatása az Al 2 O 3 kerámiák mikrostruktúrájára és hajlítószilárdságára Bevezetés A technológiai paraméterek hatása az Al 2 O 3 kerámiák mikrostruktúrájára és hajlítószilárdságára Csányi Judit 1, Dr. Gömze A. László 2 1 doktorandusz, 2 tanszékvezető egyetemi docens Miskolci

Részletesebben

A nanotechnológia mikroszkópja

A nanotechnológia mikroszkópja 1 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június 1. FEI Quanta 3D SEM/FIB 2 Havancsák Károly, ELTE Fizikai Intézet A nanotechnológia mikroszkópja EGIS 2011. június

Részletesebben

Pattex CF 850. Műszaki tájékoztató

Pattex CF 850. Műszaki tájékoztató BETON / TÖMÖR KŐ HASZNÁLAT FELHASZNÁLÁSI ÚTMUTATÓ 1. ALKALMAZÁSI TERÜLETEK ALAP ANYAGA: beton, tömör kő Nehéz terhet hordozó elemek rögzítése tömör kőben, betonban, porózus betonban és könnyű betonban.

Részletesebben

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei Dr. Czinege Imre, Kozma István Széchenyi István Egyetem 6. ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA Cegléd, 2012. június 7-8. Tartalom A CT technika

Részletesebben

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása

A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása Nyomaték (x 0 Nm) O k t a t á si Hivatal A II. kategória Fizika OKTV mérési feladatainak megoldása./ A mágnes-gyűrűket a feladatban meghatározott sorrendbe és helyre rögzítve az alábbi táblázatban feltüntetett

Részletesebben

Mit nevezünk nehézségi erőnek?

Mit nevezünk nehézségi erőnek? Mit nevezünk nehézségi erőnek? Azt az erőt, amelynek hatására a szabadon eső testek g (gravitációs) gyorsulással esnek a vonzó test centruma felé, nevezzük nehézségi erőnek. F neh = m g Mi a súly? Azt

Részletesebben

Polimerek fizikai, mechanikai, termikus tulajdonságai

Polimerek fizikai, mechanikai, termikus tulajdonságai SZÉCHENYI ISTVÁN EGYETEM ANYAGISMERETI ÉS JÁRMŰGYÁRTÁSI TANSZÉK POLIMERTECHNIKA NGB_AJ050_1 Polimerek fizikai, mechanikai, termikus tulajdonságai DR Hargitai Hajnalka 2011.10.05. BURGERS FÉLE NÉGYPARAMÉTERES

Részletesebben

1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió

1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió 1.1 Emisszió, reflexió, transzmisszió A hőkamera által észlelt hosszú hullámú sugárzás - amit a hőkamera a látómezejében érzékel - a felület emissziójának, reflexiójának és transzmissziójának függvénye.

Részletesebben

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope)

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM scanning electronmicroscope) Laborgykorlat Thiele Ádám Az EM és az OM összehasonlítása Az elektronmikroszkóp (EM) működési elve azonos az optikai mikroszkópéval (OM). Az

Részletesebben

FEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december

FEI Quanta 3D SEM/FIB. Havancsák Károly 2010. december 1 Havancsák Károly 2010. december 2 Időrend A helyiség kialakítás tervezése 2010. május Mágneses tér, vibráció mérése 2010. május A helyiség kialakítása 2010. augusztus 4 22. A berendezés szállítása 2010.

Részletesebben

Modern fizika laboratórium

Modern fizika laboratórium Modern fizika laboratórium Röntgen-fluoreszcencia analízis Készítette: Básti József és Hagymási Imre 1. Bevezetés A röntgen-fluoreszcencia analízis (RFA) egy roncsolásmentes anyagvizsgálati módszer. Rövid

Részletesebben

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés.

Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. Sugárzáson, és infravörös sugárzáson alapuló hőmérséklet mérés. A sugárzáson alapuló hőmérsékletmérés (termográfia),azt a fizikai jelenséget használja fel, hogy az abszolút nulla K hőmérséklet (273,16

Részletesebben

Méréstechnika. Hőmérséklet mérése

Méréstechnika. Hőmérséklet mérése Méréstechnika Hőmérséklet mérése Hőmérséklet: A hőmérséklet a termikus kölcsönhatáshoz tartozó állapotjelző. A hőmérséklet azt jelzi, hogy egy test hőtartalma milyen szintű. Amennyiben két eltérő hőmérsékletű

Részletesebben

Lézer hónolt felületek vizsgálata

Lézer hónolt felületek vizsgálata Lézer hónolt felületek vizsgálata Dr. Czinege Imre, Csizmazia Ferencné Dr., Dr. Solecki Levente Széchenyi István Egyetem ANYAGVIZSGÁLAT A GYAKORLATBAN KONFERENCIA 2008. Június 4-5. Áttekintés A lézer hónolás

Részletesebben

DICHTOMATIK. Beépítési tér és konstrukciós javaslatok. Statikus tömítés

DICHTOMATIK. Beépítési tér és konstrukciós javaslatok. Statikus tömítés Beépítési tér és konstrukciós javaslatok Az O-gyűrűk beépítési terét (hornyot) lehetőség szerint merőlegesen beszúrva kell kialakítani. A szükséges horonymélység és horonyszélesség méretei a mindenkori

Részletesebben

Anyagismeret és anyagvizsgálat. Kovács Attila kovacs.attila@nyf.hu

Anyagismeret és anyagvizsgálat. Kovács Attila kovacs.attila@nyf.hu Anyagismeret és anyagvizsgálat Kovács Attila kovacs.attila@nyf.hu Mit nevezünk anyagvizsgálatnak? "Az ipar és a technika fejlődése megkívánja, hogy a gyártási folyamatok során felhasznált anyagokról minél

Részletesebben

Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09.

Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09. Gyors prototípus gyártás (Rapid Prototyping, RPT) 2009.11.09. Konkurens (szimultán) tervezés: Alapötlet Részletterv Vázlat Prototípus Előzetes prototípus Bevizsgálás A prototípus készítés indoka: - formai

Részletesebben

INFRA HŐMÉRŐ (PIROMÉTER) AX-6520. Használati útmutató

INFRA HŐMÉRŐ (PIROMÉTER) AX-6520. Használati útmutató INFRA HŐMÉRŐ (PIROMÉTER) AX-6520 Használati útmutató TARTALOMJEGYZÉK 1. Biztonsági szabályok... 3 2. Megjegyzések... 3 3. A mérőműszer leírása... 3 4. LCD kijelző leírása... 4 5. Mérési mód...4 6. A pirométer

Részletesebben

Ultrahangos anyagvizsgálati módszerek atomerőművekben

Ultrahangos anyagvizsgálati módszerek atomerőművekben Ultrahangos anyagvizsgálati módszerek atomerőművekben Hangfrekvencia 20 000 000 Hz 20 MHz 2 000 000 Hz 20 000 Hz 20 Hz anyagvizsgálatok esetén használt UH ultrahang hallható hang infrahang 2 MHz 20 khz

Részletesebben

2.9.1. TABLETTÁK ÉS KAPSZULÁK SZÉTESÉSE

2.9.1. TABLETTÁK ÉS KAPSZULÁK SZÉTESÉSE 2.9.1 Tabletták és kapszulák szétesése Ph.Hg.VIII. Ph.Eur.6.3-1 01/2009:20901 2.9.1. TABLETTÁK ÉS KAPSZULÁK SZÉTESÉSE A szétesésvizsgálattal azt határozzuk meg, hogy az alábbiakban leírt kísérleti körülmények

Részletesebben

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro

----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------2.beugro -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------3.beugró

Részletesebben

A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR

A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR A PLAZMASUGARAS ÉS VÍZSUGARAS TECHNOLÓGIA VIZSGÁLATA SZERKEZETI ACÉL VÁGÁSAKOR Készítette: TÓTH ESZTER A5W9CK Műszaki menedzser BSc. TUDOMÁNYOS DIÁKKÖRI DOLGOZAT CÉLJA Plazmasugaras és vízsugaras technológia

Részletesebben

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása

Műszeres analitika. Abrankó László. Molekulaspektroszkópia. Kémiai élelmiszervizsgálati módszerek csoportosítása Abrankó László Műszeres analitika Molekulaspektroszkópia Minőségi elemzés Kvalitatív Cél: Meghatározni, hogy egy adott mintában jelen vannak-e bizonyos ismert komponensek. Vagy ismeretlen komponensek azonosítása

Részletesebben

Anyagismeret I. Nyomó, hajlító vizsgálat Keménységmérés. Összeállította: Csizmazia Ferencné dr.

Anyagismeret I. Nyomó, hajlító vizsgálat Keménységmérés. Összeállította: Csizmazia Ferencné dr. Anyagismeret I. Nyomó, hajlító vizsgálat Keménységmérés Összeállította: Csizmazia Ferencné dr. Mechanikai tulajdonságok Statikus igénybevétel Nyomó igénybevétellel szembeni ellenállásának meghatározása

Részletesebben

Lövedékálló védőmellényekben alkalmazott ballisztikai kerámia azonosítása az atomsíkok közti rácssíktávolságok alapján

Lövedékálló védőmellényekben alkalmazott ballisztikai kerámia azonosítása az atomsíkok közti rácssíktávolságok alapján Lövedékálló védőmellényekben alkalmazott ballisztikai kerámia azonosítása az atomsíkok közti rácssíktávolságok alapján Eur.Ing. Frank György c. docens SzVMSzK mérnök szakértő (B5, B6) Személy-, Vagyonvédelmi

Részletesebben

9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK

9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK 9. Laboratóriumi gyakorlat NYOMÁSÉRZÉKELŐK 1.A gyakorlat célja Az MPX12DP piezorezisztiv differenciális nyomásérzékelő tanulmányozása. A nyomás feszültség p=f(u) karakterisztika megrajzolása. 2. Elméleti

Részletesebben

VASOXID TARTALMU BOROSZILIKÁT ÜVEGEK VIZSGÁLATA

VASOXID TARTALMU BOROSZILIKÁT ÜVEGEK VIZSGÁLATA VASOXID TARTALMU BOROSZILIKÁT ÜVEGEK VIZSGÁLATA Bevezetés Az aluminoboroszilikát üvegeknek összetételüktől függően számos felhasználásuk van. Szenzorokat, kórházi eszközöket, laboratóriumi felszereléseket,

Részletesebben

Mérés és adatgyűjtés

Mérés és adatgyűjtés Mérés és adatgyűjtés 7. óra Mingesz Róbert Szegedi Tudományegyetem 2013. április 11. MA - 7. óra Verzió: 2.2 Utolsó frissítés: 2013. április 10. 1/37 Tartalom I 1 Szenzorok 2 Hőmérséklet mérése 3 Fény

Részletesebben

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic

E (total) = E (translational) + E (rotation) + E (vibration) + E (electronic) + E (electronic Abszorpciós spektroszkópia Abszorpciós spektrofotometria 29.2.2. Az abszorpciós spektroszkópia a fényabszorpció jelenségét használja fel híg oldatok minőségi és mennyiségi vizsgálatára. Abszorpció Az elektromágneses

Részletesebben

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz

Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz Alkalmazás a makrókanónikus sokaságra: A fotongáz A fotonok az elektromágneses sugárzás hordozó részecskéi. Spinkvantumszámuk S=, tehát kvantumstatisztikai szempontból bozonok. Fotonoknak habár a spinkvantumszámuk,

Részletesebben

41. ábra A NaCl rács elemi cellája

41. ábra A NaCl rács elemi cellája 41. ábra A NaCl rács elemi cellája Mindkét rácsra jellemző, hogy egy tetszés szerint kiválasztott pozitív vagy negatív töltésű iont ellentétes töltésű ionok vesznek körül. Különbség a közvetlen szomszédok

Részletesebben

11. Egy Y alakú gumikötél egyik ága 20 cm, másik ága 50 cm. A két ág végeit azonos, f = 4 Hz

11. Egy Y alakú gumikötél egyik ága 20 cm, másik ága 50 cm. A két ág végeit azonos, f = 4 Hz Hullámok tesztek 1. Melyik állítás nem igaz a mechanikai hullámok körében? a) Transzverzális hullám esetén a részecskék rezgésének iránya merőleges a hullámterjedés irányára. b) Csak a transzverzális hullám

Részletesebben

7.3. Plazmasugaras megmunkálások

7.3. Plazmasugaras megmunkálások 7.3. Plazmasugaras megmunkálások (Plasma Beam Machining, PBM) Plazma: - nagy energiaállapotú gáz - az anyag negyedik halmazállapota - ionok és elektronok halmaza - egyenáramú ív segítségével állítják elő

Részletesebben

Új típusú anyagok (az autóiparban) és ezek vizsgálati lehetőségei (az MFA-ban)

Új típusú anyagok (az autóiparban) és ezek vizsgálati lehetőségei (az MFA-ban) Új típusú anyagok (az autóiparban) és ezek vizsgálati lehetőségei (az MFA-ban) Menyhárd Miklós Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutató Intézet Támogatás NTPCRASH: # TECH_08-A2/2-2008-0104 Győr, 2010 október

Részletesebben

Az alakítással bevitt energia hatása az ausztenit átalakulási hőmérsékletére

Az alakítással bevitt energia hatása az ausztenit átalakulási hőmérsékletére Az alakítással bevitt energia hatása az ausztenit átalakulási hőmérsékletére Csepeli Zsolt Bereczki Péter Kardos Ibolya Verő Balázs Workshop Miskolc, 2013.09.06. Előadás vázlata Bevezetés Vizsgálat célja,

Részletesebben

vmax A részecskék mozgása Nyomás amplitúdó értelmezése (P) ULTRAHANG ULTRAHANG Dr. Bacsó Zsolt c = f λ Δt = x/c ω (=2π/T) x t d 2 kitérés sebesség

vmax A részecskék mozgása Nyomás amplitúdó értelmezése (P) ULTRAHANG ULTRAHANG Dr. Bacsó Zsolt c = f λ Δt = x/c ω (=2π/T) x t d 2 kitérés sebesség ULTRAHANG Dr. Basó solt kitérés A részeskék mozgása x y Asinω t Δt x/ ω (π/t) sebesség gyorsulás d y x v Aω osω t d t d v x a Aω sinω t d t ULTRAHANG Hang mehanikai rezgés longitudinális hullám inrahang

Részletesebben

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése

Rövid ismertető. Modern mikroszkópiai módszerek. A mikroszkóp. A mikroszkóp. Az optikai mikroszkópia áttekintése Rövid ismertető Modern mikroszkópiai módszerek Nyitrai Miklós 2010. március 16. A mikroszkópok csoportosítása Alapok, ismeretek A működési elvek Speciális módszerek A mikroszkópia története ld. Pdf. Minél

Részletesebben

Csapágyak szigetelési lehetőségei a kóbor áram ellen. Schaeffler Gruppe

Csapágyak szigetelési lehetőségei a kóbor áram ellen. Schaeffler Gruppe Csapágyak szigetelési lehetőségei a kóbor áram ellen Kóbor áram Kóbor áram okozta csapágy károk Szigetelés a kóbor áram ellen 23.11.2009 Seite 2 Kóbor áram Kóbor áram okozta csapágy károk Szigetelés a

Részletesebben

Homogén testnek nevezzük az olyan testet, amelynek minden része ugyanolyan tulajdonságú. ρ = m V.

Homogén testnek nevezzük az olyan testet, amelynek minden része ugyanolyan tulajdonságú. ρ = m V. SZILÁRD TESTEK SŰRŰSÉGÉNEK MÉRÉSE 1. Elméleti háttér Homogén testnek nevezzük az olyan testet, amelynek minden része ugyanolyan tulajdonságú anyagból áll. Homogén például az üveg, a fémek, a víz, a lufiba

Részletesebben

Elsőként ellenőrizzük, hogy a 2,5mm átmérőjű golyóval vizsgálható-e az adott vastagságú próbadarab.

Elsőként ellenőrizzük, hogy a 2,5mm átmérőjű golyóval vizsgálható-e az adott vastagságú próbadarab. 1 Keménységmérés minta példa Brinell keme nyse gme re s minta pe lda A Feladat: Határozza meg a kapott próbadarab Brinell keménységét HPO 250-es típusú keménység mérőgép segítségével. A méréssorán a próbadarab

Részletesebben

72-74. Képernyő. monitor

72-74. Képernyő. monitor 72-74 Képernyő monitor Monitorok. A monitorok szöveg és grafika megjelenítésére alkalmas kimeneti (output) eszközök. A képet képpontok (pixel) alkotják. Általános jellemzők (LCD) Képátló Képarány Felbontás

Részletesebben

Projektfeladatok 2014, tavaszi félév

Projektfeladatok 2014, tavaszi félév Projektfeladatok 2014, tavaszi félév Gyakorlatok Félév menete: 1. gyakorlat: feladat kiválasztása 2-12. gyakorlat: konzultációs rendszeres beszámoló a munka aktuális állásáról (kötelező) 13-14. gyakorlat:

Részletesebben

Kisciklusú fárasztóvizsgálatok eredményei és energetikai értékelése

Kisciklusú fárasztóvizsgálatok eredményei és energetikai értékelése Kisciklusú fárasztóvizsgálatok eredményei és energetikai értékelése Tóth László, Rózsahegyi Péter Bay Zoltán Alkalmazott Kutatási Közalapítvány Logisztikai és Gyártástechnikai Intézet Bevezetés A mérnöki

Részletesebben

Tömeg (2) kg/darab NYLATRON MC 901 NYLATRON GSM NYLATRON NSM 40042000 40050000 40055000 50. Átmérő tűrései (1) mm. Átmérő mm.

Tömeg (2) kg/darab NYLATRON MC 901 NYLATRON GSM NYLATRON NSM 40042000 40050000 40055000 50. Átmérő tűrései (1) mm. Átmérő mm. NYLTRON M 901, kék (színezett, növelt szívósságú, öntött P 6) NYLTRON GSM, szürkésfekete; (MoS, szilárd kenőanyagot tartalmazó, öntött P 6) NYLTRON NSM, szürke (szilárd kenőanyag kombinációt tartalmazó

Részletesebben

Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel

Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Akusztikai tervezés a geometriai akusztika módszereivel Fürjes Andor Tamás BME Híradástechnikai Tanszék Kép- és Hangtechnikai Laborcsoport, Rezgésakusztika Laboratórium 1 Tartalom A geometriai akusztika

Részletesebben

Az úszás biomechanikája

Az úszás biomechanikája Az úszás biomechanikája Alapvető összetevők Izomerő Kondíció állóképesség Mozgáskoordináció kivitelezés + Nem levegő, mint közeg + Izmok nem gravitációval szembeni mozgása + Levegővétel Az úszóra ható

Részletesebben

A forgójeladók mechanikai kialakítása

A forgójeladók mechanikai kialakítása A forgójeladók mechanikai kialakítása A különböző gyártók néhány szabványos kiviteltől eltekintve nagy forma- és méretválasztékban kínálják termékeiket. Az elektromos illesztéshez hasonlóan a mechanikai

Részletesebben

2. Korszerű műszaki kerámiák (bevezetés)

2. Korszerű műszaki kerámiák (bevezetés) 2. Korszerű műszaki kerámiák (bevezetés) Menyhárd Alfréd, Szépvölgyi János BME Fizikai Kémia és Anyagtudományi Tanszék amenyhard@mail.bme.hu Iroda: H épület 1. emelet; Tel.: 463-3477 Vázlat Bevezetés Korszerű

Részletesebben

Szakmai nap Nagypontosságú megmunkálások Nagypontosságú keményesztergálással előállított alkatrészek felület integritása

Szakmai nap Nagypontosságú megmunkálások Nagypontosságú keményesztergálással előállított alkatrészek felület integritása Szakmai nap Nagypontosságú megmunkálások Nagypontosságú keményesztergálással előállított alkatrészek felület integritása Keszenheimer Attila Direct line Kft vendégkutató BME PhD hallgató Felület integritás

Részletesebben

BME ANYAGTUDOMÁNY ÉS. Mechanikai anyagvizsgálat. Szakítóvizsgálat. A legelterjedtebb roncsolásos vizsgálat

BME ANYAGTUDOMÁNY ÉS. Mechanikai anyagvizsgálat. Szakítóvizsgálat. A legelterjedtebb roncsolásos vizsgálat BME ANYAGTUDOMÁNY É TECHNOLÓGIA Anyagismeret TANZÉK Mechanikai anyagvizsgálat Dr. Lovas Jeno jlovas@eik.bme.hu Dr. Krállics György krallics@eik.bme.hu zakítóvizsgálat A legelterjedtebb roncsolásos vizsgálat

Részletesebben

Kutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése

Kutatási beszámoló. 2015. február. Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése Kutatási beszámoló 2015. február Gyüre Balázs BME Fizika tanszék Dr. Simon Ferenc csoportja Tangens delta mérésére alkalmas mérési összeállítás elkészítése A TKI-Ferrit Fejlsztő és Gyártó Kft.-nek munkája

Részletesebben

GEOMETRIAI OPTIKA I.

GEOMETRIAI OPTIKA I. Elméleti háttér GEOMETRIAI OPTIKA I. Törésmutató meghatározása a törési törvény alapján Snellius-Descartes törvény Az új közeg határához érkező fény egy része behatol az új közegbe, és eközben általában

Részletesebben

ELEKTROMÁGNESES REZGÉSEK. a 11. B-nek

ELEKTROMÁGNESES REZGÉSEK. a 11. B-nek ELEKTROMÁGNESES REZGÉSEK a 11. B-nek Elektromos Kondenzátor: töltés tárolására szolgáló eszköz (szó szerint összesűrít) Kapacitás (C): hány töltés fér el rajta 1 V-on A homogén elektromos mező energiát

Részletesebben

Záróvizsga szakdolgozat. Mérési bizonytalanság meghatározásának módszertana metallográfiai vizsgálatoknál. Kivonat

Záróvizsga szakdolgozat. Mérési bizonytalanság meghatározásának módszertana metallográfiai vizsgálatoknál. Kivonat Záróvizsga szakdolgozat Mérési bizonytalanság meghatározásának módszertana metallográfiai vizsgálatoknál Kivonat Csali-Kovács Krisztina Minőségirányítási szakirány 2006 1 1. Bevezetés 1.1. A dolgozat célja

Részletesebben

Hőkezelő technológia tervezése

Hőkezelő technológia tervezése Miskolci Egyetem Gépészmérnöki Kar Gépgyártástechnológiai Tanszék Hőkezelő technológia tervezése Hőkezelés és hegesztés II. című tárgyból Név: Varga András Tankör: G-3BGT Neptun: CP1E98 Feladat: Tervezze

Részletesebben

Kötőanyagok habarcsok. a mikroszkóp rt?

Kötőanyagok habarcsok. a mikroszkóp rt? Kötőanyagok habarcsok a mikroszkóp alatt: : mit, mivel, miért rt? Dr. rer. nat. Pintér Farkas Habarcsrendszerek vizsgálati módszerek Fizikai módszerek - nyomó-, húzószilárdság - porozitás (Hg-penetrációs

Részletesebben

A napenergia magyarországi hasznosítását támogató új fejlesztések az Országos Meteorológiai Szolgálatnál

A napenergia magyarországi hasznosítását támogató új fejlesztések az Országos Meteorológiai Szolgálatnál A napenergia magyarországi hasznosítását támogató új fejlesztések az Országos Meteorológiai Szolgálatnál Nagy Zoltán, Tóth Zoltán, Morvai Krisztián, Szintai Balázs Országos Meteorológiai Szolgálat A globálsugárzás

Részletesebben

Mérés: Millikan olajcsepp-kísérlete

Mérés: Millikan olajcsepp-kísérlete Mérés: Millikan olajcsepp-kísérlete Mérés célja: 1909-ben ezt a mérést Robert Millikan végezte el először. Mérése során meg tudta határozni az elemi részecskék töltését. Ezért a felfedezéséért Nobel-díjat

Részletesebben

Aktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György

Aktuátorok korszerű anyagai. Készítette: Tomozi György Aktuátorok korszerű anyagai Készítette: Tomozi György Technológiai fejlődés iránya Mikro nanotechnológia egyre kisebb aktuátorok egyre gyorsabb aktuátorok nem feltétlenül villamos, hanem egyéb csatolás

Részletesebben

Digitális tananyag a fizika tanításához

Digitális tananyag a fizika tanításához Digitális tananyag a fizika tanításához A lencsék fogalma, fajtái Az optikai lencsék a legegyszerűbb fénytörésen alapuló leképezési eszközök. Fajtái: a domború és a homorú lencse. optikai középpont optikai

Részletesebben

A lövedékálló védőmellény. ballisztikai kerámia + traumát mérsékelő rétegeinek elemzése

A lövedékálló védőmellény. ballisztikai kerámia + traumát mérsékelő rétegeinek elemzése A lövedékálló védőmellény ballisztikai kerámia + traumát mérsékelő rétegeinek elemzése Eur.Ing. Frank György c. docens az SzVMSzK Szakmai Kollégium elnöke, SzVMSzK mérnök szakértő (B5) A műszaki kerámiákat

Részletesebben

Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése

Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem, Építészmérnöki Kar, Épületenergetikai és Épületgépészeti Tanszék, 1111 Budapest, Műegyetem rkp. 3. K.II.31. Benapozásvédelmi eszközök komplex jellemzése

Részletesebben

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1

Gyorsítók. Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen. Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by NKTH and OTKA (H07-C 74281) 2009. augusztus 17 Hungarian Teacher Program, CERN 1 Az anyag felépítése Részecskefizika kvark, lepton Erős, gyenge,

Részletesebben

Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú

Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú Jegyzeteim 1. lap Fotó elmélet 2015. október 9. 14:42 Lencse típusok Sík domború 2x Homorúan domború Síkhomorú 2x homorú domb. Homorú Kardinális elemek A lencse képalkotását meghatározó geometriai elemek,

Részletesebben

2.3 Mérési hibaforrások

2.3 Mérési hibaforrások A fólia reflexiós tényezője magas és az összegyűrt struktúrája miatt a sugárzás majdnem ideálisan diffúz módon verődik vissza (ld. 2.3. ábra, az alumínium fólia jobb oldala, 32. oldal). A reflektált hőmérséklet

Részletesebben

A lézer alapjairól (az iskolában)

A lézer alapjairól (az iskolában) A lézer alapjairól (az iskolában) Dr. Sükösd Csaba c. egyetemi tanár Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Tartalom Elektromágneses hullám (fény) kibocsátása Hogyan bocsát ki fényt egy atom? o

Részletesebben

2.9.34. POROK TÖMÖRÍTETLEN ÉS TÖMÖRÍTETT SŰRŰSÉGE. Tömörítetlen sűrűség

2.9.34. POROK TÖMÖRÍTETLEN ÉS TÖMÖRÍTETT SŰRŰSÉGE. Tömörítetlen sűrűség 2.9.34. Porok tömörítetlen és tömörített sűrűsége Ph.Hg.VIII. - Ph.Eur.7.6-1 2.9.34. POROK TÖMÖRÍTETLEN ÉS TÖMÖRÍTETT SŰRŰSÉGE Tömörítetlen sűrűség 01/2013:20934 Tömörítetlen sűrűségnek nevezzük a tömörítetlen

Részletesebben

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek

Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Sugárzás és anyag kölcsönhatásán alapuló módszerek Elektronmikroszkópok A leképzendő mintára elektronsugarakat bocsátunk. Mivel az elektronsugár (mint hullám) hullámhossza kb. 5 nagyságrenddel kisebb a

Részletesebben

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18.

Modern Fizika Labor. Fizika BSc. Értékelés: A mérés dátuma: A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia. 2008. március 18. Modern Fizika Labor Fizika BSc A mérés dátuma: 28. március 18. A mérés száma és címe: 5. mérés: Elektronspin rezonancia Értékelés: A beadás dátuma: 28. március 26. A mérést végezte: 1/7 A mérés leírása:

Részletesebben

Elektromos ellenállás, az áram hatásai, teljesítmény

Elektromos ellenállás, az áram hatásai, teljesítmény Elektromos ellenállás, az áram hatásai, teljesítmény Elektromos ellenállás Az anyag részecskéi akadályozzák a töltések mozgását. Ezt a tulajdonságot nevezzük elektromos ellenállásnak. Annak a fogyasztónak

Részletesebben

Al 2 O 3 kerámiák. (alumíniumtrioxid - alumina)

Al 2 O 3 kerámiák. (alumíniumtrioxid - alumina) Al 2 O 3 kerámiák (alumíniumtrioxid - alumina) Alumíniumtrioxid - alumina Korund (polikristályos, hexagonális sűrűill.) Zafir egykristály (természetes és mesterséges is) Rubin (természetes és mesterséges

Részletesebben

A keverés fogalma és csoportosítása

A keverés fogalma és csoportosítása A keverés A keverés fogalma és csoportosítása olyan vegyipari művelet, melynek célja a homogenizálás (koncentráció-, hőmérséklet-, sűrűség-, viszkozitás kiegyenlítése) vagy a részecskék közvetlenebb érintkezésének

Részletesebben

Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel

Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel Plazmasugaras felülettisztítási kísérletek a Plasmatreater AS 400 laboratóriumi kisberendezéssel Urbán Péter Kun Éva Sós Dániel Ferenczi Tibor Szabó Máté Török Tamás Tartalom A Plasmatreater AS400 működési

Részletesebben

A vizsgálatok eredményei

A vizsgálatok eredményei A vizsgálatok eredményei A vizsgált vetőmagvak és műtrágyák nagy száma az eredmények táblázatos bemutatását teszi szükségessé, a legfontosabb magyarázatokkal kiegészítve. A közölt adatok a felsorolt publikációkban

Részletesebben

Nanoszemcsés anyagok mikroszerkezete és vizsgálata

Nanoszemcsés anyagok mikroszerkezete és vizsgálata Nanoszemcsés anyagok mikroszerkezete és vizsgálata Jenei Péter Eötvös Loránd Tudományegyetem Anyagfizikai Tanszék Budapest 2014 A felhasznált anyagok minősége és mennyisége meghatározza meg az adott kor

Részletesebben

A szerkezeti anyagok tulajdonságai és azok vizsgálata

A szerkezeti anyagok tulajdonságai és azok vizsgálata A szerkezeti anyagok tulajdonságai és azok vizsgálata 1 Az anyagok tulajdonságai fizikai tulajdonságok, mechanikai, termikus, elektromos, mágneses akusztikai, optikai 2 Minıség, élettartam A termék minısége

Részletesebben

A fény útjába kerülő akadályok és rések mérete. Sokkal nagyobb. összemérhető. A fény hullámhoszánál. A fény hullámhoszával

A fény útjába kerülő akadályok és rések mérete. Sokkal nagyobb. összemérhető. A fény hullámhoszánál. A fény hullámhoszával Optika Fénytan A fény útjába kerülő akadályok és rések mérete Sokkal nagyobb összemérhető A fény hullámhoszánál. A fény hullámhoszával Elektromágneses spektrum Az elektromágneses hullámokat a keltés módja,

Részletesebben

MEGHÍVJUK ÖNT ÉS KOLLÉGÁIT AZ AUTOMOTIV KIÁLLÍTÁSRA AHOL CÉGÜNK AZ

MEGHÍVJUK ÖNT ÉS KOLLÉGÁIT AZ AUTOMOTIV KIÁLLÍTÁSRA AHOL CÉGÜNK AZ MEGHÍVJUK ÖNT ÉS KOLLÉGÁIT AZ AUTOMOTIV KIÁLLÍTÁSRA AHOL CÉGÜNK AZ Anyagvizsgálat-Méréstechnika Kft. A MAJOSZ TÁRSKIÁLLÍTÓJAKÉNT JELENIK MEG. Időpont: Helyszín: 2013. november 7-8-9 (csütörtök/péntek/szombat)

Részletesebben

7. Élettartam növelő megmunkálások (tartósság növelő)

7. Élettartam növelő megmunkálások (tartósság növelő) 7. Élettartam növelő megmunkálások (tartósság növelő) Gépek működésekor igénybevétel elületi elületi réteg belső keresztmetszet Felületi mikrogeometria (érdesség) hatással van a: kopásállóságra áradási

Részletesebben

Reológia Mérési technikák

Reológia Mérési technikák Reológia Mérési technikák Reológia Testek (és folyadékok) külső erőhatásra bekövetkező deformációját, mozgását írja le. A deformációt irreverzibilisnek nevezzük, ha a az erőhatás megszűnése után a test

Részletesebben

1. feladat Alkalmazzuk a mólhő meghatározását egy gázra. Izoterm és adiabatikus átalakulásokra a következőt kapjuk:

1. feladat Alkalmazzuk a mólhő meghatározását egy gázra. Izoterm és adiabatikus átalakulásokra a következőt kapjuk: Válaszoljatok a következő kérdésekre: 1. feladat Alkalmazzuk a mólhő meghatározását egy gázra. Izoterm és adiabatikus átalakulásokra a következőt kapjuk: a) zéró izoterm átalakulásnál és végtelen az adiabatikusnál

Részletesebben

Optikai csatlakozók vizsgálata

Optikai csatlakozók vizsgálata Optikai csatlakozók vizsgálata Összeállította: Mészáros István tanszéki mérnök 1 Az optikai szálak végződtetésére különböző típusú csatlakozókat használnak, melyeknek kialakítását és átviteli paramétereit

Részletesebben

RÖVID ÚTMUTATÓ A FELÜLETI ÉRDESSÉG MÉRÉSÉHEZ

RÖVID ÚTMUTATÓ A FELÜLETI ÉRDESSÉG MÉRÉSÉHEZ RÖVID ÚTMUTATÓ A FELÜLETI ÉRDESSÉG MÉRÉSÉHEZ Referencia útmutató laboratórium és műhely részére Magyar KIADÁS lr i = kiértékelési hossz Profilok és szűrők (EN ISO 4287 és EN ISO 16610-21) 01 A tényleges

Részletesebben

Programozható vezérlő rendszerek. Elektromágneses kompatibilitás II.

Programozható vezérlő rendszerek. Elektromágneses kompatibilitás II. Elektromágneses kompatibilitás II. EMC érintkező védelem - az érintkezők nyitása és zárása során ún. átívelések jönnek létre - ezek csökkentik az érintkezők élettartamát - és nagyfrekvenciás EM sugárzások

Részletesebben

3. Laboratóriumi gyakorlat A HŐELLENÁLLÁS

3. Laboratóriumi gyakorlat A HŐELLENÁLLÁS 3. Laboratóriumi gyakorlat A HŐELLENÁLLÁS 1. A gyakorlat célja A Platina100 hőellenállás tanulmányozása kiegyensúlyozott és kiegyensúlyozatlan Wheatstone híd segítségével. Az érzékelő ellenállásának mérése

Részletesebben

Jegyzőkönyv. mágneses szuszceptibilitás méréséről (7)

Jegyzőkönyv. mágneses szuszceptibilitás méréséről (7) Jegyzőkönyv a mágneses szuszceptibilitás méréséről (7) Készítette: Tüzes Dániel Mérés ideje: 8-1-1, szerda 14-18 óra Jegyzőkönyv elkészülte: 8-1-8 A mérés célja A feladat egy mágneses térerősségmérő eszköz

Részletesebben

A fény visszaverődése

A fény visszaverődése I. Bevezető - A fény tulajdonságai kölcsönhatásokra képes egyenes vonalban terjed terjedési sebessége függ a közeg anyagától (vákuumban 300.000 km/s; gyémántban 150.000 km/s) hullám tulajdonságai vannak

Részletesebben

Belső energia, hőmennyiség, munka Hőtan főtételei

Belső energia, hőmennyiség, munka Hőtan főtételei Belső energia, hőmennyiség, munka Hőtan főtételei Ideális gázok részecske-modellje (kinetikus gázmodell) Az ideális gáz apró pontszerű részecskékből áll, amelyek állandó, rendezetlen mozgásban vannak.

Részletesebben

NAGYFELBONTÁSÚ REPÜLÉSI IDŐ DIFFRAKTOMÉTER A BUDAPESTI NEUTRON KUTATÓKÖZPONTBAN

NAGYFELBONTÁSÚ REPÜLÉSI IDŐ DIFFRAKTOMÉTER A BUDAPESTI NEUTRON KUTATÓKÖZPONTBAN 22 Kivonat NAGYFELBONTÁSÚ REPÜLÉSI IDŐ DIFFRAKTOMÉTER A BUDAPESTI NEUTRON KUTATÓKÖZPONTBAN SÁNTA ZSOMBOR MTA Szilárdtestfizikai és Optikai Kutatóintézet, H-1525, POB. 49, Budapest email: santa@szfki.hu

Részletesebben

KÖZEG. dv dt. q v. dm q m. = dt GÁZOK, GŐZÖK ÉS FOLYADÉKOK ÁRAMLÓ MENNYISÉGÉNEK MÉRÉSE MÉRNI LEHET:

KÖZEG. dv dt. q v. dm q m. = dt GÁZOK, GŐZÖK ÉS FOLYADÉKOK ÁRAMLÓ MENNYISÉGÉNEK MÉRÉSE MÉRNI LEHET: GÁZOK, GŐZÖK ÉS FOLYADÉKOK ÁRAMLÓ MENNYISÉGÉNEK MÉRÉSE MÉRNI LEHET: AZ IDŐEGYSÉG ALATT ÁTÁRAMLÓ MENNYISÉG TÉRFOGATÁT TÉRFOGATÁRAM MÉRÉS q v = dv dt ( m 3 / s) AZ IDŐEGYSÉG ALATT ÁTÁRAMLÓ MENNYISÉG TÖMEGÉT

Részletesebben

A TERMÉSZETES RADIOAKTIVITÁS VIZSGÁLATA A RUDAS-FÜRDŐ TÖRÖK- FORRÁSÁBAN

A TERMÉSZETES RADIOAKTIVITÁS VIZSGÁLATA A RUDAS-FÜRDŐ TÖRÖK- FORRÁSÁBAN A TERMÉSZETES RADIOAKTIVITÁS VIZSGÁLATA A RUDAS-FÜRDŐ TÖRÖK- FORRÁSÁBAN Készítette: Freiler Ágnes II. Környezettudomány MSc. szak Témavezetők: Horváth Ákos Atomfizikai Tanszék Erőss Anita Általános és

Részletesebben

NAGYFELBONTÁSÚ REPÜLÉSI IDŐ DIFFRAKTOMÉTER A BUDAPESTI NEUTRON KUTATÓKÖZPONTBAN

NAGYFELBONTÁSÚ REPÜLÉSI IDŐ DIFFRAKTOMÉTER A BUDAPESTI NEUTRON KUTATÓKÖZPONTBAN 22 Kivonat NAGYFELBONTÁSÚ REPÜLÉSI IDŐ DIFFRAKTOMÉTER A BUDAPESTI NEUTRON KUTATÓKÖZPONTBAN SÁNTA ZSOMBOR MTA Szilárdtestfizikai és Optikai Kutatóintézet, H-1525, POB. 49, Budapest email: santa@szfki.hu

Részletesebben

SI 3 N 4 MŰSZAKI KERÁMIÁK TRIBOLÓGIAI ÉS MECHANIKAI VIZSGÁLATA

SI 3 N 4 MŰSZAKI KERÁMIÁK TRIBOLÓGIAI ÉS MECHANIKAI VIZSGÁLATA DOI: 10.14750/ME.2014.001 MISKOLCI EGYETEM GÉPÉSZMÉRNÖKI ÉS INFORMATIKAI KAR SI 3 N 4 MŰSZAKI KERÁMIÁK TRIBOLÓGIAI ÉS MECHANIKAI VIZSGÁLATA PHD ÉRTEKEZÉS KÉSZÍTETTE: KUZSELLA LÁSZLÓNÉ KONCSIK ZSUZSANNA

Részletesebben

Peltier-elemek vizsgálata

Peltier-elemek vizsgálata Peltier-elemek vizsgálata Mérés helyszíne: Vegyész labor Mérés időpontja: 2012.02.20. 17:00-20:00 Mérés végrehatói: Budai Csaba Sánta Botond I. Seebeck együttható közvetlen kimérése Az adott P-N átmenetre

Részletesebben

a NAT-1-1173/2007 számú akkreditálási ügyirathoz

a NAT-1-1173/2007 számú akkreditálási ügyirathoz Nemzeti Akkreditáló Testület RÉSZLETEZÕ OKIRAT a NAT11173/2007 számú akkreditálási ügyirathoz Az OKF Tûzvédelmi Vizsgáló Laboratórium és Tanúsító Szervezet (1033 Budapest, Laktanya u. 33.) akkreditált

Részletesebben

Hőkezelés az élelmiszeriparban

Hőkezelés az élelmiszeriparban Hőkezelés az élelmiszeriparban A HŐKEZELÉS CÉLJAI A sejtközi gázok eltávolítása, gyümölcsök és zöldségek húzatása Fagyasztás előtt, kellemes íz kialakítása, főtt állomány, enzim bénítás, előfőzés Gyümölcs

Részletesebben

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT

6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT 6-7. PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA MEGBÍZHATÓSÁGI HIBAANALITIKA VIETM154 HARSÁNYI GÁBOR, BALOGH BÁLINT BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓP

Részletesebben

601H-R és 601H-F típusú HŐÉRZÉKELŐK

601H-R és 601H-F típusú HŐÉRZÉKELŐK 601H-R és 601H-F típusú HŐÉRZÉKELŐK 1. BEVEZETÉS A 601H-R és 601H-F hőérzékelők a mennyezetre szerelhető, aljzatra illeszthető 600-as sorozatú érzékelők közé tartoznak. Kétvezetékes hálózatba szerelhető,

Részletesebben